SE525206C2 - Contact free measurement of material surface properties for e.g. panels or cylinders, by reflecting light off surface onto optical device with image sensor and beam splitter - Google Patents
Contact free measurement of material surface properties for e.g. panels or cylinders, by reflecting light off surface onto optical device with image sensor and beam splitterInfo
- Publication number
- SE525206C2 SE525206C2 SE0303048A SE0303048A SE525206C2 SE 525206 C2 SE525206 C2 SE 525206C2 SE 0303048 A SE0303048 A SE 0303048A SE 0303048 A SE0303048 A SE 0303048A SE 525206 C2 SE525206 C2 SE 525206C2
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- light line
- image
- material surface
- light
- difference
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
25 '-w 35 525 206 2 delvis åstadkommas genom en fresnellins, vilket medför att jämnare ljuslinjebilder kan upptas av bildsensorn. 25 '-w 35 525 206 2 is partly achieved by a Fresnel lens, which means that smoother light line images can be taken up by the image sensor.
En ytterliggare fördelaktig utföringsform av uppfinningen innefattar att organet för uppdelning av den reflekterade ljuslinjen avbildar ljuslinjen från åtminstone två observationsvinklar på bildsensorn. För att erhålla bilduppdelning från två observationsvinklar innefattar organet en bilduppdelande prisma.A further advantageous embodiment of the invention comprises that the means for dividing the reflected light line images the light line from at least two observation angles on the image sensor. To obtain image splitting from two observation angles, the means comprises an image splitting prism.
I en annan utföringsform innefattar det bilduppdelande organet speglar.In another embodiment, the image dividing means comprises mirrors.
En utföringsform av uppfinningen innefattar att organet för uppdelning i den optiska anordningen har polarisationsuppdelande optik. Den polarisationsuppdelande optiken kan bestå av en dubbelbrytande prisma. Härvid kan den polarisationsuppdelande optikens dubbelbrytande prisma vara av typen wollaston.An embodiment of the invention comprises that the means for splitting in the optical device has polarizing splitting optics. The polarizing splitting optics may consist of a birefringent prism. In this case, the birefringent prism of the polarizing dividing optics can be of the wollaston type.
I en utföringsforrn beräknas glansen som nämnda differens mellan en parallellt polariserad Ijuslinjeavbildning och en ortogonalt polariserad Ijuslinjeavbildning.In one embodiment, the gloss is calculated as said difference between a parallel polarized light line image and an orthogonally polarized light line image.
Vidare, i en utföringsform, separerar polarisationsoptiken de åtminstone två i en första och en andra observationsvinkel mottagna ljuslinjeavbildningarna i varsin parallellt och ortogonalt polariserad Ijuslinjeavbildning iförhållande till ljuslinjen, varvid separationen och polariseringen genom de två observationsvinklarna återger fyra ljuslinjeavbildningar på bildsensorn.Furthermore, in one embodiment, the polarization optics separates the at least two light line images received at a first and a second observation angle into respective parallel and orthogonally polarized light line images relative to the light line, the separation and polarization through the two observation angles representing four light line images.
En ytterligare utföringsform innefattar att materialytans glans beräknas som åtminstone ett av differensen mellan den parallellt polariserade ljuslinjeavbildningen för den första observationsvinkeln och dess ortogonalt polariserade Ijuslinjeavbildning, och differensen mellan den parallellt polariserade ljuslinjeavbildningen för den andra observationsvinkeln och dess ortogonalt polariserade Ijuslinjeavbildning, och som differensen mellan den parallellt polariserade ljuslinjeavbildningen för den första observationsvinkeln och dess ortogonalt polariserade Ijuslinjeavbildning plus differensen mellan den parallellt polariserade ljuslinjeavbildningen för den andra observationsvinkeln och dess ortogonalt polariserade Ijuslinjeavbildning.A further embodiment comprises that the gloss of the material surface is calculated as at least one of the difference between the parallel polarized light line image of the first observation angle and its orthogonally polarized light line image, and the difference between the parallel polarized light line image of the second observation angle and its orthogonally polarized the parallel polarized light line image for the first observation angle and its orthogonally polarized light line image plus the difference between the parallel polarized light line image for the second observation angle and its orthogonally polarized light line image.
En annan utföringsform innefattar att materialytans topografi beräknas som åtminstone ett av differensen mellan de båda parallellt polariserade ljuslinjeavbildningarna, och som mellan den parallellt polariserade ljuslinjeavbildningen för den första observationsvinkeln och dess ortogonalt polariserade Ijuslinjeavbildning minus differensen mellan den parallellt polariserade ljuslinjeavbildningen för den andra observationsvinkeln och dess ortogonalt polariserade Ijuslinjeavbildning.Another embodiment comprises that the topography of the material surface is calculated as at least one of the difference between the two parallel polarized light line images, and as between the parallel polarized light line image for the first observation angle and its orthogonally polarized light line image minus the difference between the parallel polarized observation line and the second polarized light line imaging.
Materialytans diffusa reflektans beräknas i en utföringsform som ljuseffekten för någon av de ortogonalt polariserade ljuslinjeavbildningarna, eller som ljuseffekten för de båda ortogonalt polariserade ljuslinjeavbildningarna adderade.The diffuse reflectance of the material surface is calculated in one embodiment as the light effect for one of the orthogonally polarized light line images, or as the light effect for the two orthogonally polarized light line images added.
K:\Patent\110-\1 10106600\P1 10106600SE.dOc 10 15 20 25 30 35 525 206 3 För att erhålla ytans färg beräknas den i en utföringsform genom att de ortogonalt polariserade ljuslinjeavbildningarna färgfiltreras, varigenom färg- och mönsterdefekter blir detekterbara. Ännu en utföringsform av föreliggande uppfinning innefattar att en diffus ljuslinjeavbildning används för att mäta mönsterdefekter.In order to obtain the color of the surface, it is calculated in one embodiment by color-filtering the orthogonally polarized light-line images, whereby color and pattern defects become detectable. Yet another embodiment of the present invention involves the use of a diffuse light line image to measure pattern defects.
Materialytan förflyttas i en utföringsform, varvid projiceringen av ljuslinjen intermittent eller kontinuerligt skannar materialytan för upptagning av reflekterade ljuslinjeavbildningar längsmed en förbestämd längd av materialytan.The material surface is moved in one embodiment, wherein the projection of the light line intermittently or continuously scans the material surface for recording reflected light line images along a predetermined length of the material surface.
Bildsensorn innefattas i en utföringsform i en smart kamera.The image sensor is included in one embodiment in a smart camera.
