RU2833421C1 - External magnetic field source for magnetic force microscopy - Google Patents
External magnetic field source for magnetic force microscopy Download PDFInfo
- Publication number
- RU2833421C1 RU2833421C1 RU2024111385A RU2024111385A RU2833421C1 RU 2833421 C1 RU2833421 C1 RU 2833421C1 RU 2024111385 A RU2024111385 A RU 2024111385A RU 2024111385 A RU2024111385 A RU 2024111385A RU 2833421 C1 RU2833421 C1 RU 2833421C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- sample
- permanent magnet
- magnetic
- magnetic field
- force microscopy
- Prior art date
Links
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 title claims abstract description 130
- 238000002465 magnetic force microscopy Methods 0.000 title claims abstract description 23
- 239000012634 fragment Substances 0.000 claims description 26
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 71
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 1
- QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N neodymium atom Chemical compound [Nd] QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Images
Abstract
Description
Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к магнитно-силовой микроскопии, и может быть использовано для исследования и диагностики поведения микро- и наноразмерных структур под действием внешнего магнитного поля.The invention relates to the field of measurement technology, namely to magnetic force microscopy, and can be used to study and diagnose the behavior of micro- and nano-sized structures under the influence of an external magnetic field.
Известен источник внешнего магнитного поля, содержащий многовитковый соленоид и ферромагнитный сердечник, устанавливаемый на сканер под образцом [Magnetic imaging in the presence of external fields: Technique and applications / R.D. Gomez, E.R. Burke, I.D. Mayergoyz // Journal of Applied Physics. - 1996. - V. 79. - P. 6441-6446].A source of external magnetic field is known, containing a multi-turn solenoid and a ferromagnetic core, installed on the scanner under the sample [Magnetic imaging in the presence of external fields: Technique and applications / R.D. Gomez, E.R. Burke, I.D. Mayergoyz // Journal of Applied Physics. - 1996. - V. 79. - P. 6441-6446].
Недостатки этого устройства заключаются в том, что генерация внешнего магнитного поля высоких значений возможна лишь при пропускании электрического тока высокого значения, что приводит к разогреву конструкции, а как следствие - к термическому дрейфу образца.The disadvantages of this device are that the generation of an external magnetic field of high values is possible only by passing a high value electric current, which leads to heating of the structure and, as a consequence, to thermal drift of the sample.
Известен также источник внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии, содержащий соленоид, магнитопровод и два полюсных наконечника, по крайней мере, один из которых пространственно отделен от магнитопровода и установлен непосредственно на сканер в держатель образца [Пат. 2276794 Российская Федерация, МПК G01R 33/12. Магнитно-силовой микроскоп с переменным магнитом / Быков В.А., Быков А.В., Костромин С.В., Рябоконь В.Н., Саунин С.А.; заявитель и патентообладатель ЗАО «НТ-МДТ». - №2004133657/28; заявл. 18.11.2004; опубл. 20.05.2006 Бюл. №14. - 7 с.: ил.].Also known is a source of an external magnetic field for magnetic force microscopy, comprising a solenoid, a magnetic circuit and two pole pieces, at least one of which is spatially separated from the magnetic circuit and mounted directly on the scanner in the sample holder [Patent 2276794 Russian Federation, IPC G01R 33/12. Magnetic force microscope with a variable magnet / Bykov V.A., Bykov A.V., Kostromin S.V., Ryabokon V.N., Saunin S.A.; applicant and patent holder ZAO NT-MDT. - No. 2004133657/28; declared 18.11.2004; published 20.05.2006 Bulletin No. 14. - 7 p.: ill.].
Недостатки этого устройства заключаются в том, что для изменения ориентации внешнего магнитного поля относительно плоскости поверхности образца требуется изменение конфигурации держателя образца и магнитопровода, что приводит к увеличению времени проведения исследования.The disadvantages of this device are that changing the orientation of the external magnetic field relative to the plane of the sample surface requires changing the configuration of the sample holder and magnetic circuit, which leads to an increase in the time required to conduct the study.
