SU1395994A1 - Photoelectric spectrometer of microparticles - Google Patents
Photoelectric spectrometer of microparticles Download PDFInfo
- Publication number
- SU1395994A1 SU1395994A1 SU853941480A SU3941480A SU1395994A1 SU 1395994 A1 SU1395994 A1 SU 1395994A1 SU 853941480 A SU853941480 A SU 853941480A SU 3941480 A SU3941480 A SU 3941480A SU 1395994 A1 SU1395994 A1 SU 1395994A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- semiconductor laser
- particles
- optical axis
- increase
- photodetector
- Prior art date
Links
- 239000011859 microparticle Substances 0.000 title claims abstract description 6
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 14
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 8
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 4
- 239000004005 microsphere Substances 0.000 claims abstract description 4
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 claims 2
- 239000005387 chalcogenide glass Substances 0.000 abstract description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 abstract description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 abstract description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 abstract 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике, в частности к устройствам оптического контрол параметров микрочастиц, и может быть использовано дл контрол чистоты газов и жидкостей. Цель - повьше- ние точности измерений и чувствительности путем снижени нижнего предела размеров регистрируемых частиц. Частицы , переносимые Лотоком газа и жидкости, освещают пучком света по- лосковой , генерируемым непрерывным полупроводниковым лазером. В качестве формирующей линзы используетс микросфера из халькогенидного стекла со специально подобранными параметрами. Рассе нный частицами свет регистрируетс двум фотодиодами , расположенными симметрично относительно оптической оси лазера, выходы которых соединены между собой, а также через малошум щий усилитель с блоком регистрации. За счет использовани острой фокусировки зондирующего луча, а также максимального использовани телесного угла приема света достигаетс повышение чувствительности устройства, полоскова геометри луча с однородной засветкой позвол ет повысить точность измерений . Уменьшение счетного объема до 10 мм позвол ет также существенно, увеличить максимальную измер емую концентрацию частиц. 1 ил. i СЛ С со со СЛ со СО 1The invention relates to instrumentation engineering, in particular to devices for the optical control of the parameters of microparticles, and can be used to control the purity of gases and liquids. The goal is to increase the measurement accuracy and sensitivity by reducing the lower limit of the size of the recorded particles. The particles transported by the Gas and Liquid Tray are illuminated with a strip of light generated by a continuous semiconductor laser. Chalcogenide glass microspheres with specially selected parameters are used as a forming lens. The light scattered by particles is detected by two photodiodes located symmetrically with respect to the optical axis of the laser, the outputs of which are interconnected, as well as through a low-noise amplifier with a recording unit. Due to the use of sharp focusing of the probe beam, as well as the maximum use of the solid angle of light reception, an increase in the sensitivity of the device is achieved, the strip geometry of the beam with uniform illumination allows to increase the measurement accuracy. Reducing the counting volume to 10 mm also significantly increases the maximum measured particle concentration. 1 il. i СЛ С со со СЛ со СО 1
Description
Изобретение относитс к контроль- нЬ-иэмерительной технике, в частности к устройствам оптического контрол микрочастиц, и может быть использо- вано дл контрол чистоты газов и жидкостей.The invention relates to a control and measuring technique, in particular to devices for the optical control of microparticles, and can be used to control the purity of gases and liquids.
Цель изобретени - повьппение точности измерений и чувствительности за счет снижени нижнего предела размеров регистрируемых частиц.The purpose of the invention is to increase the measurement accuracy and sensitivity by reducing the lower limit of the size of the recorded particles.
; На чертеже изображена блок-схема фотоэлектрического спектрометра м |1крочастиц.; The drawing shows a block diagram of a photoelectric spectrometer m | 1 particles.