Vidare anger föreliggande uppfinning en anordning för beröringsfri avsyning och inmätning av ytegenskaper och -defekter på en materialyta. Anordningen innefattar: organ för projicering av en ljuslinje på materialytan; optisk anordning med en tvådimensionell bildsensor innefattande rader av pixels, för mottagning av reflekterat ljus från ljuslinjens reflektion mot materialytan, och med organ för uppdelning av den reflekterade ljuslinjen i åtminstone två ljuslinjeavbildningar som i allt väsentligt är parallella med raderna av pixels; och organ för addering kolumn för kolumn av upptagen ljuseffekt av pixels för var och en av ljuslinjeavbíldningarna, varvid en differensavbildning beräknas kolumnvis mellan adderade ljuseffekter upptagna genom åtminstone två ljuslinjeavbildningar, varvid differensen används för åtminstone ett av att beräkna lutningen för bestämning av topografiska ytdefekter och för att särskilja mellan diffusbild och glans hos nämnda materialyta.Furthermore, the present invention provides a device for non-contact inspection and measurement of surface properties and defects on a material surface. The device comprises: means for projecting a light line on the material surface; optical device with a two-dimensional image sensor comprising rows of pixels, for receiving reflected light from the reflection of the light line towards the material surface, and with means for dividing the reflected light line into at least two light line images which are substantially parallel to the rows of pixels; and means for adding column by column of occupied light effect of pixels for each of the light line images, a difference image being calculated columnwise between added light effects taken by at least two light line images, the difference being used for at least one of calculating the slope and for determining the topography. to distinguish between diffuse image and gloss of said material surface.
Bildsensor innefattas i en utföringsform i en smart kamera. l en utföringsform av anordningen innefattas att materialytan förflyttas, varvid projiceringen av ljuslinjen intermittent eller kontinuerligt skannar materialytan för upptagning av reflekterade ljuslinjer längsmed en förbestämd längd av materialytan. Anordningen kan anordnas över ett transportband eller en materialbana som bär materialytan, varvid skanning åstadkommes genom att transportbandet eller materialbanan förflyttar materialytan.An image sensor is included in one embodiment in a smart camera. In one embodiment of the device, the material surface is moved, the projection of the light line intermittently or continuously scanning the material surface for recording reflected light lines along a predetermined length of the material surface. The device can be arranged over a conveyor belt or a web of material which carries the material surface, whereby scanning is effected by the conveyor belt or web of material moving the material surface.
Ytterligare utföringsformer av anordningen enligt föreliggande uppfinning ansluter till det enligt ovan beskrivna förfarandet och anges närmare i bilagda osjälvständiga anordningskrav.Further embodiments of the device according to the present invention connect to the method as described above and are specified in more detail in the appended dependent device requirements.
Kortfattad beskrivning av ritningarna Fortsättningsvis hänvisas i beskrivningen till bilagda ritningsfigurer för en bättre förståelse av föreliggande uppfinning med dess utföringsformer och givna exempel, varvid: Fig. 1 schematiskt illustrerar en anordning för alstring av en ljuslinje på en materialyta enligt föreliggande uppfinning; K:\Patent\110-\1 10106600\P110106600SE.d0C 10 15 20 25 5:30 35 525 206 4 Fig. 2 schematiskt illustrerar en optisk anordning för upptagning av reflektioner från en ljuslinje på en materialyta enligt föreliggande uppfinning; Fig. 3 schematiskt illustrerar anordningarna enligt fig. 1 och fig. 2 i samverkan för åstadkommande av en materialytavsyning enligt föreliggande uppfinning; Fig. 4 schematiskt illustrerar anordningarna enligt fig. 1 och fig. 2 i samverkan för åstadkommande av en materialytavsyning enligt föreliggande uppfinning, varvid anordningarna har en annan placering än den som framgår av fig. 3; Fig. 5 schematiskt illustrerar hur en reflekterad ljuslinje passerar en wollaston- prisma och uppdelas i en ortogonal polarisation enligt föreliggande uppfinning samt upptas av en bildsensor; Fig. 6 schematiskt illustrerar hur parallellpolariserat ljus från en materialyta enligt föreliggande uppfinning upptas på en bildsensor; Fig. 7 schematiskt illustrerar hur opolariserat alternativt parallellpolariserat ljus från en materialyta enligt föreliggande uppfinning upptas på en bildsensor, varvid den optiska anordningen enl fig.2 eller fig. 9 nedan arbetar utan en wollaston-prisma, men där upptagningen sker ifrån två observationsvinklar; Fig. 8 schematiskt illustrerar en utföringsform för hur alternativt parallellpolariserat ljus samt ortogonalpolariserat ljus från en materialyta enligt föreliggande uppfinning upptas på en bildsensor; Fig. 9 schematiskt illustrerar hur två observationsvinklar erhålls vid uppdelning av en reflekterad ljuslinje genom en prisma samt hur en deformation av en materialyta detekteras med avseende pà lutning hos materialytan; Fig. 10 schematiskt illustrerar en parallellt polariserad reflekterad ljuslinjeavbildningsgraf från en observationsvinkel ienlighet med föreliggande uppfinning; Fig. 11 schematiskt illustrerar en parallellt polariserad ljuslinjeavbildningsgraf från en annan observationsvinkel än den i fig. 10, i enlighet med föreliggande uppfinning Fig. 12 schematiskt illustrerar differensen i ljusintensitet mellan ljuslinjeavbildningsgraferna upptagna i enlighet med fig. 10 och fig.11.Brief Description of the Drawings In the description, further reference is made to the accompanying drawings for a better understanding of the present invention with its embodiments and examples, wherein: Fig. 1 schematically illustrates an apparatus for generating a light line on a material surface according to the present invention; Fig. 2 schematically illustrates an optical device for recording reflections from a light line on a material surface according to the present invention; Fig. 3 schematically illustrates the devices of Fig. 1 and Fig. 2 in cooperation for providing a material surface view according to the present invention; Fig. 4 schematically illustrates the devices according to Fig. 1 and Fig. 2 in cooperation for providing a material surface inspection according to the present invention, the devices having a different location than that shown in fi g. 3; Fig. 5 schematically illustrates how a reflected light line passes a wollaston prism and is divided into an orthogonal polarization according to the present invention and is occupied by an image sensor; Fig. 6 schematically illustrates how parallel polarized light from a material surface according to the present invention is received on an image sensor; Fig. 7 schematically illustrates how unpolarized or parallel polarized light from a material surface according to the present invention is received on an image sensor, the optical device according to g.2 or fi g. 9 below works without a wollaston prism, but where the recording takes place from two angles of observation; Fig. 8 schematically illustrates an embodiment of how alternatively parallel polarized light and orthogonal polarized light from a material surface according to the present invention are received on an image sensor; Fig. 9 schematically illustrates how two observation angles are obtained when dividing a reflected light line through a prism and how a deformation of a material surface is detected with respect to the inclination of the material surface; Fig. 10 schematically illustrates a parallel polarized reflected light line imaging graph from an observation angle in accordance with the present invention; Fig. 11 schematically illustrates a parallel polarized light line imaging graph from an observation angle other than that of Fig. 10, in accordance with the present invention. Fig. 12 schematically illustrates the difference in light intensity between the light line imaging graphs recorded in accordance with fi g. 10 and FIG. 11.
