RU2625642C1 - Method of simultaneous calibration of three and more single-different devices with measuring functions without support to the reference device or reference test signal - Google Patents
Method of simultaneous calibration of three and more single-different devices with measuring functions without support to the reference device or reference test signal Download PDFInfo
- Publication number
- RU2625642C1 RU2625642C1 RU2016132964A RU2016132964A RU2625642C1 RU 2625642 C1 RU2625642 C1 RU 2625642C1 RU 2016132964 A RU2016132964 A RU 2016132964A RU 2016132964 A RU2016132964 A RU 2016132964A RU 2625642 C1 RU2625642 C1 RU 2625642C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- devices
- accuracy
- estimates
- calibration
- calibrated
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 62
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 claims description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 5
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims description 4
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 5
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 4
- 238000005315 distribution function Methods 0.000 description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 238000004886 process control Methods 0.000 description 2
- 238000001303 quality assessment method Methods 0.000 description 2
- 238000001507 sample dispersion Methods 0.000 description 2
- 230000009897 systematic effect Effects 0.000 description 2
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 2
- 238000000844 transformation Methods 0.000 description 2
- 238000000342 Monte Carlo simulation Methods 0.000 description 1
- 238000012952 Resampling Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000009533 lab test Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012067 mathematical method Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000007670 refining Methods 0.000 description 1
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 238000010561 standard procedure Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G12—INSTRUMENT DETAILS
- G12B—CONSTRUCTIONAL DETAILS OF INSTRUMENTS, OR COMPARABLE DETAILS OF OTHER APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G12B13/00—Calibrating of instruments and apparatus
Landscapes
- Complex Calculations (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к метрологии, приборостроению, навигационному приборостроению и другим областям, использующим в том или ином виде измерительную технику, в частности к способам калибровки средств измерений (далее - СИ) с целью оценивания их показателей точности, где термины «калибровка», «СИ» и «показатель точности» определены в [1]. При этом процедура калибровки СИ рассматривается в данном изобретении не в полном объеме, а только в части количественного оценивания его точностных характеристик, в том числе с целью подтверждения их соответствия установленным требованиям, не включая при этом задачу метрологической прослеживаемости результатов измерений к эталону [1].The invention relates to metrology, instrumentation, navigation instrumentation and other areas that use in one form or another measuring equipment, in particular to methods for calibrating measuring instruments (hereinafter - SI) in order to evaluate their accuracy indicators, where the terms "calibration", "SI" and “accuracy indicator” are defined in [1]. Moreover, the SI calibration procedure is considered in this invention not in full, but only in terms of quantitative assessment of its accuracy characteristics, including with the aim of confirming their compliance with the established requirements, not including the task of metrological traceability of measurement results to the standard [1].
Помимо СИ, изобретение может быть применено к любым техническим системам и устройствам с измерительными функциями (далее - ТСУИФ [2]), включая случай недопустимости демонтажа их измерительной части (для проведения калибровки), если он может повлечь за собой нарушение целевых функций указанных систем. Изобретение может быть применено также в области технологической подготовки и сопровождения различных производств с использованием СИ и ТСУИФ при необходимости выполнения их аттестации и процедур подтверждения соответствия, в том числе для случаев непосредственного применения СИ и ТСУИФ (в ходе указанного сопровождения) и при их вхождении в состав имеющихся автоматизированных систем управления технологическими процессами. Изобретение может быть применено также к испытаниям готовой продукции, содержащей в своем составе ТСУИФ, с целью подтверждения соответствия характеристик их измерительной части установленным требованиям. Изобретение позволяет также обеспечить возможность выполнения самодиагностики измерительных компонентов (при их наличии) различных систем, включая и автономные системы.In addition to SI, the invention can be applied to any technical systems and devices with measuring functions (hereinafter - TSUIF [2]), including the case of inadmissibility of dismantling their measuring part (for calibration), if it can lead to violation of the target functions of these systems. The invention can also be applied in the field of technological preparation and support of various industries using SI and TSUIF if it is necessary to carry out their certification and conformity confirmation procedures, including for cases of direct use of SI and TSUIF (during the specified maintenance) and when they are included existing automated process control systems. The invention can also be applied to tests of finished products containing TSUIF in order to confirm the conformity of the characteristics of their measuring part with the established requirements. The invention also makes it possible to perform self-diagnosis of measuring components (if any) of various systems, including autonomous systems.
Примерами подобных СИ и ТСУИФ (далее - устройств) могут служить такие устройства как курсоуказатель и лаг (входящие в состав инерциальной навигационной системы), волномерный буй (регистрирующий текущие параметры морского волнения в составе системы стабилизации морской платформы), а также ряд других устройств, для которых актуальна задача локальной калибровки, состоящая в оценивании показателей их реальной точности. Для решения указанной задачи функциональное представление об устройстве принято в виде, представленном на фиг. 1.Examples of such SI and TSUIF (hereinafter referred to as devices) can serve as such devices as a direction indicator and a lag (which are part of the inertial navigation system), a wave-measuring buoy (recording the current parameters of sea waves as part of the stabilization system of the offshore platform), as well as a number of other devices for which is relevant to the local calibration task, consisting in evaluating the indicators of their real accuracy. To solve this problem, the functional representation of the device is adopted in the form shown in FIG. one.
На указанной фиг. 1 обозначены:In the indicated FIG. 1 marked:
- «объект» - элемент некоторой внешней (по отношению к устройству) системы естественного или искусственного происхождения, который необходимо контролировать (или изучать) с помощью устройства;- “object” - an element of some external (with respect to the device) system of natural or artificial origin, which must be controlled (or studied) using the device;
- Q(t) - переменный входной сигнал, воздействующий на чувствительный элемент устройства, который порождается интересующим нас фактором объекта и который поставлен в соответствие измеряемой физической величине, где последняя традиционно понимается как некоторый параметр принятого модельного представления об объекте [1];- Q (t) - a variable input signal acting on the sensitive element of the device, which is generated by the object factor of interest to us and which is aligned with the measured physical quantity, where the latter is traditionally understood as some parameter of the accepted model representation of the object [1];
- S(t) - выходной сигнал (показание) устройства, принимаемый за результат измерения;- S (t) is the output signal (indication) of the device, taken as the measurement result;
- t - текущее время.- t is the current time.
При этом точность устройства может быть охарактеризована теми или иными параметрами его погрешности ξ(t)=S(t)-Q(t) [3]. Указанные параметры погрешности уточняются ниже и подлежат оцениванию в ходе калибровки, которую необходимо выполнить с целью обоснования возможности использования результата измерения S(t) по назначению.Moreover, the accuracy of the device can be characterized by various parameters of its error ξ (t) = S (t) -Q (t) [3]. The indicated error parameters are specified below and are subject to evaluation during calibration, which must be performed in order to justify the possibility of using the measurement result S (t) for its intended purpose.
