[go: up one dir, main page]

SU1067972A1 - Способ получени отрицательных ионов - Google Patents

Способ получени отрицательных ионов Download PDF

Info

Publication number
SU1067972A1
SU1067972A1 SU813304707A SU3304707A SU1067972A1 SU 1067972 A1 SU1067972 A1 SU 1067972A1 SU 813304707 A SU813304707 A SU 813304707A SU 3304707 A SU3304707 A SU 3304707A SU 1067972 A1 SU1067972 A1 SU 1067972A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
ions
negative
negative ions
positive
positive ions
Prior art date
Application number
SU813304707A
Other languages
English (en)
Inventor
Н.Ф. Лазарев
Original Assignee
Предприятие П/Я А-7797
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-7797 filed Critical Предприятие П/Я А-7797
Priority to SU813304707A priority Critical patent/SU1067972A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1067972A1 publication Critical patent/SU1067972A1/ru

Links

Landscapes

  • Particle Accelerators (AREA)

Abstract

СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ОТРИЦАТЕЛЬНЫХ ИОНОВ, включающий ионизацию исходного вещества, формирование пучка положительных ионов, преобразование положительных ионов в отрицательные и отб5р отрицательных ионов, отличающийс  тем, что, с целью уменьшени  угла расходимости отрицательных ионов, преобразование положительных ионов в отрицательные производ т путем инжекции -пучка электронов с энергией меньше, чем энерги  ионизации атома исходного вещества, перпендикул рно пучку положительных ионов.

