[go: up one dir, main page]

NL8502835A - Inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlak. - Google Patents

Inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlak. Download PDF

Info

Publication number
NL8502835A
NL8502835A NL8502835A NL8502835A NL8502835A NL 8502835 A NL8502835 A NL 8502835A NL 8502835 A NL8502835 A NL 8502835A NL 8502835 A NL8502835 A NL 8502835A NL 8502835 A NL8502835 A NL 8502835A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
sub
radiation
detectors
grid
grating
Prior art date
Application number
NL8502835A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Philips Nv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Nv filed Critical Philips Nv
Priority to NL8502835A priority Critical patent/NL8502835A/nl
Priority to US06/817,190 priority patent/US4665310A/en
Priority to ES86201765T priority patent/ES2018158B3/es
Priority to DE8686201765T priority patent/DE3674136D1/de
Priority to EP86201765A priority patent/EP0219908B1/en
Priority to CA000520566A priority patent/CA1263183A/en
Priority to AU63917/86A priority patent/AU584046B2/en
Priority to JP61243281A priority patent/JPH0743834B2/ja
Priority to KR1019860008682A priority patent/KR950008949B1/ko
Publication of NL8502835A publication Critical patent/NL8502835A/nl

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10—Beam splitting or combining systems
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10—Beam splitting or combining systems
    • G02B27/16—Beam splitting or combining systems used as aids for focusing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/42—Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect
    • G02B27/4233—Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect having a diffractive element [DOE] contributing to a non-imaging application
    • G02B27/4238—Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect having a diffractive element [DOE] contributing to a non-imaging application in optical recording or readout devices
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/42—Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect
    • G02B27/44—Grating systems; Zone plate systems
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
    • G11B7/0916—Foucault or knife-edge methods
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1381—Non-lens elements for altering the properties of the beam, e.g. knife edges, slits, filters or stops
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/094—Methods and circuits for servo offset compensation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Description

