[go: up one dir, main page]

NL191447C - Inrichting voor het meten van de oppervlaktetemperatuur en de emissiviteit van een verwarmd voorwerp. - Google Patents

Inrichting voor het meten van de oppervlaktetemperatuur en de emissiviteit van een verwarmd voorwerp.

Info

Publication number
NL191447C
NL191447C NL8101049A NL8101049A NL191447C NL 191447 C NL191447 C NL 191447C NL 8101049 A NL8101049 A NL 8101049A NL 8101049 A NL8101049 A NL 8101049A NL 191447 C NL191447 C NL 191447C
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
emissivity
measuring
surface temperature
heated object
heated
Prior art date
Application number
NL8101049A
Other languages
English (en)
Other versions
NL191447B (nl
NL8101049A (nl
Original Assignee
Nippon Steel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP55027108A external-priority patent/JPS6047538B2/ja
Priority claimed from JP9459480A external-priority patent/JPS5719629A/ja
Application filed by Nippon Steel Corp filed Critical Nippon Steel Corp
Publication of NL8101049A publication Critical patent/NL8101049A/nl
Publication of NL191447B publication Critical patent/NL191447B/nl
Application granted granted Critical
Publication of NL191447C publication Critical patent/NL191447C/nl

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/52—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using comparison with reference sources, e.g. disappearing-filament pyrometer
    • G01J5/53—Reference sources, e.g. standard lamps; Black bodies
    • G01J5/532—Reference sources, e.g. standard lamps; Black bodies using a reference heater of the emissive surface type, e.g. for selectively absorbing materials
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J2005/0074—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry having separate detection of emissivity
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/0044—Furnaces, ovens, kilns
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02—Constructional details
    • G01J5/08—Optical arrangements
    • G01J5/0803—Arrangements for time-dependent attenuation of radiation signals
    • G01J5/0805—Means for chopping radiation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
NL8101049A 1980-03-04 1981-03-04 Inrichting voor het meten van de oppervlaktetemperatuur en de emissiviteit van een verwarmd voorwerp. NL191447C (nl)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2710880 1980-03-04
JP55027108A JPS6047538B2 (ja) 1980-03-04 1980-03-04 物体の温度と放射率の測定方法
JP9459480A JPS5719629A (en) 1980-07-11 1980-07-11 Measuring method for surface temperature of object and device thereof
JP9459480 1980-07-11

Publications (3)

Publication Number Publication Date
NL8101049A NL8101049A (nl) 1981-10-01
NL191447B NL191447B (nl) 1995-03-01
NL191447C true NL191447C (nl) 1995-07-04

Family

ID=26364999

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8101049A NL191447C (nl) 1980-03-04 1981-03-04 Inrichting voor het meten van de oppervlaktetemperatuur en de emissiviteit van een verwarmd voorwerp.

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4465382A (nl)
CA (1) CA1166037A (nl)
DE (1) DE3108153A1 (nl)
FR (1) FR2477706A1 (nl)
GB (1) GB2074722B (nl)
NL (1) NL191447C (nl)

Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2498322B1 (fr) * 1981-01-16 1985-10-25 Mecilec Sa Procede de mesure du rayonnement infrarouge pour determiner la temperature de fils et barres en deplacement
US4553854A (en) * 1982-12-17 1985-11-19 Nippon Kokan Kabushiki Kaisha Method for continuously measuring surface temperature of heated steel strip
US5231595A (en) * 1983-06-06 1993-07-27 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Pyrometer
EP0143282B1 (de) * 1983-11-28 1989-02-01 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V Verfahren zur berührungslosen, emissionsgradunabhängigen Strahlungsmessung der Temperatur eines Objektes
FR2572176B1 (fr) * 1984-10-19 1987-02-20 Inst Textile De France Procede et dispositif de mesure par radiometrie micro-onde de la temperature d'un materiau plan en defilement, notamment textile
US5047964A (en) * 1984-12-18 1991-09-10 Aluminum Company Of America Material deformation processes
DD254114A3 (de) * 1985-07-30 1988-02-17 Univ Dresden Tech Pyrometrisches messverfahren
DD253741A3 (de) * 1985-07-30 1988-02-03 Univ Dresden Tech Verfahren zur beruehrungslosen temperaturmessung mit einem mehrkanalpyrometer
US4708493A (en) * 1986-05-19 1987-11-24 Quantum Logic Corporation Apparatus for remote measurement of temperatures
US4883364A (en) * 1988-11-14 1989-11-28 Barnes Engineering Company Apparatus for accurately measuring temperature of materials of variable emissivity
US4884896A (en) * 1989-01-13 1989-12-05 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Production line emissivity measurement system
US5249142A (en) * 1989-03-31 1993-09-28 Tokyo Electron Kyushu Limited Indirect temperature-measurement of films formed on semiconductor wafers
US5239488A (en) * 1990-04-23 1993-08-24 On-Line Technologies, Inc. Apparatus and method for determining high temperature surface emissivity through reflectance and radiance measurements
US5271084A (en) * 1990-05-23 1993-12-14 Interuniversitair Micro Elektronica Centrum Vzw Method and device for measuring temperature radiation using a pyrometer wherein compensation lamps are used
DE4110699C2 (de) * 1991-04-03 1995-12-14 Deutsche Forsch Luft Raumfahrt Einrichtung zum Messen thermischer Strahlung aus kleinen Raumwinkeln
US5314249A (en) * 1991-11-19 1994-05-24 Kawasaki Steel Corporation Surface condition measurement apparatus
WO1994002832A1 (en) * 1992-07-15 1994-02-03 On-Line Technologies, Inc. Method and apparatus for monitoring layer processing
US5326173A (en) * 1993-01-11 1994-07-05 Alcan International Limited Apparatus and method for remote temperature measurement
DE19513749B4 (de) * 1995-04-11 2004-07-01 Infineon Technologies Ag Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung des Emissionsfaktors von Halbleitermaterialien durch Bestrahlung mit elektromagnetischen Wellen
DE19534440A1 (de) * 1995-09-16 1997-03-20 Bergmann Hans Wilhelm Verfahren und Vorrichtung zur schnellen und berührungslosen Temperaturmessung an farbigen Metallen und anderen anorganischen Stoffen
US5690430A (en) * 1996-03-15 1997-11-25 Bethlehem Steel Corporation Apparatus and method for measuring temperature and/or emissivity of steel strip during a coating process
US5775424A (en) * 1996-07-08 1998-07-07 Pemberton; Bradley E. Depth-discrete sampling port
US6074087A (en) * 1997-09-04 2000-06-13 National Security Council Non-contact method for measuring the surface temperature distribution of a melt during growth of ionic crystals
US5968227A (en) * 1997-11-13 1999-10-19 Bethlehem Steel Corporation System and method for minimizing slag carryover during the tapping of a BOF converter in the production of steel
US6197086B1 (en) 1997-11-13 2001-03-06 Bethlehem Steel Corporation System and method for minimizing slag carryover during the production of steel
US6056434A (en) * 1998-03-12 2000-05-02 Steag Rtp Systems, Inc. Apparatus and method for determining the temperature of objects in thermal processing chambers
US6461036B1 (en) * 1999-03-29 2002-10-08 Axcelis Technologies, Inc. System and method for determining stray light in a thermal processing system
US6293696B1 (en) 1999-05-03 2001-09-25 Steag Rtp Systems, Inc. System and process for calibrating pyrometers in thermal processing chambers
DE102004053659B3 (de) * 2004-11-03 2006-04-13 My Optical Systems Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Erfassung von thermischen Eigenschaften einer Objektoberfläche
US20080201089A1 (en) * 2007-01-11 2008-08-21 Ensco, Inc. System and method for determining neutral temperature of a metal
CN103175783B (zh) * 2011-12-21 2015-05-20 中国航空工业集团公司沈阳发动机设计研究所 一种表面发射率测试仪
CN103411685B (zh) * 2013-07-26 2016-01-27 北京航天计量测试技术研究所 利用标准辐射温度计测量高温表面温度均匀性的方法
CN106768384B (zh) * 2016-12-06 2020-07-14 清华大学 基于辅助调频光源的彩色成像温度场测量装置及方法
CN106768381A (zh) * 2016-12-06 2017-05-31 清华大学 一种用于喷雾场环境中的辐射温度测量装置及方法
JP7350672B2 (ja) * 2020-02-25 2023-09-26 株式会社チノー ミラー間の多重反射を利用した放射測温装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3057200A (en) * 1961-05-12 1962-10-09 Hughes Aircraft Co Pyrometer
US3277715A (en) * 1962-06-27 1966-10-11 Lion Res Corp Method of and apparatus for measuring the emittance of a radiation-emitting surface
US3492869A (en) * 1966-09-03 1970-02-03 Hiromichi Toyota Means of measuring surface temperature by reflection
GB1186542A (en) * 1967-03-20 1970-04-02 Merestechnikai Kozponti Method for the Continuous Measurement of the Emissivity of a Heat Radiating Surface, and Method for Measuring the Temperature of such a Surface Using said First-Mentioned Method, and a Device for Implementing these Measurements
CH537009A (de) * 1971-10-11 1973-05-15 Bbc Brown Boveri & Cie Verfahren zur berührungslosen Messung der Oberflächentemperatur an einem Objekt
JPS5234230B2 (nl) * 1971-12-27 1977-09-02
FR2365134A1 (fr) * 1976-09-17 1978-04-14 Commissariat Energie Atomique Materiaux pour la realisation de detecteurs a exoelectrons
JPS5485078A (en) * 1977-12-20 1979-07-06 Nippon Steel Corp Surface temperature measuring method of in-furnace objects
GB1599949A (en) * 1977-04-04 1981-10-07 Nippon Steel Corp Method and an apparatus for simultaneous measurement of both temperature and emissivity of a heated material
US4144758A (en) * 1977-09-12 1979-03-20 Jones & Laughlin Steel Corporation Radiation measurement of a product temperature in a furnace

