NL1004510C2 - Method for manufacturing a test adapter as well as test adapter and a method for testing printed circuit boards. - Google Patents
Method for manufacturing a test adapter as well as test adapter and a method for testing printed circuit boards. Download PDFInfo
- Publication number
- NL1004510C2 NL1004510C2 NL1004510A NL1004510A NL1004510C2 NL 1004510 C2 NL1004510 C2 NL 1004510C2 NL 1004510 A NL1004510 A NL 1004510A NL 1004510 A NL1004510 A NL 1004510A NL 1004510 C2 NL1004510 C2 NL 1004510C2
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- test
- electrically conductive
- substrate
- printed circuit
- test adapter
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07378—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
Werkwijze voor het vervaardigen van een test-adapter alsmede test-adapter en een werkwijze voor het testen van printplaten.Method for manufacturing a test adapter as well as test adapter and a method for testing printed circuit boards.
5 De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze voor het vervaardigen van een test-adapter, voor het elektrisch geleidend koppelen van meetvlakken aanwezig in een test-inrichting met testvlakken aanwezig op een te testen printplaat, welke test-adapter een substraat omvat met aan een zijde eerste contactvlakken in een met de meetvlakken corresponderende configuratie en aan de andere zijde tweede contactvlakken in een met de 10 testvlakken corresponderende configuratie, waarbij elektrisch geleidende banen op en doorcontacteringen in het substraat aangebracht worden waarmee de eerste en tweede contactvlakken elektrisch met elkaar verbonden worden. Onder printplaten dienen alle platen voorzien van elektrisch geleidende banen verstaan te worden ongeacht op welke wijze deze banen zijn gevormd en aangebracht, dus niet uitsluitend geprinte banen. Dergelijke test-15 adapters worden gebruikt voor het doormeten van substraten met bedrukte bedradingen zogenaamde printplaten. Deze printplaten worden toegepast in vrijwel alle elektrische apparaten. Onder testvlakken dienen niet enkel speciale vlakken, bijvoorbeeld waarop componenten geplaatst worden, verstaan te worden maar ook willekeurige plaatsen op de banen van de bedradingen. Door de alsmaar voortschrijdende miniaturisatie in de elektronica 20 branche worden de printplaten alsmaar kleiner en nemen de spoordichtheden van de elektrisch geleidende banen, welke de bedradingen vormen, alsmaar toe. Voordat deze printplaten toegepast worden, dienen zij eerst doorgemeten te worden onder andere om te controleren of er geen ongewenste kortsluitingen tussen de banen aanwezig zijn of om te controleren of de aangebrachte banen niet onderbroken zijn. Er bestaan test-inrichtingen 25 voor het doormeten van printplaten. Deze test-inrichtingen zijn voorzien van meetvlakken die via een test-adapter gekoppeld worden met de testvlakken op de te testen printplaat. Daar voor elke printplaat met een ander banenpatroon een aparte test-adapter nodig is en er zeer veel verschillende printplaten nodig zijn in de elektronica industrie, zijn er ook zeer veel verschillende test-adapters nodig. Doordat de spoordichtheden en daarmee ook de 30 dichtheden van de testvlakken op de printplaat almaar toenemen kunnen de test-adapters niet meer tegen aanvaardbare prijzen gemaakt worden. Er bestaan andere test methoden maar deze zijn ofwel te duur of het testen met deze methoden neemt teveel tijd in beslag om J004510 2 economisch verantwoord te kunnen testen. Het niet tegen aanvaardbare kosten kunnen testen vormt op dit moment een groot onopgelost probleem.The invention relates to a method for manufacturing a test adapter, for electrically conducting coupling of measuring surfaces present in a test device with test surfaces present on a printed circuit board to be tested, which test adapter comprises a substrate with on one side first contact surfaces in a configuration corresponding to the measuring surfaces and on the other side second contact surfaces in a configuration corresponding to the test surfaces, in which electrically conductive paths are applied to and through contacts in the substrate with which the first and second contact surfaces are electrically connected to each other. Printed circuit boards are understood to mean all plates provided with electrically conductive strips, regardless of the manner in which these strips are formed and applied, not exclusively printed strips. Such test-15 adapters are used for measuring substrates with printed wires, so-called printed circuit boards. These printed circuit boards are used in almost all electrical appliances. Test surfaces should not only include special surfaces, for example on which components are placed, but also arbitrary places on the paths of the wiring. Due to the progressive miniaturization in the electronics industry, the printed circuit boards are getting smaller and the track densities of the electrically conductive tracks, which form the wirings, keep increasing. Before these printed circuit boards are used, they must first be measured, among other things, to check that there are no unwanted short-circuits between the strips or to check whether the applied strips have been interrupted. Test devices 25 exist for measuring circuit boards. These test devices are equipped with measuring surfaces that are coupled via a test adapter to the test surfaces on the printed circuit board to be tested. Since each circuit board with a different track pattern requires a separate test adapter and many different circuit boards are required in the electronics industry, many different test adapters are also required. Because the track densities and thus also the densities of the test surfaces on the printed circuit board are increasing, the test adapters can no longer be made at acceptable prices. Other test methods exist, but these are either too expensive or testing with these methods takes too much time to test J004510 2 economically. Failure to test at an acceptable cost is currently a major unresolved problem.
