Claims (20)
1. Способ управления процессом производства слоистой подложки (12), включающим в себя стадии нанесения (30) отвердителя на упомянутую подложку (12); нанесения смолы на упомянутую подложку (12); и транспортирования упомянутой подложки (12) к прессу (20) посредством транспортировочного средства (14), где на этапе прессования на упомянутую подложку (12) наносят (38) по меньшей мере один слой с тем, чтобы сформировать слоистую подложку, причем упомянутый способ дополнительно включает в себя этапы:1. The method of controlling the production process of a layered substrate (12), including the stage of applying (30) hardener to said substrate (12); applying resin to said substrate (12); and transporting said substrate (12) to a press (20) by means of a transport means (14), where at least one layer is applied to said substrate (12) in a pressing step (38) so as to form a layered substrate, said method further includes the steps of:
сбора (32) по меньшей мере одного первого набора данных измерений, относящихся к параметрам упомянутой подложки (12), на первой стадии процесса с использованием первого измерительного средства (24), причем упомянутая первая стадия процесса располагается выше по ходу относительно упомянутого этапа прессования в направлении (А) поступательного перемещения упомянутого транспортировочного средства (14);collecting (32) at least one first set of measurement data related to the parameters of said substrate (12) at a first stage of the process using the first measuring means (24), said first stage of the process being located upstream of said pressing stage in the direction (A) the progressive movement of said transport means (14);
сбора (34) по меньшей мере одного второго набора данных измерений, относящихся к параметрам упомянутой подложки (12), на второй стадии процесса с использованием второго измерительного средства (26), причем упомянутая вторая стадия процесса располагается выше по ходу относительно упомянутого этапа прессования и ниже по ходу относительно упомянутой первой стадии процесса в направлении (А) поступательного перемещения упомянутого транспортировочного средства (14); иcollecting (34) at least one second set of measurement data related to the parameters of said substrate (12), in a second process step using a second measuring means (26), said second process step being located upstream of said pressing step and lower along the said first stage of the process in the direction (A) of the translational movement of the aforementioned transport means (14); and
управления (36) количеством смолы, подлежащей нанесению на подложку (12) на упомянутой стадии нанесения смолы во время упомянутого процесса производства слоистых подложек, с использованием собранных данных измерений с упомянутой первой и второй стадии процесса и рассчитанной градуировочной модели, причем упомянутая модель основана на данных измерений подложек, собранных на упомянутой первой и/или второй стадии процесса.control (36) the amount of resin to be applied to the substrate (12) at said resin deposition step during said layered substrate manufacturing process using the collected measurement data from said first and second process steps and a calculated calibration model, said model being based on data measuring substrates collected in said first and / or second stage of the process.
2. Способ по п.1, в котором этап управления (36) включает в себя этап:2. The method according to claim 1, in which the control step (36) includes the step of:
сравнения упомянутых данных измерений подложки, собранных на упомянутой первой и второй стадии процесса, с реперными данными упомянутой рассчитанной градуировочной модели во время производства слоистой подложки.comparing said substrate measurement data collected in said first and second process steps with benchmark data of said calculated calibration model during production of a layered substrate.
3. Способ по п.1 или 2, в котором упомянутая первая стадия процесса располагается выше по ходу относительно упомянутой стадии нанесения (30) отвердителя на упомянутую подложку (12).3. The method according to claim 1 or 2, in which said first stage of the process is located upstream relative to said stage of applying (30) hardener to said substrate (12).
4. Способ по п.1 или 2, в котором упомянутая вторая стадия процесса располагается ниже по ходу относительно упомянутой стадии нанесения смолы на упомянутую подложку (12).4. The method according to claim 1 or 2, in which said second stage of the process is located downstream relative to said stage of applying the resin to said substrate (12).
5. Способ по п.1 или 2, дополнительно включающий в себя этапы:5. The method according to claim 1 or 2, further comprising the steps of:
получения данных, относящихся к дозировке отвердителя, наносимого на подложку во время производства слоистой подложки;obtaining data related to the dosage of hardener applied to the substrate during the production of the layered substrate;
иand
использования упомянутых данных о дозировке отвердителя на упомянутом этапе управления (36).using said hardener dosage data at said control step (36).
6. Способ по п.1 или 2, дополнительно включающий в себя этапы:6. The method according to claim 1 or 2, further comprising the steps of:
получения данных, относящихся к линейной скорости упомянутого конвейера во время производства слоистой подложки; иobtaining data related to the linear velocity of said conveyor during the production of the layered substrate; and
использования упомянутых данных о линейной скорости на упомянутом этапе управления (36).using said linear velocity data at said control step (36).
7. Способ по п.1 или 2, в котором упомянутую градуировочную модель рассчитывают посредством многомерного анализа.7. The method according to claim 1 or 2, in which said calibration model is calculated by means of multivariate analysis.