Fig. 13 schematiskt illustrerar en opolariserad ljuslinjeavbildningsgraf upptagen av en bildsensor, utan användning av wollaston-prisma enligt utföringsformen i fig. 7; Fig. 14 schematiskt illustrerar en parallellt polariserad ljuslinjeavbildningsgraf upptagen av en bildsensor; Fig. 15 schematiskt illustrerar en ortogonalt polariserad ljuslinjeavbildningsgraf upptagen av en bildsensor; Fig. 16 schematiskt illustrerar en graf för differensen i ljusintensitet mellan en parallell- och ortogonalpolariserad ljuslinjeavbildning; K:\Patent\110-\1 10106600\P110106600SE.d0c 10 15 20 25 30 35 525 206 5 F ig. 17 schematiskt illustrerar en optisk anordning utan wollaston-prisma, men med speglar för o-polariserad alternativt parallellpolariserad uppdelning och upptagning av Ijuslinjeavbildningar i två observationsvinkiar i enlighet med fig. 7 och föreliggande uppfinning; och Fig. 18 schematiskt illustrerar en optisk anordning i enlighet med fig. 17 där en prisma ersätter speglar för uppdelning av reflekterat ljus.Fig. 13 schematically illustrates an unpolarized light line imaging graph occupied by an image sensor, without the use of a wollaston prism according to the embodiment in fi g. 7; Fig. 14 schematically illustrates a parallel polarized light line imaging graph occupied by an image sensor; Fig. 15 schematically illustrates an orthogonally polarized light line imaging graph occupied by an image sensor; Fig. 16 schematically illustrates a graph of the difference in light intensity between a parallel and orthogonal polarized light line image; K: \ Patent \ 110- \ 1 10106600 \ P110106600SE.d0c 10 15 20 25 30 35 525 206 5 F ig. 17 schematically illustrates an optical device without a wollaston prism, but with mirrors for unpolarized or parallel polarized division and recording of light line images in two observation angles in accordance with Fig. 7 and the present invention; and Fig. 18 schematically illustrates an optical device according to Fig. 17 where a prism replaces mirrors for dividing reflected light.
Detaljerad beskrivning av föredragna utföringsformer Föreliggande uppfinning avser ett förfarande och en anordning som avsevärt förbättrar möjligheten att snabbt och noggrant avsyna och mäta in exempelvis stora blanka eller halvblanka ytor och att upptäcka samt klassiflcera ytskador på materialytor. Med materialyta avses t ex ytor på plana material såsom paneler, brädor, laminat- och parkettgolv, plåtar, plattor eller produkytor som är enkelkrökta såsom cylindriska produkter eller böjliga produkter i form av papper, folie, väv, plåt eller liknande, som löperi bana mellan valsar.Detailed description of preferred embodiments The present invention relates to a method and a device which considerably improves the possibility of quickly and accurately inspecting and measuring, for example, large glossy or semi-gloss surfaces and to detect and classify surface damage to material surfaces. Material surface refers to, for example, surfaces on flat materials such as panels, boards, laminate and parquet floors, sheets, tiles or product surfaces that are single-curved such as cylindrical products or flexible products in the form of paper, foil, fabric, sheet or the like, such as treadmills. rollers.
Uppfinningen möjliggör en effektiv detektering av topografiska ytskador såsom bulor och intryck. Detta även på halvblanka ytor med ett kontrastrikt mönster.The invention enables efficient detection of topographical surface damage such as bumps and impressions. This also on semi-gloss surfaces with a contrast-rich pattern.
En annan viktig egenskap hos föreliggande uppfinning är att flera olika ytegenskaper läses in samtidigt av endast en kamera. Med en utföringsform av uppfinningen är det möjligt att samtidigt läsa in diffust och spekulärt ljus från två skilda observationsvinkiar, vilket innebär att det effektivt går att detektera och klassiflcera defekter. Exempelvis kan två diffusbilder filtreras till två färger, t.ex. blått och rött. Ur bilderna kan sedan färg- och mönsterdefekter detekteras. Spekulärbilder innehåller information om den avsynade materialytans glans. När en diffusbild subtraheras från en spekulärbild erhålls en ren glansbild där det inte förekommer störningar från underliggande mönster. Ur differensen mellan två olika spekulärbilder beräknas topografiska fel såsom bulor, bucklor, intryck och liknande.Another important feature of the present invention is that several different surface properties are read in simultaneously by only one camera. With an embodiment of the invention, it is possible to simultaneously read in diffused and specular light from two different observation angles, which means that it is possible to effectively detect and classify defects. For example, two diffuse images can be filtered to two colors, e.g. blue and red. Color and pattern defects can then be detected from the images. Specular images contain information about the gloss of the material surface being inspected. When a diffuse image is subtracted from a specular image, a pure gloss image is obtained where there are no disturbances from the underlying pattern. From the difference between two different specular images, topographical errors such as bumps, dents, impressions and the like are calculated.
Fig. 1 illustrerar schematiskt en anordning/organ 10 för alstring av en ljuslinje 22 på en materialyta 23 enligt föreliggande uppfinning. Ljuslinjen 22 sträcker sig över materialytans 23 bredd, vilket inte framgår av fig. 1, men den alstrade ljuslinjen utbreder sig så att säga vinkelrätt in mot papperet. Organet 10 består av en ljuskälla 12, här i form av en fiberljuskälla, som strålar vitt ljus19. Ljuset fokuseras med en cylinderoptik 14 mot materialytan 23. Vidare, i en utföringsform, passerar ljuset efter cylinderoptiken 14 en fresnellins 16. Fresnellinsens 16 bidrar till jämnare ljuslinjebilder 22 på den bildsensor som sedermera registrerar reflektioner från materialytan 23. Ett polarisationsfilter 18 används i denna utföringsform för att linjärpolarisera ljuslinjen 22 som faller in på materialytan 23.Fig. 1 schematically illustrates a device / means 10 for generating a light line 22 on a material surface 23 according to the present invention. The light line 22 extends over the width of the material surface 23, which is not shown in Fig. 1, but the generated light line extends, so to speak, perpendicular to the paper. The means 10 consists of a light source 12, here in the form of a fiber light source, which emits white light19. The light is focused with a cylinder optics 14 towards the material surface 23. Furthermore, in one embodiment, the light after the cylinder optics 14 passes a Fresnel lens 16. The Fresnel lens 16 contributes to smoother light line images 22 on the image sensor which later registers reactions from the material surface 23. A polarizing filter 18 is used in this embodiment. to linearly polarize the light line 22 incident on the material surface 23.
