SU1452471A3 - Способ гравировани электронным лучом растровых чеек различных размеров на поверхности печатной формы и устройство дл его осуществлени - Google Patents
Способ гравировани электронным лучом растровых чеек различных размеров на поверхности печатной формы и устройство дл его осуществлени Download PDFInfo
- Publication number
- SU1452471A3 SU1452471A3 SU823496070A SU3496070A SU1452471A3 SU 1452471 A3 SU1452471 A3 SU 1452471A3 SU 823496070 A SU823496070 A SU 823496070A SU 3496070 A SU3496070 A SU 3496070A SU 1452471 A3 SU1452471 A3 SU 1452471A3
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- electron beam
- engraving
- raster cells
- source
- cells
- Prior art date
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41C—PROCESSES FOR THE MANUFACTURE OR REPRODUCTION OF PRINTING SURFACES
- B41C1/00—Forme preparation
- B41C1/02—Engraving; Heads therefor
- B41C1/04—Engraving; Heads therefor using heads controlled by an electric information signal
- B41C1/05—Heat-generating engraving heads, e.g. laser beam, electron beam
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K15/00—Electron-beam welding or cutting
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K15/00—Electron-beam welding or cutting
- B23K15/0013—Positioning or observing workpieces, e.g. with respect to the impact; Aligning, aiming or focusing electronbeams
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
- H01J37/302—Controlling tubes by external information, e.g. programme control
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
- H01J37/305—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for casting, melting, evaporating, or etching
- H01J37/3053—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for casting, melting, evaporating, or etching for evaporating or etching
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
- H01J37/305—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for casting, melting, evaporating, or etching
- H01J37/3053—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for casting, melting, evaporating, or etching for evaporating or etching
- H01J37/3056—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for casting, melting, evaporating, or etching for evaporating or etching for microworking, e. g. etching of gratings or trimming of electrical components
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Manufacture Or Reproduction Of Printing Formes (AREA)
- Electron Beam Exposure (AREA)
- Radiation-Therapy Devices (AREA)
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Viewfinders (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к полиграфическому оборудованию дл гравировани печатных форм и может быть использовано в других област х техники дл сварки, сверлени , гравировани и нагрева электронным лучом. Целью изобретени вл етс обеспечение стабильности гравировани . Одновременно с фокусировкой электронного луча в зоне поверхности печатной формы регулируют масштаб изображени источника зар женных частиц на поверхности печатной формы в зависимости от заданной тоновой градации. Размер изображени исто тика зар дов устанавливают пропорционально размеру растровой чейки. Электронный луч диафрагмируют до получени практически пр моугольного распределени плотности мощности луча на поверхности. Устройство содержит три длиннофокусные линзы, две динамические линзы, размещенные в первой и третьей длиннофокусных линзах, и апертурную диафрагму . 2 с. и 1 з.п. ф-лы, 5 ил. i О) С
Description
ел
ю
см
Изобретение относитс к полиграфическому оборудованию дл гравировани печатных форм и может быть использовано в других област х техники дл сварки, сверлени , гравировани и нагрева электронным лучом.
Цель изобретени - обеспечение , стабильности гравировани .
На фиг. 1 представлена схема устройства дл осуществлени способа; на фиг. 2 и 3 - схема гравировани и график распределени плотности луч при гравировании больших растровьгх чеек; на,фиг. 4 и 5 - то же, при гравировании малых растровых чеек.
. Устройство дл гравировани электронным лучом растровых чеек различных размеров на поверхности печатной формы содержит (фиг. 1) длиннофокус- ные линзы I, 2 и 3 и апертурную диафрагму 4, размещенные по ходу электроного луча между источником 5 электронов и печатной формой 6. В линзах 1 и 3 размещены динамические линзы 7 и 8.
Способ реализуют следующим образо При возбуждении линзы 7 измен етс на незначительную величину рассто ние изображени от первой длинно- фокусной линзы 1. Масштаб изображени комбинации линз 1 и 7 при этом также измен етс на незначительную величину . Так как изображение источника 5 электронов с помощью комбинации линз 1 и 7 представл ет объект второй ко- роткофокусной линзы 2, то незначительное осевое смещение первого промежуточного изображени ведет к большому изменению масштаба изображени линзы 2. Масштаб изображени комбинации линз 3 и 8 измен етс из-за смещени второго промежуточного изобра- жени на небольшую величину. Возни- кающа из-за этого ошибка в положении фокуса на поверхности печатной формы 6 может компенсироватьс путем регулировки динамической линзы 8. . Пример. Если линза 1 уменьшает в три.раза и линза 7 не возбуждаетс , то втора короткофокусна линза 2 может быть отрегулирована так, что она образует масштаб изображени , равный 1. Если линза 3 затем образует масштаб изображени , равный 4, то общее уменьшение равно 12. На фиг. I получающийс ход луча изображен сплошными лини ми. Если возбудить теперь размещенную в линзе
0
1 линзу 7, то первое промежуточное изображение становитс ближе к комбинации линз 1 и 7. Одновременно становитс больше рассто ние второй короткофокусной линзы 2 от объекта. Это означает, что короткофокусна линза 2 имеет теперь при неизменном возбуждении масштаб изображени , например, равный 3. Общий масштаб уменьшени устройства изменилс в результате до 36. Получающийс ход луча изображен на фиг. 1 пунктирной линией.
