SU437979A1 - Device for measuring the parameters of quartz resonators - Google Patents
Device for measuring the parameters of quartz resonatorsInfo
- Publication number
- SU437979A1 SU437979A1 SU1815097A SU1815097A SU437979A1 SU 437979 A1 SU437979 A1 SU 437979A1 SU 1815097 A SU1815097 A SU 1815097A SU 1815097 A SU1815097 A SU 1815097A SU 437979 A1 SU437979 A1 SU 437979A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- frequency
- measuring
- generator
- low
- parameters
- Prior art date
Links
Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
1one
Изобретение относитс к радиоизмерительной технике и может использоватьс дл измерени параметров кварцевых резонаторов.The invention relates to a radio metering technique and can be used to measure parameters of quartz resonators.
Известно устройство дл измерени параметров кварцевых резонаторов, содержащее высокочастотный генератор, модул ционный генератор низкой частоты, измерительный четырехполюсник и блок автоматической подстройки частоты высокочастотного генератора, состо щий из усилител высокой частоты, высокочастотного детектора, фазового детектора и интегратора.A device for measuring parameters of quartz resonators is known, comprising a high-frequency generator, a low-frequency modulation generator, a measuring quadrupole, and an automatic frequency tuning unit for the high-frequency generator, consisting of a high-frequency amplifier, a high-frequency detector, a phase detector and an integrator.
Недостаток известного устройства состоит в недостаточной надежности и низкой точности измерени при изменении сопротивлени потерь и добротности кварцевых резонаторов.A disadvantage of the known device is the lack of reliability and low measurement accuracy when changing the loss resistance and the quality factor of quartz resonators.
Цель изобретени - повышение надежности устройства и точности измерени при изменении сопротивлени потерь и добротности кварцевых резонаторов.The purpose of the invention is to increase the reliability of the device and the accuracy of measurement when changing the loss resistance and the quality factor of quartz resonators.
Эта цель достигаетс тем, что устройство снабжено включенным на выходе высокочастотного детектора избирательным усилителем , выход которого через детектор низкой частоты соединен с аттенюатором, включенным между выходом модул ционного генератора низкой частоты и входом высокочастотного генератора .This goal is achieved in that the device is equipped with a selective amplifier connected to the output of the high-frequency detector, the output of which is connected via a low-frequency detector to an attenuator connected between the output of the low-frequency modulation generator and the input of the high-frequency generator.
На чертеже представлена блок-схема устройства .The drawing shows the block diagram of the device.
Устройство содержит высокочастотный генератор 1, колебани которого модулируютс по частоте модул ционным генератором 2 низкой частоты и поступают на измерительный четырехполюсник 3 с исследуемым кварцевым резонатором 4. С четырехполюсника 3 сигнал подаетс на блок автоматической подстройки частоты , состо щий из усилител 5 высокой частоты , высокочастотного детектора 6, фазового детектора 7 и интегратора 8, выход которого соединен с элементом регулировки частоты высокочастотного генератора 1. На второй вход фазового детектора 7 подаетс опорное напр жение с модул ционного генератора 2 низкой частоты. К выходу высокочастотного детектора 6 дополнительно подключен избирательный усилитель 9, сигнал с которого через детектор 10 низкой частоты поступает на аттенюатор 11. Последний включен между высокочастотным генератором 1 и модул ционным генератором 2 низкой частоты.The device contains a high-frequency generator 1, the oscillations of which are modulated in frequency by a low-frequency modulation generator 2 and fed to a measuring quadrupole 3 with a quartz resonator 4 under investigation. 6, the phase detector 7 and the integrator 8, the output of which is connected to the frequency control element of the high-frequency generator 1. To the second input of the phase detector 7, the output mc is the reference voltage from the low frequency modulation generator 2. A selective amplifier 9 is additionally connected to the output of the high-frequency detector 6, the signal from which through the low-frequency detector 10 arrives at attenuator 11. The latter is connected between the high-frequency generator 1 and the low-frequency modulation generator 2.
Устройство работает следующим образом.The device works as follows.
При перестройке высокочастотного генератора 1 происходит возбуждение кварцевого резонатора 4. Измерительный четырехполюсник 3 с возбужденным кварцевым резонатором 4 приобретает свойства частотного детектора, преобразу частотно-модулированное напр жение в амплитудно-модулированное, которое усиливаетс усилителем 5 высокой частоты иWhen the high-frequency oscillator 1 is tuned, a quartz resonator 4 is excited. Measuring a quadrupole 3 with an excited quartz resonator 4 acquires the properties of a frequency detector, transforming the frequency-modulated voltage into an amplitude-modulated voltage, which is amplified by the high-frequency amplifier 5 and
поступает на высокочастотный детектор 6. На выходе последнего выдел етс огибающа амплитудно-модулированного высокочастотного сигнала. На частоте последовательного резонанса наблюдаетс минимум амплитуды первой гармоники огибающей и максимум второй .enters the high-frequency detector 6. At the output of the latter, an envelope of the amplitude-modulated high-frequency signal is extracted. At the frequency of the series resonance, there is a minimum of the amplitude of the first harmonic of the envelope and a maximum of the second.