I fig. 2 illustreras hur ljus 24, 38 reflekteras ifrån materialytan 23 i två observationsvinkiar, varvid den reflekterade ljuslinjens 22 strålar 24, 38 upptas/registreras av K:\Patent\110-\110106600\P110106600SE.d0C 10 15 20 25 30 35 525 206 6 en optisk anordning 20. I den ena observationsvinkeln träffar den reflekterade ljuslinjens 22 strålar 24 en spegel 26, som i sin tur reflekterar strålarna 24 i riktning mot en bildsensor 36 via ytterligare en spegel 28. På väg mot bildsensorn 36 passerar strålarna 24 i en utföringsform av uppfinningen ett färgfilter 30 där strålarna 24 passerar genom t ex en rödfärgad del hos färgfiltret. Efter färgfiltret 30 går strålarna i en utföringsform genom en prisma, här en wollaston-prisma, vilken delar upp ljuset i parallellt polariserade 24, heldragen linje, samt ortogonalt polariserade strålar 24, prickad linje. Strålarna 24 fokuseras därefter mot en bildsensor 36 genom kameraoptik 34. I den optiska anordningen enligt fig.2 verkar speglarna 26, 28, 40, 42 samt wollaston-prisman 32 som organ för uppdelning av de reflekterade strålarna 24, 38 samtidigt som wollaston-prisman 32 verkar som polarísationsuppdelande optik i den optiska anordningen 20.Fig. 2 illustrates how light 24, 38 is reflected from the material surface 23 in two observation angles, the rays 24, 38 of the reflected light line 22 being taken up / recorded by K: \ Patent \ 110- \ 110106600 \ P110106600SE.d0C 10 15 20 25 30 35 525 206 6 an optical device 20. At one observation angle, the rays 24 of the reflected light line 22 strike a mirror 26, which in turn reflects the rays 24 in the direction of an image sensor 36 via another mirror 28. On the way to the image sensor 36, the rays 24 pass in an embodiment of the invention a color filter 30 where the rays 24 pass through, for example, a red-colored part of the color filter. After the color filter 30, in one embodiment the rays pass through a prism, here a wollaston prism, which divides the light into parallel polarized 24, solid line, and orthogonally polarized rays 24, dotted line. The beams 24 are then focused towards an image sensor 36 by camera optics 34. In the optical device according to fig.2, the mirrors 26, 28, 40, 42 and the wollaston prism 32 act as means for dividing the reflected beams 24, 38 at the same time as the wollaston prism 32 acts as polarization splitting optics in the optical device 20.
Bildsensorn 36 är i en utföringsform av föreliggande uppfinning anordnad i en kamera för upptagning av reflekterade ljuslinjebilder 22 från en avsynad materialyta 23.In an embodiment of the present invention, the image sensor 36 is arranged in a camera for capturing reflected light line images 22 from a screened material surface 23.
Kameran är i en utföringsform en sk smart kamera, dvs en kamera där bildsensorn 36 har inbyggd beräkningskapacitet. Materialytan 23 äri en utföringsform placerad på ett transportband eller materialbana med organet 10 för alstrande av en ljuslinje 22 och den optiska anordningen 20 för upptagning av reflekterade strålar 24, 38 anordnade i ett stativ så att ljuslinjen 22 projiceras på materialytan 23 och reflekteras mot bildsensorn 36, ej visat.In one embodiment, the camera is a so-called smart camera, ie a camera where the image sensor 36 has a built-in calculation capacity. The material surface 23 is in one embodiment placed on a conveyor belt or material web with the means 10 for generating a light line 22 and the optical device 20 for receiving reflected rays 24, 38 arranged in a frame so that the light line 22 is projected on the material surface 23 and reflected towards the image sensor 36. , not shown.
Transportbandet eller materialbanan flyttar materialytan 23 med dess material så att materialytan skannas av intermittent eller kontinuerligt med ljuslinjen 22 för fotografering med kameran.The conveyor belt or web of material moves the material surface 23 with its material so that the material surface is scanned intermittently or continuously with the light line 22 for shooting with the camera.
På motsvarande sätt som strålarna 24 leddes mot bildsensorn 36 leds de mot materialytan 23 reflekterade strålarna 38 från den andra observationsvinkeln mot bildsensorn 36 via speglarna 40, 42, färgfiltret 30, härt ex blåfärgat, wollaston-prisman 32 och kameraoptiken 34. De reflekterade strålarna 38 delas up av wollaston-prisman i parallellt och i ortogonalt polariserat ljus för att sedan falla in på bildsensorn 36.In the same way that the beams 24 are directed towards the image sensor 36, the beams 38 reflected towards the material surface 23 are guided from the second observation angle towards the image sensor 36 via the mirrors 40, 42, the color filter 30, hard eg blue, wollaston prism 32 and the camera optics 34. The reflected beams 38 is divided by the wollaston prism in parallel and in orthogonally polarized light and then falls on the image sensor 36.
Den optiska anordningen 20 registrerar eller upptar i fig. 2 fyra avbildningar av ljuslinjen 22 på bildsensorn 36, vilket indikeras med pilspetsarna för de två heldragna linjerna återgivande de parallellpolariserade ljuslinjestrålarna 24, 38 och de två prickade linjerna återgivande en ortogonalpolarisation av de reflekterade ljuslinjestrålarna 24, 38.The optical device 20 detects or captures in Fig. 2 four images of the light line 22 on the image sensor 36, which is indicated by the arrowheads of the two solid lines representing the parallel polarized light line rays 24, 38 and the two dotted lines representing an orthogonal polarization of the light reflected rays. 38.
Spekulärt reflekterade ljuslinjer anger en ytas glans. De 90° eller ortogonalt polariserade ljuslinjerna 22 anger således en del av diffust reflekterat ljus.Speculatively reflected light lines indicate the gloss of a surface. The 90 ° or orthogonally polarized light lines 22 thus indicate a portion of diffusely reflected light.
Med organet 10 för alstrande av en ljuslinje 22 och den optiska anordningen 20 enligt en utföringsform av föreliggande uppfinning kan således fyra olika avbildade ljuslinjebilder 22 erhållas projicerade på bildsensorn 36 ur en enda projektion av en ljuslinje 22 på en materialyta 23 via organ 10.Thus, with the means 10 for generating a light line 22 and the optical device 20 according to an embodiment of the present invention, four different imaged light line images 22 can be obtained projected on the image sensor 36 from a single projection of a light line 22 on a material surface 23 via means 10.
K2\Patent\1 10-\1 10106600\P1 101 OGSOOSEdOC 10 15 20 25 30 35 525 206 7 Fig. 3 åskådliggör samma organ 10 för alstring av en ljuslinje 22 och optiska anordning 20 för upptagning av en reflekterad ljuslinje 22, som beskrivits med hänvisning till fig. 1 och fig. 2, varvid en utföringsform av en inställning av organet 10 och anordningen 20 i förhållande till varandra återges. Denna inställning kan åskådliggöra ett anordnande av organet 10 och anordningen 20 över ett transportband eller en materialbana såsom de skulle ha riggats i ett stativ för ändamålet, utan att stativet visas.Fig. 3 illustrates the same means 10 for generating a light line 22 and optical device 20 for recording a reflected light line 22, as described. with reference to Figs. 1 and fi g. 2, in which an embodiment of an adjustment of the member 10 and the device 20 in relation to each other is represented. This setting can illustrate an arrangement of the member 10 and the device 20 over a conveyor belt or a web of material as they would have been rigged in a stand for the purpose, without the stand being shown.
