SU1307231A1 - Device for measuring deviations from rectilinearity - Google Patents
Device for measuring deviations from rectilinearity Download PDFInfo
- Publication number
- SU1307231A1 SU1307231A1 SU772557879A SU2557879A SU1307231A1 SU 1307231 A1 SU1307231 A1 SU 1307231A1 SU 772557879 A SU772557879 A SU 772557879A SU 2557879 A SU2557879 A SU 2557879A SU 1307231 A1 SU1307231 A1 SU 1307231A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- compensator
- input
- mirror
- carriage
- deflector
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к оптическому приборостроению и предназначено дл измерени отклонени от пр молинейности . Цель изобретени - повышение точности измерений. В устройстве блок регистрации содержит расположенные до полупрозрачного зеркала электрически управл емые компенсатор и дефлектор, а также расположенные по ходу отраженного от полупрозрачного зеркала луча линзу и фотоприемник, подк.тпоченньй через усилитель к первому входу фазового детектора, второй вход которого сое- динен с генератором опорного напр жени дефлектора, а выход - с блоком управлени компенсатора, отсчетное устройство св зано с компенсатором, перед нерасстраиваемым отражателем на каретке установлена щелева диа-. фрагма. Устройство содержит также источник света. Изобретение может найти применение при измерении пр молинейности и плоскостности в строительстве и машиностроении. 1 ил. ю (Л со о го со The invention relates to optical instrumentation and is intended to measure the deviation from the straightness. The purpose of the invention is to improve the measurement accuracy. In the device, the registration unit contains electrically controlled compensator and deflector located up to the translucent mirror, as well as a lens and a photodetector along the beam reflected from the semitransparent mirror of the beam, pod.tpochechenny through the amplifier to the first input of the phase detector, the second input of which is connected to the reference generator the voltage of the deflector, and the output is connected to the control unit of the compensator, the reading device is connected to the compensator, a slot in the carriage is installed in front of the non-expandable reflector on the carriage -. fragma The device also contains a light source. The invention can find application in measuring linearity and flatness in construction and engineering. 1 il. yu (l sogo about
Description
113113
Изобретение относитс к оптическому приборостроению и может быть использовано при измерении пр молинейности и плоскостности в строительстве и машиностроении.The invention relates to optical instrumentation and can be used in the measurement of linearity and flatness in construction and mechanical engineering.
Целью изобретени вл етс повышение точности измерений.The aim of the invention is to improve the measurement accuracy.
На чертеже изобра: кено предлагаемое устройство.In the drawing image: keno proposed device.
Предлагаемое устройство содержит источник 1 света, компенсатор 2, дефлектор 3, нерасстраиваемый отражатель 4, расположенный на каретке 5 с установленной перед отражателем щелевой диафрагмой 6, полупрозрачное зеркало 7, линзу 8, фотоприемник 9, усилитель 10, фазовый детектор 11, генератор 12 опорного напр жени дефлектора, отсчетное устройство 13.The proposed device contains a light source 1, a compensator 2, a deflector 3, an unshakeable reflector 4 located on a carriage 5 with a slit diaphragm 6 installed in front of the reflector, a translucent mirror 7, a lens 8, a photodetector 9, an amplifier 10, a phase detector 11, a generator 12 of the reference voltage baffle, reading device 13.
Устройство работает следующим образом.The device works as follows.
Излучение источника 1 света, состо щего , например, из лазера и коллиматора , направл етс вдоль измер емой трассы. Пройд через компенса- тор 2, вьтолненный, например, в виде плоскопараллельной пластинки, соединенной с двигателем и потенциометром , излучение попадает на дефлектор 3, питаемый напр жением генератора 12, и сканируетс по углу.The radiation from the light source 1, consisting, for example, of a laser and a collimator, is directed along the measured path. Passing through compensator 2, effected, for example, in the form of a plane-parallel plate connected to the motor and potentiometer, the radiation hits deflector 3 powered by generator voltage 12 and is scanned by angle.
