SU1622858A2 - Device for measuring parameters of microcircuits - Google Patents
Device for measuring parameters of microcircuits Download PDFInfo
- Publication number
- SU1622858A2 SU1622858A2 SU884433356A SU4433356A SU1622858A2 SU 1622858 A2 SU1622858 A2 SU 1622858A2 SU 884433356 A SU884433356 A SU 884433356A SU 4433356 A SU4433356 A SU 4433356A SU 1622858 A2 SU1622858 A2 SU 1622858A2
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- input
- output
- frequency
- amplifier
- low
- Prior art date
Links
Landscapes
- Superheterodyne Receivers (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике н может быть использовано дл измерени параметров микросхем супергетеродинного приемника, в частности в составе автоматизированной системы контрол . Целью изобретени вл етс расширение функциональных возможностей за счет возможности измерени новых параметров объекта контрол в частотно-модулированном режиме и повышение точности измерени за счет возможности стабилизации входных уровнен задаваемых воздействий. 1 ил.The invention relates to instrumentation technology and can be used to measure the parameters of superheterodyne receiver chips, in particular, as part of an automated control system. The aim of the invention is to expand the functionality due to the possibility of measuring the new parameters of the control object in the frequency-modulated mode and improving the measurement accuracy due to the possibility of stabilizing the input level of the specified effects. 1 il.
Description
Изобретение относитс к разработке контрольно-измерительной аппаратуры дл измерени параметров микросхем супергетеродинного приемника, может быть использовано при серийном производстве в составе автоматизированной системы контрол и вл етс усовершенствованием изобретени по авт.св. Р 105789J.The invention relates to the development of instrumentation for measuring the parameters of superheterodyne receiver chips, can be used in batch production as part of an automated control system and is an improvement of the invention according to the author. R 105789J.
Целью изобретени вл етс расширение функциональных возможностей дополнительного измерени новых параметров объекта контрол н повышение точности измерени за счет возможности стабилизации входных уровней задаваемых воздействий при исключении разброса входных параметров объекта контрол .The aim of the invention is to extend the functionality of additional measurement of an object's parameters to control the increase in measurement accuracy due to the possibility of stabilizing the input levels of specified effects while eliminating the variation of the input parameters of the control object.
На чертеже приведена схема предлагаемого устройства.The drawing shows a diagram of the proposed device.
Устройство содержит генераторы низкой 1 и несущей 2 частоты,амплитудный модул тор 3. первый аттенюатор 4, контактный блок 5, измер емую микросхему 6, генератор 7 опорной частоты, перзый усилитель-ограничитель 8, первый делитель 9 частоты, первый фазовый детектор 10, второй делитель 11 частоты, второй усилитель-ограничитель 12, переключатель 13, первый интегратор 14, усилитель 15 посто нного тока, элемент 16 электронной перестройки гетеродина, смеситель 17, первый фильтр 18 низкой частоты, согласующий усилитель 19, измеритель 20 переменного напр жени , регулируемый усилитель 21, измеритель 22 коэффициента гармоник,детектор 23 действующего значени напр жени , первый элемент 24 сравнени , второй интегратор 25, усилитель 26 посто нного тока, источник 27 опорного напр жени , третий делитель , 28 частоты, второй фазовый детекторThe device contains low 1 and carrier 2 frequency generators, amplitude modulator 3. first attenuator 4, contact block 5, microcircuit 6 to be measured 6, frequency generator 7, frequency limiter 8, first frequency divider 9, first phase detector 10, second frequency divider 11, second limiting amplifier 12, switch 13, first integrator 14, direct current amplifier 15, local oscillator electronic tuning element 16, mixer 17, first low-frequency filter 18, matching amplifier 19, alternating voltage meter 20, adjustable amplifier 21, harmonic coefficient meter 22, voltage detector 23, first comparison element 24, second integrator 25, DC amplifier 26, voltage source 27, third divider, 28 frequencies, second phase detector
29, второй фильтр 30 низкой частоты, сумматор 31, генератор 32, управл - емый напр жением, делитель 33 с программируемым коэффициентом делени , третий усилитель-ограничитель 34, третий фильтр 35 низкой частоты, каскад 36 с регулируемым коэффициентом передачи, усилитель 37 высокой частоты , второй аттенюатор 38, каскад 39 с регулируемым коэффициентом передачи , коммутатор 40, усилитель 41 мощности, детектор 42, третий интегратор 43, второй элемент 44 сравнени .29, second low-pass filter 30, adder 31, voltage controlled oscillator 32, programmable division divider 33, third limiting amplifier 34, third low frequency filter 35, adjustable gain stage 36, high frequency amplifier 37 , second attenuator 38, cascade 39 with adjustable transmission coefficient, switch 40, power amplifier 41, detector 42, third integrator 43, second comparison element 44.
