[go: up one dir, main page]

SU1000946A1 - Устройство дл измерени с-G-V характеристик МДП-структур - Google Patents

Устройство дл измерени с-G-V характеристик МДП-структур Download PDF

Info

Publication number
SU1000946A1
SU1000946A1 SU813345080A SU3345080A SU1000946A1 SU 1000946 A1 SU1000946 A1 SU 1000946A1 SU 813345080 A SU813345080 A SU 813345080A SU 3345080 A SU3345080 A SU 3345080A SU 1000946 A1 SU1000946 A1 SU 1000946A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
output
input
voltage
control
source
Prior art date
Application number
SU813345080A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Семенович Гаевский
Александр Иванович Мартяшин
Анатолий Вильевич Светлов
Виктор Михайлович Чайковский
Борис Вульфович Цыпин
Original Assignee
Пензенский Политехнический Институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Пензенский Политехнический Институт filed Critical Пензенский Политехнический Институт
Priority to SU813345080A priority Critical patent/SU1000946A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1000946A1 publication Critical patent/SU1000946A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ C-QХАРАКТЕРИСТИК МДП-СТРУКТУР
1
Изобретение огносигс  к контрольноизмерительной технике и можег быть использовано дл  осуществлени  контрол  качества полупровоцниковых структур, например МДП-структур, в процессе их производства. ,
Известно устройство, в котором осу- . ществл етс  раздельное изменение емкости исследуемой МДП-структуры и активной проводимости утечки в широком ди- Q намическом диапазоне изменени  параметров исследуемого объекта Ij ,
Недостаток этого устройства - невысока  точность измерени  реапъныкпарамет- j ров МДП-структур из-за испо ьзоьаии  неточной схемы замещени .
Наиболее близким к предлагаемому  вл етс  устройство дл  измерени  элек- 70 трофизических параметров МДП-структур, содержащее блок управлени , источник опорного напр жени , первый сумматор, исследуемый объект, операционный усилитель , оЬразцовый конценсагор, управл емый делитель напр жени , первый ключ, второй сумматор, второй ключ, запоминающий блок, нул1 -орган, програмк:ируемый источник смешени , инвертор, регулируемое сопротивление, первый, второй и третий дополнительные ключи, дополнительный запоминающий блок, ключ, вычита- тель напр жений, блок измерени  посто нной времени, схему делени  напр жений, коммутатор и самописец 2J .
Известное устройство характеризуетс  недостаточной точностью измерени . Кроме того, оно имеет в своем составе контур с положительной обратной св зью (контур компенсации вли ни  емкости диэлектрика С.(), что приводит к снижению устойчивости и стабильности его работы. Действие положительной обрат ной св зи приводит к усилению неравно- мерностей амплитудно-частотной характеристики устройства, а мен кмшкзс  в процессе работы временные зацо г/кки сигнала , в контуре обратной св зи 1и,1зывают
изменение крутизны фронтов импульсных сигналов, что отражаетс  на точности измерени  параметра С а , определ емого по мгновенному значению напр жени  на выходе операционного усилител  при помо щи ключа. Остальные параметры МДП структуры также измен ютс  с большой погрешиостью, поскольку они определ юг с  с учетом измеренного значени  Cj .
Все указанные факторы привод т к
снижению точности измерени  параметров МДП-структур.
Цель изобретени  - повышение точности измерени  С харак,теристик МДП-структур.
Поставленна  цель достигаетс  тем, что в устройство дл  измерени  С -( Y характеристик МДП-струкгур, содержащее блок управлени , первый выход которого соединен с управл ющим входом источника опорного напр жени , второй выход подключен к управл ющему входу программируемого источника смещени , выход которого подключен к первому входу самописца и первой клемме дл  подключени  исследуемого объекта, втора  клемма ко торого соединена с входом операционного усилител  и одной из обкладок опорного конденсатора, втора  обкладка которого подключена к выходу источника опорного напр1и-сени  и входу делител , которого подключен к первому входу вычига- тел  напр жений, второй вход которого соединен с выходом операционного усили тел , измеритель посто нной времени, вход которого соединен с входом нуль- , органа, а выход - с входом ключа, а также коммутатор, выход которого подключен к второму входу самописца, введены разделительный конденсатор, источ- ник управл ющего напр жени , второй