; Фотоэлектрический спектрометр микрочастиц содержит непрерывный полупроводниковый лазер 1, микросферу 2 из халькогенидного стекла, пер- В1)1Й 3 и второй 4 фотодиоды, узел 5 аспирации, усилитель 6 и анализатор 7 Фотоэлектрический спектрометр мик- рэчастиц работает следующим образом. Излучение полупроводникового ла- зэра 1, сформированное микросферой 2 из халькогенидного стекла в полоску, пропускаетс через поток частиц, создаваемый узлом 5 аспирации час- тИд. Рассе нный частицами свет регистрируетс первым 3 и вторым 4 фотоди- одами. Сигнал с выхода фотодиодов Через усилитель 6 поступает на вход а|нализатора 7. Совместное про вление астигматизма пучка от полупроводникового лазера, сферической аберрации шаровой линзы, учет пропускани и отражени от халькогенидного стекла Приводит к формированию светового Пучка в полоску с продольным распределением излучени близким к однород- Ному, что повышает точность измерений йри отклонении частиц от оси потока. Соединение выходов первого 3 и второго 4 фотодиодов позвол ет повысить отношение сигнал/шум. За счет исполь- Зовани острой фокусировки зондирую; The microparticle photoelectric spectrometer contains a continuous semiconductor laser 1, a chalcogenide glass microsphere 2, a per-B1) 1J3 and a second 4 photodiodes, an aspiration unit 5, an amplifier 6 and an analyzer 7 The microparticle photoelectric spectrometer works as follows. The radiation of a semiconductor laser 1, formed by a microsphere 2 of chalcogenide glass into a strip, is transmitted through a stream of particles created by a node 5 of aspiration of particles. The light scattered by particles is detected by the first 3 and second 4 photodiodes. Photodiode output signal Amplifier 6 enters the input a of the analyzer 7. Co-detection of beam astigmatism from a semiconductor laser, spherical aberration of a spherical lens, consideration of transmission and reflection from chalcogenide glass leads to the formation of a light beam in a strip with a longitudinal radiation distribution close to uniform - Nomu, which increases the accuracy of measuring the Yi of the deviation of particles from the flow axis. Connecting the outputs of the first 3 and second 4 photodiodes allows an increase in the signal-to-noise ratio. By using a sharp focus probe
« е "E
5five
щего луча, а также максимального использовани телесного угла приема света первым 3 и вторым 4 фотодиодами достигаетс повышение чувствительности устройства. Уменьшение счетного объема до мм позвол ет также существенно увеличить максимальную концентрацию регистрируемых частиц.As well as maximizing the use of the solid angle of light reception by the first 3 and second 4 photodiodes, an increase in the sensitivity of the device is achieved. Reducing the counting volume to mm also makes it possible to significantly increase the maximum concentration of detected particles.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853941480A SU1395994A1 (en) | 1985-08-07 | 1985-08-07 | Photoelectric spectrometer of microparticles |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853941480A SU1395994A1 (en) | 1985-08-07 | 1985-08-07 | Photoelectric spectrometer of microparticles |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1395994A1 true SU1395994A1 (en) | 1988-05-15 |
Family
ID=21193341
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853941480A SU1395994A1 (en) | 1985-08-07 | 1985-08-07 | Photoelectric spectrometer of microparticles |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1395994A1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1994024540A1 (en) * | 1993-02-10 | 1994-10-27 | Maloe Predpriyatie 'firma Link' | Analyzer for measuring the aerodynamic diameter of aerosol particles |
ES2134164A1 (en) * | 1997-12-10 | 1999-09-16 | Univ Malaga | Computerised analysis method using spectroscopy of plasmas produced by laser for quality control of solar cells |
-
1985
- 1985-08-07 SU SU853941480A patent/SU1395994A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Бел ев С.П. и др. Оптико-электронные методы излучени аэрозолей. М.: Энергоиздат, 1981, с. 70. Бел ев С.П. и др. Оптико-электронные методы излучени аэрозолей. М.: Энергоиздат, 1981, с. 213. * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1994024540A1 (en) * | 1993-02-10 | 1994-10-27 | Maloe Predpriyatie 'firma Link' | Analyzer for measuring the aerodynamic diameter of aerosol particles |
ES2134164A1 (en) * | 1997-12-10 | 1999-09-16 | Univ Malaga | Computerised analysis method using spectroscopy of plasmas produced by laser for quality control of solar cells |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5767976A (en) | Laser diode gas sensor | |
US4871251A (en) | Apparatus and method for particle analysis | |
EP0289200B1 (en) | Apparatus and method for particle analysis | |
CN101487786A (en) | Measurement sensor for inhalable dust concentration | |
CA1041318A (en) | Electro-optical method and system for in situ measurements of particulate mass density | |
US3873204A (en) | Optical extinction photoanalysis apparatus for small particles | |
CN108956402B (en) | High-sensitivity dust concentration detection method with composite multi-photosensitive-area structure | |
JPS6311838A (en) | Granular size detector | |
CN112903547B (en) | High-concentration cloud and mist particle concentration measuring device based on double light sources | |
KR20120013297A (en) | Methods and systems for analyzing solid particles in a medium | |
CN1424572A (en) | Laser light scattering dust concentration on line measuring method | |
CN214622312U (en) | Laser telemetering device for multi-component gas in early stage of fire | |
US5033851A (en) | Light scattering method and apparatus for detecting particles in liquid sample | |
JPH05506503A (en) | Diversion for uniform multi-sensor detection | |
JPS61271438A (en) | Suspended particulate measurement method and device | |
CN2397489Y (en) | Optical probe of laser dust measuring instrument | |
CN114659947A (en) | Measuring device and measuring method for mass concentration of dust with multiple particle sizes | |
SU1395994A1 (en) | Photoelectric spectrometer of microparticles | |
JP2000230901A (en) | Optical unit | |
CN112782127A (en) | Laser remote measuring device for multi-component gas in early stage of fire and control method thereof | |
US5796481A (en) | Suspended particle concentration monitor | |
JPS60214238A (en) | Particulate detection device | |
CN212301224U (en) | Pump suction type dust concentration measuring device | |
SU1404900A1 (en) | Method of measuring fractional particle-size composition of aerosols | |
CN113916783B (en) | Optical method for detecting toxic substances based on time-of-flight method |