Генератор 1 низкой частоты подключен к одному из входов амплитудного модул тора 3 и аттенюатору 38. Генератор 2 несущей частоты соединен с вторым входом амплитудного модул тора 3, выход которого через каскад 39 с регулируемым коэффициентом передачи , коммутатор 40, усилитель 41 мощности, аттенюатор 4 соединен с зажимом контактного блока 5, соответствующему входу измер емой микросхемы 6. Зажим контактного блока 5, соответствующий выходу низкой частоты микросхемы, соединен с измерителем 20 переменного напр жени и входом регулируемого усилител 21, выход которого одновременно соединен с измерителен 22 коэффициента гармоник и входом детектора 23 действующего значени напр жени , выход которого со- динен с одним из входов элемента ,24 сравнени , выход которого через интегратор 25 и усилитель 26 посто нного тока соединен с управл ющим входом регулируемого усилител 21. Опорный вход элемента 24 соединен с источником 27 опорного напр жени и опорным входом элемента 44 сравнени , другой вход которого через детектор 42 соединен с выходом усилител 41 мощности и входом аттенюатора 4. Выход элемента 44 через интегратор 43 одновременно присоединен к входам управлени каскадами 39 и 36. Выход каскада 36 соединен через усилитель 37 высокой частоты с комтгутатором 40, а его вход - с выходом фильтра 35 низкой частоты, вход которого подсоединен к выходу генератора 32.управл емого напр жением , и входу усилител -ограничител 34 выход которого соединен через делитель 33 частоты с одним из входовThe low-frequency generator 1 is connected to one of the amplitude modulator 3 inputs and an attenuator 38. The carrier frequency generator 2 is connected to the second input of the amplitude modulator 3, the output of which is via a variable gain stage 39, a power amplifier 41, an attenuator 4 is connected A terminal of the contact block 5 corresponding to the input of the measured chip 6. The terminal of the contact block 5 corresponding to the output of the low frequency of the microcircuit is connected to the alternating voltage meter 20 and the input of the adjustable amplitude 21, the output of which is simultaneously connected to the measured 22 harmonic coefficients and the input of the detector 23 of the effective voltage value, the output of which is connected to one of the element inputs, 24 comparison, the output of which is connected to the control input through the integrator 25 and the amplifier 26 adjustable amplifier 21. The reference input of the element 24 is connected to the source 27 of the reference voltage and the reference input of the comparison element 44, the other input of which through the detector 42 is connected to the output of the power amplifier 41 and the input of the attenuator 4. The output of the electric 44 through the integrator 43 is simultaneously connected to the control inputs of the cascades 39 and 36. The output of the cascade 36 is connected via a high-frequency amplifier 37 to a commutator 40, and its input is connected to the output of a low-frequency filter 35, the input of which is connected to the output of the generator 32. and the input of the limiting amplifier 34 whose output is connected via a frequency divider 33 to one of the inputs
10ten
1515
2020
2525
622858л622858l
фазового детектора 29, выход которого через фильтр 30 низкой частоты и сумматор 31 соединен с входом генератора 32, управл емого напр жением, второй вход сумматора 31 соединен с выходом аттенюатора 38. Второй вход фазового детектора 29 соединен с выходом делител 28 частоты,вход которого присоединен к выходу усилител -ограничител 8 и входу делител 9 частоты, выход которого соединен с одним из входов фазового детектора 10, другой вход которого соединен через делитель 11 частоты, усилитель-ограничитель 12, подвижный контакт переключател 13 с зажимом контактного блока 5, соответствующим выходу усилител промежуточной частоты измер емой микросхемы 6. Выход гетеродина измер емой микросхемы через соответствуюдай контакт блока 5 соединен через согласующий усилитель 19 с входом смесител 17, к другому входу которого присоединены генератор 7 опорной