целитель напр жени , первый и второй пиковые детекторы, блок измерени  напр жени , цополнительный вьгчитатель напр  жвний,.блок сравнени  и фильтр нижних частот, причем перва  обкладка разделительного конденсатора соединена с пер вой клеммой дл  подключени  исследуемого объекта, а втора  - с выходом опе рационного усилител , выход вьлитател  напр жений соединен с входами первого
пикового детектора, второго целител  напр жени , нуль-орган и блока измерени  посто нной времени, выход первого пико« « вого детектора соединен с первым входом блока сравнени  и первым входом коммутатора , выход второго делител  напр жени  соединен с входами второго пикового
детектора и блока измерени  напр жени , управл ющий вход которого соединен с третьим выходом блока управлени , а выход - с вторым входом коммутатора и первым входом второго вычитател  напр жений , второй вход которого подключен к выходу второго пикового детектора, управл ющему входу ключа, выход которого через фильтр нижних частот соединен с третьим входом коммутатора, управл ющий вход второго пикового детектора подключен к входу первого пикового детектора и четвертому выходу блока управлени , п тый выход которого соединен с первым входом источника управл ющего напр жени , второй вход которого подключен к выходу нуль-органа, а выход соединен с входом первого делител  и четвертым входом коммутатора, выход дополнительного вычитател  напр жений подключен к второму входу блока сравнени , выход которого соединен с управл ющим входом второго делител .
На чертеже приведена структурна  схема предлагаемого устройства.
Устройство содержит блок 1 управлени , источник 2 опорного напр жени , опорный конденсатор 3, операционный усилитель 4, исследуемый объект К5, программируемый источник 6 смещени , разделительный конденсатор 7, вычитател 8 напр жений, первый управл емый дели тель 9 напр жени , источник 10 управл ющего напр  кени , нуль-орган 11, первый пиковый детектор 12, второй. т1р авл емый делитель 13 напр жени , блок 14 измерени  посто нной времени, второй пиковый детектор 15, блок 16 измерени  установившегос  значени  напр жени , дополнительный вычитатель 17, напр жений , сравнивающее устройство 18, ключ 19, фильтр 20 нижних частот, коммутатор 21 и самописец 22.
Управл ющий вход источника 2 опорного напр жезш  подключен к одному из выходов блока 1 управлени . Выход источника 2 опорного напр жени  соединен через первый управл емый целитель 9 напр жени  с первым входом вычитател  8 напр жений, а через опорный конденсатор 3 - с входом операционного усилител 4 и с одной клеммой исследуемого объеК та В, Друга  клемма исследуемого объекта 5 подключена к выходу программируемого источника 6 смещени , а через разделительнъй конденсатор 7 - к выходу операционного усилител  4 и второму входу вычитател  8 напр жений, выход которого пикового мого делител  13 напр жени , нуль-органа 11 и блока 14 измерени  посто нной времени. Выход нуль-органа 11 через источник 1О-управл ющегб напр жени  подключен к управл ющему входу первого управл емого делител  9 напр жени . Выход второго управл емого делител  13 напр жени  соединен с входами вгорого пикового цетектора 15 и блока 16 измерени  установивщегос  значени  напр жени . Выход второго пикового детектора 15 соединен с входом ключа 19 и первым входом дополнительного вычитаге- л  17 напр жений, второй вход которого подключен к выходу блока 16 измерени  установившегос  значени  напр жени . Выход дополнительного вычитател  17 напр жений соединен с первым входом сравнивающего устройства 18, второй вход которого соединен с выходом первого пикового детектора 12. Выход сравнивающего устройства 18 подключен к упра л ющему входу второго делител  напр же НИИ 13. Выход блока 14 измерени  посто нной времени соединен с управл ющим входом ключа 19, выход которого подключен к входу фильтра 2О нижних частот Управл ющие входы источника 1О управл  ющего напр жени , первого и второго пиковых детекторов 12 и 15, блока 16
