SU1104362A1 - Интерферометр дл контрол качества оптических поверхностей - Google Patents
Интерферометр дл контрол качества оптических поверхностей Download PDFInfo
- Publication number
- SU1104362A1 SU1104362A1 SU833578745A SU3578745A SU1104362A1 SU 1104362 A1 SU1104362 A1 SU 1104362A1 SU 833578745 A SU833578745 A SU 833578745A SU 3578745 A SU3578745 A SU 3578745A SU 1104362 A1 SU1104362 A1 SU 1104362A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- lens
- branch
- hologram
- diaphragm
- interferometer
- Prior art date
Links
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
1. ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ , содержащий последовательно расположенные монохроматический источник света, телескопическую систему и светоделитель, дел щий световой поток на две ветви, микрообъектив, объектив и опорный оптический элемент , расположенные в первой ветви, плоское зеркало, голограмму, объектив , диафрагму и регистратор, расположенные во второй ветви, отличающийс тем, что, с целью повышени точности контрол , он снаб жен последовательно расположенными за микрообъективон пр моугольной призмой и сферическим зеркалом, установленным так, что центр кривизны его совпадает с задней фокальной плоскостью объектива. СП
Description
2. Интерферометр по п.1, о т л и- ковьшуклой линзы и мениска, обращенчающийс тем, что объектив ного вогнутостью к дво ковыпуклой первой ветви вьтолнен в виде дво - линзе.
1104362
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано , в частности при контроле качества оптических поверхностей.
Известен интерферометр Физо дл контрол качества плоских поверхностей , содержащий последовательно расположенные источник монохроматического света, линзу, диафрагму и светоделитель , дел щий световой поток на две ветви, окул р, объектив и клиновидную образцовую пластину .
Недостатком интерферометра вл етс низка точность контрол .
Наиболее близким по технической сущности к изобретению вл етс интерферометр дл контрол качества ,оптических поверхностей, содержащий последовательно расположенные монохроматический источник света, телескопическую систему и светоделитель, дел щий световой поток на две ветви, микрообъектив, объектив и опорный оптический элемеат, расположенные в первой ветви, плоское зеркало, голограмму, объектив, диафрагму и регистратор, расположенные во вто рой ветви 2j.
Недостатком известного интерферометра вл етс невысока точность. контрол из-за одноразового отражени волнового фронта от контролируемой поверхности.
Целью изобретени вл етс повышение точности контрол .
Поставленна цель достигаетс тем что интерферометр дл контрол качества оптических поверхностей, содержащий последовательно расположенные монохроматический источник света телескопическую систему и светоделитель , дел щий световой поток на две ветви, микрообъектив, объектив и опорный оптический элемент, расположенные в первой ветви, плоское зеркало , голограмму, объектив, диафрагм
и регистратор, расположенные во второй ветви, снабжен последовательно расположенными за микрообъективом пр моугольной призмой и сферическим зеркалом, установленным так, что центр кривизны его совпадает с задней фокальной плоскостью объектива.
Кроме того, объектив первой ветв выполнен в виде дво ковьтуклой линзы и мениска, обращенного вогнутостью к дво ковыпуклой линзе.
На чертеже изображена оптическа схема интерферометра дл контрол качества оптических поверхностей.
Интерферометр содержит монохроматический- источник 1 света, телескопическую систему 2 и светоделитель 3, дел щий световой поток на две ветви, микрообъектив 4, пр моугольн призму 5, объектив 6, сферическое зеркало 7, установленное так, что центр кривизны его совпадает с задней фокальной плоскостью объектива 6, опорный оптический элемент 8, плоское зеркало 9, голограмму 10, объектив 11, диафрагму 12 и регистратор 13.
Объектив 6 может быть выполнен в виде дво ковыпуклой линзы 14 и мениска 15, обращенного вогнутостью кдво ковьтуклой линзе 14.
Описываемый интерферометр работает следующим образом.
Предварительно производ т запись голограммы 10: пучок лучей от монохроматического источника 1 света расшир етс телескопической системо 2 и раздел етс светоделителем 3 на два пучка. Один пучок собираетс микрообъектийом 4 на поверхности призмы 5 в фокальной плоскости объектива 6, преобразуетс объективом 6 в параллельный пучок, отражаетс от поверхности опорного оптического элемента 8 и собираетс объективом 6 в центре кривизны зеркала 7. Отра
3 1104362
эившись от зеркала 7, пучок проходиткачестве зеркала 9 используютс плоссвой путь в обратной последователь-кие пластинки с различными покрыти ности и попадает на голограмму 10.ми. На голограмму 10 попадает, отразившись от зеркала 9, втора часть пуч-5 Повышение точности контрол в опика , где и интерферирует с первой.сываемом интерферометре достигаетс После фотопроцесса на место опорнойза счет двойного отражени волнового поверхности оптического элемента 8фронта от контролируемой поверхности, устанавливают контролируемую поверх- Поэтому в наблюдаемой интерференциность и производ т ее исследование. онной картине заложена удвоенна
При контроле поверхностей с раз- . ошибка контролируемой поверхносличными коэффициентами отражени вти.