Λ.
ΡΗΝ 11.531 1 N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken te Eindhoven.
Inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlak.
De uitvinding heeft betrekking op een inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlakr welke inrichting bevat een stralingsbron, een objektiefstelsel voor het fokusseren van de door de stralingsbron geleverde stralingsbundel tot een aftastvlek in 5 het informatievlak, een, in de weg van de door het informatievlak gereflekteerde bundel geplaatst, diffraktieraster dat uit twee deelrasters bestaat voor het splitsen van deze bundel in twee deelbundels en een twee detektorparen bevattend stralingsgevoelig detektiestelsel, waarbij elk detektorpaar aan één deelbundel is 10 toegevoegd.
Een dergelijke inrichting, voor het uitlezen van een ingeschreven registratiedrager, is bekend uit het artikel "optische Fokusfehlerdetektion" in "Neues aus der Technik", no. 6, 15 december 1980, pag. 3. Het diffraktieraster vervult in deze inrichting twee 15 funkties waarvoor anders twee aparte elementen moeten worden gebruikt.
Op de eerste plaats zorgt het raster er voor dat de door de informatiestruktuur gereflekteerde en gemoduleerde straling een andere richting krijgt dan de door de stralingsbron uitgezonden straling, zodat een detektiestelsel in de weg van de gemoduleerde straling geplaatst kan 20 worden. Op de tweede plaats splitst het raster de gereflekteerde bundel in twee deelbundels die nodig zijn voor het opwekken van een fokusfoutsignaal, dat wil zeggen een signaal dat informatie bevat over de grootte en de richting van een afwijking tussen het vlak van fokussering van het objektiefstelsel en het informatievlak. Aan elk van 25 de deelbundels is een afzonderlijk detektorpaar toegevoegd, waarbij het verschilsignaal tussen de uitgangssignalen van de tot hetzelfde paar behorende detektoren een maat is voor de fokussering van de uitleesbundel op het informatievlak. Indien de scheidingslijn tussen de twee deelrasters evenwijdig is aan de spoorrichting en de twee 30 detektorparen worden gevormd door vier afzonderlijke detektoren kan, door van elk detektorpaar de som van de uitgangssignalen te bepalen en deze somsignalen van elkaar af te trekken, een signaal dat informatie 2 0 v £ 8 3 β 'ï -¾ PHN 11.531 2 bevat over de grootte en de richting van een afwijking tussen het midden van de uitleesvlek en de hartlijn van het uit te lezen spoor verkregen worden.
Om de gewenste bundelsplitsing tot stand te brengen 5 bestaat het diffraktieraster van de bekende inrichting uit twee deelrasters die verschillende rasterperioden hebben. Omdat de hoek waaronder een raster een invallende bundel afbuigt omgekeerd evenredig is met de rasterperiode, zal het bundelgedeelte dat op een van de deelrasters invalt een andere richting krijgen dan het bundelgedeelte 10 dat op het andere deelraster invalt.
Het gebruik van een diffraktieraster met twee deelrasters met verschillende periodes heeft het voordeel dat de detektoren van de ‘ twee detektorparen dicht bij elkaar geplaatst kunnen worden, hetgeen uit fabrikagetechnisch oogpunt aantrekkelijk is. Aangezien de efficiëntie 15 van een diffraktieraster, dat wil zeggen het quotiënt van de hoeveelheid in de gewenste richting afgebogen straling en de totale hoeveelheid straling, afhangt van onder andere de rasterperiode, zullen de door het samengestelde raster gevormde deelbundels ongelijke intensiteiten kunnen hebben, hetgeen tot een foutief spoorvolgsignaal 20 leidt.
Indien, zoals in het genoemde artikel voorgesteld is, de scheidingslijn tussen de tot één paar behorende detektoren evenwijdig is aan de rasterlijnen en deze weer evenwijdig zijn aan de scheidingslijn tussen de twee deelrasters, zal bij een verandering van 25 de golflengte van de uitleesbundel, bij gelijkblijvende fokussering van de uitleesbundel, een afwijking, ook wel "off-set11 genoemd, in het fokusfoutsignaal optreden. Dit is het gevolg van het feit dat bij variatie van de golflengte de hoek waaronder de deelbundels afgebogen worden, en dus de posities van de door deze deelbundels in het 30 detektievlak gevormde stralingsvlekken, ten opzichte van de bij de deelbundels behorende detektoren zal veranderen, en wel in dezelfde richting als die van de verplaatsing welke deze vlekken ondergaan bij het optreden van een fokusfout. In de hierboven geschetste opstelling zal bovendien beeldveldkromming kunnen optreden.
35 De onderhavige uitvinding heeft ten doel een optische aftastinrichting te verschaffen met een dusdanige uitvoering van het diffraktieraster en een dusdanige opstelling van de detektoren dat de 331) 2 83 5 PHN 11.531 3 ...... "* :"·'ϋΐΙ«ι:τ _____||ΐΓ nadelen van de boven beschreven uitvoeringsvormen vermeden worden, terwijl de voordelen daarvan behouden blijven. De inrichting volgens de uitvinding vertoont als kenmerk, dat de deelrasters dezelfde rasterperiode hebben en dat de rasterlijnen van het eerste deelraster 5 een eerste hoek en de rasterlijnen van het tweede deelraster een tweede hoek, die even groot doch tegengesteld aan de eerste hoek is, maken met de scheidingslijn van de twee deelrasters, en dat voor elk detektorpaar de scheidingslijn tussen de detektoren dwars staat op de richting van de rasterlijnen van het bijbehorende deelraster.
10 De detektoren van deze inrichting zijn bij voorkeur fotodioden. Een inrichting met fotodioden kan als verder kenmerk vertonen, dat deze fotodioden op één substraat geïntegreerd zijn.
Volgens een verder kenmerk van de inrichting, waarin de stralingsbron een diodelaser is, zijn de diodelaser en de fotodioden op 15 één substraat geïntegreerd.
De uitvinding zal nu worden toegelicht aan de hand van de tekening, waarin: • figuur 1 schematisch een uitvoeringsvorm van een uitleesinrichting volgens de uitvinding weergeeft, en 20 figuur 2 het in deze inrichting gebruikte samengestelde diffraktieraster toont alsmede, schematisch, de oriëntatie van de detektoren ten opzichte van dit raster.
In figuur 1 is een klein gedeelte van een optische registatiedrager 1, met een stralingsreflekterend informatievlak 2, in 25 radiële doorsnede weergegeven. De in het informatievlak gelegen sporen 3 strekken zich uit dwars op het vlak van tekening van figuur 1. Het informatievlak wordt afgetast door een bundel 5 afkomstig van een stralingsbron 4, bijvoorbeeld een diodelaser. Deze bundel wordt door een, schematisch met een enkele lens aangegeven, objektiefstelsel 6 tot 30 een kleine stralingsvlek 7 op het informatievlak gefokusseerd. Bij roteren van de registratiedrager om een as 8 wordt een spoor 3 afgetast en wordt de uitleesbundel gemoduleerd met de daarin opgeslagen informatie. Door de registratiedrager en de uitleeskop, bestaande uit de bron 4 en het objektiefstelsel 6, in radiële richting ten opzichte van 35 elkaar te bewegen wordt het hele informatievlak afgetast.