Description

Изобретение относитс  к области технической физики и может быть использовано при конструировании источ- . НИКОВ отрицательных ионов, а также в экспериментальных исследовани х и масс-спектроскопии с высоким разрешением .
Известны способы получени  отрицательных ионов, включающие ионизацию исходного вещества, отбор положительных ионов исходного вещества с образованием пучка положительных ионов и преобразование положительных ионов исходного вещества в отрицательные ионы путем введени  на пути движени  положительных ионов вещества в виде мишени в состо нии газа или пара.
В указанных способах образование отрицательных ионов происходит в момент столкновени  исходного положительного иона с частицами вещества мишени. При этом электроны внешних оболочек атомов .мишени переход т к положительным ионам исходного вещест
на, в результате чего образуютс  от« рицательные ионы исходного вещества.
Известные способы преобразовани  положительных ионов в отрицательные ионы не позвол ют получать пучки отрицательных ионов с высокой направленностью из-за рассе ни  частиц при столкновени х в мишени..
Известен способ получени  отрицаО О V4 тельных ионов, включающий ионизацию исходного вещества, формирование пучка положительных ионов, преобразоваЮ VI ние положительных ионов в отрицательные в области взаимодействи  и отбор Ю отрицаГельных ионов, в котором в качестве исходных положительных ионов используютс  ионы водорода и дейтери , а в качестве вещества мишени используетс  цезий и натрий.
Однако соударени  с атомами и 1 ионами щелочных металлов привод т к увеличению потерь ионов исходного вещества и к увеличению угловой расходимости пучка отрицательных ионов. .1 Целью изобретени   вл етс  уменьшение угловой расходимости пучка отрицательных ионов и увеличение эффек TiraHocTii irx получени . При этом пони жаетс  эффективность-получени  отрица т ан ь ных ионов. Целью изобретени   вл етс  уменьшение угла расходимости отрицательных ионов. Поставленна  цель достигаетс  i. тем, пто в известном способе, включающем ионизацию исходного вещества, формирование пучка положительных ионов, щэеобразование полозкительных ионов в. отрицательные в области взаимодействн  и отбор отрицательных ионов, преобразование положительных ионов в отрицательные производ т путем инжекции пучка электронов с энер гией меньше, чем энерги  ионизации атома исходного вещества, перпендику л рно пучку полох«1тельных ионов. Сущность способа заключаетс  в том, что при рекомбинации положитель ного иона исходного вещества со свободным электроном происходит ступенчатый переход электрона по энергетическим уровн м возбуждени  атома исходного вещества, при этом на некото рых определенных энергетических уров н х возбуж/.;енный атом присоедин ет дополнительный электрон, KOTopbBi и обуславливает отрицательный зар д от рицательного иона исходного вещества При преобразовании положительного иона в отрицательный ион необходимо по крайней мере два электрона, один из которьк необходим дл  рекомбинации , поло снтельного иона, а другой дл  образовани  отрицательного иона. Причем в момент рекомбинации иона об разуетс  возбужденный атом, которьпг захватывает второй электрон, если об разованньп при этом отрицательный ион будет находитьс  в возбу вдекном квазистационарном состо нии с энер гией возбу здени , равной одному из возможных энергетических уровней воз буждени . Поскольку указанный процес происходит при вполне определенных уровн х энергии возбуждени  атома, которые меньше потенциала ионизации атома исходного вещества, то и энерги  вводимых свободных электронов должна быть меньше , чем потенциал , ионизации атомов исходного вещества Оптималышш значени  энергии вводимых электронов могут быть определены как экспериментально, так и теоретически дл  каждого отдельного случа  в зависимости от рода и скорости движени  исходных ионов и необходимости получени  отрицательных ионов с определенным уровнем возбуждени . Получение свободных электронов может быть основано на фотоэмиссии, вторичной эмиссии и термоэмиссии, а также на использовании газоразр дных источ ,пиков электронов, а изменение энергии электронов может быть достигнуто путем изменени  ускор ющего и тормоз щего электрических полей. Поскольку дл  образовани  одного положительного иона в отрицательный необходимо два электрона, количество электронов по крайней мере в два раза доллсно превышать количество пололсительных ионов. Понизацию исходного вещества можно проводить путем бомбардировки электронами, путем фотоионизации и другими способами. Отбор положительных ионов и формирование их в пучок можно проводить выт гиванием их электрическим полем, а преобразование их в отрицательные провод т введением в поток или пучок положительных ионов пучка свободных электронов перпендикул рно пучку положительных ионов. Условие взаимного пересечени  пучков вызвано тем, что образованные отрпца-. тельные ионы при взаимодействии со свободными электронами интенсивно разрушаютс . Если же вводить электроны вдоль пучка ионов, то одновременно с образованием отрицательных ионов будет происходить и их разрушение по всей длине пучка. Это св зано с раз- личными скорост ми частиц. При этом пучок будет содержать больиюе количество нейтральных частиц. Прот женность участка взаимного пересечени  двух упом нутых пучков или потоков должна определ тьс  оптимальным количество отрицательных ионов и молсет быть получено экспер1-шентально или расчетным путем с учетом особенностей исходного вещества и скорости вещестна- и скорости движени  зар женных частиц. Предпочтительнее примен ть осцил цию электронов. Отбор или выведение отрицательных ионов дл  использовани , производ т путем отклонени  их в магнитном или электри- ском пол х . Нейтральные частицы,образовываЪщиес  при рекомбинации некоторой части пологкительных ионов можно преобразовать в отрицательные иомы, если указанный объем облучать электромагнитным излучением, энерги  фотонов которых меньше потенциала ионизации атома исходного вещества. Этим достигаетс  возбуждение нейтральных частиц до уровней энергии, при которых легко присоедин ютс  дополнительные электроны. В результате такой операции можно повысить эффективно с т получени  отрицательных ионов.
Использование способа обеспечивае уменьшение зггловой расходимости пучка отрицательных ионов за счет исключени  атомных столкновейий или преобразовани  положительных ионов в отрицательные, увеличение эффективности получени  отрицательных ионов за счет исключени  потерь частиц, вызванных изменением направлени  движени  при столкновении ионов исходного вещества с атомами мишени, а также вызванных рекомбинацией отрицательных ионов с положительными ионами мишени.

