SE444238B - Anordning for identifiering av foremal - Google Patents

Description

781Û31df1 den minsta omskrivande avkänningscirkeln med avseende på bild- tyngdpunkten medför då en väsentlig förbättring av selektivi- teten vad gäller konturformen. Detta andra kriterium känne- tecknas genom snabb och enkel utvinning. För anspråksfullare selektionsuppgifter komer då - antingen i kombination med ovan nämnda parametrar eller även var för sig - en användning av de båda senare parametrarna med räkning av avsökningsväx- lingarna respektive bildande av förhållandet mellan avsöknings- srittlängder (avsökninflsväglängden för bekräftade avkännings- data) i fråga. Üppfinningen beskrivs närmare nedan under hänvisning till den på ritningarna visade utföringsformen. På ritningarna visar fig 1 ett principschema av en anordning för föremåls~ identifiering och _ -fig 2 ett tvådimensionellt avsökningsschema för att belysa verkningssättet hos anordningen enligt fig 1.

Den i fig l återgivna kopplingen omfattar en opto- elektronisk bildomvandlare V, som omvandlar vyn av ett före- mål G eller ett referensföremål R i en elektrostatisk bild B för en elektronstråleavsökning medelst avkänningsanordningen AV. Till bildomvandlarens V signalutgång är en trigger TR ansluten i och för omvandling av avsökningssignalerna med olika På föremåle- amplitud i binära avkänningsdata s respektive s bilden respektive bredvid denna avgända data betâcknas i det följande såsom bekräftade respektive dementerade. övergången mellan bekräftade och dementerade avkänningsvärden under för- loppet av en avsökningsvägg som skär bildkonturen.betecknas såsom avsökningsväxlingar w. I G, SR när till ett biladataminne BSp och lagras här i ordnat tillstånd för valfri åtkomst.

Nämnda avsökningsdata s Denna åtkomst sker under verkan av en dataavsökningsstyrning DSt i sådan följd att seriella avsökningsdata uppträder på minnets utgång i enlighet med förutbestämda avsökningskurvor, företrädesvis avsökningscirklar med olika förutbestämda radier.

På motsvarande sätt avgives av DSt avsökningsstyrsignaler svarande mot avsökningsradien r och avsökningsvinkeln 4 (polära koordinater) till bilddataminnet. 7810318-1 Därefter följer en parameterbildare K, som på en multi- pelutgång bildar de inledningsvis nämnda föremålsparametrarna X1 till X4 för ett föremål G samt referensparametrar Yll__ n till Y4l__ n enligt de fyra ovan nämnda parametertyperna för ett av n referensföremål Rl till Rn. Multipelutgången från elementet K är ansluten till en parameteromkopplare SKk, som via en OCH-logik U styres av en programstyrkoppling PSt. Via en föremål-referensomkopplare SGR, som manövreras av en in- lärningsstyrning L eller eventuellt även för hand, når före- målsparametrarna X till den tillordnade ingången hos en kom- parator Cl, medan referensparametrarna Y när ett motsvarande flertal av referensdataminnen RSpl...RSpn. Därvid sker detta via en referensföremålsomkopplare SR, som vid inlagringen av parametrarna genom en manuell styrning H och vid den nedan omnämnda utläsningen av referensstorheterna genom programstyr- ningen PSt via en styringång sr cykliskt omkopplas över alla minnesanslutningar i överensstämmelse med betraktelsen och avsökningen av de olika referensföremålen Rl till Rn. Efter varje anslutning av referensföremålsomkopplaren SR på minnes- sidan är dessutom en till varje referensföremål svarande ut- gång Al till An samt en till varje referensföremål svarande parameteromkopplare SKI till SKn kopplade så att alla para- I metertyper cykliskt sökes efter varandra för alla referense föremål.

I det läge av föremål-referensomkopplaren SGR, i vilket parameteromkopplaren SKk är förbunden med komparatorn Cl ligger den anslutning av elementet SR som skall omkopplas på en andra ingång av komparatorn Cl och tillför denna de cykliskt efter varandra följande parametrarna för referensföremålen.

Denna komparators utgång leder via en nedan beskriven tole- ransstyrkoppling TSt fram till en tillordningslogik ZL som på ingångssidan dessutom är ansluten till utgångarna Al till An och vars utgångar sålunda vid uppträdande av en överens- stämmelsesignal mellan X och Y kännetecknar det aktuella referensföremâlet såsom varande kongruent med det betraktade föremålet. I och för alstring av en lämplig överensstämmelse- signal har toleransstyrkopplingen TSt den i blocket i fig 1 schematiskt nntyddatingângs-utgångskarakteristiken. Inom ett *l~7a1oz1a-1 över ingångar tst styrbart toleransområde för den från kompa- ratorn Cl kommande skillnadssignalen X-Y leder utgången från elementet TSt en bekräftande binär signal, i annat fall en dementerande binär signal. Vid en avvikelse mellan X och Y som ligger inom toleransområdet indikeras sålunda överens- stämmelse mellan föremålet och referensföremålet, i annat fall indikeras brist på överensstämmelse.