De door het informatievlak gereflekteerde en gemoduleerde bundel moet gedetekteerd kunnen worden, zodat deze bundel gescheiden 8502835 PHN 11.531 4 .
\ moet worden van de heengaande bundel. De inrichting moet derhalve een bundelscheidingselement bevatten.
Voor het uitlezen van een informatiestruktuur met kleine informatiedetails, bijvoorbeeld in de orde van 1 ^urn, moet een 5 objektiefstelsel met een grote numerieke apertuur gebruikt worden. De scherptediepte van een dergelijk objektiefstelsel is klein. Aangezien er variaties in de afstand tussen het informatievlak 2 en het öbjektiefstelsel 6 kunnen optreden die groter dan de scherptediepte zijn, moeten er voorzieningen getroffen worden om deze variaties te 10 kunnen detekteren om, aan de hand daarvan, de fokussering te kunnen bijregelen. Daartoe kan de inrichting voorzien worden van een bundelsplitser die de gereflekteerde bundel splitst in twee deelbundels en van bijvoorbeeld vier, volgens een rechte lijn gerangschikte detektoren, waarvan een eerste paar samenwerkt met de eerste deelbundel 15 en het tweede paar met de tweede deelbundel. De uitgangssignalen van de detektoren worden verwerkt tot onder andere een fokusservosignaal.
Zoals beschreven is in het artikel "optische Fokusfehlerdetektion" in "Neues aus der Technik", no. 6, 15 december 1980, pag. 3, kunnen de bundelscheiding en de bundelsplitsing worden 20 uitgevoerd door één element, namelijk een doorzichtig raster. Dit raster splitst een invallende bundel in een, onafgebogen, nulde orde bundel, een aantal, afgebogen, eerste orden en hogere orden bundels. De rasterparameters, met name de rasterperiode, de diepte van de rastergroeven en de vorm van de rastergroeven kunnen zó gekozen worden 25 dat het grootste gedeelte van de invallende straling in een van de eerste orde bundels terecht komt. Doordat het raster verdeeld is in twee deelrasters waarvan een der rasterparameters verschillend is voor de twee deelrasters, hebben de door de deelrasters gevormde eerste orde bundels verschillende richtingen, met andere woorden: er treedt een 30 bundelsplitsing op.
Volgens de uitvinding bestaat het raster 9 uit twee deelrasters 10 en 11 die dezelfde rasterperiode hebben, maar waarvan de rasterstroken 13, respektievelijk 14, een tegengestelde hoek respektievelijk ^ met scheidingslijn 26 tussen de deelrasters 35 10 en 11 maken. Dit raster is in figuur 2 in vooraanzicht getekend.
Vanwege de verschillende richtingen van de rasterstroken 13 en 14 worden de deelbundels 5a en 5b, in figuur 1, in verschillende richtingen 8313 2 8 3 5 PHN 11.531 5 afgebogen. In figuur 2 zijn deze richtingen schematisch met de streeplijnen 15a en 15b aangegeven.
In de weg van de deelbundel 5a, respektievelijk 5b, zijn twee stralingsgevoelige detektoren 16 en 17, respektievelijk 18 en 19, 5 aangebracht zodanig dat, bij korrekte fokussering van de bundel 5 op het informatievlak 2, de door de deelbundels 5a en 5b gevormde stralingsvlekken 20 en 21 symmetrisch gelegen zijn ten opzichte van de detektoren 16 en 17, respektievelijk 18 en 19. Bij het optreden van een fokusfout verandert de energieverdeling binnen de deelbundels 5a en 5b 10 ten opzichte van de bijbehorende detektoren, hetgeen ook opgevat kan worden als een verplaatsing van de deelbundels, en dus van de stralingsvlekken 20 en 21, ten opzichte van de detektoren. Indien in de opstelling volgens figuur 1 het fokuspunt van de bundel 5 links van het informatievlak 2 zou liggen, dan zouden de stralingsvlekken 20 en 21 15 naar de optische as toe verplaatst zijn, en zouden de detektoren 17 en 18 meer straling ontvangen dan de detektoren 16 en 19. Zou het fokuspunt van de bundel 5 rechts van het informatievlak 2 liggen, dan zou het omgekeerde optreden en zouden de detektoren 16 en 19 meer straling ontvangen dan de detektoren 17 en 18. Wanneer de uitgangssignalen van de 20 detektoren 16, 17, 18 en 19 worden voorgesteld door respektievelijk s16f s17f s18 en s19r dan wor<3t fokusservosignaal g^ gegeven door:
Sf = ^S16 + S19^ ~ ^S17 + S18^
Een signaal dat evenredig is met de uitgelezen 25 informatie, ofwel het informatiesignaal, wordt gegeven door:
Si = S16 + s17 + S18 + s19
Indien, zoals in figuur 1 is voorgesteld, de scheidingslijn 12 van de twee deelrasters 10 en 11 evenwijdig is aan de richting van een uitgelezen spoor 3, dan kan met dezelfde detektoren ook 30 een spoorvolgsignaal Sr opgewekt worden. Dit signaal wordt gegeven door:
Sr = ^S16 + S17^ “ ^S18 + S19^
Ten opzichte van bekende inrichtingen vertoont een inrichting met het raster volgens figuur 2 het voordeel dat een aantal 35 ongewenste verschijnselen, die op kunnen treden bij het gebruik van deelrasters met verschillende rasterperiodes, zoals - verschillende afbuigefficiënties van de deelrasters, 3302835 PHN 11.531 6 η.
* «s - het fokusseren van de deelbundels in verschillende vlakken, dus beeldveldkromming, vermeden worden. Bovendien zal, omdat de scheidingslijn 22, respektievelijk 23, tussen de detektoren 16 en 17, respektievelijk 18 en 5 19, dwars op de rasterstroken 13, respektievelijk 14, staat, zoals in figuur 2 schematisch is aangegeven, een door een variatie van de golflengte van de bundel 5 veroorzaakte verandering van de raster-afbuighoek geen off-set van het fokusservosignaal tot gevolg hebben, immers deze verandering veroorzaakt slechts een verplaatsing van de 10 stralingsvlek 20, respektievelijk 21, langs de scheidingslijn 22, respektievelijk 23. Tenslotte kunnen de detektorparen 16 en 17 en 18 en 19 dicht bij elkaar geplaatst worden, zodat deze vier detektoren op één substraat geïntegreerd kunnen worden. Indien de stralingsbron een diodelaser is, kan deze laser op hetzelfde substraat 25 aangebracht 15 worden, zoals in figuur 1 is getoond.
Indien de detektoren niet gebruikt behoeven te worden voor het opwekken van een spoorvolgsignaal kunnen de twee detektoren 17 en 18 vervangen worden door één centrale detektor. Dan wordt het eerste detektorpaar gevormd door de detektor 16 en de centrale detektor 20 en het tweede detektorpaar door de centrale detektor en de detektor 19. In het uitgangssignaal van de centrale detektor Sc, dan is het fokusservosignaal: sf = (s16 + s19} " sc en het informatiesignaal: 25 Si = S16 + S19 + Sc
De uitvinding is beschreven aan de hand van haar toepassing in een uitleesinrichting, maar kan ook toegepast worden in een inschrijfinrichting of in een gekombineerde inschrijfuitleesinrichting, waarin tijdens het inschrijven de 30 fokussering en de spoorvolging van de inschrijfbundel gekontroleerd wordt. Het beschreven fokusfoutdetektiestelsel maakt geen gebruik van speciale eigenschappen van het informatievlak 2. Nodig en voldoende is slechts dat dit vlak reflekterend is. De uitvinding kan daarom in diverse inrichtingen toegepast worden waarin zeer nauwkeurig 35 gefokusseerd moet worden, bijvoorbeeld in mikroskopen, waarin dan eventueel het detekteren van een spoorvolgfout achterwege kan blijven.
8502335

