SU119270A1 - Способ определени дифференциальной крутизны вольтамперной характеристики полупроводникового выпр мител и устройство дл осуществлени этого способа - Google Patents

Description

Предлагаетс  способ определени  дифференциальной крутизны вольтамперной характеристики полупроводникового выпр мител  в динамическом работы и устройство дл  осуществлени  этого способа.

Известные способы подобного рода обладают р дом недостатков. При определении крутизны внешней характеристики выпр мител  по малым прирагцени м тока и напр жени  при включении выпр мител  в цепь посто нного тока режим его работы сильно отличаетс  от реальных условий работы на переменном токе, что значительно искажает результаты измерений.

Другой известный способ определени  крутизны внешней характеристики по наклону ее изображени  на градуированном экране характериографа имеет низкую точность и не позво.л ет проводить измерени  с большой скоростью.

Дл  устранени  указанных недостатков и повышени  точности измерепий предлагаетс  периодически уменьшать ток нагрузки выпр мител  на короткое врем  (в 100 и более раз меньшее, чем длительность периода из.менени  нагрузки) и измер ть разность максимальных значений падепи  напр жени  на исследуемом выпр мителе при номинальной и уменьшенной нагрузках прибором, градуированным непосредственно в значени х крутизны.

Устройство дл  осуществлени  предлагаемого способа (см. схему) состоит из автоматического переключател  / и двух конденсаторов 2, поочередно подключаемых к исследуемому выпр мителю 3 через соотгетствующие диоды 4. Конденсаторы 2 зар жаютс  до максимальных значений напр жени  на исследуемом выпр мителе 3 при номинальной п пониженной нагрузках. Разность указанных напр жений измер етс  дифференциальным ламповым вольтметром 5. Выпр митель 3 питаетс  от источника питани  6, а переключатель /-от блока коммутации 7.

При испытани х производитс  непосредственное измерение с помощью вольтметра 5 разности максимальных значений пр мого па