частоты и вход усилител -ограничител 8. Выход фазового детектора 10 через интегратор 14, усилитель 15 посто нного тока и элемент 16 электронной перестройки гетеродина присоединен к соответствующему выходу микросхемы через контактный блок 5. Выход смесител 17 через фильтр 18 низкой частоты подключен к нормально открытому контакту переключател 13.phase detector 29, the output of which through the low-frequency filter 30 and the adder 31 is connected to the input of the voltage controlled generator 32, the second input of the adder 31 is connected to the output of the attenuator 38. The second input of the phase detector 29 is connected to the output of the frequency divider 28, the input of which is connected to the output of the amplifier-limiter 8 and the input of the frequency divider 9, the output of which is connected to one of the inputs of the phase detector 10, the other input of which is connected through the frequency divider 11, the limiting amplifier 12, the movable contact of the switch 13; ohm contact block 5 corresponding to the output of the intermediate frequency amplifier of the measured chip 6. The output of the local oscillator of the measured chip through the corresponding contact of the block 5 is connected via a matching amplifier 19 to the input of the mixer 17, to the other input of which the generator 7 of the reference frequency and the input of the limiting amplifier 8 are connected The output of the phase detector 10 through the integrator 14, the amplifier 15 of the direct current and the element 16 of the electronic tuning of the local oscillator is connected to the corresponding output of the chip through the contact block 5. The low frequency output of the mixer 17 through the filter 18 is connected to the normally open contact of switch 13.
Работа осуществл етс в двух режимах: измерение параметров микросхемы в режиме амплитудно-модулиро- ванных колебаний (АМ-режим); измерение параметров микросхемы в режиме частотно-модулированных колебаний (ЧМ-режим).The operation is carried out in two modes: measurement of the parameters of the microcircuit in the mode of amplitude-modulated oscillations (AM mode); Measurement of microcircuit parameters in the mode of frequency-modulated oscillations (FM mode).
АМ-режим соответствует приему средних волн (СВ) и контролируетс при входном воздействии частотой 1 МГц.The AM mode corresponds to the reception of medium waves (MW) and is monitored at an input frequency of 1 MHz.
ЧМ-режим соответствует приему ультракоротких волн (УКВ) и в св зи с тем, что р д микросхем примен етс в этом режиме с внешним преобразователем частоты, он соответствует преобразованию промежуточной частотно- модулированной частоты в низкочастотные колебани .FM mode corresponds to the reception of ultrashort waves (VHF) and due to the fact that a number of chips used in this mode with an external frequency converter, it corresponds to the conversion of the intermediate frequency-modulated frequency into low-frequency oscillations.
Выбор режима работы устройства осуществл етс внешним воздействием на коммутатор 40 и блок 5, содержащий все навесные элементы, необходимые дл работы микросхемы в заданном режиме работы, в том числе резонанс30The mode of operation of the device is selected by an external influence on the switch 40 and block 5, which contains all the mounted elements necessary for the operation of the chip in a given mode of operation, including resonance 30
3535
4040
4545
5050
5555
5 . ные контуры, настроенные на заданные промежуточные частоты.five . circuits tuned to specified intermediate frequencies.
Рассмотрим работу при измерении параметров в режиме амплитудно-мо- дулированных колебаний.Consider the work when measuring parameters in the mode of amplitude-modulated oscillations.
В измер емой микросхеме используютс следующие узлы: гетеродин, смеситель, усилитель промежуточной частоты,детектор, усилитель низкой частоты.The following components are used in the measured microcircuit: local oscillator, mixer, intermediate frequency amplifier, detector, low frequency amplifier.