Конкретизируем ряд аспектов устройств, калибруемых в соответствии с данным изобретением. Прежде всего, предполагается, что каждое из этих устройств имеет функцию записи на магнитный носитель (в файл на диске) своих дискретных показаний Si=S(ti) в моменты времени ti=t0+(i-1)⋅Δt, следующие с некоторым периодом дискретизации Δt, где t0 - момент начала записи, i=1,2,…,n - номер показания, n - длина записанной реализации. При этом, учитывая, что погрешность ξ(t), которой отягощен выходной сигнал S(t), имеет случайную составляющую, предполагается, что период дискретизации Δt выбран не меньшим, чем время автокорреляции выходного сигнала S(t) для каждого из этих устройств. Предполагается также, что запись данных от всех устройств выполняется синхронно, в том числе, с одинаковым периодом дискретизации Δt. Для целей дальнейшего изложения введем также сокращенные обозначения Qi=Q(ti), ξi=ξ(ti), аналогичные Si.We specify a number of aspects of devices calibrated in accordance with this invention. First of all, it is assumed that each of these devices has the function of recording on a magnetic medium (in a file on a disk) its discrete readings S i = S (t i ) at times t i = t 0 + (i-1) ⋅Δt, the following with a certain sampling period Δt, where t 0 is the recording start time, i = 1,2, ..., n is the reading number, n is the length of the recorded implementation. Moreover, taking into account that the error ξ (t), which is burdened by the output signal S (t), has a random component, it is assumed that the sampling period Δt is chosen no less than the autocorrelation time of the output signal S (t) for each of these devices. It is also assumed that data recording from all devices is performed synchronously, including with the same sampling period Δt. For the purposes of the further discussion, we also introduce the abbreviated notation Q i = Q (t i ), ξ i = ξ (t i ), similar to S i .
Кроме того, считаем, что в соответствии с [1, 2] конструкторская и технологическая проработка при создании каждого из рассматриваемых устройств выполнена на должном, достаточно высоком уровне. В том числе, предполагаются выявленными и изученными все дополнительные факторы, влияющие на выходной сигнал S(t), после чего обеспечена либо стабилизация этих факторов, либо автокомпенсация соответствующих систематических искажений выходного сигнала S(t) на аппаратном или программном уровне. К числу таких факторов, прежде всего, следует отнести климатические, механические, электромагнитные факторы (температуру, давление, влажность, уровень вибраций, помехи по электропитанию и т.п.), а также ряд других более специфических факторов, таких как параметры качки и движения морских объектов для приведенных выше примеров устройств.In addition, we believe that in accordance with [1, 2], the design and technological development during the creation of each of the devices under consideration was performed at the proper, fairly high level. In particular, it is assumed that all additional factors affecting the output signal S (t) are identified and studied, after which either these factors are stabilized or the corresponding systematic distortions of the output signal S (t) are automatically compensated at the hardware or software level. These factors include, first of all, climatic, mechanical, electromagnetic factors (temperature, pressure, humidity, vibration level, power supply noise, etc.), as well as a number of other more specific factors, such as pitching and movement parameters marine objects for the above device examples.
В этих предположениях погрешность ξ(t) каждого из рассматриваемых устройств может быть описана чисто стохастической стационарной моделью. При этом для сохранения стационарности указанной модели дополнительно сделаны следующие предположения общего вида в отношении входного сигнала Q(t):Under these assumptions, the error ξ (t) of each of the considered devices can be described by a purely stochastic stationary model. Moreover, to maintain the stationarity of the indicated model, the following general assumptions are additionally made with respect to the input signal Q (t):
(а) Q(t)∈[Qmin,Qmax] - ограниченность диапазона возможных значений сигнала;(a) Q (t) ∈ [Q min , Q max ] is the limited range of possible signal values;
(б) ⎪dQ(t)/dt⎪<<ΔQ/Δt - плавность изменения сигнала, где ΔQ=Qmax-Qmin.(b) ⎪dQ (t) / dt⎪ << ΔQ / Δt is the smoothness of the signal change, where ΔQ = Q max -Q min .
Это позволяет пренебречь динамической составляющей погрешности устройства, обусловленной резкими изменениями входного сигнала Q(t), и считать стохастическую модель погрешности ξ(t) стационарной на протяжении всего времени наблюдения за объектом. Кроме того, используется обычное в подобных случаях предположение об эргодичности [4] модели погрешности, позволяющее заменить усреднение по ансамблю выходных сигналов S(t) на усреднение по времени одной реализации указанного сигнала.This allows us to neglect the dynamic component of the device error due to sharp changes in the input signal Q (t), and to consider the stochastic model of the error ξ (t) stationary over the entire time the object is observed. In addition, the assumption of ergodicity [4] of the error model, which is usual in such cases, is used, which allows replacing the averaging over the ensemble of output signals S (t) with the averaging over time of one implementation of the indicated signal.
На основании сказанного, в предлагаемом изобретении предполагается следующая модель дискретного выходного сигнала {Si} (i=1,2,…,n) каждого устройства:Based on the foregoing, in the present invention, the following model of the discrete output signal {S i } (i = 1,2, ..., n) of each device is assumed:
где Qi - текущее значение входного сигнала (измеряемой величины), а погрешности {ξi} предполагаются случайными величинами, которые одинаково распределены с первыми двумя постоянными моментами {а, σ2} и попарно некоррелированны: cov(ξi,ξj)=0 при i≠j. В этом модельном представлении указанные параметры считаются неизвестными и понимаются как остаточный сдвиг нуля устройства а и среднее квадратическое отклонение σ (далее - СКО) его случайной погрешности. Свои конкретные значения указанные параметры получают в ходе необходимой предварительной регулировки каждого устройства в соответствии с [1], а также процедуры его включения и выхода на рабочий режим. Регулировка устройства в простейшем случае состоит в устранении сдвига нуля его показаний (в максимально возможной степени) и уточнении коэффициента усиления во всем диапазоне показаний устройства, а с учетом сказанного выше о компенсации основных систематических искажений выходного сигнала можно считать выполненным условие |а|<<σ.where Q i is the current value of the input signal (measured value), and the errors {ξ i } are assumed to be random variables that are equally distributed with the first two constant moments { a , σ 2 } and pairwise uncorrelated: cov (ξ i , ξ j ) = 0 for i ≠ j. In this model representation, the indicated parameters are considered unknown and are understood as the residual zero shift of the device a and the standard deviation σ (hereinafter - RMS) of its random error. The specified parameters receive their specific values in the course of the necessary preliminary adjustment of each device in accordance with [1], as well as the procedures for its inclusion and exit to operating mode. Adjusting the device in the simplest case consists in eliminating the zero offset of its readings (to the maximum extent possible) and refining the gain in the entire range of the device readings, and taking into account what was said above about compensation for the main systematic distortions of the output signal, we can consider the condition | and | << σ.
Таким образом, в описанных выше условиях основным показателем точности устройства является параметр σ - СКО случайной составляющей его погрешности, и задача калибровки устройства понимается в данном изобретении как получение оценки гарантированного качества, где степень качества оценки, как обычно, характеризуется двумя параметрами: ее смещением и дисперсией [5]. Здесь и далее E(…) и D(…) обозначают, соответственно, операторы математического ожидания и дисперсии, применяемые к случайным величинам, в том числе, и к оценкам, вычисляемым по экспериментальным данным. Кроме того, в обоснованных случаях вместо указанных параметров и используются их безразмерные аналоги, обозначаемые ниже, как и .Thus, in the conditions described above, the main indicator of the accuracy of the device is the parameter σ - the standard deviation of the random component of its error, and the task of calibrating the device is understood in this invention as obtaining an estimate guaranteed quality, where the degree of evaluation quality, as usual, is characterized by two parameters: its bias and dispersion [5]. Hereinafter, E (...) and D (...) denote, respectively, the mathematical expectation and variance operators applied to random variables, including estimates calculated from experimental data. In addition, in justified cases, instead of the specified parameters and their dimensionless counterparts are used, denoted below as and .