Известен также источник внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии, содержащий постоянный магнит и два магнитопровода, расположенных друг напротив друга [High field magnetic force microscopy / R. Proksch, E. Runge, P.K. Hansma [et al.] // Journal of Applied Physics. - 1995. - V. 78. - P. 3303-3307].A source of external magnetic field for magnetic force microscopy is also known, containing a permanent magnet and two magnetic cores located opposite each other [High field magnetic force microscopy / R. Proksch, E. Runge, P.K. Hansma [et al.] // Journal of Applied Physics. - 1995. - V. 78. - P. 3303-3307].
Недостатки этого устройства заключаются в том, что концентрация и ориентация магнитного поля, создаваемого данным источником магнитного поля, возможна лишь в продольной плоскости поверхности образца, из-за чего невозможно проводить исследования влияния внешнего магнитного поля, ориентированного по нормали к плоскости поверхности образца.The disadvantages of this device are that the concentration and orientation of the magnetic field created by this magnetic field source is possible only in the longitudinal plane of the sample surface, which makes it impossible to conduct studies of the influence of an external magnetic field oriented normal to the plane of the sample surface.
Технический результат изобретения заключается в возможности концентрации и ориентации магнитного поля как параллельно, так и перпендикулярно плоскости поверхности образца без изменения конфигурации источника магнитного поля. Это позволяет проводить диагностику материалов и структур под влиянием внешнего магнитного поля, ориентированного как перпендикулярно, так и вдоль плоскости поверхности образца.The technical result of the invention consists in the possibility of concentrating and orienting the magnetic field both parallel and perpendicular to the plane of the sample surface without changing the configuration of the magnetic field source. This allows diagnostics of materials and structures under the influence of an external magnetic field oriented both perpendicular and along the plane of the sample surface.
Сущность изобретения заключается в том, что в источнике внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии, состоящем из первого постоянного магнита и второго постоянного магнита, замыкателя магнитного поля, соединенного с первой поверхностью первого постоянного магнита и первой поверхностью второго постоянного магнита, и состоящий также из первого магнитопровода, соединенного со второй поверхностью первого постоянного магнита и второго магнитопровода, соединенного со второй поверхностью второго постоянного магнита, в первом магнитопроводе выполнена первая выборка, а во втором магнитопроводе выполнена вторая выборка, при этом первая выборка и вторая выборка расположены друг напротив друга.The essence of the invention is that in a source of an external magnetic field for magnetic force microscopy, consisting of a first permanent magnet and a second permanent magnet, a magnetic field closeer connected to the first surface of the first permanent magnet and the first surface of the second permanent magnet, and also consisting of a first magnetic circuit connected to the second surface of the first permanent magnet and a second magnetic circuit connected to the second surface of the second permanent magnet, a first sample is made in the first magnetic circuit, and a second sample is made in the second magnetic circuit, wherein the first sample and the second sample are located opposite each other.
Существует вариант, в котором первая выборка выполнена в виде фрагмента первой окружности, и вторая выборка выполнена в виде фрагмента второй окружности.There is a variant in which the first sample is made in the form of a fragment of the first circle, and the second sample is made in the form of a fragment of the second circle.
Существует также вариант, в котором первая выборка выполнена в виде фрагмента первого овала, и вторая выборка выполнена в виде фрагмента второго овала.There is also a variant in which the first sample is made in the form of a fragment of the first oval, and the second sample is made in the form of a fragment of the second oval.
Существует также вариант, в котором первая выборка выполнена в виде первого треугольного элемента, и вторая выборка выполнена в виде второго треугольного элемента.There is also a variant in which the first sample is made in the form of the first triangular element, and the second sample is made in the form of the second triangular element.
Существует также вариант, в котором первая выборка выполнена в виде первого прямоугольного элемента, и вторая выборка выполнена в виде второго прямоугольного элемента.There is also a variant in which the first sample is made in the form of a first rectangular element, and the second sample is made in the form of a second rectangular element.
Существует также вариант, в котором первая выборка выполнена в виде первого прямоугольного элемента со скругленными краями, и вторая выборка выполнена в виде второго прямоугольного элемента со скругленными краями.There is also a variant in which the first sample is made in the form of a first rectangular element with rounded edges, and the second sample is made in the form of a second rectangular element with rounded edges.
