[go: up one dir, main page]

SU1460600A1 - Method of inspecting curvature radii of spherical surfaces of optical parts - Google Patents

Method of inspecting curvature radii of spherical surfaces of optical parts Download PDF

Info

Publication number
SU1460600A1
SU1460600A1 SU874258160A SU4258160A SU1460600A1 SU 1460600 A1 SU1460600 A1 SU 1460600A1 SU 874258160 A SU874258160 A SU 874258160A SU 4258160 A SU4258160 A SU 4258160A SU 1460600 A1 SU1460600 A1 SU 1460600A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
curvature
microscope
autocollimation
center
autocollimation microscope
Prior art date
Application number
SU874258160A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Юрий Петрович Контиевский
Александр Владимирович Бакеркин
Original Assignee
Предприятие П/Я Г-4149
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Г-4149 filed Critical Предприятие П/Я Г-4149
Priority to SU874258160A priority Critical patent/SU1460600A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1460600A1 publication Critical patent/SU1460600A1/en

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано при контроле высокоточных оптических деталей, например пробньлс стекол. Цель изобретени  - повьшение точности контрол  за счет обеспечени  точной фокусировки автоколлимационного микроскопа на центр кривизны контролируемой поверхности. Последовательно фокусируют автоколлимационный микроскоп 1 на центр кривизны контролируемой поверхности 2 и на саму поверхность. Перед фокусировкой на центр кривизны контролируемой no-i верхности 2 между объективом автоколлимационного микроскопа 1 и контролируемой поверхностью 2 устанавливают плоскопараллельную пластину 4, на обращенную к контролируемой поверхности 2 сторону которой нанесено.све- тоделительное покрытие. Автоколлима - ционный микроскоп 1 фокусирует на светоделительное покрытие плоскопараллельной пластины 2, жестко соедин ют между собой автоколлимационный микроскоп 1 и светоделительную пластину 4, а половину апертуры объектива автоколлимационного микроскопа 1 перекрывают непрозрачным экраном 6. При фокусировке на контролируемую поверхность 2 экран 6 убирают, а плоскопараллельную пластину 2 смещают по направлению к объективу микроскопа I или вывод т из хода лучей. 1 ил. « (ЛThe invention relates to a measurement technique and can be used in the control of high-precision optical components, such as glass probes. The purpose of the invention is to increase the control accuracy by ensuring accurate focusing of the autocollimation microscope on the center of curvature of the test surface. Successively focus the autocollimation microscope 1 on the center of curvature of the test surface 2 and on the surface itself. Before focusing on the center of curvature of the controlled no-i surface 2 between the lens of the autocollimation microscope 1 and the controlled surface 2, install a plane-parallel plate 4 on the side of which is facing the controlled surface 2 a silt-resistant coating. The autocollimation microscope 1 focuses on the beam-splitting coating of the plane-parallel plate 2, the autocollimation microscope 1 and the beam-splitting plate 4 are rigidly interconnected, and half of the aperture of the objective of the autocollimation microscope 1 is covered with an opaque screen 6. When focusing on the controlled surface 2, the screen 6 is removed and the plane-parallel aperture plate 2 is displaced towards the objective of microscope I or removed from the path of the rays. 1 il. "(L

Description

тину 4 жестко соедин ют между собой, 30 с  перемещением его вместе с плоскоTina 4 is rigidly connected to each other, 30 with its movement along with a flat

а половину апертуры объектива автоколлимационного микроскопа 1 перекрывают непрозрачным экраном 6.and half of the aperture of the objective of the autocollimation microscope 1 is covered with an opaque screen 6.

Автоколлимационный микроскоп 1, перемеща  его вместе с плоскопараллельной пластиной 4 и экраном 6, фокусируют на центр кривизны контролируемой поверхности 2, Затем авто коллимационный микроскоп 1 фокусируют на контролируемую поверхность 2 (положение автоколлимационного микроскопа показано пунктирными лини ми ) и измер ют рассто ние между двум  положени ми .автоколлимационного микроскопа 1. По измеренному рассто нию между двум  положени ми автоколлимационного микроскопа 1 определ ют радиус кривизны контролируемой поверхности 2. При фокусировке автоколлимационного микроскопа.1 на контролируемую поверхность 2 экран 6 убирают, а плоскопараллельную пластину 4 смещают по направлению к автоколлимационному микроскопу 1 : или вывод т из хода лучей.Если плоскопараллельна  пластина 4 остаетс  в ходе лучей, то радиус кривизны контролируемой поверхности 2 равен рассто нию между двум  поло5The autocollimation microscope 1, moving it together with the plane-parallel plate 4 and the screen 6, is focused on the center of curvature of the test surface 2. Then the auto collimation microscope 1 is focused on the test surface 2 (the position of the autocollimation microscope is shown by dashed lines) and the distance between two positions by an autocollimation microscope 1. From the measured distance between two positions of the autocollimation microscope 1, the radius of curvature of the test surface 2 is determined. the autocollimation microscope is focused on the controlled surface 2, the screen 6 is removed, and the plane-parallel plate 4 is shifted towards the autocollimation microscope 1: or removed from the ray path. If the plane-parallel plate 4 remains in the course of the rays, then the radius of curvature of the test surface 2 is equal to the distance between two polo5