В частности, если калибруемое устройство является СИ, в отношении которого в установленном порядке были проведены испытания с целью утверждения типа с последующим внесением в Госреестр СИ [6], то его калибровка в рассмотренных выше предположениях об устройстве и в части оценивания его точностных характеристик по содержанию будет практически совпадать с процедурой поверки этого СИ, отличаясь лишь юридическим статусом результатов.In particular, if the device to be calibrated is a SI, for which tests were carried out in the prescribed manner with the aim of confirming the type with subsequent inclusion in the State Register of SI [6], then its calibration in the above assumptions about the device and in terms of evaluating its accuracy characteristics by content will practically coincide with the verification procedure of this SI, differing only in the legal status of the results.
Известные способы и процедуры калибровки (поверки) устройств рассматриваемого вида изложены в целом ряде монографий, руководств и методических материалов по метрологии, включая нормативные документы [7-9]. При этом, несмотря на некоторые различия и разную степень детализации в описании указанных процедур, все известные источники предполагают обязательное использование образцового (эталонного) предварительно аттестованного устройства, точность которого не только предполагается известной (либо нормированной, например, своей верхней предельно допустимой границей СКО σmax), но также и существенно превосходящей предполагаемую точность калибруемого устройства. Указанное требование значительно ограничивает область применения известных способов калибровки, которые, как правило, должны выполняться в аттестованных лабораториях, имеющих метрологический статус, а также с привлечением специализированных устройств и оборудования.Known methods and procedures for calibration (verification) of devices of this type are described in a number of monographs, manuals and methodological materials on metrology, including regulatory documents [7-9]. At the same time, despite some differences and varying degrees of detail in the description of these procedures, all known sources suggest the mandatory use of a model (reference) pre-certified device whose accuracy is not only assumed to be known (or normalized, for example, by its upper maximum permissible limit of standard deviation σ max ), but also significantly exceeding the expected accuracy of the calibrated device. This requirement significantly limits the scope of known calibration methods, which, as a rule, must be performed in certified laboratories with metrological status, as well as with the involvement of specialized devices and equipment.
Наиболее близким по технической сущности и принятым за прототип является известный способ калибровки устройства [10, §56]. Известна также детализация указанного способа-прототипа для рассматриваемого случая доминирования случайной погрешности [11, раздел 10-2]. Хотя формально способ-прототип [10, 11] описывает способ поверки СИ, его очевидным образом можно распространить и на способ калибровки (в указанном выше смысле) измерительной части любого ТСУИФ. Способ-прототип основан на использовании, помимо калибруемого устройства (далее - КУ), еще одного дополнительного устройства (однотипного с КУ по входному сигналу), которому придается статус образцового или эталонного устройства (далее - ЭУ). Сущность способа-прототипа представлена на фиг. 2, поясняющей, что входной сигнал Q(t) подают одновременно на входы обоих устройств КУ и ЭУ, с последующим сравнением их показаний SK(t) и SЭ(t), где верхние индексы означают принадлежность к соответствующему устройству. Указанное пояснение касается также дополнительных индексов в обозначениях других используемых ниже переменных.The closest in technical essence and adopted for the prototype is a known method of calibrating the device [10, §56]. Also known details of the prototype method for the case under consideration is the dominance of a random error [11, section 10-2]. Although formally the prototype method [10, 11] describes a method for verifying SI, it can obviously be extended to the calibration method (in the above sense) of the measuring part of any TSUIF. The prototype method is based on the use, in addition to the calibrated device (hereinafter - KU), of another additional device (of the same type with KU by the input signal), which is given the status of a model or reference device (hereinafter - EC). The essence of the prototype method is presented in FIG. 2, explaining that the input signal Q (t) is supplied simultaneously to the inputs of both devices KU and EI, followed by a comparison of their readings S K (t) and S E (t), where the superscripts indicate belonging to the corresponding device. This explanation also applies to additional indices in the notation of other variables used below.
При этом входной сигнал Q(t) играет роль испытательного, и его формируют, как правило, с помощью специального генератора, поочередно задавая значения Q(t) таким образом, чтобы охватить все заранее предписанные точки диапазона КУ. В этом смысле калибровка устройства согласно способу-прототипу является активным экспериментом. Следует также отметить, что допустимо совмещение функций генератора и ЭУ в одном устройстве, что не меняет сути способа-прототипа.In this case, the input signal Q (t) plays the role of a test one, and it is formed, as a rule, using a special generator, alternately setting the values of Q (t) in such a way as to cover all the predefined points of the KU range. In this sense, the calibration of the device according to the prototype method is an active experiment. It should also be noted that it is permissible to combine the functions of the generator and the EU in one device, which does not change the essence of the prototype method.
Важно отметить, что точность ЭУ предполагается известной и существенно (в несколько раз) превышающей ожидаемую точность КУ, о которой судят на основе имеющейся априорной информации, например, по паспортным данным КУ. Таким образом, в принятых обозначениях базовое требование способа-прототипа имеет вид:It is important to note that the accuracy of the EA is assumed to be known and significantly (several times) higher than the expected accuracy of the control unit, which is judged on the basis of available a priori information, for example, according to the passport data of the control unit. Thus, in the adopted notation, the basic requirement of the prototype method has the form:
где σЭ и σК - СКО случайной погрешности ЭУ (либо известно, либо нормировано) и КУ (подлежит оцениванию), k - коэффициент запаса по точности ЭУ. При этом на практике выбирают k≈3 [10, 11], однако в ряде специфических областей измерений указанный коэффициент лежит в более широких границах 1,5<k<10 [9].where σ E and σ K are the standard deviations of the random error of the EI (either known or normalized) and KU (to be estimated), k is the safety factor for the accuracy of the EI. Moreover, in practice, k≈3 is chosen [10, 11], however, in a number of specific measurement areas, this coefficient lies within wider limits of 1.5 <k <10 [9].
Обработка данных {Si К}, {Si Э} (i=1,2,…,n) сводится к вычислению последовательности попарных разностей {ΔSi} показаний, а затем их выборочной дисперсии DS:Data processing {S i K }, {S i E } (i = 1,2, ..., n) is reduced to calculating a sequence of pairwise differences {ΔS i } of readings, and then their sample dispersion D S :
где для несмещенности DS согласно [5] использован коэффициент 1/(n-1). Далее, в силу тождественного соотношения ΔSi=Si К-Si Э=ξi К-ξi Э и некоррелированности показаний разных конструктивно независимых устройств верно выражение:where for non-bias D S according to [5], the
Окончательно, отбрасывая в (4) второе слагаемое, что возможно в силу требования (2), получаем следующую оценку искомого параметра σK по способу-прототипу:Finally, discarding the second term in (4), which is possible by virtue of requirement (2), we obtain the following estimate of the desired parameter σ K by the prototype method:
В части анализа качества указанной оценки в способе-прототипе найдена только верхняя граница ее относительного смещения , а именно, при k≥3 установлено, что [10, 11]. К этому следует добавить, что оценка очевидным образом является завышенной: . В то же время, сведения о дисперсии , характеризующей диапазон возможного случайного разброса реализаций этой оценки, ни в способе-прототипе, ни в других известных источниках не приводятся.Regarding the analysis of the quality of this assessment in the prototype method, only the upper boundary of its relative displacement is found , namely, for k≥3 it is established that [10, 11]. To this should be added that the assessment The obvious way is overpriced: . At the same time, dispersion information , characterizing the range of possible random scatter of implementations of this estimate, are not given either in the prototype method or in other known sources.