På likartat sätt, som i fig. 3, visas i fig. 4 en annan utföringsform av en inställning av organet 10 och anordningen 20, där de är riggade i lod med varandra.In a similar way, as in Fig. 3, is shown in fi g. 4 shows another embodiment of an adjustment of the member 10 and the device 20, where they are rigged in plumb with each other.
Fig. 5 visar en utföringsform av föreliggande uppfinning där endast reflekterade ljusstrålar 35 från en observationsvinkel passerar en wollaston-prisma samt delas up i parallellt och ortogonalt polariserat ljus, prickad linje 37, för att sedan upptas av en bildsensor 36. Här är organet för uppdelning av reflekterade ljusstrålar 24, 38 wollaston- prisman 32, som samtidigt även verkar som bilduppdelande optik i den optiska anordningen 55 i motsatts till fig. 2 till fig. 4 där organet för uppdelning även innefattar speglar 26, 28, 40, 42 samt i fig. 9 där organet för uppdelning innefattar wollaston-prisman 32 och ett bilduppdelande prisma.Fig. 5 shows an embodiment of the present invention where only reflected light rays 35 from an observation angle pass a wollaston prism and are divided into parallel and orthogonally polarized light, dotted line 37, to then be occupied by an image sensor 36. Here is the means for dividing of reflected light beams 24, 38 wollaston prism 32, which at the same time also acts as image-splitting optics in the optical device 55 in opposition to fi g. 2 to fi g. 4 where the means for dividing also comprises mirrors 26, 28, 40, 42 and i fi g. 9 where the splitting means comprises a wollaston prism 32 and an image splitting prism.
Fortsättningsvis betecknas reflektioner av ljuslinjen 22 samt manipuleringar av reflekterade ljuslinjer med 22 och en gemen bokstav a, b, c, d, e, f, g och h såsom tex illustreras i fig. 5 till 8. l fig. 6 visas hur en parallellpolariserad ljuslinje 22a samt en ortogonalt polariserad ljuslinje 22b upptas av bildsensorn 36 i enlighet med utföringsformen ifig. 5.Hereinafter, reactions of the light line 22 and manipulations of reflected light lines are denoted by 22 and a common letter a, b, c, d, e, f, g and h as illustrated in fi g, for example. 5 to 8. Fig. 6 shows how a parallel polarized light line 22a and an orthogonally polarized light line 22b are occupied by the image sensor 36 in accordance with the embodiment of fig. 5.
För att registrera/uppta/avbilda de reflekterade ljuslinjerna enligt föreliggande uppfinning adderas kolumn för kolumn av upptagen ljuseffekt av pixels för var och en av ljuslinjeavbildningarna. Differensavbildning beräknas kolumnvis mellan adderade ljuseffekter upptagna genom åtminstone två ljuslinjeavbildningar på bildsensorn 36, dvs den adderade ljusintensiteten för pixels i en kolumn på en ljuslinjeavbildning bearbetas matematiskt med avseende på samma kolumn i en annan Ijuslinjeavbildning. Differensen används för åtminstone ett av att beräkna lutningen för bestämning av ytdefekter och för att särskilja mellan diffusbild och glans hos materialytan 23 kolumnvis längsmed ljuslinjebilden som projicerades på materialytan. Lutningsbestämning beskrivs närmare i samband med fig. 9.To record / record / image the reflected light lines according to the present format, column by column of recorded light effect of pixels is added for each of the light line images. Difference imaging is calculated column by column between added light effects captured by at least two light line images on the image sensor 36, i.e. the added light intensity for pixels in a column on a light line image is mathematically processed with respect to the same column in another light line image. The difference is used for at least one of calculating the slope for determining surface defects and for distinguishing between diffuse image and gloss of the material surface 23 columnwise along the light line image projected on the material surface. Slope determination is described in more detail in connection with fi g. 9.
Således kan ur upptagningen i fig. 5 av bildsensorn 36 den med ljuslinjen 22 bestrålade materialytans 23 glans erhållas ur den parallellt polariserade reflektionen 22a och mönsterdefekter ur den ortogonalt polariserade reflektionen 22b. För att erhålla en bättre bild av materialytans glans kan enligt föreliggande uppfinning den ortogonalt polariserade projektionens ljusintensitet subtraheras 22a-b ifrån den parallell polariserade projektionens ljusintensitet.Thus, from the recording in fi g. 5 of the image sensor 36 the gloss of the material surface 23 irradiated with the light line 22 is obtained from the parallel polarized reflection 22a and pattern defects from the orthogonally polarized reflection 22b. In order to obtain a better image of the gloss of the material surface, according to the present invention, the light intensity of the orthogonally polarized projection can be subtracted 22a-b from the light intensity of the parallel polarized projection.
Fig. 7 illustrerar en ljuslinjeupptagning eller -avbildning 22c och 22d av ljuslinjen 22 i två observationsvinklar som väsentligen är parallella med pixelraderna i bildsensorn 36.Fig. 7 illustrates a light line recording or imaging 22c and 22d of the light line 22 at two viewing angles substantially parallel to the pixel rows of the image sensor 36.
K2\Patent\1 10-\1 10106600\P110106600SE.d0C 10 15 20 25 -,æ 'Iæ 525 206 8 Här adderas den totala ljuseffekten i var och en av bilderna/avbildningarna kolumn för kolumn. Kolumnvis beräknas även differensbilden 22c-d mellan ljuseffekten från den på bildsensorn avbildade ljuslinjebilden 22c och ljuslinjebllden 22d. Ur differensbilden 22c-d kan lutningen för materialytan 23 beräknas för de olika positionerna längsmed ljuslinjebilden 22 så att topografin hos ytan kan bestämmas. Som tidigare berörts skannas hela materialytan 23 med ljuslinjer 22 så att en bild av hela materialytan 23 skapas i kameran med bildsensor 36. Utföringsformen i enlighet med fig. 7 avser en optisk anordning 20 eller 90 enligt tig. 9 (speglar är här ersatta med en uppdelande prisma), utan wollaston-prisma 32 med en bildupptagning pà bildsensorn ifrån två observationsvinklar. Utan wollaston-prisma 32 kan ljuslinjeavbildningen 22c och 22d vara opolariserad eller parallellt polariserad.K2 \ Patent \ 1 10- \ 1 10106600 \ P110106600EN.d0C 10 15 20 25 -, æ 'Iæ 525 206 8 Here the total light effect in each of the images / images is added column by column. Columnwise, the difference image 22c-d is also calculated between the light effect from the light line image 22c imaged on the image sensor and the light line image 22d. From the difference image 22c-d, the inclination of the material surface 23 can be calculated for the different positions along the light line image 22 so that the topography of the surface can be determined. As previously touched upon, the entire material surface 23 is scanned with light lines 22 so that an image of the entire material surface 23 is created in the camera with the image sensor 36. The embodiment according to Fig. 7 relates to an optical device 20 or 90 according to fig. 9 (mirrors are here replaced by a dividing prism), without wollaston prism 32 with an image capture on the image sensor from two observation angles. Without the wollaston prism 32, the light line imaging 22c and 22d may be unpolarized or parallel polarized.