Claims (3)

1. Inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlak, welke inrichting bevat een stralingsbron, een objektiefstelsel voor het fokusseren van de door de stralingsbron geleverde stralingsbundel tot een aftastvlek in het informatievlak, een, 5 in de weg van de door het informatievlak gereflekteerde bundel geplaatst, diffraktieraster dat uit twee deelrasters bestaat voor het splitsen van deze bundel in twee deelbundels, en een twee detektorparen bevattend stralingsgevoelig detektiestelsel, waarbij elk detektorpaar aan één deelbundel is toegevoegd, met het kenmerk, dat de 10 deelrasters dezelfde rasterperiode hebben en dat de rasterstroken van het eerste deelraster. een eerste hoek en de rasterstroken van het tweede deelraster een tweede hoek, die even groot doch tegengesteld aan de eerste hoek is, maken met de scheidingslijn van de twee deelrasters, en dat voor elk detektorpaar de scheidingslijn tussen de detektoren dwars 15 staat op de richting van de rasterstroken van het bijbehorende deelraster.
2. Inrichting volgens conclusie 1, waarin de detektoren fotodioden zijn, met het kenmerk, dat deze fotodioden op één substraat geïntegreerd zijn. 20
3. Inrichting volgens conclusie 2, waarin de stralingsbron een diodelaser is, met het kenmerk, dat de diodelaser en dé fotodioden op één substraat geïntegreerd zijn. t t B 5 δ 2 8 ? 5
NL8502835A 1985-10-17 1985-10-17 Inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlak. NL8502835A (nl)