Генераторы несущей 2 и низкой 1 частоты при помощи амплитудного модул тора 3 формируют амплитудно-мо- дулированные колебани Carrier 2 and low frequency 1 generators form amplitude modulated oscillations using an amplitude modulator 3
U,(t) - UMSin 2fiF4 t l + + (Cos 2tot) U, (t) - UMSin 2fiF4 t l + + (Cos 2tot)
где п - глубина модул ции;where n is the modulation depth;
Uц - амплитуда напр жени несущей частоты; Ft - частота колебаний несущейUc is the amplitude of the carrier voltage; Ft - carrier frequency
частоты генератора 2; Q - частота модулирующих колебаний генератора 1. Этот сигнал поступает через каскад 39, коммутатор 40 и усилитель 41 мощности на вход аттенюатора 4 и детектора 42, на выходе которого действует напр жениеgenerator frequency 2; Q is the frequency of the modulating oscillations of the generator 1. This signal enters through the cascade 39, the switch 40 and the power amplifier 41 to the input of the attenuator 4 and the detector 42, the output of which is a voltage
и а, - мок,,,and a, - wet ,,,
КTO
4(four(
КTO
42 42
где коэффициент передачи регулируемого каскада 39; К - коэффициент передачи коммутатора 40, К4С 1; К 4, - коэффициент передачи усилител 41 мощности; 42 коэффициент преобразовани where the transmission coefficient of the adjustable cascade 39; K - transfer coefficient of the switch 40, K4C 1; 4, - the transfer coefficient of the power amplifier 41; 42 conversion factor
переменного напр жени в посто нное с детектором 42. Выходное напр жение детектора 42 сравниваетс с опорным значением напр жени источника 27 при помощи элемента 44 сравнени , разность их усиливаетс и интегрируетс интегратором 43 и воздействует на каскад 39 с целью уменьшени ошибки рассогласовани , т.е. к аттенюатору 4 подведено напр жение, равное U4( Uj(t)alternating voltage to a constant with detector 42. The output voltage of detector 42 is compared with the reference voltage value of source 27 using a comparison element 44, the difference is amplified and integrated by integrator 43 and acts on the cascade 39 in order to reduce the error of the error, i.e. . the attenuator 4 is supplied with a voltage equal to U4 (Uj (t)
K,,(U3o - Uen).K4tLK4.K ,, (U3o - Uen) .K4tLK4.
Зто напр жение с помощью аттенюатора 4 проводитс к входу микросхемы, т.е.This voltage using attenuator 4 is conducted to the input of the microcircuit, i.e.
28582858
Уг клUk kl
5five
где К4 - коэффициент ослаблени аттенюатора 4.where K4 is the attenuation factor of the attenuator 4.
Таким образом, формируетс входной сигнал в режиме амплнтудно-моду- лированных колебаний.Thus, the input signal is generated in the mode of amplitude-modulated oscillations.
Гетеродин измер емой микросхемы вырабатывает напр жение частотой РГ, которое смешиваетс смесителем микросхемы и преобразуетс в напр жение промежуточной частоты F,,., равнойThe local oscillator of the measured microcircuit produces a voltage with a frequency RG, which is mixed by the mixer of the microcircuit and converted into an intermediate frequency voltage F ,,.
5 разности частот Рги F. Из-за разброса параметров измер емых микросхем необходимо осуществить автоматическую настройку микросхемы на режим измерений. Это осуществл етс пу0 тем подстройки частоты гетеродина в зависимости от величины Fr - F, свод ее к заданной величине Fn« 465 кГц.5 of the difference between the frequencies of Phy F. Due to the scatter of the parameters of the measured microcircuits, it is necessary to automatically adjust the microcircuit to the measurement mode. This is done by adjusting the frequency of the local oscillator depending on the value of Fr - F, reducing it to a given value of Fn «465 kHz.
В зависимости от положени переключател 13, подстройка схемы осуще5 ствл етс двум способами: первый основан на выделении промежуточной частоты по выходу микросхемы,второй - на выделении промежуточной частоты при помощи смесител 17 и фильтраDepending on the position of the switch 13, the trimming circuit is implemented in two ways: the first is based on the selection of the intermediate frequency at the output of the chip, the second - on the selection of the intermediate frequency using the mixer 17 and the filter
0 18 низкой частоты. Во втором случае возможности расширены, так как можно проводить анализ полосы пропускани приемника путем измерени частоты генератора 2 несущей частоты.0 18 low frequency. In the second case, the possibilities are expanded, as it is possible to analyze the receiver bandwidth by measuring the frequency of the carrier-frequency generator 2.
