SU39986A1 - Прибор дл точных измерений при помощи интерференции световых волн - Google Patents
Прибор дл точных измерений при помощи интерференции световых волнInfo
- Publication number
- SU39986A1 SU39986A1 SU120295A SU120295A SU39986A1 SU 39986 A1 SU39986 A1 SU 39986A1 SU 120295 A SU120295 A SU 120295A SU 120295 A SU120295 A SU 120295A SU 39986 A1 SU39986 A1 SU 39986A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- instrument
- accurate measurements
- light wave
- wave interference
- plates
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
При точных измерени х помощью интерференции световых волн известно применение стекл нных пластинок, расположенных таким образом, что между ними образуетс клиновидна прослойка воздуха. При изменении толщины этой прослойки измен етс цвет и количество интерференционных полос, что дает возможность судить о точности размеров обмер емого предмета. В насто щем изобретении дл регулировани толщины воздушной прослойки применен мерительный штифт, передвижной в осевом направленни в соответствии с размерами обмер емого предмета.
На чертеже фиг. 1 схематически изображает предлагаемый прибор с применением микроскопа дл отсчета; фиг. 2- предлагаемый прибор с отсчетом простым глазом.
Прибор состоит из двух стекл нных пластин 1 и 2, из которых перва неподвижна , а втора подвижна и имеет опорную поверхность 4. Между пластннами 1 и 2 помещена фольга 3. Обмер емый предмет 17 помещаетс на подставке 16, сдвига при этом в осевом направлении мерительный штифт 5, помещенный в корпусе 12 прибора Штифт 5 оказывает давление на подвижную пластинку 2, перемеща ее. Вследствие этого воздушна прослойка между пластинами измен етс , а следовательно измен етс цвет и количество интерференционных полос.
Дл отсчета количества полос может быть применен микрометр 7 (фиг. 1) с микроскопом 6, установленным на салазках 9. Отсчет может быть произведен также простым глазом через анахроматическое стекло 13.
Дл отсчета положени подставки 16 служат шкала 15 и микроскоп 14.
Предмет изобретени .
Прибор дл точных измерений при помощи интерференции световых волн с использованием клиновидной прослойки воздуха, образуемой между пластинами , отличающийс применением пё редвижного мерительного штифта 5, служащего дл регулировани воздушной прослойки между пластинами 1 и 2, в соответствии с размерами обмер емого издели ..,..: к авторскому св детельсвдг В. Я. мана № аЩб Зимина и К. Циммер
Фиг. 1
.---
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU120295A SU39986A1 (ru) | 1932-12-15 | 1932-12-15 | Прибор дл точных измерений при помощи интерференции световых волн |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU120295A SU39986A1 (ru) | 1932-12-15 | 1932-12-15 | Прибор дл точных измерений при помощи интерференции световых волн |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU39986A1 true SU39986A1 (ru) | 1934-11-30 |
Family
ID=48355132
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU120295A SU39986A1 (ru) | 1932-12-15 | 1932-12-15 | Прибор дл точных измерений при помощи интерференции световых волн |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU39986A1 (ru) |
-
1932
- 1932-12-15 SU SU120295A patent/SU39986A1/ru active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US2518647A (en) | Interferometer means for thickness measurements | |
| US1888416A (en) | Gauge | |
| CN105091769A (zh) | 一种基于莫尔条纹相位分析的应变测量方法 | |
| CN106932363A (zh) | 一种钻石纯度检测系统及方法 | |
| SU39986A1 (ru) | Прибор дл точных измерений при помощи интерференции световых волн | |
| ES414246A1 (es) | Aparato de medicion para realizar mediciones internas u otras mediciones lineales. | |
| US2655073A (en) | Optical thickness gauge | |
| US2050486A (en) | Apparatus for testing the smoothness of paper | |
| US2591666A (en) | Interferometer gauge | |
| Hallén et al. | Determination by interferometric methods of the thickness of the reference system used in microradiography | |
| Peters et al. | Interference methods for standardizing and testing precision gage blocks | |
| US2336594A (en) | Belt length finder | |
| CN205049478U (zh) | 光学材料折射率曲线测量装置 | |
| SU624272A2 (ru) | Устройство дл контрол параметров скольжени плавающей магнитной головки | |
| GB1209036A (en) | Improvements in or relating to refractometers | |
| SU463038A1 (ru) | Индентер твердомера | |
| US2294199A (en) | Calculating instrument | |
| SU419714A1 (ru) | Индикаторный прибор для контроля шириныи несимметричности расположения пазовпрямоугольного сечения | |
| GB455679A (en) | A measuring instrument for checking linear dimensions | |
| US1992573A (en) | Instrument or gauge for measuring relative lengths or variations in lengths | |
| GB1145721A (en) | Optical instruments | |
| SU645021A1 (ru) | Оптический микрометр нониального совмещени | |
| Synborski | The interferometric analysis of flatness by eye and computer | |
| SU533841A1 (ru) | Способ измерени контактных напр жений при прокатке | |
| GB147987A (en) | Improvements in or relating to measuring or gauging instruments |