Недостатками способа-прототипа являются:The disadvantages of the prototype method are:
1) необходимость использования дополнительного ЭУ с известной и существенно более высокой (в несколько раз) точностью по сравнению с КУ;1) the need to use additional EA with a well-known and significantly higher (several times) accuracy compared to KU;
2) отсутствие анализа качества оценки в части ее дисперсии;2) lack of quality assessment analysis regarding its dispersion;
3) ориентированность на выполнение активного эксперимента с применением специального генератора, формирующего требуемые значения входного сигнала Q(t).3) focus on performing an active experiment using a special generator that generates the required values of the input signal Q (t).
Вследствие недостатков способа-прототипа его применение ограничено. Он может быть использован лишь в метрологических лабораториях, осуществляющих контроль СИ на стационарных установках, ключевыми элементами которых являются аттестованное эталонное (образцовое) СИ и генератор испытательных сигналов. Что же касается ТСУИФ, то для применения способа-прототипа к их измерительной части необходимы либо возможность ее демонтажа (без нарушения целевых функций ТСУИФ), либо наличие мобильного варианта аттестованного эталонного устройства; при этом на практике и то, и другое далеко не всегда доступно. Кроме того, анализ качества оценки по способу-прототипу не выполнен полностью: показано лишь малое смещение этой оценки (при k≥3), что вовсе не гарантирует ее малого случайного разброса, который возможен и в сторону значительного занижения оценки .Due to the disadvantages of the prototype method, its use is limited. It can be used only in metrological laboratories that monitor SR in stationary installations, the key elements of which are a certified reference (exemplary) SR and a test signal generator. As for the TSUIF, for the application of the prototype method to their measuring part, either the ability to dismantle it (without violating the target functions of the TSUIF) or the availability of a mobile version of a certified reference device are necessary; at the same time, in practice, both of them are far from always available. In addition, quality assessment analysis the prototype method is not fully implemented: only a small bias of this estimate is shown (for k≥3), which does not guarantee its small random spread, which is also possible in the direction of a significant underestimation of the estimate .
Вместе с тем, существует ряд областей использования СИ и ТСУИФ с подтвержденной моделью выходных сигналов (1), для которых чрезвычайно существен был бы оперативный, проводимый на месте контроль их точности (стабильности) вне зависимости от наличия эталонного устройства. В качестве примера можно привести процедуры аттестации и подтверждения соответствия в области технологической подготовки и сопровождения различных производств в части СИ и ТСУИФ, входящих в состав имеющихся автоматизированных систем управления технологическими процессами, а также аналогичные процедуры, используемые при испытаниях готовой продукции с ТСУИФ в своем составе и ориентированные на проверку их измерительных характеристик. Это касается также возможности различных систем выполнять самодиагностику своей измерительной части (при ее наличии), и, в особенности, - поддержания работоспособности различных автономных систем, что необходимо при функционировании космической, подводной и подземной (скважинной) аппаратуры, при геодезических работах, проводимых в удаленных районах, и т.п.At the same time, there are a number of uses of SI and TSUIF with a confirmed model of output signals (1), for which an operational, on-site control of their accuracy (stability) would be extremely important regardless of the presence of a reference device. As an example, we can cite the certification and conformity assessment procedures in the field of technological preparation and maintenance of various industries in terms of SI and TSUIF, which are part of the existing automated process control systems, as well as similar procedures used in testing finished products with TSUIF in their composition and focused on checking their measuring characteristics. This also applies to the ability of various systems to carry out self-diagnostics of their measuring part (if any), and, in particular, to maintain the operability of various autonomous systems, which is necessary for the operation of space, underwater and underground (downhole) equipment, during geodetic operations carried out in remote areas, etc.
К этому же типу можно отнести ряд собственно метрологических задач, особенностью которых является одновременное исследование нескольких однотипных СИ с целью их аттестации и взаимного сопоставления по точности в условиях отсутствия (или ограниченной доступности) более точного СИ. Это имеет место, например, при создании и эксплуатации групповых эталонов разных уровней, а также при проведении круговых сличений национальных и международных первичных эталонов.A number of metrological problems proper can be attributed to this type, a feature of which is the simultaneous study of several homogeneous SI with the aim of their certification and intercomparison in accuracy in the absence (or limited availability) of a more accurate SI. This takes place, for example, during the creation and operation of group standards at different levels, as well as during circular comparisons of national and international primary standards.
Задача, которая решается предлагаемым изобретением, заключается в увеличении области применения способа калибровки (поверки) рассматриваемых устройств.The problem that is solved by the invention is to increase the scope of the method of calibration (verification) of the devices in question.
Технический результат предложенного способа калибровки состоит в расширении границ области применения способа путем отказа от использования дополнительного эталонного устройства, имеющего известную и более высокую точность, а также в получении гарантированных оценок достоверности результатов калибровки и их повышенной эффективности по сравнению со способом-прототипом. Предложенный способ позволяет также полностью отказаться от использования специального генератора, формирующего необходимые значения входного сигнала.The technical result of the proposed calibration method consists in expanding the scope of the method by not using an additional reference device having a known and higher accuracy, as well as in obtaining guaranteed estimates of the reliability of the calibration results and their increased efficiency compared to the prototype method. The proposed method also allows you to completely abandon the use of a special generator that generates the necessary values of the input signal.
Задача решается путем использования, помимо исходного КУ, калибровку которого требуется выполнить изначально, двух или более дополнительных устройств, которые также предназначены для измерения той же самой величины Q, однако ни одному из них не придается эталонный статус, в том числе могут отсутствовать предварительные оценки их показателей точности. Это означает, что все устройства - и исходное калибруемое, и дополнительные - являются равноправными при калибровке. Другими словами, процедура калибровки по предлагаемому способу организуется как проводимая одновременно для всех участвующих в ней устройств, для которых в связи со сказанным будем далее использовать симметричные обозначения КУ-1, КУ-2, КУ-3 и т.д. В качестве показателей точности этих устройств, как и ранее, принимаем СКО случайной составляющей погрешности каждого КУ, которые обозначим соответственно σ1, σ2, σ3 и т.д., причем все они считаются неизвестными и подлежат оцениванию. При этом важно, что не накладывается никаких ограничений на соотношения этих параметров между собой: они могут быть как приблизительно попарно равными, так и значительно отличаться друг от друга. Конструктивно одновременно калибруемые устройства могут иметь сходство между собой (в том числе, быть несколькими экземплярами одного серийно выпускаемого устройства), или же принципиально различаться. Единственным обязательным требованием к каждому из устройств является соответствие модели его выходного сигнала соотношению (1), включая и соответствие всем аспектам обоснования этой модели.The problem is solved by using, in addition to the initial control unit, the calibration of which is required to be performed initially, of two or more additional devices that are also designed to measure the same Q value, however, none of them is given a reference status, including preliminary estimates of their accuracy indicators. This means that all devices - both the original calibrated and the additional ones - are equal in calibration. In other words, the calibration procedure according to the proposed method is organized as being carried out simultaneously for all devices involved in it, for which, in connection with the foregoing, we will use the symmetric designations KU-1, KU-2, KU-3, etc. As indicators of the accuracy of these devices, as before, we take the standard deviation of the random error component of each control unit, which we denote, respectively, σ 1 , σ 2 , σ 3 , etc., all of which are considered unknown and are subject to evaluation. It is important that there are no restrictions on the ratios of these parameters to each other: they can be both approximately pairwise equal and significantly differ from each other. Structurally simultaneously calibrated devices may have similarities between themselves (including being several instances of one commercially available device), or they may differ fundamentally. The only mandatory requirement for each of the devices is the conformity of the model of its output signal to the relation (1), including compliance with all aspects of the justification of this model.
