SU494707A1 - Способ измерени коэффициента нелинейности электропроводности полупроводника - Google Patents

Description

1

Изобретение относитс  к изыерителной технике и ыожет быть использовано дл  исследовани  изменени  электропроводности в высокочастотном (ВЧ) поле как полупроводников, так и других материалов .

Известные способы измерени  коэффициента нелинейности ВЧ-поле неудобны тем, что необходимо измер ть характеристики распростран ющегос  в тракте ВЧ-сигнала.

Известен способ, при котором измерение Вдфф основано на. эффекте смешивани  гармоник, и поэтому нет необходимости измер ть характеристики распростран ющегос  в тракте ВЧ-сигнала. Предполагаетс , что не зависит от частоты, а это дл  каждого материала справедливо только в определенном инIтервале частот ВЧ-пол ,

Известен способ измерени  Вдфф по изменению посто нного тока, текущего через образец, в амплитудно-модулированном ВУ-поле, дл  осуществлени  которого необходимо, во-первых, измерить изменение посто нного тока, текущего через образец, при поступлении в тракт ВЧ-сигнала и, вто вторых, определить долю мощности РПОГЛ поглощенную образцом . Дл  определени  PJJQJ, следует измерить мощность, поступающую на образец , мощность, отраженную от образца, и мощность, проход щую в тракт за образцом . Поглощенна  мощность определ етс  как разность измеренных величин, поэтому погрешность определени  увеличиваетс . С другой стороны, аппаратура , предназначенна  дл  измерени  импульсной мощности ВЧ-пол ,малоста|бильна , ее точность во многих случа х