[go: up one dir, main page]

RU2697715C1 - Микроконтроллерное измерительное устройство емкости для встраиваемых вычислительных систем - Google Patents

Микроконтроллерное измерительное устройство емкости для встраиваемых вычислительных систем Download PDF

Info

Publication number
RU2697715C1
RU2697715C1 RU2018146286A RU2018146286A RU2697715C1 RU 2697715 C1 RU2697715 C1 RU 2697715C1 RU 2018146286 A RU2018146286 A RU 2018146286A RU 2018146286 A RU2018146286 A RU 2018146286A RU 2697715 C1 RU2697715 C1 RU 2697715C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
microcontroller
built
computer
reference capacitor
plates
Prior art date
Application number
RU2018146286A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Витальевич Вострухин
Елена Артуровна Вахтина
Иван Александрович Болдырев
Original Assignee
федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ставропольский государственный аграрный университет"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ставропольский государственный аграрный университет" filed Critical федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ставропольский государственный аграрный университет"
Priority to RU2018146286A priority Critical patent/RU2697715C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2697715C1 publication Critical patent/RU2697715C1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения физических величин емкостными датчиками, и может быть использовано во встраиваемых вычислительных системах контроля и управления. Технический результат заключается в повышении точности преобразования и расширении функциональных возможностей устройства благодаря возможности использования более совершенного алгоритма преобразования емкости в двоичный код, а также увеличению вычислительных и инфокоммуникационных возможностей устройства путем введения компьютера. Микроконтроллерное измерительное устройство емкости для встраиваемых вычислительных систем содержит резистор 1, емкостный датчик 2, резистор 3, образцовый конденсатор 4, микроконтроллер 5 и компьютер 6. Емкостный датчик 1 и образцовый конденсатор 4 первыми обкладками подключены к общему проводу, вторые обкладки емкостного датчика 1 и образцового конденсатора 4 подключены соответственно к первым выводам резисторов 1 и 3, вторые выводы резисторов 1 и 3 подключены к выходам соответственно первого и второго широтно-импульсных модуляторов (ШИМ), встроенных в микроконтроллер 5 (на чертеже ШИМ не показаны), вторые обкладки емкостного датчика 2 и образцового конденсатора 4 подключены, соответственно к первому и второму входам аналогового мультиплексора, встроенного в микроконтроллер 5 (на чертеже аналоговый мультиплексор не показан), выход аналогового мультиплексора подключен к входу аналого-цифрового преобразователя (АЦП), встроенного в микроконтроллер 5 (на чертеже АЦП не показан), компьютер 6 подключен через цифровой последовательный интерфейс к микроконтроллеру 5. 1 ил.