Существует также вариант, в котором первый магнитопровод и второй магнитопровод имеют одинаковые размеры А1 и А2 в сторону соответственно от первого постоянного магнита и второго постоянного магнита.There is also a variant in which the first magnetic core and the second magnetic core have the same dimensions A1 and A2 towards the first permanent magnet and the second permanent magnet, respectively.
Существует также вариант, в котором первый магнитопровод и второй магнитопровод имеют различные размеры А1 и А2 в сторону соответственно от первого постоянного магнита и второго постоянного магнита.There is also a variant in which the first magnetic core and the second magnetic core have different dimensions A1 and A2 towards the first permanent magnet and the second permanent magnet, respectively.
Краткое описание чертежейBrief description of the drawings
На фиг. 1 изображен источник внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии с выборками, выполненными в виде фрагментов окружности.Fig. 1 shows a source of an external magnetic field for magnetic force microscopy with samples made in the form of fragments of a circle.
На фиг. 2 изображен источник внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии с выборками, выполненными в виде фрагментов окружности, причем первый магнитопровод и второй магнитопровод имеют различные размеры А1 и А2 в сторону соответственно от первого постоянного магнита и второго постоянного магнита.Fig. 2 shows a source of an external magnetic field for magnetic force microscopy with samples made in the form of fragments of a circle, wherein the first magnetic core and the second magnetic core have different sizes A1 and A2 towards the first permanent magnet and the second permanent magnet, respectively.
На фиг. 3 изображен источник внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии с выборками, выполненными в виде фрагментов овалов.Fig. 3 shows a source of an external magnetic field for magnetic force microscopy with samples made in the form of oval fragments.
На фиг. 4 изображен источник внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии с выборками, выполненными в виде фрагментов овалов, причем первый магнитопровод и второй магнитопровод имеют различные размеры А1 и А2 в сторону соответственно от первого постоянного магнита и второго постоянного магнита.Fig. 4 shows a source of an external magnetic field for magnetic force microscopy with samples made in the form of oval fragments, wherein the first magnetic core and the second magnetic core have different sizes A1 and A2 towards the first permanent magnet and the second permanent magnet, respectively.
На фиг. 5 изображен источник внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии с выборками, выполненными в виде фрагментов треугольников.Fig. 5 shows a source of external magnetic field for magnetic force microscopy with samples made in the form of fragments of triangles.
На фиг. 6 изображен источник внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии с выборками, выполненными в виде фрагментов треугольников, причем первый магнитопровод и второй магнитопровод имеют различные размеры А1 и А2 в сторону соответственно от первого постоянного магнита и второго постоянного магнита.Fig. 6 shows a source of an external magnetic field for magnetic force microscopy with samples made in the form of fragments of triangles, wherein the first magnetic core and the second magnetic core have different sizes A1 and A2 towards the first permanent magnet and the second permanent magnet, respectively.
На фиг. 7 изображен источник внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии с выборками, выполненными в виде фрагментов прямоугольников.Fig. 7 shows a source of an external magnetic field for magnetic force microscopy with samples made in the form of rectangular fragments.
На фиг. 8 изображен источник внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии с выборками, выполненными в виде фрагментов прямоугольников, причем первый магнитопровод и второй магнитопровод имеют различные размеры А1 и А2 в сторону соответственно от первого постоянного магнита и второго постоянного магнита.Fig. 8 shows a source of an external magnetic field for magnetic force microscopy with samples made in the form of fragments of rectangles, wherein the first magnetic core and the second magnetic core have different sizes A1 and A2 towards the first permanent magnet and the second permanent magnet, respectively.
На фиг. 9 изображен источник внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии с выборками, выполненными в виде фрагментов прямоугольников со скругленными краями.Fig. 9 shows a source of an external magnetic field for magnetic force microscopy with samples made in the form of fragments of rectangles with rounded edges.
