SU1488730A1 - Устройство для измерения толщины полупроводниковой пленки - Google Patents
Устройство для измерения толщины полупроводниковой пленки Download PDFInfo
- Publication number
- SU1488730A1 SU1488730A1 SU874250345A SU4250345A SU1488730A1 SU 1488730 A1 SU1488730 A1 SU 1488730A1 SU 874250345 A SU874250345 A SU 874250345A SU 4250345 A SU4250345 A SU 4250345A SU 1488730 A1 SU1488730 A1 SU 1488730A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- measuring
- microwave
- output
- input
- generator
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
Изобретение относится к технике измерений на СВЧ. Цель изобретения - повышение точности измерения. Устройство содержит опорный измери2
тельный резонатор 1 СВЧ, измерительный генератор 2 СВЧ, опорный стабилизированный генератор 3 СВЧ, смеситель 4, частотомер 5, 45 -ный фазовращатель 6 и блок 7 фазовой автоподстройки частоты. Принцип работы устройства основан на том, что сдвиг по фазе колебания, вызванный заменой металлического торца резонатора 1 исследуемым образцом и обусловленный подложкой образца, равен 45° и не зависит от электропроводное ти подложки. С учетом этого введение блока 7 и фазовращателя 6 позволяет скомпенсировать фазовый сдвиг, вносимый подложкой. Цель достигается за счет исключения погрешности, связанной с разбросом электропроводности подложек образцов. Гил..
5
3
Изобретение относится к технике измерении па СВЧ и может быть использовано для неразрушающего контроля толщины полупроводниковых пленок на сильно легированных полупроводниковых или проводящих подложках„
Целью изобретения является повышение точности.
На чертеже приведена структурная электрическая схема устройства для измерения толщины полупроводниковой пленки.
Устройство содержит опорный измерительный резонатор Г СВЧ, измерительный генератор 2 СВЧ, опорный стабилизированный генератор 3 СВЧ, смеситель 4, частотомер 5, 45-градусный фазовращатель 6, блок 7 фазовой автоподстройки частоты.
Устройство для измерения толщины полупроводниковой пленки работает следующим образом.
Перед началом измерений отверстие измерительного резонатора 1 закрывают металлической заглушкой из такого же материала, частоту измерительного генератора 2 устанавливают равной частоте опорного стабилизированного генератора 3, Затем вместо металлической заглушки устанавливают исследуемый образец стороной, где нанесена полупроводниковая пленка. При этом резонансная частота измерительного резонатора 1 изменяется, а между сигналами на входе и выходе измерительного резонатора 1 имеется фазовый сдвиг ц, . В канале с 45-градусным фазовращателем 6 происходит фазовый сдвиг ίρθ = 45 .
На выходе блока 7 выделяется напряжение, пропорциональное разности фазовых сдвигов = 45 , которое поступает на управляющий вход измерительного генератора 2, перестраивая его частотч до обеспечения ра'о
венства. = 45 . Сигнал с измерительного генератора 2 с измененной частотой поступает на один из входов
488730 4
смесителя 4, на другой вход которого поступает сигнал с выхода опорного стабилизированного генератора 3.
$ С выхода смесителя 4 сигнал разностной частоты, численно равный величине изменения частоты измерительного генератора 2 и пропорциональный измеряемой толщине пленки, поступает ,θ на частотомер 5 для регистрации.
Принцип работы устройства для измерения толщины полупроводниковой пленки основан на том, что сдвиг по фазе колебания, вызванный заменой 15 металлического торца измерительного резонатора 1 исследуемым образцом и обусловленный подложкой образца, равен 45 и не зависит от электропроводности подложки. С учетом это20 го введение блока 7 и 45-градусного фазовращателя 6 позволяет скомпенсировать фазовый сдвиг, вносимый подложкой, и тем самым повысить точность измерений за счет исключения 25 погрешности, связанной с разбросом электропроводности подложек образцов.
Claims (1)
- Формула изобретенияIУстройство для измерения толщины 30 полупроводниковой пленки, содержащее опорный стабилизированный генератор СВЧ, соединенный с первым входом смесителя, выход которого подключен к частотомеру, и измерительный генератор СВЧ, подсоединенный к входу измерительного резонатора СВЧ, отличающееся тем, что, с целью повышения точности, выход измерительного генератора СВЧ соединен с вторым входом смесителя и входом введенного 45-градусного фазовращателя, выход измерительного резонатора СВЧ и выход - 45-градусного фазовращателя подклю45 чены соответственно к первому и второму входам введенного блока фазовой автоподстройки частоты, выход которого соединен с управляющим входом измерительного генератора СВЧ.3540
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874250345A SU1488730A1 (ru) | 1987-05-27 | 1987-05-27 | Устройство для измерения толщины полупроводниковой пленки |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874250345A SU1488730A1 (ru) | 1987-05-27 | 1987-05-27 | Устройство для измерения толщины полупроводниковой пленки |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1488730A1 true SU1488730A1 (ru) | 1989-06-23 |
Family
ID=21306379
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874250345A SU1488730A1 (ru) | 1987-05-27 | 1987-05-27 | Устройство для измерения толщины полупроводниковой пленки |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1488730A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1995010755A1 (en) * | 1993-10-14 | 1995-04-20 | Maloe Predpr V Forme Obschestv | Electromagnetic process for measuring the thickness of articles and a device for carrying out said process |
-
1987
- 1987-05-27 SU SU874250345A patent/SU1488730A1/ru active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1995010755A1 (en) * | 1993-10-14 | 1995-04-20 | Maloe Predpr V Forme Obschestv | Electromagnetic process for measuring the thickness of articles and a device for carrying out said process |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0990887B1 (en) | Densitometer using microwaves | |
US4675596A (en) | Digital fluid analyzer using capacitive sensing | |
US2562575A (en) | Electronic device for measuring physical constants | |
US5483172A (en) | Radio frequency measuring apparatus | |
SU1488730A1 (ru) | Устройство для измерения толщины полупроводниковой пленки | |
GB1590794A (en) | Viscosimeter and/or densitometer | |
US3018439A (en) | Automatic wave analyzer | |
Lindberg et al. | Microwave moisture meters for the paper and pulp industry | |
SU1337825A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров материалов | |
SU1193539A1 (ru) | Измеритель проход щей мощности СВЧ | |
RU2080610C1 (ru) | Устройство для измерения диэлектрической проницаемости материалов | |
SU1689833A1 (ru) | Устройство дл измерени влажности почвы | |
SU1022033A1 (ru) | Устройство дл кулонометрического анализа | |
SU646235A1 (ru) | Сверхвысокочастотный измеритель концентрации примесей | |
SU1453337A1 (ru) | Способ измерени диэлектрической проницаемости листовых материалов | |
SU723465A1 (ru) | Устройство дл измерени нестабильности частоты | |
SU1022078A1 (ru) | Устройство дл измерени распределени электрического потенциала | |
SU1435968A1 (ru) | Датчик давлени | |
SU588512A1 (ru) | Устройство дл измерени температурного коэффициента частоты кварцевых резонаторов | |
SU1161898A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров диэлектрических материалов | |
SU373642A1 (ru) | Компенсационный фазометр | |
SU734548A1 (ru) | Емкостной влагомер | |
SU408235A1 (ru) | Широкополосный фазометр | |
SU857840A1 (ru) | Способ измерени диэлектрических параметров вещества | |
SU118873A1 (ru) | Способ измерени сдвига фаз |