Een doel van de uitvinding is het verschaffen van een werkwijze voor het vervaardigen van een test-adapter van de in de aanhef omschreven soort waarmee 5 printplaten met grote dichtheden en kleine afmetingen van de testvlakken tegen aanvaardbare kosten getest kunnen worden. Hiertoe is de werkwijze volgens de uitvinding gekenmerkt, doordat de elektrisch geleidende banen op het substraat aangebracht worden door middel van zeefdrukken. Met zeefdruktechniek kunnen zeer fijne sporen met grote spoordichtheden op relatief goedkope wijze op een substraat aangebracht worden. 10 Zeefdrukken op zich is weliswaar een bekende techniek doch de toepassing van deze techniek voor het vervaardigen van test-adapters is geheel nieuw en ondanks dat het testen van printplaten een onderkend en groot probleem is, waar koortsachtig naar oplossingen gezocht wordt, is de oplossing niet eerder in deze richting gezocht worden. Weliswaar kan niet volstaan worden met de gebruikelijke zeefdruk-inrichtingen maar dienen hiervoor op 15 voor de hand liggende wijze speciale aanpassingen doorgevoerd te worden om de bestaande zeefdruktechnieken geschikt te maken voor het aanbrengen van de zeer kleine banen en vlakken. Deze aanpassingen betreffen met name een vergroting van de nauwkeurigheid van de processtappen, bijvoorbeeld door toepassing van optische uitrichtmiddelen om de zeven nauwkeurig ten opzichte van het substraat te positioneren, en een verlaging van de 20 toleranties van de gebruikte zeven en een verfijning van de zeefrasters.An object of the invention is to provide a method for manufacturing a test adapter of the type described in the preamble with which printed circuit boards with large densities and small dimensions of the test surfaces can be tested at an acceptable cost. To this end, the method according to the invention is characterized in that the electrically conductive strips are applied to the substrate by means of screen printing. With screen printing technique, very fine tracks with large track densities can be applied to a substrate in a relatively inexpensive manner. 10 Screen printing in itself is a known technique, but the application of this technique for the manufacture of test adapters is completely new and although the testing of printed circuit boards is a recognized and major problem, where solutions are feverishly sought, the solution is not rather be searched in this direction. Although it is not possible to suffice with the usual screen printing devices, it is obvious that special adjustments have to be made in order to make the existing screen printing techniques suitable for applying the very small webs and surfaces. In particular, these adjustments involve increasing the accuracy of the process steps, for example, by using optical alignment means to position the screens accurately relative to the substrate, and decreasing the tolerances of the screens used and refining the screen grids.