Важно также, что для формирования входного сигнала Q(t) не требуется специальный генератор, поскольку калибровка по предлагаемому способу может выполняться в ходе оперативного наблюдения за контролируемым объектом (см. фиг. 1).It is also important that for the formation of the input signal Q (t), a special generator is not required, since the calibration by the proposed method can be performed during operational monitoring of the controlled object (see Fig. 1).
Обозначим через m общее количество участвующих в одновременной калибровке устройств. В зависимости от m предлагаемое изобретение может быть реализовано в двух модификациях:Denote by m the total number of devices involved in the simultaneous calibration. Depending on m, the present invention can be implemented in two versions:
1) минимальный (безызбыточный) случай, при m=3;1) the minimum (loss-free) case, with m = 3;
2) избыточный случай, при m>3.2) the excess case, for m> 3.
При этом вторая модификация отличается от первой лишь несколько более сложным алгоритмом обработки данных.Moreover, the second modification differs from the first only a slightly more complex data processing algorithm.
Для минимального случая сущность предлагаемого способа поясняет фиг. 3, на которой показано, что входной сигнал Q(t) подают одновременно на входы всех трех устройств, с последующим сравнением их показании S(1)(t), S(2)(t), S(3)(t).For a minimal case, the essence of the proposed method is illustrated in FIG. 3, which shows that the input signal Q (t) is supplied simultaneously to the inputs of all three devices, followed by a comparison of their readings S (1) (t), S (2) (t), S (3) (t).
Согласно модели (1) дискретных сигналов (i=1,2,…,n; j=1,2,3), их случайные погрешности удовлетворяют следующим условиям: ; при i1≠i2 и j,k∈{1,2,3}, а также при i1=i2 и j≠k, где параметры неизвестны. Обработка данных на первом этапе аналогична таковой для способа-прототипа, а именно: вычисляются последовательности разностей показаний выходных сигналов во всех сочетаниях их пар:According to the model (1) of discrete signals (i = 1,2, ..., n; j = 1,2,3), their random errors satisfy the following conditions: ; for i 1 ≠ i 2 and j, k∈ {1,2,3}, as well as for i 1 = i 2 and j ≠ k, where the parameters unknown. The data processing at the first stage is similar to that for the prototype method, namely: sequences of differences are calculated indications of output signals in all combinations of their pairs:
а затем - выборочные дисперсии этих последовательностей:and then sample variances of these sequences:
где индексы j,k∈{1,2,3} выбирают в соответствии с (6), a - средние значения разностей (6). При этом для каждой из трех выборочных дисперсий (7) остается в силе соотношение, аналогичное (4):where the indices j, k∈ {1,2,3} are chosen in accordance with (6), a - average values of differences (6). Moreover, for each of the three sample variances (7), a relation analogous to (4) remains valid.
Однако, в отличие от способа-прототипа, имеется уже не одно уравнение (4) с двумя неизвестными, а система трех линейных уравнений (8) относительно интересующих нас трех параметров . Очевидным решением системы (8) являются оценки:However, unlike the prototype method, there is already not one equation (4) with two unknowns, but a system of three linear equations (8) relative to the three parameters of interest to us . The obvious solution to system (8) are the estimates:
В отношении найденных оценок необходимо отметить следующие два важных аспекта. Во-первых, каждая из выборочных дисперсий (7), и, как следствие, система (8) в целом инвариантна относительно неизвестных остаточных сдвигов нулей {a j} калибруемых устройств, даже если они не являются малыми на фоне оцениваемых СКО {σj}. Это существенно ослабляет исходные требования к калибруемым устройствам. Во-вторых, выборочные дисперсии (7), являющиеся правыми частями системы (8), содержат преобразованные случайные погрешности , входящие в исходные данные . Более того, в силу соотношений (6) выборочные дисперсии (7) являются взаимно коррелированными. Эти факты могут привести к существенному ухудшению достоверности полученных результатов (9), вплоть до потери ими физического смысла. А именно, путем моделирования по известному методу Монте-Карло [12] было получено, что при умеренной длине реализаций n<1000 имеется значимо отличная от нуля вероятность того, что наименьшая из трех оценок окажется отрицательной. Указанная вероятность тем больше, чем меньше n и чем существеннее различие оцениваемых параметров между собой. Таким образом, ключевым вопросом возможности применения предлагаемого способа калибровки является анализ качества оценок , который и выполнен далее.In relation to the ratings found The following two important aspects should be noted. First, each of the sample variances (7), and, as a consequence, system (8) is generally invariant with respect to the unknown residual shifts of zeros { a j } of calibrated devices, even if they are not small against the background of the estimated standard deviations {σ j } . This significantly weakens the initial requirements for calibrated devices. Secondly, the sample variances (7), which are the right-hand sides of system (8), contain transformed random errors included in the source data . Moreover, by virtue of relations (6), sample variances (7) are mutually correlated. These facts can lead to a significant deterioration in the reliability of the results obtained (9), up to the loss of their physical meaning. Namely, by modeling according to the well-known Monte Carlo method [12], it was found that for a moderate length of implementations n <1000 there is a significantly non-zero probability that the smallest of the three estimates will be negative. The indicated probability is the greater, the smaller n and the more significant the difference in the estimated parameters between themselves. Thus, the key question of the applicability of the proposed calibration method is the analysis of the quality of the estimates , which is made further.
Прежде всего, оценки являются несмещенными, что следует из известного факта несмещенности выборочных дисперсий (7) [5] и линейности системы (8). Таким образом, главными и единственными параметрами качества оценок являются их дисперсии , характеризующие возможный случайный разброс оценок . Оценить эти дисперсии можно одним из двух способов, в зависимости от имеющейся в наличии априорной информации о виде функций распределения погрешностей устройств.First of all, estimates are unbiased, which follows from the well-known fact of non-bias of sample dispersions (7) [5] and linearity of system (8). Thus, the main and only parameters of the quality of estimates are their variances characterizing a possible random spread of estimates . These variances can be estimated in one of two ways, depending on the available a priori information on the form of the error distribution functions devices.