Ett efter tillordningslogiken ZL anordnat utvärderings- minne ÅSp fasthåller upptr n övcrefisstämmelsesignaler ända tills en jämförelsecykel genom t r referensföremålen Ri innehållet, dvs en på en ingång liggande överensstämmelsesig- till Rn. Det vid slutet av en sådan cykel aktuella minnes- nal är alltid giltig. För att vid multipeltillordning, som ut- gör en felaktig mångtydighet av identifieringen, utesluta en giltig indikering är en prioriterad utsläckningsingång asp hos utvärderingsminnet ansluten till utgången av en andra komparator C2, som vid uppträdande av ett antal överensstäm- melser z > l avger en bekräftad utgångssignal för indikerings- utsläckningen. Antalet överensstämmelser utvinnes via en räknare Z i form av en räknesignal z från utgången av kompa- ratorn C respektive toleransstyrkopplingen TSt.

E l P Den utsläckningssignal från C2 som indikerar mångtydig- heten friger vidare via OCH-logiken U den från programstyr- ningen PSt kommande framkopplingssignalen för referensdata- minnenas parameteromkopplare SKI till SKn samt för parameter- Ä bildarens K parameteromkopplare SKk, varigenom en jämförelse- få cykel med nästa referensparameter utlöses, företrädesvis med en parameter med starkare selektivitet. Eventuellt såsom komplement eller även efter genomlöpning av flera jämförelse- cykler med olika referensparametrar utlöses vid bestående mångtydighet av tillordningen en omställning av toleransstyr- kopplingen TSt i riktning mot ett smalare toleransområde av komparatorn C via styringångarna tst. Även härigenom erbju- 2 des möjligheten till skarpare selektion med entydig identi- fiering även i kritiska användningsfall.

I fig 2 antyds symboliskt innehållet av bilddataminnet Bßt med en exemplifierande triangulär föremålsbild B. Härvid sker exempelvis en cirkulär avsökning kring bildtyngdpunkten 7810313-1 S med en avsdkninggradie rg, rl ~-- som avtager med skillnaden A r, varvid avsökningen med radien rl under hänsynstagande till en avkänninggtröskel ao för den minsta ännu detekterbara avsökningslínjelängden med bekräftad avsökningssignal bildar en parameter svarande mot en föremålet omskrivande avsöknings- cirkel. Vidare kan avsökningsväglängderna a inom de på varand- ra följande avsökningscirklarna summeras och genom bildande av förhållandet till den totala avsökningsväglängden bearbetas till en parameter. Vid avsökning invid bildkonturen erhålles växlingar mellan bekräftade och dementerade avkänningsdata, vilka i fíg 2 betecknas med w. Det totala antalet sådana väx- lingar för ett givet antal avkänningscirklar respektive en total avsökningsväglängd erbjuder återigen en användbar para- meter för identifieringen.

Sammanfattningsvis arbetar anordningen så, att föremålsavsök~ ningsdata (SG) lagras och att åtminstone en del av dessa lag- rade data underkastas åtminstone ett av följande bearbetnings- steg: a) genom integration av nämnda föremålsavsökningsdata (sG) över en föremålsbilden (B) omfattande integrationsyta här- ledes såsom första parameter (X1) föremålsbildens ytinne- håll: b) genom på varandra följande avsökningar av lagrade iöremåls- avsökningsdata (SG), vilka med början från en föremålsbil- den (B) omslutande avsökningskurva svarar mot på varandra följande avsökningskurvor med kontinuerligt eller inkremen- tellt avtagande avkänningsradie (r) med avseende på bild- tyngdpunkten(S). härledes såsom andra parameter(X2) den avkänninggraäie (ro) som svarar mot den först uppträdande bekräftade avsökningssignalen: c) genom på varandra följande avsökningar av lagrade föremåle- avsökningsdata (SG), som företrädesvis med början från en amp f Z-¿~W¿Y,»,¿a, ß 7s1os1s-1 6 föremâlsbilden (B) omslutande avsökningskurva svarar mot avkänningskurvor med kontinuerligt eller inkrementellt för- änderlig, företrädesvis avtagande avsökningsradie hd och genom räkning av växlingarna mellan bekräftade och demente- rade avsökningsdata (avsökningsväxlingar) med avseende på den tillhörande, från den första avsökníngsväxlingen upp- mätta avsökningsväglängden (a) härledes ett specifikt av- sökningsväxlingstal såsom tredje parameter (X3): d) genom på varandra följande avsökningar av lagrade förem ls- QJW avsökningsdata (SG), som företrädesvis med början från en föremålsbilden (B) omslutande avsökningskurva svarar mot avkänningskurvor med kontinuerligt eller inkrementellt för- änderlig, företrädesvis avtagande avsökningsradie, och genom integration av bekräftade avsökningsdata över avsök- ningsväglängden (a) i förhållande till den totala avsök- nings"äglängden bildas en specifik avsökningssnittlängd såsom fjärde parameter (X4); samt att var och en av de sålunda bildade föremålsparametrarna (Xl---X4) jämföras med en på motsvarande sätt härledd parame- ter (Y1---Y4) för åtminstone ett referensföremâl (Rl---Rak En första parameter (X1) för ett föremål som skall identi- fieras i en följd jämförs med en motsvarande parameter (Yl) för ett flertal referensföremål (RI --- Ru) Üüh víä üëptïääan- de av en överensstämmelse mellan den första föremålsparametern (X1) och motsvarande parameter för fler än ett referensföremål (RI --- Rn) bildas en andra föremålsparameter (X2) som jämförs med en motsvarande parameter (Y2) för referensföremålen.