Description

Область техники, к которой относится изобретение
Изобретение относится к измерительной технике в частности, к устройствам для измерения физических величин емкостными датчиками и может быть использовано во встраиваемых вычислительных системах контроля и управления.
Уровень техники
Известно устройство для измерения электрической емкости, содержащее два одновибратора, включенные по схеме кольцевого автогенератора, во времязадающие цепи первого и второго одновибраторов включены конденсаторы, соответственно измеряемой емкости и образцовой, два интегрирующих звена, подключенные к выходам соответствующих одновибраторов, индикатор, включенный между выходами интегрирующих звеньев. На выходе устройства формируется постоянное напряжение, которое зависит от изменения измеряемой емкости и отражается индикатором (см. пат. РФ №2156472, кл. G01R 27/26).
Недостаток известного решения - ограниченные функциональные возможности.
Известно устройство для измерения неэлектрических величин конденсаторными датчиками, содержащее микроконтроллер, индикатор, первый и второй генераторы, во времязадающие цепи которых включены соответственно емкостный датчик и образцовый конденсатор, выходы генераторов подключены к входам микроконтроллера, индикатор подключен к одному из портов микроконтроллера (см. пат. РФ №2214610, кл. G01R 27/26).
Недостаток известного решения - ограниченные функциональные возможности.
Наиболее близким по технической сущности к заявляемому техническому решению и принятое авторами за прототип является микроконтроллерное устройство для измерения частоты вращения вала, содержащее микроконтроллер, индикатор, первый и второй резисторы, емкостный датчик и образцовый конденсатор, которые первыми обкладками подключены к общему проводу, вторые обкладки емкостного датчика и образцового конденсатора подключены, соответственно, к первому и второму входам аналогового компаратора микроконтроллера и к первым выводам первого и второго резисторов, вторые выводы которых подключены к выходам микроконтроллера, индикатор подключен к одному из портов микроконтроллера (см. пат. РФ №2378658, кл. G01R 27/26).
Недостаток известного решения - низкая точность преобразований и ограниченные функциональные возможности, по причине несовершенного алгоритма преобразования емкости в двоичный код, а также ограниченных вычислительных и инфокоммуникационных возможностей устройства.
Раскрытие изобретения
Задачей предлагаемого изобретения является разработка измерительного устройства емкости для встраиваемых вычислительных систем, обладающего повышенной точностью преобразования и расширенными функциональными возможностями за счет использования более совершенного алгоритма преобразования емкости в двоичный код, а также увеличению вычислительных и инфокоммуникационных возможностей устройства, путем введения компьютера.
Технический результат достигается тем, что в микроконтроллерное измерительное устройство емкости для встраиваемых вычислительных систем, содержащее микроконтроллер, емкостный датчик, образцовый конденсатор, первый и второй резисторы, причем емкостный датчик и образцовый конденсатор первыми обкладками подключены к общему проводу, вторые обкладки емкостного датчика и образцового конденсатора подключены, соответственно, к первым выводам первого и второго резисторов, введен компьютер, причем вторые выводы первого и второго резисторов подключены к выходам, соответственно первого и второго широтно-импульсных модуляторов, встроенных в микроконтроллер, вторые обкладки емкостного датчика и образцового конденсатора подключены, соответственно к первому и второму входам аналогового мультиплексора, встроенного в микроконтроллер, компьютер подключен через цифровой последовательный интерфейс к микроконтроллеру.
Краткое описание чертежей
На фиг. представлена структурная схема микроконтроллерного измерительного устройства емкости для встраиваемых вычислительных систем.
Осуществление изобретения
Микроконтроллерное измерительное устройство емкости для встраиваемых вычислительных систем содержит (фиг.) резистор 1, емкостный датчик 2, резистор 3, образцовый конденсатор 4, микроконтроллер 5 и компьютер 6. Емкостный датчик 1 и образцовый конденсатор 4 первыми обкладками подключены к общему проводу, вторые обкладки емкостного датчика 1 и образцового конденсатора 4 подключены, соответственно, к первым выводам резисторов 1 и 3, вторые выводы резисторов 1 и 3 подключены к выходам, соответственно первого и второго широтно-импульсных модуляторов (ШИМ), встроенных в микроконтроллер 5 (на фиг. ШИМ не показаны), вторые обкладки емкостного датчика 2 и образцового конденсатора 4 подключены, соответственно к первому и второму входам аналогового мультиплексора, встроенного в микроконтроллер 5 (на фиг. аналоговый мультиплексор не показан), выход аналогового мультиплексора подключен к входу аналого-цифрового преобразователя (АЦП), встроенного в микроконтроллер 5 (на фиг. АЦП не показан), компьютер 6 подключен через цифровой последовательный интерфейс к микроконтроллеру 5.
Микроконтроллерное измерительное устройство емкости для встраиваемых вычислительных систем работает следующим образом.
Микроконтроллер 5, в соответствии с программой, настраивает первый и второй ШИМы на заданную частоту генерирования широтно-импульсных сигналов (ШИМ-сигналов) с заданными коэффициентами заполнения и запускает оба ШИМа, которые работают синхронно. Сопротивления резисторов 1 и 3, а также емкости емкостного датчика 2 и образцового конденсатора 4 подобраны так, чтобы на заданной частоте ШИМ-сигналов, переходные процессы в RC-цепях, образованных этими элементами длились от одного до трех постоянных времени RC-цепей. Микроконтроллер 5 выполняет алгоритм последовательно шаг за шагом:
Шаг 1. Микроконтроллер 5 подключает с помощью аналогового мультиплексора первый вход, к которому подключена первая обкладка емкостного датчика 2 к входу АЦП и выполняет несколько сотен преобразований, результаты которых сохраняет в оперативной памяти.
Шаг 2. Микроконтроллер 5 обрабатывает результаты преобразований АЦП и находит наименьшее и наибольшее значения, затем вычисляет разницу этих значений, таким образом, микроконтроллер 5 определяет размах изменения напряжения на емкостном датчике 2 и сохраняет это значение в памяти.
Шаг 3. Микроконтроллер 5 подключает с помощью аналогового мультиплексора второй вход, к которому подключена первая обкладка образцового конденсатора 4 к входу АЦП и выполняет столько же преобразований, сколько он выполнил при шаге 1, результаты преобразований сохраняет в оперативной памяти.
Шаг 4. Микроконтроллер 5 выполняет такие же действия, как и при реализации шага 2 с той разницей, что определяет размах изменения напряжения на образцовом конденсаторе 4 и сохраняет это значение в памяти.
Шаг 5. Микроконтроллер 5 определяет разницу между размахом напряжений на образцовом конденсаторе 4 и емкостном датчике 2, эта разница зависит от измеряемой емкости конденсаторного датчика 2. При возрастании емкости датчика 2 размах напряжения на нем уменьшается, а при уменьшении емкости датчика размах напряжения на нем возрастает.
Шаг 6. Микроконтроллер 5 отправляет результат преобразования через цифровой последовательный интерфейс на компьютер 6, который выводит этот результат на монитор.
Шаг 7. Микроконтроллер 5 осуществляет переход к выполнению шага 1.
Компьютер 6 может сохранять, полученные от микроконтроллера 5 результаты преобразований в памяти для их последующего анализа, а также может передавать по инфокоммуникационным сетям в любую географическую точку земли, в которой второй компьютер настроен на прием данной информации.
Компьютер 6 позволяет оперативно записывать в программную память микроконтроллера 5 новые модифицированные программы, что также расширяет функциональные возможности предлагаемого устройства.
Микроконтроллер 5 способен изменять, в соответствии с программой, частоту следования ШИМ-сигналов и их коэффициенты заполнения, что необходимо для правильного согласования параметров RC-цепей (например, постоянной времени RC-цепей) и параметров ШИМ-сигналов.
Иногда требуется проводить измерения на нескольких частотах, особенно при измерении диэлектрической проницаемости материала расположенного между обкладками емкостного датчика, например, при измерении влажности семян сельскохозяйственных культур. Известно, что диэлектрическая проницаемость этих материалов зависит от частоты электрического поля между обкладками конденсатора.
Преимущества изобретения по сравнению с прототипом: благодаря введению новых связей реализован более совершенный алгоритм преобразования емкости в двоичный код, что повышает точность устройства; путем введения компьютера увеличены вычислительные и инфокоммуникационные возможности, что расширяет функционал устройства.