Первый из двух указанных способов применим, если допустимо считать эти функции распределения нормальными, что часто имеет место па практике. В этих предположениях были получены аналитические выражения для теоретических дисперсий оценок путем прямых преобразований соотношений (6)-(9). Опуская промежуточные громоздкие выкладки, приведем только результирующие выражения:The first of the two indicated methods is applicable if it is permissible to consider these distribution functions normal, which is often the case in practice. Under these assumptions, analytical expressions were obtained for theoretical variances of estimates by direct transformations of relations (6) - (9). Omitting the intermediate bulky calculations, we give only the resulting expressions:
где n - длина реализаций , а слагаемое O(n-2) означает величину того же порядка малости, что и n-2. В частности, при наличии информации об ориентировочных значениях параметров (хотя это и не предполагается обязательным в рассматриваемом изобретении) па основе (10) можно получить априорные оценки дисперсий оценок уже на этапе подготовки к проведению одновременной калибровки устройств. В общем же случае, после подстановки оценок в выражения (10) и выполнения ряда тождественных преобразований, можно получить следующие апостериорные оценки искомых дисперсий:where n is the length of the implementations , and the term O (n -2 ) means the value of the same order of smallness as n -2 . In particular, if there is information about the approximate values of the parameters (although this is not assumed to be mandatory in the present invention), based on (10), we can obtain a priori estimates of variances grades already at the stage of preparation for the simultaneous calibration of devices. In the general case, after substituting estimates into expressions (10) and the fulfillment of a number of identical transformations, we can obtain the following posterior estimates desired variances:
где n - длина реализаций , а выборочные дисперсии и оценки вычислены по (7), (9). При этом на практике удобнее от оценок дисперсий перейти к оценкам СКО , получаемым извлечением квадратных корней из . Одновременно с переходом к целесообразно преобразовать выражения (11) в относительную (безразмерную) форму указанного выше вида :where n is the length of the implementations , and sample variances and assessments calculated by (7), (9). Moreover, in practice, it is more convenient from variance estimates go to estimates of standard deviation obtained by extracting square roots from . Along with the transition to it is advisable to convert expressions (11) into the relative (dimensionless) form of the above form :
где все параметры определены в (11). Полученные формулы (12) позволяют сделать обоснованный вывод об уровнях достоверности каждой из трех оценок по отдельности. При этом целесообразно применять следующую ориентировочную шкалу указанных уровней:where all parameters are defined in (11). The obtained formulas (12) allow us to draw a reasonable conclusion about the confidence levels of each of the three estimates separately. It is advisable to use the following indicative scale of the indicated levels:
1) если оказалось, что , то оценка недостоверна; необходимо увеличить n и повторить эксперимент, с контролем всех требований модели (1) и в первую очередь - условия стационарности погрешностей;1) if it turned out that then the estimate unreliable; it is necessary to increase n and repeat the experiment, with the control of all the requirements of the model (1) and, first of all, the conditions of stationarity of errors;
2) при оценка является грубым приближением СКО σk;2) when assessment is a rough approximation of the standard deviation σ k ;
3) при оценка адекватна интересующему нас СКО σk.3) when assessment is adequate to the standard deviation of interest σ k .
Приведенные выше ориентировочные граничные значения (0,5 и 0,05) уровней достоверности могут быть изменены в зависимости от назначения калибруемых устройств. Кроме того, возможна ситуация, когда одна из трех оценок - а именно наименьшая из трех - окажется недостоверной, и, одновременно с этим, одна или обе из оставшихся оценок будут признаны достоверными. Это позволяет ограничить результаты калибровки по предлагаемому способу только одним или двумя из трех устройств, если они интересуют нас в первую очередь. В то же время, как следует из (12), возможно также и одновременное повышение уровня достоверности всех трех оценок , пропорционально (по крайней мере, до тех пор, пока сохраняется стационарность погрешностей всех участвующих в калибровке устройств).The approximate boundary values (0.5 and 0.05) of the confidence levels given above can be changed depending on the purpose of the calibrated devices. In addition, it is possible that one of the three ratings - namely, the smallest of the three - will turn out to be unreliable, and, at the same time, one or both of the remaining estimates will be deemed reliable. This allows you to limit the calibration results of the proposed method to only one or two of the three devices, if they are of interest to us in the first place. At the same time, as follows from (12), it is also possible to simultaneously increase the level of reliability of all three estimates proportionally (at least as long as the errors of all the devices involved in the calibration remain stationary).
Второй способ оценивания дисперсий оценок требует значительных объемов вычислений, и применять его следует при отсутствии априорной информации о виде указанных функций распределения, а также, если имеются основания сомневаться в их нормальности. Он использует известную процедуру «jack-knife» («складной нож») [12], относящуюся к группе методов так называемого численного ресэмплинга, и состоит в следующем. Среди множества i∈{1,2,…,n) всех номеров показаний фиксируют небольшую долю р этих номеров i∈{i1,i2,…,i[pn]}, где р∈[0,001; 0,05], а запись [pn] означает целую часть числа pn. При этом указанные номера выбирают случайным образом, и показания с этими номерами отбрасывают (блокируют). Для оставшихся троек показаний в количестве n’=n-[pn] выполняют обработку данных согласно (6)-(9), фиксируя полученные оценки , после чего отброшенные данные возвращают обратно. Указанную процедуру со случайным прореживанием данных многократно повторяют (число повторений М>103), каждый раз заново генерируя номера отбрасываемых показаний. Полученные варианты оценок стандартным образом усредняют и оценивают их дисперсии (по формулам, аналогичным (7)). По этим дисперсиям уже судят о достоверности усредненных оценок аналогично (11) и (12). При повышенных требованиях к достоверности процедуру оценивания этим способом целесообразно повторить для нескольких различных долей р временно отбрасываемых данных, чтобы убедиться в стабильности всех получаемых оценок; можно также увеличить число повторений М до 104 и более.The second method for estimating variances grades requires significant amounts of computation, and it should be applied in the absence of a priori information about the form of the indicated distribution functions, and also if there is reason to doubt their normality. He uses the well-known procedure “jack-knife” (“folding knife”) [12], which belongs to the group of methods of the so-called numerical resampling, and consists of the following. Among the set i∈ {1,2, ..., n) of all reading numbers fix a small fraction p of these numbers i∈ {i 1 , i 2 , ..., i [pn] }, where p∈ [0,001; 0.05], and the notation [pn] means the integer part of the number pn. Moreover, these numbers are randomly selected, and readings with these numbers are discarded (blocked). For the remaining triples of readings in the amount n '= n- [pn], the data are processed according to (6) - (9), fixing the estimates obtained after which the discarded data is returned back. The specified procedure with random data thinning is repeated many times (the number of repetitions M> 10 3 ), each time again generating the numbers of the discarded readings. Evaluation Options Received their variances are averaged and estimated in a standard way (using formulas similar to (7)). These variances are already judged on the reliability of the averaged estimates similarly to (11) and (12). With increased reliability requirements, the evaluation procedure in this way is advisable to repeat for several different fractions p of temporarily discarded data to ensure the stability of all received estimates; you can also increase the number of repetitions of M to 10 4 or more.
Перейдем к описанию избыточного случая m>3 предлагаемого способа калибровки. Как уже отмечалось, в процедурном плане он не отличается от минимального случая m=3. А именно, входной сигнал Q(t) подают одновременно на входы всех m устройств, с последующим сравнением их показаний S(j)(t), j∈{1,2,…,m}. Обработка полученных дискретных данных на первом этапе аналогична (6), (7) с единственным отличием, что в этом случае число всевозможных попарных разностей выходных сигналов будет превышать их количество m. Из этого следует, что система, аналогичная (8), будет избыточной. С учетом отмеченной выше коррелированности правых частей указанной системы, известным стандартным способом ее решения является обобщенный метод наименьших квадратов (далее - ОМНК) [5]. При этом особенностью применения ОМНК (также известной) является возможность получения апостериорных оценок дисперсий получаемых оценок , j∈{1,2,…,m), что автоматически решает проблему оценивания их достоверности.We proceed to describe the excess case m> 3 of the proposed calibration method. As already noted, in the procedural plan it does not differ from the minimum case m = 3. Namely, the input signal Q (t) is supplied simultaneously to the inputs of all m devices, followed by a comparison of their readings S (j) (t), j∈ {1,2, ..., m}. Processing discrete data at the first stage, it is similar to (6), (7) with the only difference that in this case the number all sorts of pairwise differences of the output signals will exceed their number m. It follows that a system similar to (8) will be redundant. Given the correlation of the right-hand sides of the indicated system noted above, the well-known standard method for solving it is the generalized least-squares method (hereinafter - OMNC) [5]. In this case, the peculiarity of using OMNC (also known) is the possibility of obtaining posterior estimates of the variances of the obtained estimates , j∈ {1,2, ..., m), which automatically solves the problem of evaluating their reliability.