Priority Applications (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8502835A NL8502835A (nl) 1985-10-17 1985-10-17 Inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlak.
US06/817,190 US4665310A (en) 1985-10-17 1985-12-26 Apparatus for optically scanning an information plane wherein a diffraction grating splits the beam into two sub-beams
ES86201765T ES2018158B3 (es) 1985-10-17 1986-10-13 Analizador optico de informacion plana
DE8686201765T DE3674136D1 (de) 1985-10-17 1986-10-13 Geraet zur optischen abtastung einer informationsebene.
EP86201765A EP0219908B1 (en) 1985-10-17 1986-10-13 Apparatus for optically scanning an information plane
CA000520566A CA1263183A (en) 1985-10-17 1986-10-15 Apparatus for optically scanning an information plane
AU63917/86A AU584046B2 (en) 1985-10-17 1986-10-15 Apparatus for optically scanning an information plane wherein a diffraction grating splits the beam into two sub-beams
JP61243281A JPH0743834B2 (ja) 1985-10-17 1986-10-15 光学走査装置
KR1019860008682A KR950008949B1 (ko) 1985-10-17 1986-10-16 광주사장치

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8502835A NL8502835A (nl) 1985-10-17 1985-10-17 Inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlak.
NL8502835 1985-10-17

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL8502835A true NL8502835A (nl) 1987-05-18

Family

ID=19846726

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8502835A NL8502835A (nl) 1985-10-17 1985-10-17 Inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlak.

Country Status (9)

Country Link
US (1) US4665310A (nl)
EP (1) EP0219908B1 (nl)
JP (1) JPH0743834B2 (nl)
KR (1) KR950008949B1 (nl)
AU (1) AU584046B2 (nl)
CA (1) CA1263183A (nl)
DE (1) DE3674136D1 (nl)
ES (1) ES2018158B3 (nl)
NL (1) NL8502835A (nl)