Fig. 8 illustrerar en avbildning av ljuslinjen 22 på bildsensorn 36 från två observationsvinklar. Härvid erhålls att fyra ljuslinjebilder alstras på bildsensorn 36 en första ljuslinjebild 22e registrerad från en första observationsvinkel och alstrat av parallellt polariserat ljus, en andra ljuslinjebild 22f registrerad från den första observationsvinkeln och alstrat av ortogonalt polariserat ljus, en tredje ljuslinjebild 22g registrerad från en andra observationsvinkel och alstrat av parallellt polariserat ljus, en fjärde ljuslinjebild 22h registrerad från den andra observationsvinkeln och alstrat av ortogonalt polariserat ljus.Fig. 8 illustrates an image of the light line 22 on the image sensor 36 from two observation angles. It is hereby obtained that four light line images are generated on the image sensor 36 a first light line image 22e recorded from a first observation angle and generated by parallel polarized light, a second light line image 22f recorded from the first observation angle and generated by orthogonally polarized light, a third light line image 22g recorded from a second observation angle and generated by parallel polarized light, a fourth light line image 22h recorded from the second observation angle and generated by orthogonally polarized light.
Materialytans glans beräknas som åtminstone ett av ljuseffektdifferens 22e-f mellan den parallellt polariserade ljuslinjeavbildningen 22e för den första observationsvinkeln och dess ortogonalt polariserade ljuslinjeavbildning 22f, och mellan differensen 22g-h för den parallellt polariserade ljuslinjeavbildningen 22g för den andra observationsvinkeln och dess ortogonalt polariserade ljuslinjeavbildning 22h, och differensen 22e-f mellan den parallellt polariserade ljuslinjeavbildningen 22e för den första observationsvinkeln och dess ortogonalt polariserade ljuslinjeavbildning 22f plus differensen 22g-h mellan den parallella ljuslinjeavbildningen 22g för den andra observationsvinkeln och dess ortogonalt polariserade ljuslinjeavbildning 22h, dvs (22e-f) + (22g-h).The gloss of the material surface is calculated as at least one of the light effect difference 22e-f between the parallel polarized light line image 22e for the first observation angle and its orthogonally polarized light line image 22f, and between the difference 22g-h for the parallel polarized light line image 22g for the second observation angle 22g for the second observation angle , and the difference 22e-f between the parallel polarized light line image 22e of the first observation angle and its orthogonally polarized light line image 22f plus the difference 22g-h between the parallel light line image 22g of the second observation angle and its orthogonally polarized light line image 22h +, ie (22g-h).
Topografin för materialytan 23 beräknas som åtminstone ett av differensen 22e- g mellan de båda parallellt polariserade ljuslinjeavbildningarna 22e, 22g och differensen 22e- fmellan den parallellt polariserade ljuslinjeavbildningen 22e för den första observationsvinkeln och dess ortogonalt polariserade ljuslinjeavbildning 22f minus differensen 22g-h mellan den parallellt polariserade ljuslinjeavbildningen 22g för den andra observationsvinkeln och dess ortogonalt polariserade ljuslinjeavbildning 22h, dvs (22e-f) - (22g-h).The topography of the material surface 23 is calculated as at least one of the difference 22e-g between the two parallel polarized light-line images 22e, 22g and the difference 22e-between the parallel-polarized light-line image 22e for the first observation angle and its orthogonally polarized light-line image 22-minus the difference polarized light line image 22g for the second observation angle and its orthogonally polarized light line image 22h, i.e. (22e-f) - (22g-h).
En materialytas 23 diffusa reflektans beräknas som ljuseffekten för någon av de ortogonalt polariserade ljuslinjeavbildningarna 22f, 22h, eller som ljuseffekten för de båda ortogonalt polariserade ljuslinjeavbildningarna 22f, 22h adderade 22f+h.The diffuse reflectance of a material surface 23 is calculated as the light effect of one of the orthogonally polarized light line images 22f, 22h, or as the light effect of the two orthogonally polarized light line images 22f, 22h added 22f + h.
KI\Patent\110-\110106600\P1 10106600SE.d0c 10 15 20 25 30 35 525 206 9 Fig. 9 illustrerar en optisk anordning 90 i enlighet med den beskriven i fig. 2 och med ett organ 10, ej visat, för aistring av en ljuslinje 22 på en materialyta 48, 56, förutom att speglarna har ersatts med ett bilduppdelande prisma 44 med två infallsytor 45, 47 för uppdelning av den projicerade ljusbilden 22 i två observationsvinklar. Stràlarna 46 reflekteras från materialytan 48 i en lob 50 av spekuiärt reflekterade strålar 54, 52 som bryts i prismat 44,45, 47 och riktas mot bildsensorn 36. l övrigt överensstämmer den optiska anordningens ifig. 9 arbetssätt med det som beskrivits i samband med fig. 2. Det biluppdelande organet bstàr i fig. 9 av wollaston-prisman 32 samt den bilduppdelande prisman 44, varvid wollaston- prisman samtidigt verkar som en polarisationsuppdelande optik i den optiska anordningen 90. l fig. 9 framgår dock hur topografin för en materialyta 48, 56 kan bestämmas med lutningen hos den skannade materialytan i varje position längs ljuslinjen 22. Detta har i fig. 9 åskådliggjorts med att de båda materialytorna 48, 56, har tiltats, eller lutar i förhållande till varandra, heldragen yta 48 och prickad yta 56. Då inses att strålningsloberna 50, 58 har olika riktning beroende på lutning och träffbilden av reflekterad strålning mot bildsensorn 36 skiftar för de bägge Iutningarna. Härvid framgår det att bucklor, bulor, intryck och liknande har samma effekt på reflektionsbllden hos bildsensorn 36 som en lutning av materialytorna i enlighet med fig. 9 och att därmed kan ytawikelser registreras/upptas av kameran med bildsensorn 36.Fig. 9 illustrates an optical device 90 in accordance with that described in Fig. 2 and with a means 10, not shown, for scanning. of a light line 22 on a material surface 48, 56, except that the mirrors have been replaced with an image dividing prism 44 with two incident surfaces 45, 47 for dividing the projected light image 22 into two observation angles. The beams 46 are reflected from the material surface 48 in a lobe 50 of specularly reflected beams 54, 52 which are refracted in the prism 44, 45, 47 and directed towards the image sensor 36. In other respects, the optical device i fi g. 9 working methods with what is described in connection with fi g. The car dividing means in Fig. 9 consists of the wollaston prism 32 and the image dividing prism 44, the wollaston prism simultaneously acting as a polarizing splitting optics in the optical device 90. 1. 9 shows, however, how the topography of a material surface 48, 56 can be determined by the inclination of the scanned material surface in each position along the light line 22. This has been illustrated in Fig. 9 in that the two material surfaces 48, 56, have been tilted, or inclined relative to each other, solid surface 48 and dotted surface 56. It will then be appreciated that the radiation lobes 50, 58 have different directions depending on the inclination and the hit image of reflected radiation against the image sensor 36 shifts for the two inclinations. It can be seen that dents, bumps, impressions and the like have the same effect on the reaction image of the image sensor 36 as an inclination of the material surfaces in accordance with Fig. 9 and that thus surface deviations can be registered / recorded by the camera with the image sensor 36.