Claims (1)

  1. Микроконтроллерное измерительное устройство емкости для встраиваемых вычислительных систем, содержащее микроконтроллер, емкостный датчик, образцовый конденсатор, первый и второй резисторы, причем емкостный датчик и образцовый конденсатор первыми обкладками подключены к общему проводу, вторые обкладки емкостного датчика и образцового конденсатора подключены соответственно к первым выводам первого и второго резисторов, отличающееся тем, что дополнительно введен компьютер, причем вторые выводы первого и второго резисторов подключены к выходам соответственно первого и второго широтно-импульсных модуляторов, встроенных в микроконтроллер, вторые обкладки емкостного датчика и образцового конденсатора подключены соответственно к первому и второму входам аналогового мультиплексора, встроенного в микроконтроллер, компьютер подключен через цифровой последовательный интерфейс к микроконтроллеру.
RU2018146286A 2018-12-24 2018-12-24 Микроконтроллерное измерительное устройство емкости для встраиваемых вычислительных систем RU2697715C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2018146286A RU2697715C1 (ru) 2018-12-24 2018-12-24 Микроконтроллерное измерительное устройство емкости для встраиваемых вычислительных систем

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2018146286A RU2697715C1 (ru) 2018-12-24 2018-12-24 Микроконтроллерное измерительное устройство емкости для встраиваемых вычислительных систем

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2697715C1 true RU2697715C1 (ru) 2019-08-19

Family

ID=67640627

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2018146286A RU2697715C1 (ru) 2018-12-24 2018-12-24 Микроконтроллерное измерительное устройство емкости для встраиваемых вычислительных систем