Families Citing this family (59)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0222238B2 (en) * 1985-11-11 1998-02-11 Sharp Kabushiki Kaisha Pick-up device
DE3679648D1 (de) * 1985-12-10 1991-07-11 Nec Corp Optischer kopf mit einem beugungsgitter zum richten von zwei oder mehreren gebeugten lichtstrahlen auf optische detektoren.
JP2647829B2 (ja) * 1985-12-10 1997-08-27 日本電気株式会社 光ヘッド装置
FR2597249B1 (fr) * 1986-04-11 1988-06-17 Thomson Csf Dispositif de lecture optique de support d'enregistrement optique
US4794585A (en) * 1986-05-06 1988-12-27 Lee Wai Hon Optical head having a hologram lens and polarizers for use with magneto-optic medium
KR900008380B1 (ko) * 1986-07-01 1990-11-17 미쓰비시덴기 가부시기 가이샤 광학식 헤드장치
DE3786497T2 (de) * 1986-07-18 1994-02-17 Nippon Electric Co Doppelbrechendes Beugungsgitter und optischer Kopf, in welchem ein linearpolarisierter Strahl auf dieses Gitter gelenkt wird.
NL8601974A (nl) * 1986-08-01 1988-03-01 Philips Nv Inrichting voor het met optische straling aftasten van een stralingsreflekterend informatievlak.
US4885732A (en) * 1986-09-02 1989-12-05 Fuji Photo Film Co., Ltd. Optical pickup apparatus for detecting and correcting focusing and tracking errors in detected recorded signals
US4905216A (en) * 1986-12-04 1990-02-27 Pencom International Corporation Method for constructing an optical head by varying a hologram pattern
US5270996A (en) * 1986-12-25 1993-12-14 Nec Corporation Optical head with diffraction grating producing five diffracted detection light beams
JPS63191421U (nl) * 1987-05-26 1988-12-09
NL8701749A (nl) * 1987-07-24 1989-02-16 Philips Nv Inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlak.
NL8702245A (nl) * 1987-09-21 1989-04-17 Philips Nv Inrichting voor het met optische straling aftasten van een stralingsreflekterend informatievlak.
JPH0194542A (ja) * 1987-10-05 1989-04-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光ヘッド装置
EP0311340B1 (en) * 1987-10-05 1993-08-04 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical pickup head
JPH07101519B2 (ja) * 1987-10-05 1995-11-01 松下電器産業株式会社 光ヘッド装置
JPH0198131A (ja) * 1987-10-09 1989-04-17 Sharp Corp 光学型情報再生装置
DE3887657T2 (de) * 1987-11-30 1994-05-11 Nippon Electric Co Optischer Kopf.
JPH01151022A (ja) * 1987-12-09 1989-06-13 Sharp Corp 光ピックアップ装置
JPH0770065B2 (ja) * 1988-04-20 1995-07-31 シャープ株式会社 光ピックアップ装置
JPH06841Y2 (ja) * 1988-04-20 1994-01-05 シャープ株式会社 光半導体装置
US5062098A (en) * 1988-10-19 1991-10-29 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical pick-up device having holographic element
US5049732A (en) * 1988-10-21 1991-09-17 Sharp Kabushiki Kaisha Optical pickup device with diffraction device
US5315574A (en) * 1988-10-28 1994-05-24 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical head with polarized beam hologram
JPH02121131A (ja) * 1988-10-28 1990-05-09 Olympus Optical Co Ltd 光ピックアップ
NL8802689A (nl) * 1988-11-03 1990-06-01 Koninkl Philips Electronics Nv Inrichting voor het met optische straling aftasten van een stralingsreflekterend oppervlak.
KR940001999B1 (ko) * 1989-06-06 1994-03-12 샤프 가부시끼가이샤 광 픽업장치
JP2683293B2 (ja) * 1990-06-19 1997-11-26 松下電器産業株式会社 光ヘッド装置
JP2684822B2 (ja) * 1990-06-06 1997-12-03 松下電器産業株式会社 光ピックアップヘッド装置
JPH0460933A (ja) * 1990-06-26 1992-02-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光ピックアップヘッド装置
NL9002841A (nl) * 1990-12-21 1992-07-16 Philips Nv Werkwijze en inrichting voor het langs optische weg inschrijven, uitlezen, en wissen van een meervlaks registratiedrager, en registratiedrager geschikt voor deze werkwijze en inrichting.
JP2870236B2 (ja) * 1991-07-22 1999-03-17 日本電気株式会社 光学式記録再生装置
JPH05282723A (ja) * 1992-03-31 1993-10-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光磁気ヘッド装置
JPH05290403A (ja) * 1992-04-08 1993-11-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光ピックアップヘッド装置
US5258871A (en) * 1992-06-01 1993-11-02 Eastman Kodak Company Dual diffraction grating beam splitter
CN1047454C (zh) * 1992-08-12 1999-12-15 皇家菲利浦电子有限公司 对于光记录载体进行光学扫描用的装置
US5434708A (en) * 1992-09-08 1995-07-18 Eastman Kodak Company Optical reproducing apparatus ultilizing a polarization beam splitter
US5360970A (en) * 1992-12-29 1994-11-01 Eastman Kodak Company Apparatus and method for a single return path signal sensor system
US5353272A (en) * 1992-12-29 1994-10-04 Eastman Kodak Company Apparatus and method for a modified half-aperture focus/tracking/data sensor system
US5406541A (en) * 1992-12-29 1995-04-11 Eastman Kodak Company Apparatus and method for a dual half-aperture focus sensor system
KR100326688B1 (ko) * 1993-01-04 2002-06-20 요트.게.아. 롤페즈 광주사장치및방사원검출장치
EP0605929B1 (en) * 1993-01-04 1998-07-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. Device for optically scanning a surface
JPH07311961A (ja) * 1994-05-16 1995-11-28 Nippon Steel Corp 光ピックアップ
KR19980701723A (ko) * 1995-11-27 1998-06-25 요트. 게. 아. 롤페즈 테이프형 기록 캐리어를 주사하는 광학 장치
WO1997023871A1 (en) 1995-12-21 1997-07-03 Philips Electronics N.V. Optical scanning device
WO1997024717A1 (en) * 1995-12-27 1997-07-10 Philips Electronics N.V. Device for scanning an optically readable record carrier
EP0845142A1 (en) * 1995-12-27 1998-06-03 Koninklijke Philips Electronics N.V. Device for scanning an optically readable record carrier
JPH09198706A (ja) * 1996-01-22 1997-07-31 Fujitsu Ltd 光ディスク装置用光ピックアップのホログラム光学系
US5771218A (en) * 1996-09-27 1998-06-23 Digital Optics Corporation Passively aligned integrated optical head including light source, detector, and optical element and methods of forming same
US5886971A (en) * 1996-09-27 1999-03-23 Digital Optics Corporation Optical head structures including support substrates adjacent transparent substrates and related methods
EP0951716B1 (en) 1997-11-07 2006-03-01 Koninklijke Philips Electronics N.V. Optical scanning device
JPH11223729A (ja) * 1998-02-09 1999-08-17 Sankyo Seiki Mfg Co Ltd 偏光分離素子およびその製造方法
EP1046161A1 (en) 1998-09-21 2000-10-25 Koninklijke Philips Electronics N.V. Device for scanning an optical record carrier having at least two information layers
TW501116B (en) * 2000-07-05 2002-09-01 Matsushita Electric Ind Co Ltd Optical device, optical semiconductor device, and optical information processor comprising them
JP2002163831A (ja) * 2000-11-27 2002-06-07 Sharp Corp 半導体レーザ装置および光ピックアップ装置
JP2002288856A (ja) * 2001-03-27 2002-10-04 Sharp Corp 光ピックアップ
KR20060019578A (ko) * 2003-06-11 2006-03-03 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. 광 저장매체 판독/기록장치
CN104678561B (zh) * 2013-12-02 2017-04-05 中国科学院西安光学精密机械研究所 衍射光栅非规则激光焦斑图像自适应聚焦方法及聚焦装置

