SU132867A1 - Способ анализа случайных процессов - Google Patents
Способ анализа случайных процессовInfo
- Publication number
- SU132867A1 SU132867A1 SU655514A SU655514A SU132867A1 SU 132867 A1 SU132867 A1 SU 132867A1 SU 655514 A SU655514 A SU 655514A SU 655514 A SU655514 A SU 655514A SU 132867 A1 SU132867 A1 SU 132867A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- random processes
- voltage
- analyzing random
- analyzing
- screen
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
Дл исследовани веро тностных распределений случайного процесса обычно используют либо сложные многоканальные анализаторы , либо осуществл ют последовательный анализ, требующий больщих затрат времени.
Предлагаемый фотографический способ свободен от этих недостатков и характеризуетс сочетанием достаточно высокой точности (пор дка нескольких процентов) со сравнительной простотой аппаратуры (стандартный осциллограф и фотоприставка) и быстродействием. Способ заключаетс в том, что исследуемое напр жение подают на отклон ющие пластины электронно-лучевой трубки (на одну пару пластин, если исследуетс одномерный закон распределени , л на обе пары пластин, если исследуетс двумерный закон распределени ). При этом ркость засветки различных точек экрана трубки оказываетс пропорциональной частоте попадани электронного луча в эти точки или в конечном итоге плотности распределени веро тностей исследуемого напр жени . Полученное на экране напр жение фотографируют на фотопластинку. Почернение фотоэмульсии анализируют с помощью микрофотометра. Дл устранени погрещностей, вызванных нелинейностью характеристической кривой фотографической эмульсии и непосто нством ее при изменении условий съемки и обработки -фотоматериала , на ту же пленку фотографируют с экрана осциллографа изображение калибровочного напр жени , измен ющегос по известному закону. В качестве напр жени можно использовать линейное вилообразное напр жение с несколькими наклонами с известным соотношением тангенсов углов наклона или же экспоненциальное напр жение .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU655514A SU132867A1 (ru) | 1960-02-12 | 1960-02-12 | Способ анализа случайных процессов |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU655514A SU132867A1 (ru) | 1960-02-12 | 1960-02-12 | Способ анализа случайных процессов |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU132867A1 true SU132867A1 (ru) | 1960-11-30 |
Family
ID=48403885
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU655514A SU132867A1 (ru) | 1960-02-12 | 1960-02-12 | Способ анализа случайных процессов |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU132867A1 (ru) |
-
1960
- 1960-02-12 SU SU655514A patent/SU132867A1/ru active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US2494441A (en) | Method and apparatus for electronically determining particle size distribution | |
| US2731202A (en) | Electronic particle counting apparatus | |
| SE7705157L (sv) | Forfarande och apparat for analys | |
| US3321575A (en) | Television inspection apparatus adapted for measurement and comparison purposes | |
| US3102952A (en) | X-ray fluorescence analysis of multi-component systems | |
| US3795452A (en) | Instrument for automatically inspecting integrated circuit masks for pinholes and spots | |
| SU132867A1 (ru) | Способ анализа случайных процессов | |
| US3779649A (en) | Method of and an electro-optical system for inspecting material | |
| US3553358A (en) | Line intensity integrating automatic data acquistion system | |
| US3623812A (en) | Method for the automated electronic densitometric evaluation of separated material mixtures, using carrierless electrophoresis | |
| US3814520A (en) | Method of, and apparatus for gauging, inspecting or measuring physical properties of objects | |
| JPS5478166A (en) | Method and apparatus for measuring length of electron microscopes | |
| US3849650A (en) | Automatic x-ray inspection system | |
| GB1519704A (en) | Method and means for measuring substance volumes in light-trasnmitting samples | |
| DE3585533D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur zustandsanalyse. | |
| US2843447A (en) | Probability oscillograph | |
| SU146812A1 (ru) | Способ измерени характеристик катодолюминесцентных экранов | |
| US3541327A (en) | Apparatus for measuring the intensity of visible lines representing the output data of an ion spectrometer | |
| GB1458358A (en) | Method and apparatus for colour inspection | |
| JP2000214086A (ja) | ゲル化過程またはゲル状態の観測方法 | |
| Adin | The analysis of random amplitude nanosecond pulses | |
| US2856129A (en) | Optical pulse height discriminator | |
| Merritt et al. | Fast Scanning of High Resolution Mass Spectra. | |
| US3274385A (en) | Scanning x-ray microanalyser | |
| SU381003A1 (ru) | Способ определения удельной поверхности |