Фазовый детектор 7 настроен на первую гармонику огибающей, благодар чему блок автоматической подстройки частоты удерживает колебани высокочастотного генератора I вблизи частоты последовательного резонанса кварцевого резонатора 4. Избирательный усилитель 9 настроен на вторую гармонику огибающей и через детектор 10 низкой частоты управл ет аттенюатором 11, с помощью которого производитс автоматическа регулировка амплитуды модулирующего папр жени в зависимости от добротности и сопротивлени потерь кварцевого резонатора 4.Phase detector 7 is tuned to the first harmonic of the envelope, so that the automatic frequency control unit holds the oscillator of high-frequency generator I near the frequency of the series resonance of the crystal resonator 4. Selective amplifier 9 is tuned to the second harmonic of the envelope and through the low-frequency detector 10 it controls The amplitude of the modulating pitch is automatically adjusted depending on the quality factor and loss resistance of the quartz resonator 4.
При выборе коэффициента усилени избирательного усилител 9 и диапазона регулировки аттенюатора 11 учитываетс динамический диапазон параметров исследуемых кварцевых резонаторов.When choosing the gain of the selective amplifier 9 and the adjustment range of the attenuator 11, the dynamic range of the parameters of the quartz resonators under investigation is taken into account.
Предмет изобретени Subject invention
Устройство дл измерени параметров кварцевых резонаторов, содержащее высокочастотный генератор, модул ционный генератор низкой частоты, измерительный четырехполюсникA device for measuring parameters of quartz resonators containing a high-frequency generator, a low-frequency modulation generator, a measuring quadrupole
и блок автоматической подстройки частоты высокочастотного генератора, состо щий из усилител высокой частоты, высокочастотного детектора, фазового детектора и интегратора, отличающеес тем, что, с целью повыщеНИН надежности устройства и точности измерени , оно снабжено включенным на выходе высокочастотного детектора избирательным усилителем, выход которого через детектор низкой частоты соединен с аттенюатором,and an automatic frequency control unit for the high-frequency generator, consisting of a high-frequency amplifier, a high-frequency detector, a phase detector and an integrator, characterized in that, in order to increase the device reliability and measurement accuracy, it is equipped with a selective amplifier outputted from the output, through which the low frequency detector is connected to an attenuator,
включенным между выходом модул ционного генератора низкой частоты и входом высокочастотного генератора.connected between the output of the low-frequency modulation generator and the input of the high-frequency generator.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU1815097A SU437979A1 (en) | 1972-07-27 | 1972-07-27 | Device for measuring the parameters of quartz resonators |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU1815097A SU437979A1 (en) | 1972-07-27 | 1972-07-27 | Device for measuring the parameters of quartz resonators |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU437979A1 true SU437979A1 (en) | 1974-07-30 |
Family
ID=20523249
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU1815097A SU437979A1 (en) | 1972-07-27 | 1972-07-27 | Device for measuring the parameters of quartz resonators |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU437979A1 (en) |
-
1972
- 1972-07-27 SU SU1815097A patent/SU437979A1/en active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4972699A (en) | Method and apparatus for analysis by means of microwaves | |
| US2692947A (en) | Locator of inflection points of a response curve | |
| SU437979A1 (en) | Device for measuring the parameters of quartz resonators | |
| US2671198A (en) | Method and apparatus for measuring the frequency response of translating devices | |
| US2879382A (en) | Field strength meter | |
| SU859958A2 (en) | Quartz resonator parameter measuring device | |
| US3099803A (en) | Automatic frequency control for tunable oscillators | |
| US4035736A (en) | FM discriminator having low noise characteristics | |
| SU179359A1 (en) | DEVICE FOR DIMENSIONAL MEASUREMENT | |
| US2421724A (en) | Method and means for measuring power output of high-frequency signal generators | |
| SU1539639A1 (en) | Automatic meter of moisture slat content in soil | |
| SU824079A1 (en) | Microwave quality factor meter | |
| SU458780A1 (en) | Device for measuring attenuation | |
| SU716007A1 (en) | Device for measuring acoustic noise-proofness of quartz resonators | |
| SU127762A1 (en) | Method for measuring nonlinear distortion coefficient of electronic tuning characteristics of klystrons | |
| SU425131A1 (en) | DEVICE FOR MEASURING THE NEIGHBORNESS OF MICROWAVE RESONATORS | |
| SU588513A1 (en) | Quartz resonator parameter meter | |
| SU396810A1 (en) | Microwave discriminator | |
| SU103040A1 (en) | The method of measuring the frequency in the ultrashort wave range using a short wavelength heterodyne wavemeter | |
| SU141902A1 (en) | Method for automatic measurement of slow drift frequency of reflective klystrons | |
| SU1270581A1 (en) | Method and apparatus for measuring velocity of propagation of ultrasound | |
| SU659995A1 (en) | Arrangement for measuring amplitude-frequency characteristics of microwave time-delay lines | |
| SU706795A1 (en) | Device for measuring the mean rate of measuring frequency and linearity of modulation characteristics of frequency-modulated generators | |
| SU363928A1 (en) | DEVICE FOR MEASUREMENT OF FREQUENCY CHARACTERISTICS | |
| SU1354134A1 (en) | Method of determining frequencies of resonator half power |