Claims (1)

  1. СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ОТРИЦАТЕЛЬНЫХ ИОНОВ, включающий ионизацию ис- ходного вещества, формирование пучка положительных ионов, преобразование положительных ионов в отрицательные и отббр отрицательных ионов, отличающийся тем, что, с целью уменьшения угла расходимости отрицательных ионов, преобразование положительных ионов в отрицательные производят путем инжекции пучка электронов с энергией меньше, чем энергия ионизации атома исходного вещества, перпендикулярно пучку положительных ионов.
SU813304707A 1981-06-18 1981-06-18 Способ получени отрицательных ионов SU1067972A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813304707A SU1067972A1 (ru) 1981-06-18 1981-06-18 Способ получени отрицательных ионов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813304707A SU1067972A1 (ru) 1981-06-18 1981-06-18 Способ получени отрицательных ионов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1067972A1 true SU1067972A1 (ru) 1992-05-07

Family

ID=20964378

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813304707A SU1067972A1 (ru) 1981-06-18 1981-06-18 Способ получени отрицательных ионов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1067972A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2347012A (en) * 1999-02-17 2000-08-23 Shigeo Hayakawa Charge inversion mass spectrometry
WO2006028406A1 (fr) * 2004-09-03 2006-03-16 Boris Abramovich Zon Procede pour produire des ions negatifs

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Патент US № 3424904, кл. 250-84, 1969. Агафонов Ю.А. и др. Выбор материала мишени дл перезар дного источника ионов Н и Д. Журнал технической физики, 1980, 50, 10, 2163. *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2347012A (en) * 1999-02-17 2000-08-23 Shigeo Hayakawa Charge inversion mass spectrometry
US6373051B1 (en) 1999-02-17 2002-04-16 Shigeo Hayakawa Charge inversion mass spectrometry which relies upon the dissociation of a neutral species
WO2006028406A1 (fr) * 2004-09-03 2006-03-16 Boris Abramovich Zon Procede pour produire des ions negatifs

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3386883A (en) Method and apparatus for producing nuclear-fusion reactions
Hemsworth et al. Positive and negative ion sources for magnetic fusion
US6680480B2 (en) Laser accelerator produced colliding ion beams fusion device
Louisell et al. Analysis of a soft-x-ray laser with charge-exchange excitation
Deutsch et al. Fragmentation and stopping of heavy cluster ions in a lithium target− Application to target implosion
US3742219A (en) High energy neutral particle beam source
JPS6037700A (ja) 陰イオン源
Lécz et al. Substantial enhancement of betatron radiation in cluster targets
US5162094A (en) Fusion power generating system
Láska et al. Iodine laser production of highly charged Ta ions
SU1067972A1 (ru) Способ получени отрицательных ионов
US4349505A (en) Neutral beamline with ion energy recovery based on magnetic blocking of electrons
Hamilton et al. Physics and applications of charged particle beam sources
Pitters et al. Summary of charge breeding investigations for a future $^{11} $ C treatment facility
WO2009142530A1 (ru) Способ ядерного синтеза легких элементов
Schmidt REXTRAP: Ion accumulation, cooling and bunching for REX-ISOLDE
JPS6186699A (ja) 収束性高速原子線源
Sharkov et al. Highly charged ions from Nd-laser produced plasma of medium and high-Z targets
RU2066094C1 (ru) Способ нейтрализации положительных ионов
Deutsch et al. Cluster ion stopping and fragmentation for ICF
JPS6331920B2 (ru)
JPH0750637B2 (ja) 高速原子線源
RU2707272C1 (ru) Мощный источник нейтронов, использующий ядерную реакцию синтеза, протекающую при бомбардировке нейтронообразующей газовой мишени ускоренными ионами дейтерия
JP2627420B2 (ja) 高速原子線源
Holmes et al. Negative-ion sources for ion implantation