[go: up one dir, main page]

SU1674017A1 - Устройство дл контрол динамических параметров и функционировани цифровых интегральных схем - Google Patents

Устройство дл контрол динамических параметров и функционировани цифровых интегральных схем Download PDF

Info

Publication number
SU1674017A1
SU1674017A1 SU874286554A SU4286554A SU1674017A1 SU 1674017 A1 SU1674017 A1 SU 1674017A1 SU 874286554 A SU874286554 A SU 874286554A SU 4286554 A SU4286554 A SU 4286554A SU 1674017 A1 SU1674017 A1 SU 1674017A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
input
output
trigger
control
control input
Prior art date
Application number
SU874286554A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Васильевич Данилов
Григорий Иванович Лобанов
Виталий Семенович Пункевич
Original Assignee
Научно-Исследовательский И Конструкторско-Технологический Институт Средств Контроля Электронной Аппаратуры И Изделий Электронной Техники
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-Исследовательский И Конструкторско-Технологический Институт Средств Контроля Электронной Аппаратуры И Изделий Электронной Техники filed Critical Научно-Исследовательский И Конструкторско-Технологический Институт Средств Контроля Электронной Аппаратуры И Изделий Электронной Техники
Priority to SU874286554A priority Critical patent/SU1674017A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1674017A1 publication Critical patent/SU1674017A1/ru

Links

Landscapes

  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике. Цель - повышение точности контрол  за счет исключени  погрешностей, повышение быстродействи  устройства за счет его новой организации - достигаетс  введением в устройство регистра 15 пам ти, решающего блока 16, блока 17 управл емой задержки. Устройство содержит элемент пам ти, выполненный на триггере 3, элемент 7 задержки, D-триггеры 4 - 6, аналоговый компаратор 1, выполненный на усилителе 2. 1 ил.

Description

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано в устройствах для функционального контроля больших интегральных схем.
Целью изобретения является повышение точности контроля за счет исключения погрешностей, обусловленных неоднородностью каналов устройства-прототипа, по) вышение быстродействия устройства за ι счет его новой организации.
На чертеже изображена функциональная схема устройства.
. Устройство содержит аналоговый комi паратор 1, выполненный на усилителе 2, i элемент памяти, выполненный на триггере ! 3, D-триггеры 4-6, элемент 7 задержки, инI формационный вход 8, первый-третий упί равняющие входы 9-1’1 устройства, выход 12 устройства, источник 13 (UOn) опорного ; напряжения, четвертый управляющий вход 14 устройства, регистр 15 памяти, решающий блок 16, блок 17 управляемой ; задержки, пятый управляющий вход 18, с L соответствующими связями.
Блок 17 управляемой задержки предi назначен для задержки тактовых импульi сов, синхронизирующих сигналы эталонной • информации и сигналы разрешения контроля.
Тактовые импульсы поступают через вход 18 устройства на С-входы D-триггеров ' 4,5, через блок 17 управляемой задержки и осуществляют задержку сигналов эталонной информации и сигналов разрешения контроля на выходах D-триггеров 4 и 5 на время, равное задержке блока 17.
Устройство работает следующим обраi ЗОМ.
На информационный вход 8 устройства ’ поступает выходной сигнал с испытуемой микросхемы с заданной частотой контроля. Аналоговый компаратор 1 производит сравнение выходных сигналов микросхемы с логическим уровнем 0 или 1 в зависимости от алгоритма работы устройства. Значение логического уровня задается источником 13 опорного напряжения. На управляющий вход 10 й, следовательно, на D-вход триггера 5 поступает сигнал эталонной информации, на управляющий вход 11 устройства поступает сигнал Разрешение контроля.
С приходом строб-импульса на управляющий вход 9 устройства и, следовательно, на второй вход триггера в последний записывается информация, присутствующая в данный момент на выходе усилителя 2. С приходом с пятого управляющего входа 18 устройства задержанного блоком 17 управляемой задержки тактового сигнала на выходе триггера 5 устанавливается эталонная информация, а на выходе триггера 6 сигнал Разрешения контроля.
С приходом на синхронизирующий вход регистра 15 памяти задержанного элемента 7 задержки строб-импульса информация с входов регистра 15 памяти переписывается на его выходы. Указанная информация поступает на входы решающего блока 16. Если контролируемая информация по своим логическим уровням соответствует заданным значениям ”0 или 1, а также соответствует ожидаемому местонахождению, фиксируемому строб-импульсом, то на выходе решающего блока 16, а следовательно, и на выходе 12 устройства сигнал отсутствует. Это означает, что контролируемая цифровая микросхема функционирует правильно. В противном случае на выходе 12 устройства формируется сигнал несоответствия выходной информации контролируемой микросхемы заданным требованиям, то есть сигнал Брак.
Устройство может работать в составе аппаратуры контроля микросхем, имеющих двунаправленные выводы. В этом случае вход аналогового компаратора 1 объединяется с выходом входящего в состав указанной аппаратуры канала формирования входных воздействий на контролируемую микросхему. При контроле выходной информации микросхемы выход канала формирования входных воздействий переходит третье состояние, характеризующееся высоким выходным импедансом. Работа устройства при этом описана. При работе канала в режиме задания входных воздействий на микросхему устройство контроля динамических параметров и функционирования блокируется подачей на управляющий вход 11 устройства сигнала Запрет контроля, который через регистр 15 памяти поступает на третий информационный вход решающего блока 16. На выходе 12 устройства при этом присутствует сигнал Годен” вне зависимости от уровня сигналов на его первом и втором информационных входах.
При контроле динамических параметров значение опорного напряжения аналогового компаратора 1 программируется согласно техническим условиям на микросхему. Функциональный контроль выходных сигналов микросхемы по двум логическим уровням осуществляется поочередно, сначала по уровню 0, а затем по уровню Г.
Результаты контроля при этом фиксируются внешними средствами обработки информации - результата контроля, которые и делают заключение о годности микросхемы.

