SU1649692A1 - Contact device for integrated circuit testing - Google Patents
Contact device for integrated circuit testing Download PDFInfo
- Publication number
- SU1649692A1 SU1649692A1 SU884643227A SU4643227A SU1649692A1 SU 1649692 A1 SU1649692 A1 SU 1649692A1 SU 884643227 A SU884643227 A SU 884643227A SU 4643227 A SU4643227 A SU 4643227A SU 1649692 A1 SU1649692 A1 SU 1649692A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- microcircuit
- contact
- pin
- reliability
- contacts
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к электронной технике и может быть использовано дл проверки сигналов на выводах микросхемы без выпаивани их из платы. Цель изобретени - уменьшение повреждений микросхемы , повышение надежности контактировани и расширение номенклатуры контролируемых изделий. Устройство устанавливают на микросхему и закрепл ют на ней с помощью пружинного захвата 3. При этом промежуточные контакты 5 прижимаютс за счет пружинных свойств к выводам микросхемы. Продвига сь вперед, иг.ыре- вой контакт нажимает на лепестки промежу- точного контакта 5 и увеличивает надежность контакта с выводом микросхемы . Штыревой контакт имеет заостренный конец, которым он внедр етс в вывод микросхемы пленарного типа и обеспечиваетс надежный контакт дл прохождени сигналов от вывода микросхемы на измерительный прибор. 4 ил.The invention relates to electronic engineering and can be used to test signals at the terminals of a microcircuit without soldering them from the board. The purpose of the invention is to reduce damage to the microcircuit, increase the reliability of contact and expand the range of controlled products. The device is mounted on a microcircuit and fixed on it by means of a spring gripper 3. At the same time, intermediate contacts 5 are pressed due to spring properties to the terminals of the microcircuit. Push forward, pressing the contact pushes the petals of the intermediate contact 5 and increases the reliability of the contact with the output of the microcircuit. The pin has a pointed end with which it is inserted into a plenary-type microcircuit pin and provides a reliable contact for passing signals from the microcircuit pin to the measuring device. 4 il.
Description
Изобретение относитс к электронной технике и может быть использовано дл проверки сигналов на выводах микросхем без выпаивани их из платы.The invention relates to electronic engineering and can be used to test signals at the terminals of microcircuits without soldering them from the board.
Цель изобретени - уменьшение повреждений микросхемы, повышение надежности контактировани и расширение номенклатуры контролируемых изделий.The purpose of the invention is to reduce damage to the microcircuit, increase the reliability of contact and expand the range of controlled products.
На фиг. 1 показано предложенное устройство во фронтальной проекции; на фиг. 2 - то же, в боковой проекции; на фиг. 3 - контакты в положении, предшествующем контактированию; на фиг. 4 - контакты в момент контактировани .FIG. 1 shows the proposed device in the frontal projection; in fig. 2 - the same, in a lateral projection; in fig. 3 - contacts in the position prior to contacting; in fig. 4 - contacts at the time of contact.
Контактное устройство содержит диэлектрический корпус 1, гнездо 2, захват 3, с помощью которого устройство закреплено на микросхеме 4, от гнезда 2 отход т промежуточные контакты 5с гнездами, выполненными по форме штыревых контактов, снабженными лепестками. В гнездах 2 размещены штыревые контакты 6. Устройство контактирует с выводами 7 микросхемы 4, смонтированной на плате 8.The contact device comprises a dielectric case 1, a socket 2, a gripper 3, with which the device is fixed on the microcircuit 4, the intermediate contacts 5c diverge from the socket 2 with sockets made in the form of pin contacts with petals. In the sockets 2 pin connectors 6 are placed. The device contacts with the leads 7 of the microcircuit 4, mounted on the board 8.