Vid uppträdande av en överensstämmelse av den första föremåle- parametern (X1) med motsvarande parameter för fler än ett referensföremål sker en tillkommande jämförelse mellan samma parametrar med reducerat toleransområde. 7810318-1 Åtminstone en referensparameter (Y) bildas genom avkänníng av en referensföremålsbild och genom lagring samt bearbetning av sålunda erhållna referensavsökningsdata. Dessa referensavsök- ningsåata lagrae för âterupprepad avsökning i och för parame- terjämförelse.

Claims (3)

1. h 7810318-1 8 PATENTKRAV l. Anordning för identifiering av föremål, varvid identifie- ringen sker i flera olika bearbetningssteg genom opto-elektro- nisk avsökning av en framlagd föremålsbild och genom jämförel- se med data från ett referensföremål, k ä n n e t e c k n a d av att binära avsökningsdata (SR) för'referen5föremå1et (R) mellanlagras i ett bilddataminne (BSp) och att genom en efter- följande parameterbildare (K) referensparametrar (Yl till Y4) via omkopplare (SKK. SGR, SR och SKI) överförs till ett referensminne (RSp), att i anslutning därtill nämnda binära avsökningsdata (SG) för det framlagda föremålet (G) likaså mel1anlagras,i. bilddataminnet (BSp) och att. medelst den efterföljande parameterbildaren (K) föremålsparametrar (X1 till X4) via omkopplarna (SKK) med en nu omlagd föremål-referens» omkopplare (SGR) matas till en första komparator (Cl), att de i referensminnet (RSp) lagrade referensparametrarna (Yl till Y4) för referensföremålet (R) via omkopplarna (SKI, SR) och den fortfarande omlagda föremål-referensomkopplaren (SSR) också matas till den första komparatorn (Cl), att de i den första komparatorn HH) jämförda referens- och föremålsparametrarna (X1 till X4 och'Yl till Y4) bildar en differenssignal som i en toleransstyrkoppling (TSt) allt efter referens- och föremåls~ parametrarnas (X och Y) överensstämmelse med varandra utvärderas som en binär överensstämmelsesignal eller en binär icke-överensstämmelsesignal, och att en efterföljande tillord- ningslogik (ZL) vid en överensstämmelsesignal avger en infor- mation, som lagras i ett utvärderingsminne (ASp).
2. 2. Anordning enligt krav l, k ä n n e t e c k n a d av att tillordningslogiken (ZL) och utvärderingsminnet (ASp) är kopp~ lade till en andra komparator (C2) och till en räknare (Z), vilka vid en icke~överensstämmelsesignal på utgången av den första komparatorn (Cl) över en OCH-grind (U) och en programstyrningslogik (PSt) manövrerar omkopplarna (SKK och axl). 7810318-1 9
3. 3. Anordning enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a d av att om- kopplarnas (SKK och SKI) ställningar (X1/Y1 till X4/Y4) betyder olika identifieringskriterier, varvid i en första ställning (X1/Yl) ytinnehållet av det framlagda föremålet (G) och av referensföremålet (R) jämförs med varandra, i en andra ställ» ning (X2/Y2) cirklar med bildtyngdpunkten (S) såsom centrum avsöker föremålen (B) cirkeln med radien (fl) tjänar såsom parameter, i en tredje ställning (X3/Y3) antalet skärningspunkter (w) för de cirklar som skär föremålet (G) tjänar såsom parameter och i en fjärde ställning (X4/Y4) bildas förhållandet mellan avsökningsväg- längderna (a) för alla de cirklar som skär föremålet och cirkelomkretsarna för alla cirklar.