е .
,ГСд - емкость опорного конденсатора С - емкость диэлектрика, С: емкость обедненного сло  полу проводника, С2ИЯ- емкость и сопротивление, св  занные с поверхностными сое- . то ни ми и завис5шше от поверхностного потенциала. В течение другого полупериода это напр жение имеет противоположную пол { кость. В режиме обогащени  емкость С обе- дневного сло  полупроводника настолько велика, что емкость МДП-структуры практически равна емкости диэлектрика. Следовательно, в режиме обогащени  при напр жаше на выходе опера«ционного усилител  4 OY O O/CIC j-C-j
.
2
510009 64 соединен с входами первого измерени  установившегос  значени  надетектора 12, второго управл в- пр жени  соединены с соответствующими выходами блока 1 управлени . Выходы источника 1О управл ющего напр жени , первого пикового детектора 12, блока 16 измерени  установившегос  значени  напр жени  и фильтра 2О нижних частот соедлмены с соответствующими входами коммутатора 21. Выход последнего под- ключей к сигнальному входу самописца 22, горизонтальный вход которого соециней с выходом программируемого источника 6 смещени . Устройство-работает следующим об- По команде блока 1 управлени  программируемый источник 6 смещени  подает на исследуемую МДП-структуру 5 такое напр жение смещени , которое вводит МДП-структуру в режим сильного обогащени  (это напр жение долж-но быть положительным дл  структуры П -типа отрицательным дл  структуры р -типа). Источник 2 опорного напр жени  вырабатывает опорное (тестовое) напр жение в виде двупол рных пр моугольных импульсов амплитудой Ьд . При этом в те- чение одного из полупериодов опорного напр жени  выходное напр жение операционного усилител  4 имеет вид Выходное напр жение «первого управмого делител  9 напр жени  VAH,E Напр жение на выходе вычитател  8 р жений в обием виде be п,( , CgtCa -С.С,Я.ЕоСо; . С ежиме обогащени  Лн По команде блока управлени  источ- . 10 управл ющего напр жени  поцает управл ющий вход первого управл емо-,
710009468
го целител  9 напр; жени  управл ющееПосто нное управл ющее напр жение
посто нное напр жение, медленно иэмен кх на вхоае первого управл емого целител  щеес  до .тех пор, пока нуль-орган 11
не заифксирует на выходе вычигател 
8 напр жений нулевое значение напр же- 5 Тагор 21 подаетс  на самописец 22.
НИЯУВУ «ЕоСо/С ЕдКу.и . Ю. Это про.На прот жении всего цикла измерени 
изойдет при YAH-I команде нуль-органа 11 источник 10 управл ющего напр жени  прекращает изменение своего выходного напр жени  и фиксирует его на уровне, при- котором
SAHI CO/C,.
НоСо
)
: - Со+С; Первый пиковый детектор 12 фиксирует экстремальное ( за полупериод опорного сигнала) значение напр жени  (J ц. когорюе подаетс  на самописец 22 через коммутатор 21. Выходное апр жение вычитател  8 напр жений масштабируетс  вторым управ л емый делителем 13 напр жени  и по даетс  на входы второго пикового детектора 15 и блока 16 измерени  установн щегос  значени  напр жени . Их выходные напр жени  V k L :lM BHvSH-q.. подаютс  на входы дополнительного внчи- тател  17 напр жений, выходное напр жение которого (Сз+Са) Это напр жение сравниваетс  сравнивающим устройством 18 с напр жетшем, снимаемым с выхода первого пикового детек . тора 12
напр жений, пропорциональное значению его коэффициента передачи, через коммупараметров исследуемого образца МДПструктуры . значение К не измен етс .
Далее по команде блока 1 управлени  программируемый источник 6 смещени  выводит с исследуемую МДП-структуру из режима обогащени . При различных напр жени х смещени  значение емкости диэлектрика С остаетс  неизменным , поэтому
.
ЕоСо