00

5five

00

5five

Claims (1)

параллельной пластиной 4 вдоль оптической оси. При смещении фокальной плоскости автоколлимационного микроскопа 1 относительно центра кривизны контролируемой поверхности 2 на величину ). наблюдаемые в автоколлимационный микроскоп 1 изображени  смещаютс  относительно его фокальной плоскости на величину 2 пД и, еле- : довательно, повьшаютс  точность фоку сировки и точность контрол . Формула изобретени parallel plate 4 along the optical axis. When the focal plane of the autocollimation microscope 1 is shifted relative to the center of curvature of the test surface 2 by an amount). The images observed in the autocollimation microscope 1 are shifted relative to its focal plane by an amount of 2 pD and, obviously, the focusing accuracy and the control accuracy increase. Invention Formula Способ контрол  радиуса кривизны сферических поверхностей оптических деталей, заключающийс  в том, что перемещают автоколлимационный микроскоп вдоль его оптической оси до последовательной фокусировки сначала на центр кривизны контролируемой поверхности , а затем на контролируемую поверхность, и измер ют величину перемещени  автоколлимациойного микроскопа , по которой определ ют радиус кривизны, о тличающийс  тем, что, с целью повьппени  тхгчности контрол , перед фокусировкой на центр кривизны контролируемой поверхности устанавливают между объективом ав1460600The method of controlling the radius of curvature of the spherical surfaces of optical components, which consists in moving the autocollimation microscope along its optical axis before sequential focusing first on the center of curvature of the monitored surface and then on the monitored surface, and measuring the amount of movement of the autocollimation microscope on which the radius is determined curvature, which is characterized by the fact that, in order to control the monitoring, prior to focusing on the center of curvature of the test surface, wave between the lens av1460600 -.„--zrr.T -. „- zrr.T 14606001460600
SU874258160A 1987-06-08 1987-06-08 Method of inspecting curvature radii of spherical surfaces of optical parts SU1460600A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874258160A SU1460600A1 (en) 1987-06-08 1987-06-08 Method of inspecting curvature radii of spherical surfaces of optical parts

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874258160A SU1460600A1 (en) 1987-06-08 1987-06-08 Method of inspecting curvature radii of spherical surfaces of optical parts

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1460600A1 true SU1460600A1 (en) 1989-02-23

Family

ID=21309370

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874258160A SU1460600A1 (en) 1987-06-08 1987-06-08 Method of inspecting curvature radii of spherical surfaces of optical parts

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1460600A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2491504C2 (en) * 2011-09-30 2013-08-27 Александр Георгиевич Ершов Method of determining radius of curvature of concave optical spherical surface by optical ranging

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Справочник технолога-оптика./ ;/Под ред.С.М.Кузнецова и М.А.Окатова. Л.:. Машиностроение, 1983. с.104. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2491504C2 (en) * 2011-09-30 2013-08-27 Александр Георгиевич Ершов Method of determining radius of curvature of concave optical spherical surface by optical ranging

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104568389B (en) Bilateral dislocation differential confocal component parameters measuring method
CA2206212A1 (en) Phase shifting diffraction interferometer
CN112747904A (en) Method for assembling and adjusting infrared transfer function measuring instrument
US4359282A (en) Optical measuring method and apparatus
CN109253867B (en) Optical system focal length measuring system and method
SU1460600A1 (en) Method of inspecting curvature radii of spherical surfaces of optical parts
CN114199521B (en) Optical lens parameter measurement device and method
CN108225744B (en) Optical lens multi-view-field image quality detection device and method based on pyramid prism
SU1670391A1 (en) Interferometer method of control of concave cylindrical surfaces
SU1449842A1 (en) Method of measuring radius of curvature of spherical surface of optical part
JPH0471453B2 (en)
SU932341A1 (en) Method of determination of focal length and rear focus position of an optical system
JPS6242327Y2 (en)
SU450077A1 (en) Device for controlling the shape of a parabolic surface
SU1716318A1 (en) Method to test concave elliptical surfaces
RU1830500C (en) Apparatus for a measurement of particles traces
SU1104362A1 (en) Interferometer for optical surface quality control
SU1402802A1 (en) Method of checking curvature of flat surface
SU1543308A1 (en) Device for measuring absolute coefficients of mirror reflection
JPH0569362B2 (en)
SU1657947A1 (en) Interferometer for checking of aspherical quadric surfaces
SU848999A1 (en) Interferometer for checking lens and mirror aberration changes in the process of their mounting position
SU1530962A1 (en) Device for inspecting the centering of optical parts
JPH0339709Y2 (en)
SU1180697A1 (en) Apparatus for measuring distance between reflecting surfaces