Отраженное от нерасстраиваемого отражател 4 излучение с помощью полупрозрачного зеркала 7 и линзы 8 фокусируетс на фотоприемнике 9. При совпадении центра сканировани излучени с центром щелевой диафрагмы 6 излучение модулируетс с удвоенной частотой генератора 12. Смещение щелевой диафрагмы 6 в поперечном, на- правлении вызывает модул цию светового потока с частотой генератора 12 при этом фаза сигнала мен етс на 180- при изменении направлени смещени .. Усилитель 10, пропускающий сигнал только с частотой генератора 12, усиливает этот сигнал и подаетRadiation reflected from an unshakable reflector 4 using a translucent mirror 7 and lens 8 is focused on a photodetector 9. When the center of the radiation scan coincides with the center of the slit diaphragm 6, the radiation is modulated at twice the frequency of the generator 12. The slit aperture shift 6 in the transverse direction causes modulation In this case, the signal phase changes by 180 - when the bias direction is changed. Amplifier 10, which passes the signal only at the frequency of generator 12, amplifies this signal. al and supplies
его на фазовый детектор 1 I , на вто.- рой вход которого поступает опорное напр жение от генератора 12. В результате при смещении щелевой диафрагмы 6:. относительно центра сканировани на выходе фазового детектора II по вл етс посто нное напр жение, знак которого зависит от направлени смещени щелевой диафрагмы 6. Это напр жение поступает на двигатель, вращающий компенсатор 2, в результате чего центр сканировани луча совмещаетс со щелевой диафрагмой 6. С потенциометра, св занного с компенсатором 2, снимаетс сигнал, пропорциональный смещению щелевой диафрагмы 6, который регистрируетс отсчет- ным устройством 13.it to the phase detector 1 I, to the second input of which the reference voltage from the generator 12 arrives. As a result, when the slit diaphragm 6 is shifted :. a constant voltage appears relative to the scanning center at the output of phase detector II, the sign of which depends on the direction of displacement of the slit diaphragm 6. This voltage is applied to the motor rotating the compensator 2, resulting in the center of the beam scanning coinciding with slit diaphragm 6. A potentiometer connected to the compensator 2 receives a signal proportional to the displacement of the slit diaphragm 6, which is recorded by the reading device 13.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772557879A SU1307231A1 (en) | 1977-12-16 | 1977-12-16 | Device for measuring deviations from rectilinearity |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU772557879A SU1307231A1 (en) | 1977-12-16 | 1977-12-16 | Device for measuring deviations from rectilinearity |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1307231A1 true SU1307231A1 (en) | 1987-04-30 |
Family
ID=20739250
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU772557879A SU1307231A1 (en) | 1977-12-16 | 1977-12-16 | Device for measuring deviations from rectilinearity |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1307231A1 (en) |
-
1977
- 1977-12-16 SU SU772557879A patent/SU1307231A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 375477, кл. G 01 Б 11/30, 1971. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3536405A (en) | Optical thickness gauge | |
US4744661A (en) | Device for measuring small distances | |
US3970781A (en) | Apparatus for maintaining the position of a working head in relation to a cylindrical workpiece | |
JPS6337364B2 (en) | ||
JP2004251916A (en) | Scanning monochromator | |
US5141317A (en) | Method of optoelectronically measuring distances and angles | |
US4775236A (en) | Laser based roundness and diameter gaging system and method of using same | |
SU1307231A1 (en) | Device for measuring deviations from rectilinearity | |
US5184014A (en) | Opto-electronic scale reading apparatus | |
US3438712A (en) | Magneto-optical displacement sensing device | |
CN221406028U (en) | Optical fiber optical path system of laser three-dimensional scanning measurement equipment | |
SU1236313A1 (en) | Interference method and apparatus for registering zero position of scanning mirror | |
KR930008564B1 (en) | Linear Motion Angle Inspection Device Using Laser Beam | |
RU2065583C1 (en) | Device for photometric testing of optical beams | |
SU1534313A1 (en) | Laser meter of microfluctuations of optical fiber diameter | |
SU1350488A1 (en) | Device for measuring linear shifts | |
SU1629751A1 (en) | Scanning differential optical microscope | |
JP3418234B2 (en) | Length measuring device | |
SU838323A1 (en) | Device for contactless measuring of surface geometric parameters | |
EP0144338A1 (en) | Dynamic mirror alignment control | |
RU1789851C (en) | Device for checking whickness of flat objects | |
JPH07243806A (en) | Michelson interferometer | |
SU197259A1 (en) | DEVICE FOR MEASURING THE DIFFUSION OF THE LIGHTBOOT | |
SU1636736A1 (en) | Method for measuring field of gradient of refractive index | |
SU1254294A1 (en) | Device for measuring the working distances of lenses |