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3175093A (en) * 1960-06-25 1965-03-23 Philips Corp Photosensitive device for digital measurement of the displacement of an object
US3668404A (en) * 1970-09-29 1972-06-06 Kurt Lehovec Electro-optical microtransducer comprising diffractive element monolithically integrated with photoelectric device
US4034403A (en) * 1971-03-11 1977-07-05 U.S. Philips Corporation Apparatus for positional control of a reading head in a device for reproducing optically coded video disk recordings
US4374323A (en) * 1978-06-30 1983-02-15 Discovision Associates Focusing apparatus for use in a system for recovering information from an optically-readable storage medium
US4338012A (en) * 1980-10-31 1982-07-06 Canon Kabushiki Kaisha Focusing screen
JPS5877039A (ja) * 1981-11-01 1983-05-10 Victor Co Of Japan Ltd 情報信号再生装置
US4464567A (en) * 1981-06-30 1984-08-07 Storage Technology Corporation Photoelectric information and focus detector
US4462095A (en) * 1982-03-19 1984-07-24 Magnetic Peripherals Inc. Moving diffraction grating for an information track centering system for optical recording
JPS58220248A (ja) * 1982-06-15 1983-12-21 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 光学式ピツクアツプ
NL8303932A (nl) * 1982-11-17 1984-06-18 Pioneer Electronic Corp Opneeminrichting voor optische plaat.
JPS6028044A (ja) * 1983-07-26 1985-02-13 Toshiba Corp 光学式情報読取装置
NL8304402A (nl) * 1983-12-22 1985-07-16 Philips Nv Optische aftasteenheid met een focusfout-detectiestelsel.
US4670869A (en) * 1984-01-03 1987-06-02 Magnetic Peripherals Inc. Switching laser beam apparatus with recombined beam for recording
FR2597249B1 (fr) * 1986-04-11 1988-06-17 Thomson Csf Dispositif de lecture optique de support d'enregistrement optique
NL8702245A (nl) * 1987-09-21 1989-04-17 Philips Nv Inrichting voor het met optische straling aftasten van een stralingsreflekterend informatievlak.

