SU525875A1

SU525875A1 - X-ray diffractometer sample table

Info

Publication number: SU525875A1
Application number: SU2131687A
Authority: SU
Inventors: Владимир Николаевич Зеге; Нина Семеновна Мотора; Руслан Иванович Сенюта; Мира Борисовна Соловейчик; Юрий Наумович Финкельштейн
Original assignee: Предприятие П/Я М-5659; Физико-технический институт АН Белорусской ССР; Центральное Конструкторское Бюро С Опытным Производством Ан Белорусской Сср
Priority date: 1975-05-08
Filing date: 1975-05-08
Publication date: 1976-08-25

Description

(54) СТОЛИК ОБРАЗЦА ДЛЯ(54) TABLE OF SAMPLE FOR

ДИ ФР .ЖТОМЕТР АDI FR. METER A

Цель изобретени - повысить точность измерени угла.The purpose of the invention is to improve the accuracy of angle measurement.

Это достигаетс тем, что исполнительный механизм привода поворота держател образца выполнен в виде клинового механизма содержащего, покрайней-мере, два кпиновых звена с установленным между ними толкателем , причем, по крайней мере, одно из звеньев вьшолнено с возможностью регулировани угла мелшу направлением перемещени толкател и нормалью к рабочей поверхности клина.This is achieved by the fact that the actuator actuator of the rotation of the sample holder is made in the form of a wedge mechanism containing, at least, two pin links with a pusher mounted between them, and at least one of the links is executed with the possibility of adjusting the angle of the slider and normal to the working surface of the wedge.

На фиг. 1 показано предлагаемое устройство , общий вид; на фиг. 2 - то же, сечение по А-А.FIG. 1 shows the proposed device, a general view; in fig. 2 - the same section along the AA.

На основании 1 закреплен держатель 2, несущий задающий микрометрический механизм 3, который с помощью планки 4 св зан с клином 5. На этом же основании установлен поворотный корпус 6 с клином 7, св занным с клином 5 толкателем 8. На оси 9 установлен столик кристаллодержател 10 с неподвижно закрепленной на нем призмой 11, котора в рабочем положении взаимодействует с рабочей поверхностью клина 7.On base 1, a holder 2 is fixed, which carries a micrometric setting mechanism 3, which is connected with a wedge 5 by means of a strip 4. 10 with a prism 11 fixed on it, which in the working position interacts with the working surface of the wedge 7.

Вращение барабанчика микрометрического механизма преобразуетс в поступательное движение клина 5, который через толкатель 8 передает движение клину 7.The rotation of the drum of the micrometric mechanism is converted into a forward movement of the wedge 5, which through the pusher 8 transmits the movement of the wedge 7.

Перемещение клина 7 относительно точки контакта его рабочей поверхности с призмой 11 вызывает угловое перемещение столика кристаллодержател 10 вокруг оси 9.The movement of the wedge 7 relative to the point of contact of its working surface with the prism 11 causes an angular movement of the table of the crystal holder 10 around the axis 9.

Корпус 6 с закрепленным на нем клином 7 может поворачиватьс вокруг своей оси, что позвол ет исключить вли ние пог- рещностей изготовлени кинематических звеньев благодар изменению угла междуThe housing 6 with the wedge 7 fixed on it can be rotated around its axis, which eliminates the influence of the faults of manufacturing kinematic links by changing the angle between

направлением перемещени толкател и нормалью к рабочей поверхности клина.the direction of movement of the pusher and the normal to the working surface of the wedge.

Использование устройства позвол ет получить погрешность измерени угла при изучении профил дифракционных линий пор дка 1 угл. сек при работе в интервале 1 угл. мин.The use of the device makes it possible to obtain an error in measuring the angle when studying the profile of diffraction lines of the order of 1 coal. sec when working in the range of 1 coal. min

Claims

1. US patent number 2939007, Class 250-52, 1960,

2. US patent number 3200248, Class 250-51.5, 1965.

3. US Patent No. 2829262, Class 250-51.5, 1958.

//

FIG. one

-

AA turns 11

.2