Исходя из изложенного, заявленная совокупность признаков позволяет получить способ одновременной калибровки (понимаемой в указанном выше смысле) трех и более устройств с измерительными функциями, являющихся однотипными по измеряемой величине, в условиях отсутствия эталонного устройства или эталонного испытательного сигнала.Based on the foregoing, the claimed combination of features allows to obtain a method for the simultaneous calibration (understood in the above sense) of three or more devices with measuring functions that are the same in measured size in the absence of a reference device or a reference test signal.
В качестве первого примера конкретной реализации предлагаемого способа возьмем случай одновременной калибровки трех приблизительно равных по точности устройств (например, являющихся несколькими экземплярами серийно выпускаемого устройства) с соотношением СКО случайной составляющей их погрешностей σ1:σ2:σ3≈1:1:1. В этой ситуации, как следует из формул (10)-(12), удовлетворительные оценки всех трех параметров (они также будут приблизительно равноточными) получаем, начиная уже с n=500, что является реально достижимом на практике. При этом важно, что предлагаемый способ калибровки не опирается на указанный выше факт приблизительного равенства оцениваемых СКО и, более того, позволяет его проверить по завершении калибровки и получении адекватных оценок .As a first example of a specific implementation of the proposed method, we take the case of simultaneous calibration of three devices with approximately equal accuracy (for example, which are several instances of a mass-produced device) with the standard deviation ratio of their random error component σ 1 : σ 2 : σ 3 ≈ 1: 1: 1. In this situation, as follows from formulas (10) - (12), we obtain satisfactory estimates of all three parameters (they will also be approximately equal) starting from n = 500, which is actually achievable in practice. It is important that the proposed calibration method does not rely on the fact of the approximate equality of the estimated standard deviations and, moreover, allows it to be checked after calibration is completed and adequate estimates are obtained .
Вторым примером может служить одновременная калибровка трех устройств с соотношением по точности σ1:σ2:σ3≈3:1:1, где первое устройство является основным (интересующим нас в первую очередь), а два других - дополнительными, но которые приблизительно втрое точнее основного. В этой ситуации удовлетворительные оценки основного параметра σ1 могут быть получены, начиная с n=223 (но при этом оценки вспомогательных параметров σ2, σ3 остаются весьма грубыми: , k=2,3). Если же нас интересуют адекватные оценки всех трех параметров, то следует обеспечить n>2100, что также реально достижимо на практике.A second example is the simultaneous calibration of three devices with a ratio of accuracy of σ 1 : σ 2 : σ 3 ≈3: 1: 1, where the first device is the main one (of interest to us first), and the other two are complementary, but which are approximately three times more precisely the main one. In this situation, satisfactory estimates of the main parameter σ 1 can be obtained starting from n = 223 (but at the same time, estimates of the auxiliary parameters σ 2 , σ 3 remain very rough: , k = 2,3). If we are interested in adequate estimates of all three parameters, then n> 2100 should be ensured, which is also achievable in practice.
Наконец, в качестве третьего примера возьмем ситуацию, обратную предыдущей: пусть требуется выполнить одновременную калибровку трех устройств с соотношением по точности σ1:σ2:σ3≈1:3:3, где первое устройство опять является основным, а два других - дополнительными, но которые на этот раз приблизительно втрое хуже по точности основного. В этой ситуации также можно получить удовлетворительные оценки основного параметра σ1, но уже при достаточно жестком условии n>10100, что может потребовать дополнительных усилий для обеспечения стационарности погрешностей калибруемых устройств на протяжении всего времени измерений, длительность которого зависит от периода съема данных Δt и может лежать в диапазоне от нескольких минут до нескольких часов (и шире).Finally, as a third example, we take the situation opposite to the previous one: let it be necessary to simultaneously calibrate three devices with an accuracy ratio of σ 1 : σ 2 : σ 3 ≈1: 3: 3, where the first device is again the main one, and the other two are additional but which this time is about three times worse in accuracy than the main one. In this situation, it is also possible to obtain satisfactory estimates of the main parameter σ 1 , but already under a rather stringent condition n> 10100, which may require additional efforts to ensure the stationary errors of the calibrated devices throughout the measurement time, the duration of which depends on the data acquisition period Δt and can lie in the range from a few minutes to several hours (and wider).
При этом нетрудно видеть, что в условиях второго примера способ-прототип, хотя и может быть формально применен, однако без гарантированных оценок достоверности получаемых результатов. В условиях первого и третьего примеров способ-прототип принципиально не допускает применения. Более того, следует обратить внимание на ставшее традиционным широко распространенное мнение, что аттестовать показатели точности измерительного устройства без обязательной опоры на более точное (эталонное) устройство невозможно. Однако предлагаемый способ позволяет успешно решить, в том числе, и подобную задачу.It is easy to see that, in the conditions of the second example, the prototype method, although it can be formally applied, however, without guaranteed estimates of the reliability of the results. In the conditions of the first and third examples, the prototype method fundamentally does not allow application. Moreover, one should pay attention to the widely accepted opinion that it is impossible to certify the accuracy of a measuring device without necessarily relying on a more accurate (reference) device. However, the proposed method can successfully solve, including a similar problem.
Работоспособность предлагаемого способа калибровки проверена на практике с помощью одновременных лабораторных испытаний трех экземпляров высокоточного частотомера CNT-90 (изготовитель Pendulum Instruments АВ, Швеция) путем многократных параллельных измерений ими несущей частоты различных кварцевых генераторов (в том числе, низкостабильных, существенно зависящих от температуры и других факторов). Полученные с помощью предлагаемого способа достоверные оценки СКО случайных погрешностей испытуемых приборов позволили не только подтвердить их соответствие своим паспортным данным, но и выполнить их индивидуальное ранжирование по этому показателю и выбрать наиболее точный из трех приборов. Таким образом, фактически была выполнена поверка указанных приборов (в части оценивания СКО их случайных погрешностей), однако при этом не потребовались дорогостоящие еще более точные эталонные (образцовые) приборы.The operability of the proposed calibration method has been tested in practice using simultaneous laboratory tests of three copies of the high-precision frequency meter CNT-90 (manufactured by Pendulum Instruments AB, Sweden) by repeatedly measuring the carrier frequency of various crystal oscillators (including low-stability, temperature-dependent and others factors). Obtained using the proposed method, reliable estimates of the standard deviation of random errors of the tested devices made it possible not only to confirm their compliance with their passport data, but also to perform their individual ranking by this indicator and choose the most accurate of the three devices. Thus, the verification of these instruments was actually performed (in terms of estimating the standard deviations of their random errors), however, they did not require expensive even more accurate reference (model) instruments.
ИсточникиSources
1. РМГ 29-2013 «ГСИ. Метрология. Основные термины и определения».1. RMG 29-2013 “GSI. Metrology. Basic terms and definitions. "
2. ГОСТ Р 8.674-2009 «ГСИ. Общие требования к средствам измерений и техническим системам и устройствам с измерительными функциями».2. GOST R 8.674-2009 "GSI. General requirements for measuring instruments and technical systems and devices with measuring functions. "
3. МИ 1317-2004 «ГСИ. Результаты и характеристики погрешности измерений. Формы представления. Способы использования при испытаниях образцов продукции и контроле их параметров».3. MI 1317-2004 “GSI. Results and characteristics of measurement error. Presentation Forms. Ways to use when testing product samples and monitoring their parameters. ”
4. А.М. Яглом. Введение в теорию стационарных случайных функций. - УМН, 1952, том 7, выпуск 5(51), с. 3-168.4. A.M. Yaglom. Introduction to the theory of stationary random functions. - UMN, 1952, volume 7, issue 5 (51), p. 3-168.
