[go: up one dir, main page]

SU1265467A1 - Устройство дл измерени пространственного положени объекта - Google Patents

Устройство дл измерени пространственного положени объекта Download PDF

Info

Publication number
SU1265467A1
SU1265467A1 SU853920685A SU3920685A SU1265467A1 SU 1265467 A1 SU1265467 A1 SU 1265467A1 SU 853920685 A SU853920685 A SU 853920685A SU 3920685 A SU3920685 A SU 3920685A SU 1265467 A1 SU1265467 A1 SU 1265467A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
diffraction structure
photodetectors
lighting system
mesuring
lighting
Prior art date
Application number
SU853920685A
Other languages
English (en)
Inventor
Олег Евгеньевич Бондарь
Виктор Иванович Лахно
Александр Николаевич Алексеев
Original Assignee
Харьковский Ордена Ленина Авиационный Институт Им.Н.Е.Жуковского
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Харьковский Ордена Ленина Авиационный Институт Им.Н.Е.Жуковского filed Critical Харьковский Ордена Ленина Авиационный Институт Им.Н.Е.Жуковского
Priority to SU853920685A priority Critical patent/SU1265467A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1265467A1 publication Critical patent/SU1265467A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение относится к измёрй=тельной технике и может быть использовано для измерения перемещений и контроля геометрической формы объекта.
Целью изобретения является повышение точности измерений за счет более точного измерения смешений дифракционных изображений.
На чертеже представлена схема устройства для измерения пространственного положения объекта.
Устройство содержит первую осветительную систему, включающую лазер 1 и оптическую систему 2, вторую осветительную систему, включающую лазер 3 и оптическую систему 4, и последовательно установленные по ходу излучения каждой из осветительной системы дифракционную структуру 5, ,скрепляемую с объектом 6, и фотоприемный узел, выполненный в виде двух позиционно-чувствительных , : фотоприемников 7 и 8, и последова'тельно электрически связанные блок обработки фотоэлектрических сигналов и блок 10 индикации результатов измерения. Осветительные системы выполнены идентичными и расположены симметрично относительно перпендикуляра, восстановленного из центра дифракционной структуры. Фотоприемники 7 и 8 установлены по ходу прошедшего дифракционную структуру 5 излучения одной из осветительных систем соответственно.
Устройство работает следующим об ’ разом.
Излучение лазеров 1 и 3 формируется оптическими системами 2 и 4 соответственно., проходит через дифракционную структуру 5 и попадает на · фотоприемники 7 и 8. Дифракционная структура 5 является.двумерной анаморфотной структурой, которая формирует на фоточувствительной поверхно. сти каждого из фотоприемников 7 и 8 . изображение в форме креста. При пе ' ремещениях дифракционной структуры е пределах рабочей зоны KLMN изображения крестов перемещаются по чувствительным поверхностям фотоприем— ников 7 и 8 соответственно. При этом изменяются выходные сигналы фотоприемников 7и 8, что фиксируется блоком 9 обработки фотоэлектрических сигналов. В блоке 9 обработки вход10 ные сигналы от фотоприемников преобразуются в информацию о пространственном положении объекта 6, которая поступает на вход блока 10 индикации результатов измерения, ’
За счет использования двумерной дифракционной структуры, формирующей изображения в форме крестов, становится возможно измерять линейные перемещения по осям х, у и Z и угловые перемещения вокруг оси у.

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    25 Устройство для измерения пространственного положения объекта, содержащее осветительную систему и последовательно установленные по ходу излучения дифракционную структу30 РУ, скрепляемую с объектом, и фотоприемный узел, и последовательно электрически связанные блок обработки фотоэлектрических сигналов и блок индикации результатов измерения, о т25 личающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, оно снабжено второй осветительной системой, осветительные системы рас'положены симметрично относительно дд перпендикуляра, восстановленного из центра дифракционной структуры, а фотоприемный узел выполнен в виде двух позиционно-чувствительнщх фотоприемников, каждый из которых 45 установлен по ходу прошедшего дифракционную структуру излучения одной из осветительных систем соответственно.
SU853920685A 1985-07-01 1985-07-01 Устройство дл измерени пространственного положени объекта SU1265467A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853920685A SU1265467A1 (ru) 1985-07-01 1985-07-01 Устройство дл измерени пространственного положени объекта

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853920685A SU1265467A1 (ru) 1985-07-01 1985-07-01 Устройство дл измерени пространственного положени объекта

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1265467A1 true SU1265467A1 (ru) 1986-10-23

Family

ID=21186184

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853920685A SU1265467A1 (ru) 1985-07-01 1985-07-01 Устройство дл измерени пространственного положени объекта

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1265467A1 (ru)

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл измерени перемещений и контрол геометрической формы объекта. Цель изобретени - повьппение точности измерени достигаетс за счет более точного измерени сме щений дифракционных изображений. Излучение лазеров 1 и 3 осветительных систем, расположенных сггмметрнчно относительно перпендикул ра, восстановленного из центра дифракционной структуры 5, преобразуетс дифракционной структурой в изображени крестов на входах позицпонночувствительных фотоприемников 7 и 8, каждый из которых установлен по ходу прошедшего дифракционную структуру .5 излучени одной из осветительных систем соответственгго. Линейные перемещени структуры 5 по ос м х, у и Z и ее угловой разворот вокруг оси у, привод т к соответствующим смер1ени м крестов на входах позиционно-чувствительных фотоприемников 7 и 8. Изменени фотоэлектрических сигналов фотоприемников 7 и 8 преобразуютс блоком 9 обработки в информацию, котора индицируетс блоком 10 индикации резул *
Ямбаев Х.К. Высокоточные створ ные измерени . - М.:Недра, 1978. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4955718A (en) Photoelectric measuring system with integrated optical circuit including and illuminating system
CN1205077A (zh) 五轴/六轴激光测量系统
CN112665532B (zh) 一种基于四象限探测器和二维光栅的高精度激光告警装置
JPH048724B2 (ru)
GB2117918A (en) Standing wave interferometer for measuring optical path differences
US6535290B1 (en) Optical position measuring device with a beam splitter
US4395123A (en) Interferometric angle monitor
SU1265467A1 (ru) Устройство дл измерени пространственного положени объекта
US5497226A (en) Quadrature diffractive encoder
DE69535479D1 (de) Verfahren und vorrichtung zur positions- und bewegungsmessung
JP2517929Y2 (ja) 分離型レ−ザ干渉計
JPH07122566B2 (ja) 光学式変位測定装置
SU1401268A1 (ru) Двухкоординатное измерительное устройство
JPS6222019A (ja) 基本位置の検出装置
JPH044974Y2 (ru)
SU364838A1 (ru) Датчик линейного перемещения объекта
JPS6126005B2 (ru)
SU1283525A1 (ru) Оптико-электронное устройство дл контрол неплоскостности
RU1774233C (ru) Способ определени линейных перемещений объектов с плоской зеркально-отражающей поверхностью
USH212H (en) Displacement and force measurement by means of optically-generated moire fringes
SU787891A1 (ru) Фотоэлектрический автоколлимационный датчик крена
SU1523907A1 (ru) Сферометр
SU1138642A1 (ru) Интерференционное устройство дл дистанционного измерени малых перемещений
SU621958A1 (ru) Фотоэлектрический автоколлимационный датчик крена
SU479948A1 (ru) Двухкоординатный оптико-электронный угломер