Если за короткофокусной линзой 2 размещаетс апертурна диафрагма 4, то дополнительно осуществл етс модул ци масштаба изображени , а также модул ци энергии излучени . Благодар этому можно гравировать с почти одинаковой плотностью мощности как малые, так и большие- чейки.
Услови фокусировки в точке воздействи луча показаны дл больших чеек на фиг. 2 и 3, дл малых чеек - на фиг. 4 и 5.
На фиг. 3 и 5 обозначены: L - плотность мощности излучени ; г - радиус в точке воздействи .На фиг.2- 5 даны размеры в качестве примерных данных.
Изобретение обеспечивает очень быстрое изменение масштаба изображени . Врем регулировки при переходе от сильного к слабому уменьшению и наоборот составл ет приблизительно 1 МКС.
Форму
ла изобретени
. эп д
50
5
1. Способ гравировани электронным лучом растровьк чеек различных размеров на поверхности печатной формы, заключающийс в том, что растровые чейки изготавливают путем воздействи посто нно направленного на поверхность дефокусируемого электронного луча, фо1 усируют его в зоне поверхности и регулируют длительность его воздействи , отличающийс тем, что, с целью обеспечени стабильности гравировани , одновременно с фокусированием регулируют масштаб изображени источника зар женных частиц на поверхности печатной формы в зависимости от заданной тоновой градации, причем размер изображени источника зар женШ /////////////// / Фие.1
//777,
М
Фив. 2
Л
Фиг. 5
///////)(// ///,
Фие.Н
Claims (3)
- Формула изобретения1. Способ гравирования электронным лучом растровых ячеек различных размеров на поверхности печатной формы, заключающийся в том, что растровые ячейки изготавливают путем воздействия постоянно направленного на поверхность дефокусируемого электронного луча, фокусируют его в зоне поверхности и регулируют длительность его воздействия, отличающийся тем, что, с целью обеспечения стабильности гравирования, одновременно с фокусированием регулируют масштаб изображения источника заряженных частиц на поверхности печатной формы в зависимости от заданной тоновой градации, причем размер изображения источника заряжен3 пых частиц устанавливают пропорционально размеру растровой ячейки.
- 2. Способ по π. 1, отличающийся тем, что удаленные от оси лучи диафрагмируют до получения почти прямоугольного распределения плотности мощности как для больших, так и для малых растровых ячеек.
- 3. Устройство для гравирования электронным лучом растровых ячеек различных размеров на поверхности печатной формы, содержащее источник электронов и размещенную по направле нию электронного луча основную систе му линз, отличающееся 5 тем, что, с целью обеспечения стабильности гравирования, оно снабжено по меньшей мере двумя дополнительными системами линз и апертурной диафрагмой, при этом дополнительные сис10 темы линз и апертурная диафрагма размещены последовательно по направлению электронного луча между источником электронов и основной системой линз. .Фиг.1IФие. У
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP81108156A EP0076868B1 (de) | 1981-10-10 | 1981-10-10 | Elektronenstrahl-Gravierverfahren und Einrichtung zu seiner Durchführung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1452471A3 true SU1452471A3 (ru) | 1989-01-15 |
Family
ID=8187949
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU823496070A SU1452471A3 (ru) | 1981-10-10 | 1982-09-28 | Способ гравировани электронным лучом растровых чеек различных размеров на поверхности печатной формы и устройство дл его осуществлени |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4471205A (ru) |
EP (1) | EP0076868B1 (ru) |
JP (1) | JPS5872450A (ru) |
AT (1) | ATE24985T1 (ru) |
DD (1) | DD204180A5 (ru) |
DE (1) | DE3175839D1 (ru) |
DK (1) | DK444082A (ru) |
SU (1) | SU1452471A3 (ru) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4102983A1 (de) * | 1990-09-28 | 1992-04-02 | Linotype Ag | Oberflaechenstruktur einer walze sowie verfahren und vorrichtung zur erzeugung der oberflaechenstruktur |
DE4031547A1 (de) * | 1990-10-05 | 1992-04-09 | Hell Rudolf Dr Ing Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur herstellung von texturwalzen |
DE4039105C2 (de) * | 1990-12-07 | 1994-12-08 | Roland Man Druckmasch | Vorrichtung zur bildmäßigen Beschreibung einer Druckform |
DE19624131A1 (de) * | 1996-06-17 | 1997-12-18 | Giesecke & Devrient Gmbh | Verfahren zur Herstellung von Prägeplatten |