5. Г. Крамер. Математические методы статистики. - М.: Мир, изд. 2-е, стер., 1975. - 648 с.5. G. Kramer. Mathematical methods of statistics. - M.: Mir, ed. 2nd, eras., 1975 .-- 648 p.
6. www.vniims.ru/inst/gosreestr.html6. www.vniims.ru/inst/gosreestr.html
7. Бурдун Г.Д., Марков Б.Н. Основы метрологии. - М.: стандартов, 1975. - 336 с.7. Burdun G.D., Markov B.N. Fundamentals of Metrology. - M .: standards, 1975 .-- 336 s.
8. Асташенков А.И., Немчинов Ю.В., Лысенко В.Г. Теория и практика поверки и калибровки. - М.: Изд-во стандартов, 1994. - 142 с.8. Astashenkov A.I., Nemchinov Yu.V., Lysenko V.G. Theory and practice of verification and calibration. - M .: Publishing house of standards, 1994. - 142 p.
9. Сергеев А.Г., Крохин В.В. Метрология: Учеб. пособие для вузов. - М.: Логос, 2001. - 408 с.9. Sergeev A.G., Krokhin V.V. Metrology: Textbook. manual for universities. - M .: Logos, 2001 .-- 408 p.
10. Маликов М.Ф. Основы метрологии. - М.: Изд-во Коммерприбор, 1949. - 480 с.10. Malikov M.F. Fundamentals of Metrology. - M.: Publishing house Kommerpribor, 1949. - 480 p.
11. Рабинович С.Г. Погрешности измерений. - Л.: Энергия, 1978. - 262 с.11. Rabinovich S.G. Measurement errors. - L .: Energy, 1978.- 262 p.
12. Мостеллер Ф., Тьюки Дж. Анализ данных и регрессия (в 2-х вып.). Вып. 1. - М.: Финансы и статистика, 1982. - 317 с.12. Mosteller F., Tukey J. Data Analysis and Regression (in 2 issues). Vol. 1. - M .: Finance and statistics, 1982. - 317 p.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2016132964A RU2625642C1 (en) | 2016-08-09 | 2016-08-09 | Method of simultaneous calibration of three and more single-different devices with measuring functions without support to the reference device or reference test signal |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2016132964A RU2625642C1 (en) | 2016-08-09 | 2016-08-09 | Method of simultaneous calibration of three and more single-different devices with measuring functions without support to the reference device or reference test signal |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2625642C1 true RU2625642C1 (en) | 2017-07-17 |
Family
ID=59495366
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2016132964A RU2625642C1 (en) | 2016-08-09 | 2016-08-09 | Method of simultaneous calibration of three and more single-different devices with measuring functions without support to the reference device or reference test signal |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2625642C1 (en) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2222707C2 (en) * | 1998-07-22 | 2004-01-27 | Дженерал Электрик Компани | Method of calibration of great number of slave mechanisms connected to drive ring on control system for turning exhaust flaps in rotating nozzle and control system to regulate travel of great number of slave mechanisms distributed over circumference |
EP2040042A1 (en) * | 2006-06-20 | 2009-03-25 | Konstantin Anatolyevich Zharinov | Method for producing multidimensional calibrating patterns |
RU2466369C2 (en) * | 2007-11-21 | 2012-11-10 | Вольво Констракшн Эквипмент Аб | Method of calibrating sensors |
RU2532613C1 (en) * | 2010-08-27 | 2014-11-10 | Майкро Моушн, Инк. | Approval of sensor assembly |
RU2541704C2 (en) * | 2013-03-19 | 2015-02-20 | Общество с ограниченной ответственностью "Компания "Нординкрафт" | Method to calibrate and tune system of laser sensors and device for its realisation |
-
2016
- 2016-08-09 RU RU2016132964A patent/RU2625642C1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2222707C2 (en) * | 1998-07-22 | 2004-01-27 | Дженерал Электрик Компани | Method of calibration of great number of slave mechanisms connected to drive ring on control system for turning exhaust flaps in rotating nozzle and control system to regulate travel of great number of slave mechanisms distributed over circumference |
EP2040042A1 (en) * | 2006-06-20 | 2009-03-25 | Konstantin Anatolyevich Zharinov | Method for producing multidimensional calibrating patterns |
EA012950B1 (en) * | 2006-06-20 | 2010-02-26 | Константин Анатольевич Жаринов | Method for producing multidimensional calibrating patterns stable to modifications of properties affecting measuring results |
RU2466369C2 (en) * | 2007-11-21 | 2012-11-10 | Вольво Констракшн Эквипмент Аб | Method of calibrating sensors |
RU2532613C1 (en) * | 2010-08-27 | 2014-11-10 | Майкро Моушн, Инк. | Approval of sensor assembly |
RU2541704C2 (en) * | 2013-03-19 | 2015-02-20 | Общество с ограниченной ответственностью "Компания "Нординкрафт" | Method to calibrate and tune system of laser sensors and device for its realisation |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Rabinovich et al. | Evaluating measurement accuracy | |
CN106124033B (en) | Large-trigger-delay accumulated calibration method for laser vibration measurement calibration | |
RU2625642C1 (en) | Method of simultaneous calibration of three and more single-different devices with measuring functions without support to the reference device or reference test signal | |
Kyriazis | A simple algorithm for Bayesian signal analysis with applications to metrology | |
Pecheritsa et al. | Calibration of simulators of the signals of global navigation satellite systems | |
Chunovkina et al. | The problem of determining and adjusting the inter-calibration intervals of measuring instruments | |
Hoffmann et al. | A stable bayesian vector network analyzer calibration algorithm | |
Huang | A paradox in measurement uncertainty analysis | |
Hall | On the expression of measurement uncertainty for complex quantities with unknown phase | |
Vaganov | Information approach to estimation of an optical spectral device efficiency | |
von Martens | Metrology of vibration measurements by laser techniques | |
Granovskii et al. | Testing the INS Heading Channel by Comparing it to the Reference Channel with a Zero Systematic Error | |
Norpulatovich | Quantification of the uncertainty of measurement results | |
Atlas | Using Simple Linear Regression For Instrument Calibration? | |
US11719750B2 (en) | Measurement uncertainty and measurement decision risk analysis tool and related methods | |
Low | An Empirical Approach to Determining Rockwell Hardness Measurement Uncertainty | |
Shukla et al. | Errors and Uncertainties in Calibration | |
Rabinovich et al. | Direct Measurements | |
Ravilov et al. | Metrology and Standardization in Geomechanical Modeling | |
Zakharov et al. | Main stages of calibration of measuring instruments | |
Maksimenko | Distribution Function for Estimates of Allan Variance: Theory and Practice | |
Delčev et al. | Necessity of involvement of calibration laboratories in proficiency testing schemes | |
Ekici et al. | International Bilateral Inter-laboratory Comparison Measurements Between Public Institutions for Dry-Block Calibrator and Thermometer Calibrations | |
Wojtukiewicz | Determination of measurement uncertainty as a necessary condition confirming the reliability of measurement results | |
Štroner et al. | Determination of variation components of measurement from adjustment results |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20200810 |