[go: up one dir, main page]

RU2016133574A - Способ масс-спектрометрического анализа ионов в трехмерной ионной ловушке и устройство для его осуществления - Google Patents

Способ масс-спектрометрического анализа ионов в трехмерной ионной ловушке и устройство для его осуществления Download PDF

Info

Publication number
RU2016133574A
RU2016133574A RU2016133574A RU2016133574A RU2016133574A RU 2016133574 A RU2016133574 A RU 2016133574A RU 2016133574 A RU2016133574 A RU 2016133574A RU 2016133574 A RU2016133574 A RU 2016133574A RU 2016133574 A RU2016133574 A RU 2016133574A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
ions
quadrupole
electric field
ion trap
working volume
Prior art date
Application number
RU2016133574A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2650497C2 (ru
Inventor
Олег Васильевич Рожков
Виктор Анатольевич Пушкин
Евгений Владимирович Свадковский
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет" filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет"
Priority to RU2016133574A priority Critical patent/RU2650497C2/ru
Publication of RU2016133574A publication Critical patent/RU2016133574A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2650497C2 publication Critical patent/RU2650497C2/ru

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Claims (5)

1. Способ масс-спектрометрического анализа в квадрупольном масс-спектрометре типа трехмерной ионной ловушки, содержащий этап ионизации газа в рабочем объеме датчика анализатора либо ввода ионов в рабочий объем датчика анализатора извне, захвата и удержания в рабочем объеме датчика анализатора квадрупольным высокочастотным электрическим полем ионов заданного диапазона удельных зарядов, этап сортировки ионов по удельным зарядам путем селективного последовательного вывода захваченных и удерживаемых ионов в измерительное устройство путем изменения параметров высокочастотного квадрупольного электрического поля и детектирования количества ионов, выходящих из рабочего объема датчика анализатора, отличающийся тем, что этап ионизации/ввода ионов осуществляется в линейном квадрупольном высокочастотном электрическом поле, а этап сортировки - в нелинейном квадрупольном высокочастотном электрическом поле, для чего между этапами ионизации/ввода и сортировки торцевые электроды ловушки хотя бы один раз сдвигают из положения, соответствующего формированию в рабочем объеме датчика анализатора линейного квадрупольного высокочастотного электрического поля, в положение, при котором в рабочем объеме датчика анализатора создается нелинейное квадрупольное высокочастотное электрическое поле.
2. Способ масс-спектрометрического анализа в квадрупольном масс-спектрометре типа трехмерной ионной ловушки по п. 1, отличающийся тем, что сдвиг электродов происходит ступенчато, в один или несколько этапов.
3. Способ масс-спектрометрического анализа в квадрупольном масс-спектрометре типа трехмерной ионной ловушки по пп. 1 и 2, отличающийся тем, что сдвиг торцевых электродов происходит с задержкой перемещения одного из них по отношению к другому.
4. Квадрупольный масс-спектрометр типа трехмерной ионной ловушки, включающий источник ионизирующего излучения и/или источник ионов, блок управления ионизацией/вводом ионов, датчик масс-анализатора, состоящий из кольцевого и двух торцевых электродов, детектор ионов, блок формирования питающего высокочастотного и постоянного напряжения, подаваемого между кольцевым и торцевыми электродами, блок управления рабочим циклом, блок приема и обработки информации, вакуумный насос, отличающийся тем, что торцевые электроды могут перемещаться в осевом направлении.
5. Квадрупольный масс-спектрометр типа трехмерной ионной ловушки по п. 4, отличающийся тем, что для перемещения торцевых электродов включает в себя хотя бы один механический двигатель.
RU2016133574A 2016-08-15 2016-08-15 Способ масс-спектрометрического анализа ионов в трехмерной ионной ловушке и устройство для его осуществления RU2650497C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016133574A RU2650497C2 (ru) 2016-08-15 2016-08-15 Способ масс-спектрометрического анализа ионов в трехмерной ионной ловушке и устройство для его осуществления

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2016133574A RU2650497C2 (ru) 2016-08-15 2016-08-15 Способ масс-спектрометрического анализа ионов в трехмерной ионной ловушке и устройство для его осуществления

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2016133574A true RU2016133574A (ru) 2018-02-19
RU2650497C2 RU2650497C2 (ru) 2018-04-16

Family

ID=61227597

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2016133574A RU2650497C2 (ru) 2016-08-15 2016-08-15 Способ масс-спектрометрического анализа ионов в трехмерной ионной ловушке и устройство для его осуществления

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2650497C2 (ru)

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3886922T2 (de) * 1988-04-13 1994-04-28 Bruker Franzen Analytik Gmbh Methode zur Massenanalyse einer Probe mittels eines Quistors und zur Durchführung dieses Verfahrens entwickelter Quistor.
US5714755A (en) * 1996-03-01 1998-02-03 Varian Associates, Inc. Mass scanning method using an ion trap mass spectrometer
US6787767B2 (en) * 2001-11-07 2004-09-07 Hitachi High-Technologies Corporation Mass analyzing method using an ion trap type mass spectrometer
JP4369454B2 (ja) * 2006-09-04 2009-11-18 株式会社日立ハイテクノロジーズ イオントラップ質量分析方法
RU2576673C2 (ru) * 2014-08-06 2016-03-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт энергетических проблем химической физики им. В.Л. Тальрозе Российской академии наук Способ анализа примесей в газовых смесях при их напуске в виде внеосевого сверхзвукового газового потока через источник электронной ионизации и радиочастотный квадруполь с последующим выводом ионов в масс-анализатор

Also Published As

Publication number Publication date
RU2650497C2 (ru) 2018-04-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9916968B1 (en) In-source collision-induced heating and activation of gas-phase ions for spectrometry
US9029763B2 (en) Ion deflection in time-of-flight mass spectrometry
JP4033133B2 (ja) 質量分析装置
US8664591B2 (en) Adjusting energy of ions ejected from ion trap
JP2014078532A5 (ru)
US20080203292A1 (en) Mass spectrometer
KR102031968B1 (ko) 동기된 이온 개질
CN109643632B (zh) 四极装置
WO2013067366A4 (en) Ion mobility spectrometer
US9048077B2 (en) Systems, devices, and methods for sample analysis using mass spectrometry
RU2012113416A (ru) Способ масс-спектрометрического определения молекул
JP2018522211A (ja) オーバーサンプル型飛行時間質量分析
WO2018125441A1 (en) Ionization chamber having a potential-well for ion trapping and ion compression
JP6339188B2 (ja) 二極性スパークイオン源
JP2008282594A (ja) イオントラップ型質量分析装置
CN112216594A (zh) 质谱分析装置
JP2007280655A (ja) 質量分析装置
CN107923872B (zh) 串联型质谱分析装置
JP6006322B2 (ja) 質量分析装置および質量分離装置
RU2016133574A (ru) Способ масс-спектрометрического анализа ионов в трехмерной ионной ловушке и устройство для его осуществления
EP1703542A2 (en) Apparatus and method with improved sensitivity and duty cycle
JP2021061108A5 (ru)
KR101286561B1 (ko) 전자 포획 분해용 렌즈, 이를 포함하는 푸리에 변환 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기 및 푸리에 변환 이온 싸이클로트론 공명 질량 분석기의 신호 개선을 위한 방법
JP2005071826A (ja) 質量分析装置
Brkić et al. Modeling of an ion source lens system for sensitivity enhancement in a non-scanning linear ion trap

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20180816