SU114215A1

SU114215A1 - Method of testing semiconductor rectifiers and device for implementing this method

Info

Publication number: SU114215A1
Application number: SU579718A
Authority: SU
Inventors: Э.Н. Улановский
Original assignee: Э.Н. Улановский
Priority date: 1957-07-02
Filing date: 1957-07-02
Publication date: 1957-11-30

Description

Результаты измерени электрических свойств полупроводниковых выпр мительных элементов (средних значений обратного тока и пр мого падени напр жени выпр мительного элемента) в сильной степени завис т от электрического режима измерени . Поэтому измерение этих величин желательно производить в электрическом режиме, по возможности более близком к реальным услови м работы выпр мителей, т. е. на переменном токе. С другой стороны , дл технологических целей и дл правильного использовани полупроводниковых элементов в выпр мительных устройствах необходимо знать отдельно провод щие и запирающие свойства этих элементов .The results of the measurement of the electrical properties of semiconductor rectifying elements (average values of the reverse current and the direct voltage drop of the rectifying element) strongly depend on the electrical measurement mode. Therefore, it is desirable to measure these quantities in the electric mode, as close as possible to the actual operating conditions of the rectifiers, i.e., on an alternating current. On the other hand, for technological purposes and for the proper use of semiconductor elements in rectifying devices, it is necessary to know the separate conductive and blocking properties of these elements.

Известен р д способов измерени этих свойств, в значительной мере удовлетвор ющих указанным требовани м и основанных на разделении цепей пр мого и обратного тока измер емого элемента и раздельном измерении этих токов. Недостатком этих способов вл етс зависимостьA number of methods are known for measuring these properties, which to a large extent meet these requirements and are based on the separation of the forward and reverse currents of the measured element and the separate measurement of these currents. The disadvantage of these methods is the dependence

результатов измерений от формы кривых измерительного напр жени или тока.measurement results from the shape of the measurement voltage or current curves.

Дл устранени этого недостатка предлагаетс измерение обоих параметров (обратного тока и пр мого падени напр жени ) осуществл ть в одной электрической цепи со сдвигом по времени на один полупериод переменного тока, питающего схему,To eliminate this drawback, it is proposed to measure both parameters (reverse current and direct voltage drop) in one electric circuit with a time shift by one half period of alternating current supplying the circuit,

На чертеже изображена схема устройства , предназначенного дл испытани полупроводниковых выпр мителей по предлагаемому способу.The drawing shows a diagram of a device for testing semiconductor rectifiers according to the proposed method.

Измерение обратного тока и пр мого падени напр жени испытываемого выпр мительного элемента 1, осуществл етс двум отдельными электронными вольтметрами 2 и 3, собранными по мостовой схеме. Электронные вольтметры 2 и 5 питаютс пр моугольными импульсами противоположных направлений, полученными путем ограничени полуволн переменного напр жени с помощью подключенных параллельно схемамThe measurement of the reverse current and the forward voltage drop of the test rectifying element 1 is carried out by two separate electronic voltmeters 2 and 3, assembled according to a bridge circuit. Electronic voltmeters 2 and 5 are fed by rectangular pulses of opposite directions, obtained by limiting the alternating voltage half-waves with the help of parallel-connected circuits.

мостов ламп 4 типа стабиловольт. Поэтому в течение одного из полупериодов переменного тока работает один, а при втором полупериоде - другой вольтметр. Вольтметр 2 измер ет падение напр жени на испытываемом выпр мительном элементе /, а вольтметр 3 - на Гталокном сопротивлении 5, включенном последовательно с выпр мителем в цепь переменного тока, которое пропорционально току, проход щему через элемент /.bridges lamps 4 types of stabilovolt. Therefore, during one of the half-cycles of alternating current, one works, and in the second half-period, another voltmeter works. Voltmeter 2 measures the voltage drop across the test rectifier element /, and voltmeter 3 measures the Gt resistor 5 connected in series with the rectifier to an AC circuit, which is proportional to the current passing through the element /.

Каждый электронный вольтметр состоит нз двойного триода с посто нными анодными сопротивлени ми 6 и потенциометром 7 установки нул . В катодные цепи триодов включены сопротивлени смещени 8, а между катодами - потенциометр 9 регулировки чувствительности моста дл компенсации разброса параметров ламп по экземпл рам и их изменени в процессе эксплуатации.Each electronic voltmeter consists of a double triode with constant anode resistances 6 and a zero setting potentiometer 7. The cathode circuits of the triodes include bias resistances 8, and between the cathodes, a potentiometer 9 for adjusting the sensitivity of the bridge to compensate for the variation in the parameters of the lamps by instances and their changes during operation.

В цепь выпр мительного элемента включен реостат 10 дл регулировани нагрузки.A resistor 10 is included in the rectifier circuit for load control.

Предмет изобретени Subject invention

Claims

1. A method for testing semiconductor rectifiers by detecting average values of reverse current and direct voltage drop of a rectifier element operating in an alternating current rectifier mode, characterized in that, in order to ensure that the measurement results are independent of the shape of the measuring voltage or current curves , the measurement of both parameters is carried out in one electric circuit with a time shift by one half period of alternating current feeding the circuit.

2. A device for carrying out this method according to claim 1, comprising two electronic voltmeters assembled according to a bridge scheme and each intended to measure one of the parameters of the test rectifier, characterized in that, in order to operate said voltmeters at different periods of alternating current, they they are shunted by stabilized volt-type gas-light lamps, which ensure the passage of rectangular pulses of different directions through voltmeters.

-TTLGTP

-six