SU1265467A1 - Устройство дл измерени пространственного положени объекта - Google Patents
Устройство дл измерени пространственного положени объекта Download PDFInfo
- Publication number
- SU1265467A1 SU1265467A1 SU853920685A SU3920685A SU1265467A1 SU 1265467 A1 SU1265467 A1 SU 1265467A1 SU 853920685 A SU853920685 A SU 853920685A SU 3920685 A SU3920685 A SU 3920685A SU 1265467 A1 SU1265467 A1 SU 1265467A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- diffraction structure
- photodetectors
- lighting system
- mesuring
- lighting
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Изобретение относится к измёрй=тельной технике и может быть использовано для измерения перемещений и контроля геометрической формы объекта.
Целью изобретения является повышение точности измерений за счет более точного измерения смешений дифракционных изображений.
На чертеже представлена схема устройства для измерения пространственного положения объекта.
Устройство содержит первую осветительную систему, включающую лазер 1 и оптическую систему 2, вторую осветительную систему, включающую лазер 3 и оптическую систему 4, и последовательно установленные по ходу излучения каждой из осветительной системы дифракционную структуру 5, ,скрепляемую с объектом 6, и фотоприемный узел, выполненный в виде двух позиционно-чувствительных , : фотоприемников 7 и 8, и последова'тельно электрически связанные блок обработки фотоэлектрических сигналов и блок 10 индикации результатов измерения. Осветительные системы выполнены идентичными и расположены симметрично относительно перпендикуляра, восстановленного из центра дифракционной структуры. Фотоприемники 7 и 8 установлены по ходу прошедшего дифракционную структуру 5 излучения одной из осветительных систем соответственно.
Устройство работает следующим об ’ разом.
Излучение лазеров 1 и 3 формируется оптическими системами 2 и 4 соответственно., проходит через дифракционную структуру 5 и попадает на · фотоприемники 7 и 8. Дифракционная структура 5 является.двумерной анаморфотной структурой, которая формирует на фоточувствительной поверхно. сти каждого из фотоприемников 7 и 8 . изображение в форме креста. При пе ' ремещениях дифракционной структуры е пределах рабочей зоны KLMN изображения крестов перемещаются по чувствительным поверхностям фотоприем— ников 7 и 8 соответственно. При этом изменяются выходные сигналы фотоприемников 7и 8, что фиксируется блоком 9 обработки фотоэлектрических сигналов. В блоке 9 обработки вход10 ные сигналы от фотоприемников преобразуются в информацию о пространственном положении объекта 6, которая поступает на вход блока 10 индикации результатов измерения, ’
За счет использования двумерной дифракционной структуры, формирующей изображения в форме крестов, становится возможно измерять линейные перемещения по осям х, у и Z и угловые перемещения вокруг оси у.
Claims (1)
- Формула изобретения25 Устройство для измерения пространственного положения объекта, содержащее осветительную систему и последовательно установленные по ходу излучения дифракционную структу30 РУ, скрепляемую с объектом, и фотоприемный узел, и последовательно электрически связанные блок обработки фотоэлектрических сигналов и блок индикации результатов измерения, о т25 личающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, оно снабжено второй осветительной системой, осветительные системы рас'положены симметрично относительно дд перпендикуляра, восстановленного из центра дифракционной структуры, а фотоприемный узел выполнен в виде двух позиционно-чувствительнщх фотоприемников, каждый из которых 45 установлен по ходу прошедшего дифракционную структуру излучения одной из осветительных систем соответственно.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853920685A SU1265467A1 (ru) | 1985-07-01 | 1985-07-01 | Устройство дл измерени пространственного положени объекта |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU853920685A SU1265467A1 (ru) | 1985-07-01 | 1985-07-01 | Устройство дл измерени пространственного положени объекта |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1265467A1 true SU1265467A1 (ru) | 1986-10-23 |
Family
ID=21186184
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU853920685A SU1265467A1 (ru) | 1985-07-01 | 1985-07-01 | Устройство дл измерени пространственного положени объекта |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1265467A1 (ru) |
-
1985
- 1985-07-01 SU SU853920685A patent/SU1265467A1/ru active
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл измерени перемещений и контрол геометрической формы объекта. Цель изобретени - повьппение точности измерени достигаетс за счет более точного измерени сме щений дифракционных изображений. Излучение лазеров 1 и 3 осветительных систем, расположенных сггмметрнчно относительно перпендикул ра, восстановленного из центра дифракционной структуры 5, преобразуетс дифракционной структурой в изображени крестов на входах позицпонночувствительных фотоприемников 7 и 8, каждый из которых установлен по ходу прошедшего дифракционную структуру .5 излучени одной из осветительных систем соответственгго. Линейные перемещени структуры 5 по ос м х, у и Z и ее угловой разворот вокруг оси у, привод т к соответствующим смер1ени м крестов на входах позиционно-чувствительных фотоприемников 7 и 8. Изменени фотоэлектрических сигналов фотоприемников 7 и 8 преобразуютс блоком 9 обработки в информацию, котора индицируетс блоком 10 индикации резул * |
Ямбаев Х.К. Высокоточные створ ные измерени . - М.:Недра, 1978. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4955718A (en) | Photoelectric measuring system with integrated optical circuit including and illuminating system | |
CN1205077A (zh) | 五轴/六轴激光测量系统 | |
CN112665532B (zh) | 一种基于四象限探测器和二维光栅的高精度激光告警装置 | |
JPH048724B2 (ru) | ||
GB2117918A (en) | Standing wave interferometer for measuring optical path differences | |
US6535290B1 (en) | Optical position measuring device with a beam splitter | |
US4395123A (en) | Interferometric angle monitor | |
SU1265467A1 (ru) | Устройство дл измерени пространственного положени объекта | |
US5497226A (en) | Quadrature diffractive encoder | |
DE69535479D1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur positions- und bewegungsmessung | |
JP2517929Y2 (ja) | 分離型レ−ザ干渉計 | |
JPH07122566B2 (ja) | 光学式変位測定装置 | |
SU1401268A1 (ru) | Двухкоординатное измерительное устройство | |
JPS6222019A (ja) | 基本位置の検出装置 | |
JPH044974Y2 (ru) | ||
SU364838A1 (ru) | Датчик линейного перемещения объекта | |
JPS6126005B2 (ru) | ||
SU1283525A1 (ru) | Оптико-электронное устройство дл контрол неплоскостности | |
RU1774233C (ru) | Способ определени линейных перемещений объектов с плоской зеркально-отражающей поверхностью | |
USH212H (en) | Displacement and force measurement by means of optically-generated moire fringes | |
SU787891A1 (ru) | Фотоэлектрический автоколлимационный датчик крена | |
SU1523907A1 (ru) | Сферометр | |
SU1138642A1 (ru) | Интерференционное устройство дл дистанционного измерени малых перемещений | |
SU621958A1 (ru) | Фотоэлектрический автоколлимационный датчик крена | |
SU479948A1 (ru) | Двухкоординатный оптико-электронный угломер |