На фиг. 10 изображен источник внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии с выборками, выполненными в виде фрагментов прямоугольников со скругленными краями, причем первый магнитопровод и второй магнитопровод имеют различные размеры А1 и А2 в сторону соответственно от первого постоянного магнита и второго постоянного магнита.Fig. 10 shows a source of an external magnetic field for magnetic force microscopy with samples made in the form of fragments of rectangles with rounded edges, wherein the first magnetic core and the second magnetic core have different sizes A1 and A2 towards the first permanent magnet and the second permanent magnet, respectively.
На фиг. 11 изображен источник внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии с выборками в составе сканирующего зондового микроскопа.Fig. 11 shows a source of external magnetic field for magnetic force microscopy with samples as part of a scanning probe microscope.
На фиг. 12 изображен источник внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии с выборками, причем первый магнитопровод и второй магнитопровод имеют различные размеры А1 и А2 в сторону соответственно от первого постоянного магнита и второго постоянного магнита, в составе сканирующего зондового микроскопа.Fig. 12 shows a source of an external magnetic field for magnetic force microscopy with samples, wherein the first magnetic core and the second magnetic core have different sizes A1 and A2 towards the first permanent magnet and the second permanent magnet, respectively, as part of a scanning probe microscope.
Осуществление изобретенияImplementation of the invention
Источник внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии состоит из первого постоянного магнита 1 (фиг. 1) и второго постоянного магнита 2. Их диаметры могут составлять 10 мм, а длина - 15 мм, в качестве их материала можно использовать сплав на основе неодима, бора и железа. Устройство состоит также из замыкателя магнитного поля 3, изготовленного, например, из пермендюра, и соединенного с первой поверхностью первого постоянного магнита 1 и первой поверхностью второго постоянного магнита 2. Устройство состоит также из первого магнитопровода 4, соединенного со второй поверхностью первого постоянного магнита 1, и второго магнитопровода 5, соединенного со второй поверхностью второго постоянного магнита 2. Первый магнитопровод 4 и второй магнитопровод 5 могут быть изготовлены из пермендюра. При этом в первом магнитопроводе 4 выполнена первая выборка, а во втором магнитопроводе 5 выполнена вторая выборка. Причем первая выборка и вторая выборка расположены друг напротив друга. В основном варианте первая выборка выполнена в виде фрагмента первой окружности 6, и вторая выборка выполнена в виде фрагмента второй окружности 7. Диаметры первой окружности 6 и второй окружности 7 могут быть в диапазоне 5-7 мм. В предпочтительном варианте выборки, расположенные друг напротив друга, имеют одинаковые размеры.The source of the external magnetic field for magnetic force microscopy consists of the first permanent magnet 1 (Fig. 1) and the second
Существует два варианта, в которых высоты А1 и А2 равны друг другу и не равны друг другу (фиг. 2). А1 и А2 могут быть в диапазоне 14-17 мм. Разница высот А1 и А2 может быть в диапазоне 1-3 мм.There are two options in which the heights of A1 and A2 are equal to each other and not equal to each other (Fig. 2). A1 and A2 can be in the range of 14-17 mm. The difference in heights of A1 and A2 can be in the range of 1-3 mm.
Существует также вариант, в котором первая выборка выполнена в виде фрагмента первого овала 8 (фиг. 3), и вторая выборка выполнена в виде фрагмента второго овала 9. Размеры овалов могут быть в диапазоне 5-7 мм в высоту и 6-9 мм в ширину.There is also a variant in which the first sample is made in the form of a fragment of the first oval 8 (Fig. 3), and the second sample is made in the form of a fragment of the
Существует два варианта, в которых высоты А1 и А2 равны друг другу и не равны друг другу (фиг. 4). А1 и А2 могут быть в диапазоне 14-17 мм Разница высот А1 и А2 может быть в диапазоне 1-3 мм.There are two options in which the heights of A1 and A2 are equal to each other and not equal to each other (Fig. 4). A1 and A2 can be in the range of 14-17 mm. The difference in heights of A1 and A2 can be in the range of 1-3 mm.