В том и другом случае напр жение промежуточной частоты поступает через усилитель-ограничитель 12, делитель 11 частоты на вход фазового детектора Ю, на другой вход которо0 г° поступает сигнал с генератора 7 опорной частоты через первый делитель 9 частоты и усилитель-ограничитель 8.In either case, the intermediate-frequency voltage is fed through amplifier-limiter 12, frequency divider 11 to the input of phase detector U, to another input that the signal from generator 7 of the reference frequency through the first frequency divider 9 and amplifier-limiter 8.
В установившемс режиме имеемIn the steady state we have
-LL-LL
к.to.
lSLlSL
4444
Ср ,Wed,
где F - частота сигнала генерато- Ра 7;where F is the frequency of the signal generator PA-7;
К, К„ - коэффициент делени делителей частоты 9 и 11; FC- - частота фазового детектировани детектора 10. Напр жение с выхода фазового детектора 10 через интегратор 14 и усилитель 15 посто нного тока управл ет режимом работы элемента 16 электронной перестройки гетеродина,вклюK, K, is the division ratio of frequency dividers 9 and 11; FC- is the frequency of phase detection of the detector 10. The voltage from the output of the phase detector 10 through the integrator 14 and the DC amplifier 15 controls the operation mode of the element 16 of the local oscillator,
ценного в цепь гетеродина микросхемы 6 через контактный блок 5. Таким образом осуществл етс стабилизаци промежуточной частоты при изменении частоты входного сигнала, либо смене образцов микросхемы в процессе измерени .the value of the heterodyne of the chip 6 through the contact block 5. Thus, the intermediate frequency is stabilized by changing the frequency of the input signal or changing the samples of the chip during the measurement process.
Выходной уровень микросхемы по низкой частоте измер етс измерителем 20 переменного напр жени и через регулируемый усилитель 21 подаетс на вход измерител 22 коэффициента гармоник.The low-frequency output level of the microcircuit is measured by an alternating voltage meter 20 and through an adjustable amplifier 21 is fed to the input of the harmonic coefficient meter 22.
Регулируемый усилитель 21 совмест- но с детектором 23 действующего значени напр жени , элементом 24 сравнени , интегратором 25, усилителем 26 посто нного тока, подключенным к управл ющему входу регулируемого усилител 21 , и источник 27 опорного напр жени осуществл ют поддержание посто нным уровнем напр жени на входе измерител 22 гармоник независимо от выходного уровн микросхемы, кото- рын может измен тьс от образца к образцу .Adjustable amplifier 21 in conjunction with voltage detector 23, comparison element 24, integrator 25, DC amplifier 26 connected to the control input of adjustable amplifier 21, and reference voltage source 27 maintain a constant voltage level. At the input, the harmonic meter 22 is independent of the output level of the microcircuit, which can vary from sample to sample.
Таким образом, в АМ-режиме, измен глубину модул ции (выходной уровень напр жени генератора 1 низкой частоты), можно измерить выходные напр жени при заданных глубине модул ции и величинах входного воздействи (аттенюатор 4), коэффициент гармоник при заданных уровн х входного сигнала и глубине модул ции, а также отношение сигнал-шум.Thus, in the AM mode, by changing the modulation depth (the output voltage level of the low-frequency generator 1), you can measure the output voltages for a given modulation depth and input action values (attenuator 4), harmonic ratio for given input signal levels and modulation depth, as well as signal-to-noise ratio.
Измерение осуществл етс при глубине модул ции, равной нулю (измерение шумового напр жени ), и затем при заданной глубине модул ции.The measurement is carried out with a modulation depth equal to zero (noise voltage measurement), and then at a predetermined modulation depth.
Измен Амплитуду напр жени , подводимого к сумматору 31 при помощи аттенюатора 38, можно измен ть девиацию частоты частотно-модулированного сигнала. Измен коэффициент делени делител 33, можно измен ть центральную частоту сигнала. Измерение коэффициента гармоник осуществл етс при входном ЧМ-снгнале с заданными параметрами измерителем 22. Измерение выходных напр жений при различной модул ции осуществл етс измерителем 20 (вольтметром).Changing the amplitude of the voltage supplied to the adder 31 using an attenuator 38, you can change the frequency deviation of the frequency-modulated signal. By changing the division ratio of the divider 33, the center frequency of the signal can be changed. The measurement of the harmonic coefficient is carried out at the input FM loop with the specified parameters by the meter 22. The output voltages with different modulations are measured by the meter 20 (voltmeter).