Fig. 10 återger en graf av en o- eller parallelpolariserad ljusavbildning t ex 22c, se fig. 7, med positionen på ljuslinjebilden i x-axelled och registrerad ljuseffekt hos bildsensorns pixlar i y-axelled. Ljusavbildningen 22c är avbildad från en specifik observationsvinkel. Tappen 60 som pekar nedåt i grafen enl fig. 10 visar på materialytans 36 mönsterawikelse längs ljuslinjebilden och tappen 62 på awikelse i glans längs densamma.Fig. 10 shows a graph of an o- or parallel-polarized light image, eg 22c, see Fig. 7, with the position of the light line image in the x-axis and registered light effect of the image sensor pixels in the y-axis. The light image 22c is imaged from a specific observation angle. The pin 60 pointing downwards in the graph according to 10 shows the pattern deviation of the material surface 36 along the light line image and the pin 62 of deviation in gloss along it.
Topografln längs ljuslinjebilden återges av toppen 64 i grafen. Fig. 11 visar en parallell- eller opolariserad reflektionsavbildning 22d för samma ursprungliga ljuslinje 22 som i fig.10, men ifrån en observationsvinkel skild från den i fig. 10. l övrigt visar fig. 10 och 11 likartad placering för mönsterawikelse 60, glansawikelse 62 men med inverterad topografi 64 i grafen i fig. 11. l fig. 12 illustreras differensen 22c-d i ljuseffekt mellan de båda avbildade linjerna 22c och 22d i grafen. Av fig. 12 framgår det klart att topografin 64 framträder i grafen medan mönsterawikelsen 60 och glansawikelsen 64 har undertryckts genom differentieringen. Således avsynas och mäts defekter in hos materialytor 23 i enlighet med en utföringsform av föreliggande uppfinning.The topography along the light bar image is represented by the top 64 in the graph. Fig. 11 shows a parallel or unpolarized reaction image 22d for the same original light line 22 as in fi g.10, but from an observation angle different from that in Fig. 10. l otherwise shows fi g. 10 and 11 similar placement for pattern deviation 60, gloss deviation 62 but with inverted topography 64 in the graph in fi g. Fig. 12 illustrates the difference 22c-d in light output between the two lines 22c and 22d depicted in the graph. From Fig. 12 it is clear that the topography 64 appears in the graph while the pattern deviation 60 and the gloss deviation 64 have been suppressed by the differentiation. Thus, defects in material surfaces 23 are inspected and measured in accordance with an embodiment of the present invention.
I fig. 13 illustreras mönsterawikelsen 60 och glansawikelsen 62 för en opolariserad avbildning av en ljuslinje i en graf, t ex 22c i fig. 7. Den opolariserade ljuslinjeavbildningen kan förekomma när en wollaston prisma inte används.Fig. 13 illustrates the pattern deviation 60 and the gloss deviation 62 for an unpolarized image of a light line in a graph, for example 22c in Fig. 7. The unpolarized light line image may occur when a wollaston prism is not in use.
K:\Patent\1 10-\110106600\P1 10106600SE.d0C 10 15 20 25 525 206 1o Fig. 14 illustrerar genom en graf på liknande sätt som i fig. 13 mönsterawikelsen 60 och glansawikelsen 62 för en parallellpolariserad avbildning av en ljuslinjebild 22e i fig. 8.Fig. 14 illustrates through a graph in a similar manner as in Fig. 13 the pattern deviation 60 and the gloss deviation 62 for a parallel polarized image of a light line image 22e. in Fig. 8.
Fig. 15 illustrerar i en graf en ortogonal avbildning 22f av ljuslinjebilden 22e i fig. 8. Ur figuren framgår det tydligt att en diffus avbildning, här ortogonalt polariserad, framhäver materialytans mönsterawikelse 60.Fig. 15 illustrates in a graph an orthogonal image 22f of the light line image 22e in Fig. 8. It is clear from the figure that a diffuse image, here orthogonally polarized, emphasizes the pattern deviation 60 of the material surface.
I fig. 16 illustreras i en graf differensen 22e-f mellan den parallella polariseringen 22e och den ortogonalpolariserade 22f. Resultatet av differentieringen 22e-f blir att glansawikelsen 62 framhävs. Att mönsterawikelsen 60 undertrycks framgår av att den spekulära avbildningen till största delen härrör från reflektion i samma riktning för blanka ytor. Genom subtraktionen 22e-f undertrycks den mönsterawikelse 60 som trots allt följer med den spekulära reflektionen eftersom ljusavbildningen 22f är diffus och visar mönsterawikelse 60.Fig. 16 illustrates in a graph the difference 22e-f between the parallel polarization 22e and the orthogonal polarized 22f. The result of the differentiation 22e-f is that the gloss deviation 62 is emphasized. The fact that the pattern deviation 60 is suppressed is evident from the fact that the speculative image is for the most part derived from reaction in the same direction for shiny surfaces. The subtraction 22e-f suppresses the pattern deviation 60 which, after all, accompanies the speculative reaction because the light image 22f is diffuse and shows pattern deviation 60.
Fig. 17 illustrerar schematiskt en optisk anordning 100 utan wollaston-prisma 32, men med speglar 26, 28, 40, 42 för o-polariserad alternativt parallellpolariserad uppdelning och upptagning av ljuslinjeavbildningar i tvâ observationsvinklari enlighet med fig. 7 och föreliggande uppfinning. Den optiska anordningen liknar den som illustreras i fig. 2 förutom att wollaston-prisman saknas i utföringsformen enligt fig. 17.Fig. 17 schematically illustrates an optical device 100 without wollaston prism 32, but with mirrors 26, 28, 40, 42 for o-polarized or parallel polarized division and recording of light line images in two observation angles in accordance with Fig. 7 and the present invention. The optical device is similar to that illustrated in fig. 2 except that the wollaston prism is missing in the embodiment of FIG. 17.