Doordat de dichtheden van de testvlakken sterk zijn toegenomen voldoen ook de huidige doorcontacteringen van substraten niet meer doordat in diameter kleinere doorcontacteringen vereist zijn dan met de bekende technieken verkregen kunnen worden. Om ook hiervoor een oplossing aan te dragen is een uitvoeringsvorm van de test-adapter 25 volgens de uitvinding gekenmerkt, doordat de doorcontacteringen gevormd worden door in het substraat gaten aan te brengen waarna aan een eerste zijde van het substraat een onderdruk aangebracht wordt en aan de andere zijde van het substraat elektrisch geleidend materiaal in de gaten gebracht wordt. Door de onderdruk, bij voorkeur een vacuüm, wordt het materiaal door de zeer smalle gaten gezogen om zo de gaten te vullen en de 30 doorcontacteringen te verkrijgen. Het aanbrengen van het elektrisch geleidend materiaal in de gaten hierbij, kan ook door zeefdrukken geschieden.Because the densities of the test surfaces have increased sharply, the current through-contacting of substrates is no longer sufficient, because in diameter smaller through-contacting is required than can be obtained with the known techniques. To also provide a solution for this, an embodiment of the test adapter 25 according to the invention is characterized in that the through-contacts are formed by making holes in the substrate, after which a negative pressure is applied to a first side of the substrate and to the the other side of the substrate is exposed to electrically conductive material. Due to the underpressure, preferably a vacuum, the material is sucked through the very narrow holes in order to fill the holes and obtain the through-contacts. The application of the electrically conductive material in the holes hereby can also be effected by screen printing.
Bij voorkeur geschiedt het inbrengen en zuigen van het elektrisch geleidend 1004510 3 materiaal in de gaten zodanig dat aan de eerste zijde van het substraat ter plaatse van de gaten uitstulpingen van het elektrisch geleidend materiaal gevormd worden. Deze uitstulpingen kunnen dan fungeren als contactpunten voor het maken van contact met de testvlakken op de te testen printplaat of met de meetvlakken van de test-inrichting.Preferably, the insertion and suction of the electrically conductive material 1004510 3 takes place in the holes such that protuberances of the electrically conductive material are formed on the first side of the substrate at the location of the holes. These protuberances can then function as contact points for making contact with the test surfaces on the printed circuit board to be tested or with the measuring surfaces of the test device.
5 Bij nog grotere dichtheden van de testvlakken op de te meten printplaten dient het positioneren van de zeven zodanig nauwkeurig te geschieden dat hiervoor zeer geavanceerde technieken nodig zijn. Hierdoor nemen de kosten voor het vervaardigen van de test-adapters sterk toe. Bij zeer grote dichtheden kan het zelfs voorkomen dat er onvoldoende ruimte tussen de contactvlakken aanwezig is om de contactvlakken van 10 aansluitsporen te voorzien. Een uitvoeringsvorm van de werkwijze volgens de uitvinding waarmee deze kosten beperkt kunnen worden en waarmee ook contactvlakken met zeer grote dichtheden van aansluitsporen voorzien kunnen worden, is gekenmerkt, doordat de elektrisch geleidende banen in verschillende lagen boven elkaar aangebracht worden, waarbij voordat een volgende laag aangebracht wordt, op de vorige laag een isolatielaag 15 aangebracht wordt, die op een aantal plaatsen doorgecontacteerd wordt. Door het banenpatroon over verschillende lagen te verdelen is het mogelijk ook bij zeer grote dichtheden van de contactvlakken deze te voorzien van aansluitsporen.5 With even greater densities of the test surfaces on the printed circuit boards to be measured, the positioning of the screens must be done so precisely that this requires highly advanced techniques. This greatly increases the costs of manufacturing the test adapters. At very large densities it may even occur that there is insufficient space between the contact surfaces to provide the contact surfaces with 10 connecting tracks. An embodiment of the method according to the invention with which these costs can be limited and with which contact surfaces with very high densities can also be provided with connecting tracks, is characterized in that the electrically conductive paths are applied in several layers one above the other, before applying a next layer an insulating layer 15 is applied to the previous layer, which is contacted in a number of places. By distributing the web pattern over different layers, it is possible to provide it with connecting tracks even at very high densities of the contact surfaces.