Also Published As

Publication number Publication date
EP0219908B1 (en) 1990-09-12
KR870004426A (ko) 1987-05-09
KR950008949B1 (ko) 1995-08-09
US4665310A (en) 1987-05-12
AU584046B2 (en) 1989-05-11
CA1263183A (en) 1989-11-21
JPS6297141A (ja) 1987-05-06
ES2018158B3 (es) 1991-04-01
AU6391786A (en) 1987-04-30
DE3674136D1 (de) 1990-10-18
JPH0743834B2 (ja) 1995-05-15
EP0219908A1 (en) 1987-04-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL8502835A (nl) Inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlak.
KR100231388B1 (ko) 광헤드의 트래킹오차 검출장치(Optical Head Tracking Error Detection Device)
EP0219170B1 (en) Apparatus for reading and/or recording a trackwise arranged optical information structure
JP2683918B2 (ja) 情報面を光学的に走査する装置
NL8601876A (nl) Inrichting voor het aftasten van een optische registratiedrager.
NL8202058A (nl) Opto-elektronisch fokusfout-detektiestelsel.
NL8403034A (nl) Opto-elektronisch fokusfout-detektiestelsel.
NL8802988A (nl) Inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlak.
NL8901245A (nl) Retrofokus objektieflens en optische aftastinrichting voorzien van een dergelijke lens.
NL8601974A (nl) Inrichting voor het met optische straling aftasten van een stralingsreflekterend informatievlak.
JPH0775080B2 (ja) 光学式走査装置
EP0426248B1 (en) Grating objective and grating-beam shaper, and optical scanning device comprising at least one of said elements
NL8803055A (nl) Optische aftastinrichting, spiegelobjektief geschikt voor toepassing daarin en optisch inschrijf- en/of uitleesapparaat voorzien van deze aftastinrichting.
EP0369510A1 (en) Apparatus for optically scanning a radiation-reflecting information plane
EP0583036B1 (en) Device for optically scanning a surface
US6407973B1 (en) Device for scanning an optical record carrier having at least two information layers
KR100255264B1 (ko) 정보 평면 광학 주사 장치
JP3044667B2 (ja) 光学式読取り装置
US6788637B1 (en) Apparatus for reading from and/or writing to optical recording media
JP2552660B2 (ja) フオ−カス誤差検出装置
NL8103504A (nl) Registratiedrager met een optisch uitleesbare informatiestructuur en inrichting voor het uitlezen daarvan.
JP2886230B2 (ja) 光ヘッド及びこれを用いた焦点誤差検出装置
CN1275230A (zh) 用于扫描光记录载体的装置
JPH07220296A (ja) 光ピツクアツプ装置及びトラツキングエラー検出方法
JPS62289933A (ja) 光ヘツド装置

Legal Events

Date Code Title Description
A1B A search report has been drawn up
BV The patent application has lapsed