Claims (2)
1. ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ, содержащий последовательно расположенные монохроматический источ- ник света, телескопическую систему и светоделитель, делящий световой поток на две ветви, микрообъектив, объектив и опорный оптический элемент, расположенные в первой ветви, плоское зеркало, голограмму, объектив, диафрагму и регистратор, расположенные во второй ветви, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, он снаб жен последовательно расположенными за микрообъективом прямоугольной призмой и сферическим зеркалом, установленным так, что центр кривизны его совпадает с задней фокальной плоскостью объектива.
2. Интерферометр по п.1, о т личающийся тем, что объектив первой ветви выполнен в виде двоя ковыпуклой линзы и мениска, обращенного вогнутостью к двояковыпуклой ,линзе.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833578745A SU1104362A1 (ru) | 1983-04-11 | 1983-04-11 | Интерферометр дл контрол качества оптических поверхностей |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU833578745A SU1104362A1 (ru) | 1983-04-11 | 1983-04-11 | Интерферометр дл контрол качества оптических поверхностей |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1104362A1 true SU1104362A1 (ru) | 1984-07-23 |
Family
ID=21058896
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU833578745A SU1104362A1 (ru) | 1983-04-11 | 1983-04-11 | Интерферометр дл контрол качества оптических поверхностей |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1104362A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016155167A1 (zh) * | 2015-03-27 | 2016-10-06 | 京东方科技集团股份有限公司 | 全息3d记录装置、再现装置和显示设备 |
-
1983
- 1983-04-11 SU SU833578745A patent/SU1104362A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. Коломийцев Ю.В. Интерферометры. Л.,. Машиностроение, 1976, с. 52. 2. Авторское свидетельство СССР №.425043, кл. G 01 В 11/30, 1974 (прототип). * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016155167A1 (zh) * | 2015-03-27 | 2016-10-06 | 京东方科技集团股份有限公司 | 全息3d记录装置、再现装置和显示设备 |
US9964924B2 (en) | 2015-03-27 | 2018-05-08 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Holographic 3D recording device, reproducing device and display apparatus |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5548403A (en) | Phase shifting diffraction interferometer | |
SU1104362A1 (ru) | Интерферометр дл контрол качества оптических поверхностей | |
US4402602A (en) | Knife edge system | |
SU1416897A1 (ru) | Автоматический рефрактометр альтернирующего света | |
SU920367A1 (ru) | Интерферометр дл контрол вогнутых сферических поверхностей | |
SU1657947A1 (ru) | Интерферометр дл контрол асферических поверхностей второго пор дка | |
SU523274A1 (ru) | Интерферометр дл контрол качества выпуклых гиперболических зеркал телескопа кассегрена | |
SU935702A1 (ru) | Интерферометр дл исследовани оптических неоднородностей стекла в оптических детал х | |
SU1084597A1 (ru) | Интерферометр дл контрол вогнутых эллипсоидов вращени | |
SU991150A1 (ru) | Интерферометр дл контрол качества оптических систем | |
SU1024868A1 (ru) | Устройство дл фокусировки | |
SU1670391A1 (ru) | Интерференционный способ контрол вогнутых цилиндрических поверхностей | |
SU1661567A1 (ru) | Способ контрол поверхностей оптических деталей | |
SU1460600A1 (ru) | Способ контрол радиуса кривизны сферических поверхностей оптических деталей | |
SU953451A2 (ru) | Интерферометр дл контрол вогнутых сферических поверхностей | |
SU1516910A1 (ru) | Рефрактометр | |
JPS57163839A (en) | Lens meter | |
SU684296A1 (ru) | Интерферометр дл контрол качества оптических деталей | |
SU1402802A1 (ru) | Способ контрол кривизны плоской поверхности | |
SU844995A1 (ru) | Интерферометр дл контрол поверхно-СТи дЕТАли | |
SU987378A1 (ru) | Интерферометр дл контрол формы поверхностей оптических деталей | |
SU1422046A1 (ru) | Способ записи интерферограммы контрол объектов в виде линз и объективов | |
SU848999A1 (ru) | Интерферометр дл контрол изменени АбЕРРАций лиНз и зЕРКАл пРи зАКРЕплЕНиииХ B ОпРАВы | |
SU1765803A1 (ru) | Интерферометр дл контрол качества оптических поверхностей и систем | |
SU1530962A1 (ru) | Устройство дл контрол центрировани оптических деталей |