Voor het afschermen van het banenpatroon is een voordelige uitvoeringsvorm gekenmerkt, doordat op de elektrisch geleidende banen een verder substraat voorzien van 20 doorcontacteringen aangebracht wordt. Een andere gunstige uitvoeringsvorm hiervan is gekenmerkt, doordat de elektrisch geleidende banen afgedekt worden met een elektrische isolatielaag die ter plaatse van de contactvlakken doorgecontacteerd wordt. Voor het verkrijgen van goede contacteringsmogelijkheden met de printplaat of test-inrichting zijn bij deze laatste uitvoeringsvorm bij voorkeur verhogingen van het elektrische geleidende 25 materiaal gevormd op de doorgecontacteerde plaatsen in de isolatielaag.An advantageous embodiment for shielding the web pattern is characterized in that a further substrate provided with 20 further contacts is applied to the electrically conductive webs. Another favorable embodiment of this is characterized in that the electrically conductive paths are covered with an electric insulating layer which is contacted at the location of the contact surfaces. In order to obtain good contact possibilities with the printed circuit board or test device, in this latter embodiment, preferably, elevations of the electrically conductive material are formed at the through-contacted places in the insulating layer.
De uitvinding heeft tevens betrekking op een test-adapter, voor het elektrisch geleidend koppelen van meetvlakken aanwezig in een test-inrichting met testvlakken aanwezig op een te testen printplaat, omvattende een substraat met aan een zijde eerste contactvlakken in een met de meetvlakken corresponderende configuratie en aan de andere 30 zijde tweede contactvlakken in een met de testvlakken corresponderende configuratie, waarbij de eerste en tweede contactvlakken elektrisch met elkaar zijn verbonden via elektrisch geleidende banen en doorcontacteringen.The invention also relates to a test adapter for electrically conducting coupling of measuring surfaces present in a test device with test surfaces present on a printed circuit board to be tested, comprising a substrate with first contact surfaces on one side in a configuration corresponding to the measuring surfaces and on the other side, second contact surfaces in a configuration corresponding to the test surfaces, wherein the first and second contact surfaces are electrically connected to each other via electrically conductive paths and through contacts.
1004510 41004510 4
Voor het kunnen testen van printplaten met zeer hoge spoordichtheden is de test-adapter volgens de uitvinding gekenmerkt, doordat de elektrisch geleidende banen in verschillende lagen boven elkaar aanwezig zijn met doorgecontacteerde isolatielagen ertussen. Door de elektrisch geleidende banen welke de aansluitsporen vormen voor de 5 contactvlakken over verschillende lagen te verdelen kunnen contactvlakken met hogere dichtheden voorzien worden van aansluitsporen. Het in verschillende lagen aanbrengen van de elektrisch geleidende banen is nieuw bij test-adapters. Deze op het eerste gezicht voor de hand liggende oplossing is niet voor de hand liggend gebleken daar test-adapter fabrikanten nooit eerder op deze oplossing zijn gekomen ondanks de bestaande urgente 10 behoefte aan test-adapters met grotere dichtheden van de contactvlakken. Mede door de hierboven beschreven nieuwe wijze van vervaardigen van test-adapters is het mogelijk geworden om tegen aanvaardbare kosten de banenpatronen in meer lagen aan te brengen.In order to be able to test printed circuit boards with very high track densities, the test adapter according to the invention is characterized in that the electrically conductive tracks are present in several layers one above the other with contacted insulating layers in between. By distributing the electrically conductive paths which form the connection tracks for the contact surfaces over different layers, contact surfaces with higher densities can be provided with connection tracks. Laying the electrically conductive paths in different layers is new with test adapters. This seemingly obvious solution has not been obvious since test adapter manufacturers have never come up with this solution despite the urgent need for test adapters with greater contact patch densities. Partly due to the new method of manufacturing test adapters described above, it has become possible to apply the web patterns in multiple layers at an acceptable cost.
Een voordelige uitvoeringsvorm van de test-adapter waarbij het banenpatroon goed is afgeschermd, is gekenmerkt, doordat het substraat opgebouwd is uit 15 twee plaatdelen waartussen zich de geleidingsbanen bevinden. Een andere gunstige uitvoeringsvorm hiervan is gekenmerkt, doordat de geleidingsbanen afgedekt zijn met een ter plaatse van de contactvlakken doorgecontacteerde elektrische isolatielaag. Om goede contacteringsmogelijkheden met de printplaat of test-inrichting te verkrijgen is een verdere uitvoeringsvorm van deze laatste test-adapter gekenmerkt, doordat op de 20 doorgecontacteerde plaatsen in de elektrische isolatielaag verhogingen van het elektrisch geleidend materiaal aanwezig zijn. Nog een verdere uitvoeringsvorm waarmee goede contacteringen verkregen kan worden is gekenmerkt, doordat op de doorgecontacteerde plaatsen in het substraat uitstulpingen van het elektrisch geleidend materiaal aanwezig zijn.An advantageous embodiment of the test adapter, in which the track pattern is well shielded, is characterized in that the substrate is built up of two plate parts between which the guide tracks are located. Another favorable embodiment of this is characterized in that the conducting tracks are covered with an electrical insulating layer contacted at the location of the contact surfaces. In order to obtain good contact possibilities with the printed circuit board or test device, a further embodiment of the latter test adapter is characterized in that elevations of the electrically conductive material are present at the 20 contacted places in the electrical insulation layer. Yet a further embodiment with which good contactings can be obtained is characterized in that protrusions of the electrically conductive material are present at the contacted places in the substrate.