Существует также вариант, в котором первая выборка выполнена в виде первого треугольного элемента 10 (фиг. 5), и вторая выборка выполнена в виде второго треугольного элемента 11. Размеры треугольных элементов могут быть в диапазоне 5-7 мм в высоту и 5-7 мм в ширину.There is also a variant in which the first sample is made in the form of a first triangular element 10 (Fig. 5), and the second sample is made in the form of a second
Существует два варианта, в которых высоты А1 и А2 равны друг другу и не равны друг другу (фиг. 6). А1 и А2 могут быть в диапазоне 14-17 мм. Разница высот А1 и А2 может быть в диапазоне 1-3 мм.There are two options in which the heights of A1 and A2 are equal to each other and not equal to each other (Fig. 6). A1 and A2 can be in the range of 14-17 mm. The difference in heights of A1 and A2 can be in the range of 1-3 mm.
Существует также вариант, в котором первая выборка выполнена в виде первого прямоугольного элемента 12 (фиг. 7), и вторая выборка выполнена в виде второго прямоугольного элемента 13. Размеры прямоугольных элементов могут быть в диапазоне 5-8 мм в высоту и 4-7 мм в ширину.There is also a variant in which the first sample is made in the form of a first rectangular element 12 (Fig. 7), and the second sample is made in the form of a second
Существует два варианта, в которых высоты А1 и А2 равны друг другу и не равны друг другу (фиг. 8). А1 и А2 могут быть в диапазоне 14-17 мм Разница высот А1 и А2 может быть в диапазоне 1-3 мм.There are two options in which the heights of A1 and A2 are equal to each other and not equal to each other (Fig. 8). A1 and A2 can be in the range of 14-17 mm. The difference in heights of A1 and A2 can be in the range of 1-3 mm.
Существует также вариант, в котором первая выборка выполнена в виде первого прямоугольного элемента со скругленными краями 14 (фиг. 9), и вторая выборка выполнена в виде второго прямоугольного элемента со скругленными краями 15. Размеры прямоугольных элементов могут быть в диапазоне 5-8 мм в высоту и 4-7 мм в ширину. Радиус скругления краев может быть в диапазоне 2-4 мм.There is also a variant in which the first sample is made in the form of a first rectangular element with rounded edges 14 (Fig. 9), and the second sample is made in the form of a second rectangular element with rounded
Существует два варианта, в которых высоты А1 и А2 равны друг другу и не равны друг другу (фиг. 10). А1 и А2 могут быть в диапазоне 14-17 мм Разница высот А1 и А2 может быть в диапазоне 1-3 мм.There are two options in which the heights of A1 and A2 are equal to each other and not equal to each other (Fig. 10). A1 and A2 can be in the range of 14-17 mm. The difference in heights of A1 and A2 can be in the range of 1-3 mm.
Устройство работает следующим образом. Помещенные между первым магнитопроводом 4 (фиг. 1 - фиг. 10) и замыкателем 3 первый постоянный магнит 1 и между вторым магнитопроводом 5 и замыкателем 3 второй постоянный магнит 2 создают магнитное поле в зазоре между первым магнитопроводом 4 и вторым магнитопроводом 5. Величина создаваемого магнитного поля пропорциональна ориентации постоянного магнита 1 и ориентации постоянного магнита 2. Помещая образец в область 17 (фиг. 11-12) на держателе образца 16, возможно проводить диагностику образца с помощью зондового датчика 19 под воздействием внешнего магнитного поля, силовые линии которого ориентированы вдоль плоскости поверхности образца. Зондовый датчик 19 устанавливается в держатель зондового датчика 20. Перемещение зондового датчика 19 относительно образца осуществляется с помощью сканера 21, подключенного к блоку управления 23. Регистрация деформаций зондового датчика 19 может производиться с помощью оптической системы регистрации деформаций 22. Помещая образец в область 18, возможно аналогичным образом проводить диагностику образца под воздействием внешнего магнитного поля, силовые линии которого ориентированы перпендикулярно плоскости поверхности образца.The device operates as follows. The first
В тех вариантах, где первый магнитопровод 4 (фиг. 12) и второй магнитопровод 5 имеют различные размеры А1 и А2 соответственно, в области 18 на держателе образца 16 удается повысить значение индукции создаваемого внешнего магнитного поля, ориентированного близко к нормали к поверхности второго магнитопровода 5.In those variants where the first magnetic core 4 (Fig. 12) and the second