8. Способ по п.1 или 2, дополнительно включающий в себя этапы:8. The method according to claim 1 or 2, further comprising the steps of:
сбора данных измерений испытательных образцов подложки на упомянутой первой стадии процесса;collecting measurement data of the test samples of the substrate in said first stage of the process;
сведения собранных на упомянутой первой стадии процесса данных измерений упомянутых испытательных образцов в по меньшей мере одну матрицу;information collected at the first stage of the process of measurement data of the said test samples in at least one matrix;
расчета первой субмодели для упомянутой первой стадии процесса с использованием многомерного анализа; иcalculating a first submodel for said first stage of the process using multivariate analysis; and
получения, на второй стадии процесса с по меньшей мере первой стадии процесса, информации, относящейся к многомерной субмодели, рассчитанной по меньшей мере для упомянутой первой стадии процесса.obtaining, in the second stage of the process with at least the first stage of the process, information related to the multidimensional submodel calculated for at least the first stage of the process.
9. Способ по п.1 или 2, в котором упомянутые данные измерений собирают посредством спектрометрического метода и/или из технологических переменных.9. The method according to claim 1 or 2, wherein said measurement data is collected by a spectrometric method and / or from process variables.
10. Способ по п.9, в котором упомянутый спектрометрический метод использует ультрафиолетовый, инфракрасный, ближний инфракрасный или видимый свет.10. The method according to claim 9, in which said spectrometric method uses ultraviolet, infrared, near infrared or visible light.
11. Система (10) управления процессом производства слоистой подложки (12), включающая в себя средство (16) нанесения отвердителя на упомянутую подложку; средство (18) нанесения смолы на упомянутую подложку; и транспортировочное средство (14), приспособленное для поступательного перемещения упомянутой подложки (12) к прессовочному средству (20), приспособленному для нанесения по меньшей мере одного слоя на упомянутую подложку (12) с тем, чтобы сформировать слоистую подложку, причем упомянутая система дополнительно включает в себя:11. The system (10) for controlling the production process of a layered substrate (12), including means (16) for applying a hardener to said substrate; means for applying resin to said substrate; and a transport means (14) adapted to translate said substrate (12) to a pressing means (20) adapted to deposit at least one layer on said substrate (12) so as to form a layered substrate, said system further comprising in itself:
первое измерительное средство (24), приспособленное для сбора по меньшей мере одного первого набора данных измерений, относящихся к параметрам упомянутой подложки (12), на первой стадии процесса, причем упомянутое первое измерительное средство (24) располагается выше по ходу относительно упомянутого прессовочного средства (20) в направлении (А) поступательно перемещения упомянутого транспортировочного средства (14);first measuring means (24), adapted to collect at least one first set of measurement data related to the parameters of said substrate (12), in a first stage of a process, said first measuring means (24) being located upstream of said pressing means ( 20) in the direction (A) of the progressive movement of said transport means (14);
второе измерительное средство (26), приспособленное для сбора по меньшей мере одного второго набора данных измерений, относящихся к параметрам упомянутой подложки (12), на второй стадии процесса, причем упомянутое второе измерительное средство (26) располагается выше по ходу относительно упомянутого прессовочного средства (20) и ниже по ходу относительно упомянутого первого измерительного средства (24) в направлении (А) поступательного перемещения упомянутого транспортировочного средства (14); иa second measuring means (26) adapted to collect at least one second set of measurement data related to the parameters of said substrate (12) in a second process step, said second measuring means (26) being located upstream of said pressing means ( 20) and downstream of said first measuring means (24) in the direction (A) of the translational movement of said transport means (14); and
средство (28) управления, соединенное с упомянутыми первым и вторым измерительными средствами (24, 26) и приспособленное для управления упомянутым средством (18) нанесения смолы с тем, чтобы определять количество смолы, подлежащей нанесению на подложку во время упомянутого процесса производства слоистой подложки, с использованием собранных данных измерений с упомянутой первой и второй стадии процесса и рассчитанной градуировочной модели, причем упомянутая модель основана на данных измерений подложки, собранных на упомянутой первой и/или второй стадии процесса.control means (28) connected to said first and second measuring means (24, 26) and adapted to control said resin applying means (18) so as to determine the amount of resin to be applied to the substrate during said process of manufacturing a layered substrate, using the collected measurement data from the aforementioned first and second stage of the process and the calculated calibration model, and the said model is based on the measurement data of the substrate collected on the aforementioned first and / or W stage of the process.
12. Система по п.11, в которой упомянутое средство (28) управления приспособлено для сравнения упомянутых данных измерений, собранных с подложки на упомянутых первой и второй стадиях процесса, с реперными данными упомянутой рассчитанной градуировочной модели во время производства слоистой подложки.12. The system of claim 11, wherein said control means (28) is adapted to compare said measurement data collected from a substrate in said first and second process steps with benchmark data of said calculated calibration model during the production of a layered substrate.