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2697715C1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2756374C1 (ru) * 2021-02-09 2021-09-29 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ставропольский государственный аграрный университет" Микроконтроллерное измерительное устройство емкости для встраиваемых вычислительных систем
CN115267349A (zh) * 2022-08-05 2022-11-01 浙江大学 一种基于LabVIEW的多通道微弱电容检测系统及其方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0088561A1 (en) * 1982-03-11 1983-09-14 Honeywell Inc. Capacitor monitoring circuit
SU1629877A1 (ru) * 1988-06-06 1991-02-23 Всесоюзный Научно-Исследовательский И Конструкторский Институт Средств Измерения В Машиностроении Измеритель электрической емкости
US20070194800A1 (en) * 2005-12-21 2007-08-23 Novikov Lenny M Micropower voltage-independent capacitance measuring method and circuit
RU2378658C1 (ru) * 2008-09-18 2010-01-10 Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ставропольский государственный аграрный университет" Микроконтроллерное устройство измерения частоты вращения вала
RU2550595C1 (ru) * 2013-12-16 2015-05-10 Елена Александровна Бондаренко Микроконтроллерное устройство для измерения емкости и сопротивления и передачи результата измерения по радиоканалу

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0088561A1 (en) * 1982-03-11 1983-09-14 Honeywell Inc. Capacitor monitoring circuit
SU1629877A1 (ru) * 1988-06-06 1991-02-23 Всесоюзный Научно-Исследовательский И Конструкторский Институт Средств Измерения В Машиностроении Измеритель электрической емкости
US20070194800A1 (en) * 2005-12-21 2007-08-23 Novikov Lenny M Micropower voltage-independent capacitance measuring method and circuit
RU2378658C1 (ru) * 2008-09-18 2010-01-10 Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ставропольский государственный аграрный университет" Микроконтроллерное устройство измерения частоты вращения вала
RU2550595C1 (ru) * 2013-12-16 2015-05-10 Елена Александровна Бондаренко Микроконтроллерное устройство для измерения емкости и сопротивления и передачи результата измерения по радиоканалу

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2756374C1 (ru) * 2021-02-09 2021-09-29 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ставропольский государственный аграрный университет" Микроконтроллерное измерительное устройство емкости для встраиваемых вычислительных систем
CN115267349A (zh) * 2022-08-05 2022-11-01 浙江大学 一种基于LabVIEW的多通道微弱电容检测系统及其方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2698492C1 (ru) Микроконтроллерное измерительное устройство емкости для встраиваемых вычислительных систем контроля и управления
AU730847B2 (en) Impedance detection apparatus and method
RU2697715C1 (ru) Микроконтроллерное измерительное устройство емкости для встраиваемых вычислительных систем
RU2391677C1 (ru) Микроконтроллерный измерительный преобразователь емкости и сопротивления в двоичный код
US10551469B2 (en) Calibration of inverting amplifier based impedance analyzers
US10330767B2 (en) Calibrated measurement system and method
RU2719790C1 (ru) Микроконтроллерное устройство измерения емкости для систем контроля и управления
Czaja An implementation of a compact smart resistive sensor based on a microcontroller with an internal ADC
JP6607972B2 (ja) 静電容量値を測定するための方法
Hidalgo-López et al. Simplifying capacitive sensor readout using a new direct interface circuit
RU2395816C1 (ru) Микроконтроллерное устройство для исследования диэлектрических свойств биологических объектов и изоляционных материалов
US20100145640A1 (en) System and method for electrical parameter estimation
JP7502244B2 (ja) データ・サンプル生成方法
RU2593818C1 (ru) Способ и устройство измерения электрической емкости
Oliferovich et al. Measuring the speed of capillary soaking with adaptation regarding coordinates
EP3296709B1 (en) Temperature-to-digital converter
TWI383158B (zh) Capacitance measurement circuit and method
RU2774047C1 (ru) Устройство измерения емкости для встраиваемых систем управления
US8854063B2 (en) Method and apparatus for determining a capacitance and/or change in capacitance of a capacitive sensor element
RU2747515C1 (ru) Устройство измерения емкости для диэлькометрических влагомеров семян сельскохозяйственных культур
RU2796213C1 (ru) Микроконтроллерный измерительный преобразователь емкости для диэлькометрических USB влагомеров зерна
CN111044085B (zh) 安全电路和用于测试在自动化设备中的安全电路的方法
RU148205U1 (ru) Антенно-согласующее устройство с измерительно-вычислительным методом настройки
RU2756374C1 (ru) Микроконтроллерное измерительное устройство емкости для встраиваемых вычислительных систем
Ibrahim et al. Interface circuits based on FPGA for tactile sensor systems

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20201225