US20060249491A1 (en) * | 1999-09-01 | 2006-11-09 | Hell Gravure Systems Gmbh | Laser radiation source |
DE10058990C2 (de) * | 2000-11-28 | 2003-03-06 | Heidelberger Druckmasch Ag | Vorrichtung zur Bestrahlung eines Objektes für eine Aufzeichnung eines visuellen Produktes |
DE102004023021B4 (de) * | 2004-05-06 | 2009-11-12 | Pro-Beam Ag & Co. Kgaa | Verfahren zur ablativen Bearbeitung von Oberflächenbereichen |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL268860A (ru) * | 1959-04-17 | |||
DE2111628A1 (de) * | 1971-03-11 | 1972-09-14 | Gruner & Jahr | Verfahren und Vorrichtung zum Herstellen von Druckformen,insbesondere Tiefdruckformen |
DE2458370C2 (de) * | 1974-12-10 | 1984-05-10 | Dr.-Ing. Rudolf Hell Gmbh, 2300 Kiel | Energiestrahl-Gravierverfahren und Einrichtung zu seiner Durchführung |
JPS5283177A (en) * | 1975-12-31 | 1977-07-11 | Fujitsu Ltd | Electron beam exposure device |
DE2752598C3 (de) * | 1977-11-25 | 1981-10-15 | Dr.-Ing. Rudolf Hell Gmbh, 2300 Kiel | Verfahren zum Betrieb einer elektromagnetischen fokussierenden elektronen-optischen Linsenanordnung und Linsenanordnung hierfür |
US4243866A (en) * | 1979-01-11 | 1981-01-06 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for forming a variable size electron beam |
DE3008176C2 (de) * | 1979-03-07 | 1986-02-20 | Crosfield Electronics Ltd., London | Gravieren von Druckzylindern |
DE2947444C2 (de) * | 1979-11-24 | 1983-12-08 | Dr.-Ing. Rudolf Hell Gmbh, 2300 Kiel | Elektronenstrahl-Gravierverfahren |
-
1981
- 1981-10-10 DE DE8181108156T patent/DE3175839D1/de not_active Expired
- 1981-10-10 EP EP81108156A patent/EP0076868B1/de not_active Expired
- 1981-10-10 AT AT81108156T patent/ATE24985T1/de not_active IP Right Cessation
-
1982
- 1982-09-24 US US06/423,176 patent/US4471205A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-09-28 SU SU823496070A patent/SU1452471A3/ru active
- 1982-10-05 DD DD82243803A patent/DD204180A5/de unknown
- 1982-10-07 DK DK444082A patent/DK444082A/da not_active Application Discontinuation
- 1982-10-08 JP JP57176440A patent/JPS5872450A/ja active Granted
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Патент DE № 2458370, кл. В 41 С 1/04, 1984. * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DK444082A (da) | 1983-04-11 |
DE3175839D1 (en) | 1987-02-19 |
EP0076868B1 (de) | 1987-01-14 |
JPS5872450A (ja) | 1983-04-30 |
JPS6255987B2 (ru) | 1987-11-24 |
ATE24985T1 (de) | 1987-01-15 |
EP0076868A1 (de) | 1983-04-20 |
US4471205A (en) | 1984-09-11 |
DD204180A5 (de) | 1983-11-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0527607B1 (en) | Electron beam exposure process for writing a pattern on an object by an electron beam with a compensation of the proximity effect | |
MY118961A (en) | Beam irradiation apparatus, optical apparatus having beam irradiation apparatus for information recording medium, method for manufacturing original disk for information recording medium, and method for manufacturing information recording medium | |
SU1452471A3 (ru) | Способ гравировани электронным лучом растровых чеек различных размеров на поверхности печатной формы и устройство дл его осуществлени | |
US4710639A (en) | Ion beam lithography system | |
US4225224A (en) | Process and apparatus for laser illumination of printing plates | |
CN211219155U (zh) | 一种可调光斑大小的二氧化碳聚焦镜 | |
JPS57105715A (en) | Uniform scanning lens having high resolving power | |
JPS5727551A (en) | Electron microscope | |
US4031391A (en) | Electron microscope including improved means for determining and correcting image drift | |
US4218621A (en) | Electron beam exposure apparatus | |
JPS5760648A (en) | Electron microscope | |
JPS5533716A (en) | Electron microscope focusing lens system | |
JPS57111936A (en) | Astigmatism correcting device for electron microscope | |
JPS60184241A (ja) | 複写機 | |
JPS6115572Y2 (ru) | ||
JPH0234750Y2 (ru) | ||
JPH0587014B2 (ru) | ||
RU2041828C1 (ru) | Лазерная гравировальная машина | |
JPS54106206A (en) | Optical recorder | |
JPS6476655A (en) | Radiation quantity stabilizing device for electron microscope | |
JPS5919622B2 (ja) | 電子顕微鏡 | |
JPS6030034A (ja) | カラ−ブラウン管の露光装置 | |
JPS56152145A (en) | Electron microscope | |
SU901984A1 (ru) | Устройство дл фотопечатани | |
JPH0691001B2 (ja) | 荷電ビ−ム制御方法 |