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Устройство для контроля динамических параметров и функционирования цифровых интегральных схем, содержащее элемент памяти, элемент задержки, первый, второй и третий D-триггеры, аналоговый компаратор, вход которого является информационным входом устройства, а выход соединен с первым входом элемента памяти, второй вход которого является первым управляющим входом устройства, элемент задержки, выход которого подключен к С-входу триггера, выход которого является выходом устройства, D-вход второго D-триггера соединен с вторым управляющим входом устройства, D-вход третьего D-триггера соединен с третьим управляющим вхо дом устройства, а С-вход его соединен с С-входом второго триггера, четвертый управляющий вход устройства, отличающееся тем, что, с целью повышения точности контроля и быстродействия устройства, в него введены регистр памяти, решающий блок, блок управляемой задержки, выход которого соединен с С-входом третьего триггера, управляющий вход - с четвертым управляющим входом устройства, а вход соединен с пятым управляющим входом устройства, первый второй и третий информационные входы регистра памяти соединены соответственно с выходом элемента памяти, выходами второго и третьего триггеров, а вход синхронизации с выходом элемента задержки, первый, второй и третий информационные входы решающего блока соединены с соответствующими выходами регистра памяти, выход - с D-входом первого триггера, вход элемента задержки соединен с первым управляющим входом устройства.
    Составитель Е.Строкань Редактор О.Спесивых Техред М.Моргентал Корректор М.Демчик
    Заказ 2917 Тираж 412 Подписное
    ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
    113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5
    Производственно-издательский комбинат Патент, г. Ужгород, ул.Гагарина, 101
SU874286554A 1987-07-20 1987-07-20 Устройство дл контрол динамических параметров и функционировани цифровых интегральных схем SU1674017A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874286554A SU1674017A1 (ru) 1987-07-20 1987-07-20 Устройство дл контрол динамических параметров и функционировани цифровых интегральных схем

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874286554A SU1674017A1 (ru) 1987-07-20 1987-07-20 Устройство дл контрол динамических параметров и функционировани цифровых интегральных схем

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1674017A1 true SU1674017A1 (ru) 1991-08-30

Family

ID=21320311

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874286554A SU1674017A1 (ru) 1987-07-20 1987-07-20 Устройство дл контрол динамических параметров и функционировани цифровых интегральных схем

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1674017A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Ерлашов В.П., Носачев В.М. Система контрол динамического функционировани больших интегральных схем. - Электронна техника, 1980, сер.8, вып, (83). с. 110-114, (рис.2). Авторское свидетельство СССР № 1387838, кл. G 01 R 21/28, 1986. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4878209A (en) Macro performance test
US6763489B2 (en) Method for scan testing of digital circuit, digital circuit for use therewith and program product for incorporating test methodology into circuit description
JPH0411960B2 (ru)
US4998025A (en) Device for generating strobe pulses with a desired timing
US5710744A (en) Timing generator for IC testers
KR100546538B1 (ko) 시험 시간을 단축시키기 위한 내부 클럭 증대
US6456561B2 (en) Synchronous semiconductor memory device
US6813741B1 (en) Address counter test mode for memory device
SU1674017A1 (ru) Устройство дл контрол динамических параметров и функционировани цифровых интегральных схем
KR100310715B1 (ko) 동기형반도체기억장치
US5732047A (en) Timing comparator circuit for use in device testing apparatus
KR900008788B1 (ko) 테이터 회로를 구비한 반도체 집적회로장치
KR100776855B1 (ko) Bist 기능을 가진 모듈에서 규정된 펄스 길이를 가진 신호 펄스를 발생시키기 위한 장치
US6643809B2 (en) Semiconductor device and semiconductor device testing method
JPH04274100A (ja) テスト回路内蔵のメモリーlsi
KR100207511B1 (ko) 다수개의 테스트 모드 설정 방법 및 그에 따른 장치
JP2965049B2 (ja) タイミング発生装置
KR100236727B1 (ko) 주기발생장치
JPS578858A (en) Integrated circuit package
US6125462A (en) Testing mechanism in a semiconductor integrated circuit device using an external clock signal and a non-connection pin input signal
US5867050A (en) Timing generator circuit
SU1430915A1 (ru) Устройство дл функционального контрол цифровых интегральных схем
KR200273009Y1 (ko) 고정밀테스트패턴발생회로
KR970011584B1 (ko) 자동 테스트 회로
JP2962238B2 (ja) 論理回路及びその試験方法