Fig. 18 illustrerar schematiskt en optisk anordning 110 utan wollaston-prisma 32, men med en prisma 44 för o-polariserad alternativt parallellpolariserad uppdelning och upptagning av ljuslinjeavbildningar i två observationsvinklar i enlighet med fig. 7 och föreliggande uppfinning. Den optiska anordningen liknar den som illustreras i fig. 9 förutom att wollaston-prisman saknas i utföringsformen enligt fig. 18.Fig. 18 schematically illustrates an optical device 110 without a wollaston prism 32, but with a prism 44 for o-polarized or parallel polarized division and recording of light line images at two observation angles according to fi g. 7 and the present invention. The optical device is similar to that illustrated in Fig. 9 except that the wollaston prism is missing in the embodiment according to fi g. 18.
I enlighet med ovanstående beskrivning framgår det hur föreliggande uppfinning anger en mångfald av kombinationer mellan ljuslinjeavbildningar för att framhäva specifika typer av ytkarakteristikor såsom mönster, glans och topografi hos ett material.In accordance with the above description, it is apparent how the present invention sets forth a variety of combinations between light line images to emphasize specific types of surface characteristics such as pattern, gloss and topography of a material.
Ytterligare utföringsformer av uppfinningen anges för fackmannen inom teknikområdet av bilagda patentkravs avfattning.Additional embodiments of the invention are set forth to those skilled in the art in the wording of the appended claims.
K3\Patent\1 10-\110106600\P1 10106600SE.d0cK3 \ Patent \ 1 10- \ 110106600 \ P1 10106600SE.d0c
Claims (37)
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SE0303048A SE525206C2 (en) | 2003-11-17 | 2003-11-17 | Contact free measurement of material surface properties for e.g. panels or cylinders, by reflecting light off surface onto optical device with image sensor and beam splitter |
| EP04800335A EP1692460A1 (en) | 2003-11-17 | 2004-11-17 | Scanning and measuring of surface features |
| PCT/SE2004/001672 WO2005047816A1 (en) | 2003-11-17 | 2004-11-17 | Scanning and measuring of surface features |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SE0303048A SE525206C2 (en) | 2003-11-17 | 2003-11-17 | Contact free measurement of material surface properties for e.g. panels or cylinders, by reflecting light off surface onto optical device with image sensor and beam splitter |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SE0303048D0 SE0303048D0 (en) | 2003-11-17 |
| SE0303048L SE0303048L (en) | 2004-12-28 |
| SE525206C2 true SE525206C2 (en) | 2004-12-28 |
Family
ID=29729074
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SE0303048A SE525206C2 (en) | 2003-11-17 | 2003-11-17 | Contact free measurement of material surface properties for e.g. panels or cylinders, by reflecting light off surface onto optical device with image sensor and beam splitter |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP1692460A1 (en) |
| SE (1) | SE525206C2 (en) |
| WO (1) | WO2005047816A1 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105823782B (en) * | 2016-03-10 | 2019-01-11 | 北京大学 | The characterizing method of crystal boundary and atom defect in a kind of two-dimensional material |
| WO2024237051A1 (en) * | 2023-05-17 | 2024-11-21 | ソニーグループ株式会社 | Information processing device and method |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SE385048B (en) * | 1974-08-05 | 1976-05-31 | Svenska Traeforskningsinst | PROCEDURE FOR SATURATING THE TOPOGRAPHY OF A SURFACE |
| FR2665959B1 (en) * | 1990-08-16 | 1994-01-14 | Oreal | APPARATUS FOR ASSESSING THE SHINE OF A SURFACE, PARTICULARLY SKIN. |
| US5208766A (en) * | 1990-11-13 | 1993-05-04 | Hughes Aircraft Company | Automated evaluation of painted surface quality |
| EP1245922B1 (en) * | 2001-03-26 | 2010-05-12 | Candela Instruments | System for measuring phase differences in reflected light signals |
| US6931149B2 (en) * | 2002-04-19 | 2005-08-16 | Norsk Elektro Optikk A/S | Pipeline internal inspection device and method |
-
2003
- 2003-11-17 SE SE0303048A patent/SE525206C2/en not_active IP Right Cessation
-
2004
- 2004-11-17 EP EP04800335A patent/EP1692460A1/en not_active Withdrawn
- 2004-11-17 WO PCT/SE2004/001672 patent/WO2005047816A1/en active Application Filing
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1692460A1 (en) | 2006-08-23 |
| SE0303048D0 (en) | 2003-11-17 |
| SE0303048L (en) | 2004-12-28 |
| WO2005047816A1 (en) | 2005-05-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DK1738136T3 (en) | MEASURING APPARATUS AND PROCEDURE IN A DISTRIBUTION SYSTEM | |
| US20110310244A1 (en) | System and method for detecting a defect of a substrate | |
| JP5174540B2 (en) | Wood defect detection device | |
| KR102291429B1 (en) | Surface Inspection Systems and Surface Inspection Methods | |
| US20170336316A1 (en) | Device for characterizing a sample | |
| JP4511978B2 (en) | Surface flaw inspection device | |
| EP3465171B1 (en) | Surface inspection system and inspection method | |
| JP2007327896A (en) | Inspection device | |
| JP3480176B2 (en) | Glass substrate front / back defect identification method | |
| SE525206C2 (en) | Contact free measurement of material surface properties for e.g. panels or cylinders, by reflecting light off surface onto optical device with image sensor and beam splitter | |
| CN110402386A (en) | Cylinder surface examining device and cylinder surface inspecting method | |
| BR112018071487B1 (en) | IMAGE CAPTURE SYSTEM AND METHOD FOR DETERMINING THE POSITION OF A STRUCTURE ENGRAVED IN A LAMINATED ELEMENT | |
| KR20140012338A (en) | 3d shape measuring apparatus using optical triangulation method | |
| CN1844899A (en) | Wide article detection method | |
| JP5296490B2 (en) | Inspection device for inspection object | |
| JP7136064B2 (en) | Apparatus for inspecting surface of object to be inspected and method for inspecting surface of object to be inspected | |
| JP6508763B2 (en) | Surface inspection device | |
| JP2005351825A (en) | Defect inspection device | |
| JP2013044635A (en) | Defect detecting device | |
| JPH0815177A (en) | Method and apparatus for imaging surface defect | |
| JP3340879B2 (en) | Surface defect detection method and apparatus | |
| CA2601486A1 (en) | Methods for detecting compression wood in lumber | |
| JP2000002664A (en) | Method and apparatus for inspection of defect | |
| US20210372945A1 (en) | Method and apparatus for automated in-line inspection of optically transparent materials | |
| JPH01227910A (en) | Optical inspection device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| NUG | Patent has lapsed |