То, что в источнике внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии, состоящем из первого постоянного магнита 1 и второго постоянного магнита 2, замыкателя магнитного поля 3, соединенного с первой поверхностью первого постоянного магнита 1 и первой поверхностью второго постоянного магнита 2, и состоящий также из первого магнитопровода 4, соединенного со второй поверхностью первого постоянного магнита 1 и второго магнитопровода 5, соединенного со второй поверхностью второго постоянного магнита 2, в первом магнитопроводе 4 выполнена первая выборка, а во втором магнитопроводе 5 выполнена вторая выборка, при этом первая выборка и вторая выборка расположены друг напротив друга, позволяет сконцентрировать силовые линии магнитного поля в верхних частях магнитопровода 4 и магнитопровода 5, увеличивая индукцию внешнего магнитного поля в области над поверхностью магнитопровода 4 и в области над поверхностью магнитопровода 5, а также в зазоре между магнитопроводом 4 и магнитопроводом 5, что приводит к созданию внешнего магнитного поля, ориентированного вдоль плоскости поверхности образца, в зазоре между первым магнитопроводом 4 и вторым магнитопроводом 5, а также к созданию внешнего магнитного поля, ориентированного перпендикулярно плоскости поверхности образца, над поверхностью магнитопровода 5.The fact that in a source of an external magnetic field for magnetic force microscopy, consisting of a first permanent magnet 1 and a second permanent magnet 2, a magnetic field closeer 3 connected to the first surface of the first permanent magnet 1 and the first surface of the second permanent magnet 2, and also consisting of a first magnetic circuit 4 connected to the second surface of the first permanent magnet 1 and a second magnetic circuit 5 connected to the second surface of the second permanent magnet 2, in the first magnetic circuit 4 a first selection is made, and in the second magnetic circuit 5 a second selection is made, wherein the first selection and the second selection are located opposite each other, makes it possible to concentrate the lines of force of the magnetic field in the upper parts of the magnetic circuit 4 and the magnetic circuit 5, increasing the induction of the external magnetic field in the region above the surface of the magnetic circuit 4 and in the region above the surface of the magnetic circuit 5, as well as in the gap between the magnetic circuit 4 and the magnetic circuit 5, which leads to the creation of an external magnetic field oriented along the plane of the surface of the sample, in the gap between the first magnetic circuit 4 and the second magnetic circuit 5, as well as to the creation of an external magnetic field oriented perpendicular to the plane of the sample surface, above the surface of the magnetic circuit 5.
То, что первая выборка выполнена в виде фрагмента первой окружности 6 и вторая выборка выполнена в виде фрагмента второй окружности 7 приводит к снижению значения напряженности магнитного поля внутри первого магнитопровода 4 и второго магнитопровода 5 на участках изменения геометрии структуры в области границы раздела воздух-первый магнитопровод 4 и в области границы раздела воздух-второй магнитопровод 5, т.к. в общем случае зависимость напряженности магнитного поля оказывается обратно пропорциональна радиусу скругления углов выборки.The fact that the first sample is made in the form of a fragment of the
То, что первая выборка выполнена в виде фрагмента первого овала 8 и вторая выборка выполнена в виде фрагмента второго овала 9 приводит к снижению значения напряженности магнитного поля внутри первого магнитопровода 4 и второго магнитопровода 5 на участках изменения геометрии структуры в области границы раздела воздух-первый магнитопровод 4 и в области границы раздела воздух-второй магнитопровод 5, т.к. в общем случае зависимость напряженности магнитного поля оказывается обратно пропорциональна радиусу скругления углов выборки.The fact that the first sample is made in the form of a fragment of the