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
Устройство устанавливают на микросхему 4 и закрепл ют на ней с помощью пружинного захвата 3. При этом промежуточные контакты 5 прижимают за счет пружинных свойств к выводам 7 микросхемы 4, продвига сь вперед, штыревой контакт 6 нажимает на лепесток промежуточного контакта 5 и тем самым увеличивает надежность контакта с выводом 7 микросхемы.The device is mounted on the microcircuit 4 and fixed on it with the help of the spring grip 3. At the same time, the intermediate contacts 5 are pressed due to the spring properties to the terminals 7 of the microcircuit 4, pushing forward, the pin contact 6 presses the tab of the intermediate contact 5 and thereby increases the reliability contact with pin 7 of the chip.
Штыревой контакт 6 имеет заостренный конец, которым он внедр етс в вывод 7 микросхемы 4 планарного типа и тем обеспечивает надежный контакт дл прохождени сигналов от вывода микросхемы на измерительный прибор. Pin 6 has a pointed end with which it is inserted into pin 7 of chip 4 of the planar type and thus provides reliable contact for the passage of signals from the pin of the chip to the measuring device.
Данное устройство обеспечивает на- дежный контакт на всех подвергаемых контролю выводах микросхем различных типов. Кроме того, контроль может производитьс на платах, исследуемых на испытательных стендах или на ремонтируемом функционирующем электронном устройстве вычислительной или радиотехники.This device provides reliable contact on all monitored pins of various types of microcircuits. In addition, the monitoring can be carried out on boards examined on test benches or on a repaired functioning electronic device of computing or radio engineering.
Изобретение позвол ет сократить врем на проверку электронных схем, повысить качество изготовл емой или ремонтируемой аппаратуры и повысить процент выхода годной продукции.The invention makes it possible to reduce the time for checking electronic circuits, to improve the quality of the equipment being manufactured or repaired, and to increase the percentage of usable products.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884643227A SU1649692A1 (en) | 1988-12-19 | 1988-12-19 | Contact device for integrated circuit testing |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884643227A SU1649692A1 (en) | 1988-12-19 | 1988-12-19 | Contact device for integrated circuit testing |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1649692A1 true SU1649692A1 (en) | 1991-05-15 |
Family
ID=21425443
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884643227A SU1649692A1 (en) | 1988-12-19 | 1988-12-19 | Contact device for integrated circuit testing |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1649692A1 (en) |
-
1988
- 1988-12-19 SU SU884643227A patent/SU1649692A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР Ms 1205324,кл. Н 05 К 13/00, 1984. Авторское свидетельство СССР № 1557181,кл. Н 05 К 1/18.1986. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5127837A (en) | Electrical connectors and IC chip tester embodying same | |
US5887344A (en) | Method of mounting a plurality of ball leads onto a BGA socket | |
US5629837A (en) | Button contact for surface mounting an IC device to a circuit board | |
EP0310302B1 (en) | Multipurpose socket | |
DE3163181D1 (en) | Bridge connector for electrically connecting parallel pins | |
JP2003249323A (en) | Socket for electric component | |
KR970018873A (en) | Method and apparatus for positioning an electrical circuit member | |
KR100958135B1 (en) | Inspection probe | |
US6100585A (en) | Structure for mounting device on circuit board | |
JP2000123935A (en) | Contact pin and socket | |
EP0428681B1 (en) | Improved electrical connectors and ic chip tester embodying same | |
SU1649692A1 (en) | Contact device for integrated circuit testing | |
KR20220014633A (en) | Test socket of integrated circuit module | |
KR950003835A (en) | Socket for direct electrical connection to integrated circuit chip | |
US6107812A (en) | Apparatus and method for testing integrated circuit components of a multi-component card | |
US6124720A (en) | Test socket for surface mount device packages | |
JPH0566243A (en) | Jig for lsi evaluation | |
JPH0725722Y2 (en) | Socket for electronic parts | |
KR20220014634A (en) | Test socket of integrated circuit module | |
KR100368898B1 (en) | Method and apparatus for testing electronic devices | |
KR200383947Y1 (en) | connector for chip test | |
US4950981A (en) | Apparatus for testing a circuit board | |
SU580665A1 (en) | Contact device | |
JPS59195164A (en) | Probe contact for detecting circuit | |
SU1181025A1 (en) | Contact device for wiring integrated circuits on printed circuit board |