Claims (2)

  1. е, в случае неравенства напр жений иццп и UriDj сигналом рассогласовани  с выхода сравнивающего устройства 18 измен етс  коэффициент передачи второго управл емого делител  13 напр жени  до тех пор, пока не будет достигнуто равенство СоС2 ЕдСо . сз Это произойдет при ./С, Выходное напр жение блока 16 измерени  установившегос  значени  напр жени  о оЕоС г 1г - подаетс  через коммутатор 21 на самойисец 22. Выходное напр жение второго тгикового детектора 15 -ЕоС,() VAHI через ключ 19 поступает на фильтр 2О нижних частот. Блок 14 измерени  посто нной времени определ ет посто нную времени экспоненциально измен ющегос  напр жени  на выходе вычитател  8 напр жений, преобра- 91 зу  значение посто$шной времени этого напр жени  в длительность импульса Сл С R Выхоциое напр жение блока 14 измерени  посто нной времени подаетс  на управл ющий вход ключа 19, открыва  его на врем  действи  импульса Л t т. На выходе ключа 19 фо{ 1ируюгс  пр моугольные импульсы амплитудой Yfi и длительностью Л.Р . Вольт-секундна  площадь этих импульсов ЕоСо(С2+Сэ) KA Vnft7 t Фильтр 20 нижних частот находит среднее значение напр жени  на выходе ключ ( пропорциональное ). Выход фильтра 2О нижних частот через коммутатор 21 подключаетс К самописцу 22. Таким образом, на самописец вывод т с  посто нные напр жени , пропорциональ ные текущим значени м параметров всех элементов четырехэлементной схемы замещени  МДП-чзтруктуры (с VCi i R ) в зависимости от приложенного напр жени  смещени . При этом при смене режимов работы в схеме не производитс  никаких пере- коммутаций, отсутствует петл  обратной jсв зи, что в конечном счете приводит к повьшюнию точности измерени  С -G-V характеристик МДГТ-ч;труктур. Формула изобретени  Устройство дл  измерени  с --Q-V характеристик МДП-структур, содержащее блок управлени , первый выход которого соединен с управл ющим входом источника опорного напр жени , второй выход подключен к управл ющему входу програм мируемого источника смещени , выход которого подключен к первому входу сам писце и первсА клемме дл  подключени  исследуемого объекта, втора  клемма кем торого соединена с входом операционного усилител  и одной из обкладок опорного конденсатора, втора  обкладка которого поаключена к выходу источника опорного , напр жени  и входу делител , выхоа кото рого подключен к первому входу вычита- тел  напр жений, второй вход которого соединен с выходом операционного усили4в тел измеритель посто нной времени, вхоц которого соединен с входом нуль-органа, а выход - с входом ключа, а также коммутаго .р, выход которого подключен к второму входу самописца, о т л и- ч а ю - щ е е с   тем, что, с целью повьш1ени  точности измерени , в него введены разделительный конденсатор, источник управл ющего напр жени , второй делитель напр жени , первый и второй пиковые детекторы , блок измерени  напр жени , дополнительный вычитатель напр жений, блок сравнени  и фильтр нижних частот, причем перва  обкладка разделительного конденсатора соединена с первой клеммой дл  подключени  исследуемого сбъек- та, а втора  - с выходом операционного усилител , выход вычитател  напр жений соединен с входами первого пикового детектора, второго делител  напр жени , нуль-органа и блока измерени  посто нной времени, выход первого пикового детектора соединен с первым входом блока сравнени  и первым входом коммутатора , выход второго делител  напр жени  соединен с входами второго пико- . iBor6 детектора и блока измерени  напр жени , управл ющий вход которого соединен с третьим вьсходом блока управлени , а выход - с вторым входом коммутатора и первым входом второго вычитател  напр жений , второй вход которого подключен к 1ЭЫХОДУ второго пикового цетекгора, управл ющему входу ключа, выход которого через фильтр нижних частот соединен с третьим входом коммутатора, управл ющий вкод второго пикового детектора подключен к входу первого пикового детектора и четвертому выходу блока управлени , п тый выход которого соединен с первым входом источника управл5пощего напр жени , второй вход которого подклю- чен к выходу нуль-органа, а выход соединен с входом первого делител  и четвертым входом коммзгтатора, выход дополнительного вычитател  напр жений подключи к второму входу блока сравнени , выход которого соединен с управл ющим вкоаом ророго делител . Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство. СССР № 6585О8, кл. Q О1 R 31/26, 25.04.79.
  2. 2.Авторское свиоетельсгво по за в- . ке № 2926071/18-21, кл. Q O1R31/26, 20.11.80 (прототип).
SU813345080A 1981-10-08 1981-10-08 Устройство дл измерени с-G-V характеристик МДП-структур SU1000946A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813345080A SU1000946A1 (ru) 1981-10-08 1981-10-08 Устройство дл измерени с-G-V характеристик МДП-структур