Also Published As

Publication number Publication date
US4465382A (en) 1984-08-14
GB2074722A (en) 1981-11-04
CA1166037A (en) 1984-04-24
DE3108153C2 (nl) 1987-06-19
GB2074722B (en) 1984-07-11
NL191447B (nl) 1995-03-01
NL8101049A (nl) 1981-10-01
FR2477706B1 (nl) 1984-08-17
DE3108153A1 (de) 1982-01-07
FR2477706A1 (fr) 1981-09-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL191447C (nl) Inrichting voor het meten van de oppervlaktetemperatuur en de emissiviteit van een verwarmd voorwerp.
NL190671C (nl) Inrichting voor het meten van een oppervlaktetemperatuur.
NL181755C (nl) Inrichting voor het meten van het uitbreiden van een scheur.
NL7903900A (nl) Werkwijze en inrichting voor het bepalen van de eigenschappen van een stromingsmeter.
NL187374C (nl) Inrichting voor het detecteren van straling.
NL183961C (nl) Werkwijze voor het dichtheidsonafhankelijk meten van de relatieve vochtigheid en inrichting voor het uitvoeren van de werkwijze.
NL7702910A (nl) Werkwijze en inrichting voor het verwarmen van voorwerpen.
NL184809C (nl) Inrichting voor het elektromagnetisch meten van de dikte van een ferromagnetisch omhulsel.
NL7809681A (nl) Werkwijze voor het inductief meten van de doorstroming en daartoe geschikte inrichting.
NL7801370A (nl) Werkwijze voor het meten van de vochtigheid van materiaal dat kan vloeien en inrichting voor het toepassen van de werkwijze.
NL7711140A (nl) Werkwijze en inrichting voor het nauwkeurig regelen van de temperatuur van verwarmde glas- platen.
NL175229C (nl) Stelsel voor het meten van de eigenschappen van stralingsgeleiders.
NL190883C (nl) Inrichting voor het vormen van thermische beelden.
NL170662C (nl) Zelfaandrijvende inrichting voor het inspecteren van het buitenoppervlak van pijpleidingen.
NL7713357A (nl) Inrichting en werkwijze voor het meten van de enthalpie bij fluida.
NL188918C (nl) Inrichting voor het detecteren van de kleurtemperatuur.
NL191888C (nl) Inrichting voor het transporteren van verhit matriaal.
NL7710498A (nl) Werkwijze en inrichting voor het regelen van de temperatuur voor het reinigen van een oven.
NL7901136A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van antigenen en antilichamen.
NL186405B (nl) Meetinrichting voor het meten van een afmeting van de dwarsdoorsnede van een langwerpig voorwerp.
NL7704061A (nl) Werkwijze en inrichting voor het instellen van de temperatuur van een glassmelt in een voor- haard.
NL7801796A (nl) Inrichting voor het behandelen van vloeistoffen.
NL7800471A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten en regelen van de massa-eigenschappen van slurrie.
NL7902327A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van een oppervlaktespanning.
NL187135C (nl) Inrichting voor het meten en weergeven van golfvormen.

Legal Events

Date Code Title Description
A85 Still pending on 85-01-01
BA A request for search or an international-type search has been filed
BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
V1 Lapsed because of non-payment of the annual fee

Effective date: 19961001