13. Система по п.11 или 12, в которой упомянутое первое измерительное средство (24) располагается выше по ходу относительно упомянутого средства (16) нанесения отвердителя.13. The system according to claim 11 or 12, in which said first measuring means (24) is located upstream of said hardener applying means (16).
14. Система по п.11 или 12, в которой упомянутое второе измерительное средство (26) располагается ниже по ходу относительно упомянутого средства (18) нанесения смолы.14. The system of claim 11 or 12, wherein said second measuring means (26) is located downstream of said resin applying means (18).
15. Система по п.11 или 12, в которой упомянутое первое измерительное средство (24) представляет собой датчик, приспособленный для сбора данных посредством спектрометрического метода.15. The system according to claim 11 or 12, wherein said first measuring means (24) is a sensor adapted to collect data by a spectrometric method.
16. Система по п.11 или 12, в которой упомянутое второе измерительное средство (26) представляет собой датчик, приспособленный для сбора данных посредством спектрометрического метода.16. The system of claim 11 or 12, wherein said second measuring means (26) is a sensor adapted to collect data by a spectrometric method.
17. Система (10) управления процессом производства слоистой подложки (12) на технологической линии, причем упомянутая технологическая линия включает в себя средство (16) нанесения отвердителя на упомянутую подложку; средство (18) нанесения смолы на упомянутую подложку; и транспортировочное средство (14), приспособленное для поступательного перемещения упомянутой подложки (12) к прессовочному средству (20), приспособленному для нанесения по меньшей мере одного слоя на упомянутую подложку (12) с тем, чтобы сформировать слоистую подложку, причем упомянутая система дополнительно включает в себя:17. The system (10) for controlling the production process of a layered substrate (12) on a production line, said technological line including means (16) for applying a hardener to said substrate; means for applying resin to said substrate; and a transport means (14) adapted to translate said substrate (12) to a pressing means (20) adapted to deposit at least one layer on said substrate (12) so as to form a layered substrate, said system further comprising in itself:
первое измерительное средство (24), приспособленное для сбора по меньшей мере одного первого набора данных измерений, относящихся к параметрам упомянутой подложки (12), на первой стадии процесса, причем упомянутое первое измерительное средство (24) располагается выше по ходу относительно упомянутого прессовочного средства (20) в направлении поступательного перемещения упомянутого транспортировочного средства (14);first measuring means (24), adapted to collect at least one first set of measurement data related to the parameters of said substrate (12), in a first stage of a process, said first measuring means (24) being located upstream of said pressing means ( 20) in the direction of translational movement of said transport means (14);
второе измерительное средство (26), приспособленное для сбора по меньшей мере одного второго набора данных измерений, относящихся к параметрам упомянутой подложки (12), на второй стадии процесса, причем упомянутое второе измерительное средство (26) располагается выше по ходу относительно упомянутого прессовочного средства (20) и ниже по ходу относительно упомянутого первого измерительного средства (24) в направлении поступательного перемещения упомянутого транспортировочного средства (14); иa second measuring means (26) adapted to collect at least one second set of measurement data related to the parameters of said substrate (12) in a second process step, said second measuring means (26) being located upstream of said pressing means ( 20) and downstream of said first measuring means (24) in the direction of translational movement of said transport means (14); and
средство (28) управления, соединенное с упомянутыми первым и вторым измерительными средствами (24, 26) и приспособленное для управления упомянутым средством нанесения смолы с тем, чтобы определять количество смолы, подлежащей нанесению на подложку (12) во время упомянутого процесса производства слоистой подложки, с использованием собранных данных измерений с упомянутой первой и второй стадии процесса и рассчитанной градуировочной модели, причем упомянутая модель основана на данных измерений подложек, собранных на упомянутой первой и/или второй стадии процесса.control means (28) connected to said first and second measuring means (24, 26) and adapted to control said resin applying means so as to determine the amount of resin to be applied to the substrate (12) during said layered substrate manufacturing process, using the collected measurement data from the aforementioned first and second stage of the process and the calculated calibration model, and the said model is based on the measurement data of the substrates collected on the aforementioned first and / or W stage of the process.
18. Система по п.17, при этом упомянутая система выполнена в соответствии с любым из предшествующих пп.11-16.18. The system of claim 17, wherein said system is made in accordance with any of the preceding claims 11-16.
19. Компьютерный программный продукт (21), который, будучи исполняемым на компьютере, выполняет этапы в соответствии с любым из пп.1-10.19. A computer software product (21), which, being executable on a computer, performs the steps in accordance with any one of claims 1 to 10.
20. Считываемый компьютером носитель, содержащий команды для вынуждения компьютера выполнять способ по любому из предшествующих пп.1-10.
20. A computer-readable medium containing instructions for causing a computer to execute a method according to any one of the preceding claims 1-10.