То, что первая выборка выполнена в виде первого треугольного элемента 10 и вторая выборка выполнена в виде второго треугольного элемента 11 позволяет упростить процесс формирования выборки, используя прямой резец.The fact that the first sample is made in the form of the first
То, что первая выборка выполнена в виде первого прямоугольного элемента 12 и вторая выборка выполнена в виде второго прямоугольного элемента 13 позволяет упростить процесс формирования выборки, используя штамповку Т-образной формы.The fact that the first sample is made in the form of the first
То, что первая выборка выполнена в виде первого прямоугольного элемента со скругленными краями 14 и вторая выборка выполнена в виде второго прямоугольного элемента со скругленными краями 15 приводит к снижению значения напряженности магнитного поля внутри первого магнитопровода 4 и второго магнитопровода 5 на участках изменения геометрии структуры в области границы раздела воздух-первый магнитопровод 4 и в области границы раздела воздух-второй магнитопровод 5, т.к. в общем случае зависимость напряженности магнитного поля оказывается обратно пропорциональна радиусу скругления углов выборки.The fact that the first sample is made in the form of a first rectangular element with rounded
То, что первый магнитопровод 4 и второй магнитопровод 5 имеют различные размеры А1 и А2 в сторону соответственно от первого постоянного магнита 1 и второго постоянного магнита 2, позволяет увеличить значение индукции внешнего магнитного поля в области 18, силовые линии которого ориентированы близко к нормали к поверхности образца, помещаемого в область 18.The fact that the first
Claims (8)
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2833421C1 true RU2833421C1 (en) | 2025-01-21 |
Family
ID=
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU555507A1 (en) * | 1971-11-09 | 1977-04-25 | Magnetic electric machine | |
| US20090128129A1 (en) * | 2007-11-21 | 2009-05-21 | Denso Corporation | Current sensor having magnetic gap |
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU555507A1 (en) * | 1971-11-09 | 1977-04-25 | Magnetic electric machine | |
| US20090128129A1 (en) * | 2007-11-21 | 2009-05-21 | Denso Corporation | Current sensor having magnetic gap |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Proksch R., Runge E., Hansma P.K. High field magnetic force microscopy. Journal of Applied Physics. Vol. 78, No. 5, 1 September 1995, p. 3303-3307. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6236125B1 (en) | Linear actuator | |
| US9291599B2 (en) | Magnetic testing method and apparatus | |
| JPH06102252A (en) | Testing device for magnetized object under test | |
| US20080061782A1 (en) | Apparatus for Electron Spin Resonance CT | |
| JP4003975B2 (en) | Metal inspection method and metal inspection apparatus | |
| EP0526514A1 (en) | Magnetic field generating assembly. | |
| WO2007004058A1 (en) | Local magnetic susceptometer unit | |
| JPH1057347A (en) | Device for forming magnetic gradient | |
| RU2833421C1 (en) | External magnetic field source for magnetic force microscopy | |
| JP7618048B2 (en) | Magnetic particle imaging device | |
| NL7906646A (en) | APPARATUS FOR MAGNETIC TESTING OF FERRO-MAGNETIC MATERIAL. | |
| EP0764853B1 (en) | Magnet assembly in MRI instrument | |
| Nencib et al. | 2D analysis of rotational loss tester | |
| WO1991017455A1 (en) | Magnetic field generating assembly | |
| EP4019995B1 (en) | Epr spectrometer with at least one pole piece made at least partially of a function material | |
| Enokizono et al. | Non-destructive testing with magnetic sensor using rotational magnetic flux | |
| EP1598848A2 (en) | Electron microscope | |
| Takahashi et al. | Development of the 2-D single-sheet tester using diagonal exciting coil and the measurement of magnetic properties of grain-oriented electrical steel sheet | |
| JP4627499B2 (en) | Eddy current flaw detection sensor | |
| Steierl et al. | Surface domain imaging in external magnetic fields | |
| İzgi et al. | Crack detection using fluxgate magnetic field sensor | |
| JPH1026608A (en) | Nondestructive inspecting method | |
| US20240142404A1 (en) | Detection device | |
| JP3030201U (en) | Magnetosensitive element magnetic sensitivity measurement system | |
| EP4333079A1 (en) | Magnetic sensor and method for detecting magnetism |