Измерение отношени сигнал-шум в ЧМ-режиме осуществл етс в три этапа измерение выходного напр жени вольтметром 20 при заданных параметрах входного сигнала (); измерениеThe measurement of the signal-to-noise ratio in the FM mode is carried out in three stages, the measurement of the output voltage with a voltmeter 20 with the input signal parameters (); measurement
выходного напр жени вольтметром 20 при отсутствии ЧМ-модул ции (Ugfl);output voltage with a voltmeter 20 in the absence of FM modulation (Ugfl);
zo UM zo UM
нахождение отношени N 20 lgfinding the ratio of N 20 lg
00
00
5 5 5 5
00
5five
00
5five
00
5five
Введение цепи поддержани стабильного уровн напр жени на входе (блоки 37, 36, 40, 41, 42, 44 и 43) приводит к повышению точности,а создание задающего ЧМ-генератора с стабилизацией центральной частоты сигнала (блоки 7, 8, 28, 29, 33, 34, 30, 31, 32, 35, 36, 37, 38 и 1) расшир ет функциональные возможности предлагаемого устройства.The introduction of a circuit to maintain a stable voltage level at the input (blocks 37, 36, 40, 41, 42, 44 and 43) leads to an increase in accuracy, and the creation of a master oscillator with stabilization of the center frequency signal (blocks 7, 8, 28, 29 , 33, 34, 30, 31, 32, 35, 36, 37, 38, and 1) expands the functionality of the proposed device.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884433356A SU1622858A2 (en) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | Device for measuring parameters of microcircuits |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884433356A SU1622858A2 (en) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | Device for measuring parameters of microcircuits |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1057893A Addition SU193391A1 (en) | METHOD OF FLOTATION DIVIDE FOR COLLECTIVE CONCENTRATES OR ORES |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1622858A2 true SU1622858A2 (en) | 1991-01-23 |
Family
ID=21378339
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884433356A SU1622858A2 (en) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | Device for measuring parameters of microcircuits |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1622858A2 (en) |
-
1988
- 1988-04-28 SU SU884433356A patent/SU1622858A2/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР R. Ю57893, кл. G 01 R 31/28, 1983. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4714873A (en) | Microwave noise measuring apparatus | |
FI93064C (en) | Method and arrangement for controlling a bandpass filter, especially a com- puter filter | |
US4219770A (en) | Insertion loss and phase shift measurement system and method | |
GB2134269A (en) | Frequency counting | |
EP0877945B1 (en) | A receiver for spectrum analysis | |
GB2433353A (en) | YIG Filter Tuning System and Method | |
JPS638428B2 (en) | ||
SU1622858A2 (en) | Device for measuring parameters of microcircuits | |
JPS6230525B2 (en) | ||
JP2000206165A (en) | Device for measuring phase noise of measuring object | |
US4035736A (en) | FM discriminator having low noise characteristics | |
SU1057893A2 (en) | Micro circuit parameter measuring device | |
RU2099729C1 (en) | Noise characteristics meter of superhigh and high-frequency transmitters | |
JP2624237B2 (en) | Method for measuring integrated circuit device | |
SU1737365A1 (en) | Resonator q-meter | |
SU1171959A1 (en) | Method of generating noise oscillations | |
Ishikawa | Millimeter Wave Syntheisizer | |
Dvornikov et al. | Measurement of Basic Characteristics of Radio Receivers | |
SU1734052A1 (en) | Autocorrelation meter of band-limited noise within the carrier environment | |
JPH0216289Y2 (en) | ||
Musch et al. | A fast heterodyne network analyzer based on precision linear frequency ramps | |
SU447631A1 (en) | Total noise power meter in the wings of the spectral line of the sources of microwave and HF oscillations | |
RU16682U1 (en) | SELECTIVE SIGNAL MEASUREMENT DEVICE | |
RU2082985C1 (en) | Gear measuring directivity diagrams of antenna in far zone | |
RU2060507C1 (en) | Frequency-modulated radiospectrometer |