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU813345080A SU1000946A1 (ru) 1981-10-08 1981-10-08 Устройство дл измерени с-G-V характеристик МДП-структур

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1000946A1 true SU1000946A1 (ru) 1983-02-28

Family

ID=20979353

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU813345080A SU1000946A1 (ru) 1981-10-08 1981-10-08 Устройство дл измерени с-G-V характеристик МДП-структур

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1000946A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1219967A1 (en) Impedance detector circuit, impedance detector and method of impedance detection
US4086541A (en) Time division multiplexing amplifier
SU1000946A1 (ru) Устройство дл измерени с-G-V характеристик МДП-структур
US3255410A (en) System and method for measuring a property of dielectric material by periodically and alternately applying signals at different frequencies to a capacitance probe and measuring the difference in output signals while maintaining the average amplitude of the output signals constant
US2596955A (en) Apparatus for measuring direct voltages
US5001416A (en) Apparatus and method for detecting and measuring changes in linear relationships between a number of high frequency signals
US3484692A (en) Superregenerative circuit with switch means providing reference and measuring states
US3568057A (en) Phase measurement apparatus incorporating square wave voltage difference compensation
SU691783A1 (ru) Устройство дл измерени неравномерности амплитудно-частотных характеристик
SU1026095A1 (ru) Измеритель электрофизических параметров МДП-структур
SU1721542A1 (ru) Устройство дл измерени электрической проводимости жидкости
SU993365A1 (ru) Устройство дл измерени внутреннего сопротивлени электрохимического источника тока
SU759996A1 (ru) Устройство для регистрации параметров по площади поверхности структур диэлектрик-полупроводник
SU1029062A2 (ru) Кондуктометр
SU905885A1 (ru) Устройство дл измерени электрофизических параметров МДП структур
SU1095078A1 (ru) Устройство дл измерени напр жени
SU1425431A1 (ru) Вихретоковый толщиномер
SU534698A1 (ru) Устройство дл измерени активной мощности
SU890222A1 (ru) Вольтамперограф
SU1075333A1 (ru) Устройство дл измерени концентрации легирующих примесей в полупроводниках
SU957114A1 (ru) Устройство дл измерени мгновенных значений импульсных напр жений
SU834586A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициентафОРМы КРиВОй пЕРЕМЕННОгО НАпР жЕНи
SU1076843A1 (ru) Преобразователь параметров @ , @ , @ с цепей в частотные сигналы
SU1767446A1 (ru) Устройство дл измерени частотных зависимостей емкости или проводимости
JPH046477A (ja) 交流電圧測定装置