De uitvinding heeft voorts betrekking op een werkwijze voor het testen van 25 printplaten, waarbij een te testen printplaat voorzien van testvlakken tussen twee delen van een test-inrichting voorzien van meetvlakken gebracht wordt, waarbij tussen de printplaat en de test-inrichting ten minste één test-adapter voorzien van contactvlakken gebracht wordt voor het elektrisch koppelen van de testvlakken met de meetvlakken, waarna de beide delen van de test-inrichting naar elkaar toe gebracht worden en de contactvlakken in contact 30 komen met de test- en meetvlakken. Bij de bekende werkwijzen voor het testen van printplaten worden ten behoeve van het maken van contact tussen de contactvlakken van de test-adapters en de meetvlakken van de printplaat verende elementen toegepast, welke 1004510 5 meestal op of onder de contactvlakken zijn aangebracht, zoals bijvoorbeeld elektrisch geleidende veertjes op de contactvlakken of contactvlakken op elastische folie waarbij onder de contactvlakken een uitsparing in het substraat aanwezig is. Deze verende elementen maken de constructie van de test-adapter gecompliceerd en kunnen voor wat betreft 5 miniaturisatie geen gelijke tred houden met de voortschreidende miniaturisatie van de te testen printplaten. Deze miniaturisatie van de testvlakken en daardoor ook de vereiste reductie van de afmetingen van de contactvlakken van de test-adapters, leidt tot aanzienlijke en vooralsnog onopgeloste problemen ten aanzien van de constructie van deze verende elementen.The invention furthermore relates to a method for testing printed circuit boards, in which a printed circuit board to be tested provided with test surfaces is placed between two parts of a test device provided with measuring surfaces, wherein at least one test is placed between the printed circuit board and the test device adapter provided with contact surfaces for electrically coupling the test surfaces to the measuring surfaces, after which the two parts of the test device are brought together and the contact surfaces come into contact with the test and measuring surfaces. In the known methods for testing printed circuit boards, for the purpose of making contact between the contact surfaces of the test adapters and the measuring surfaces of the printed circuit board, resilient elements are used, which are usually arranged on or under the contact surfaces, such as electrically conductive springs on the contact surfaces or contact surfaces on elastic foil, with a recess in the substrate under the contact surfaces. These resilient elements complicate the construction of the test adapter and, in terms of miniaturization, cannot keep pace with the progressive miniaturization of the printed circuit boards under test. This miniaturization of the test surfaces, and therefore also the required reduction in the dimensions of the contact surfaces of the test adapters, leads to considerable and as yet unsolved problems in the construction of these resilient elements.
10 Een verder doel van de uitvinding is een werkwijze voor het testen van printplaten van de hierboven omschreven soort te verschaffen, waarbij een juiste contactering tussen de test-adapter en de te testen printplaat verkregen wordt. Hiertoe is de werkwijze voor het testen van printplaten volgens de uitvinding gekenmerkt, doordat op de test-adapter een uniforme druk uitgeoefend wordt en daardoor elastisch wordt vervormd, 15 waardoor de contactvlakken van de test-adapter in contact worden gebracht met de testvlakken van de te testen printplaat. Door gebruik te maken van de elastische (in hoofdzaak samendrukbare) eigenschappen van de test-adapter, het zogenaamde stempeleffect, zijn er geen extra verende elementen nodig waardoor de problemen ten aanzien van de miniaturisatie van de verende elementen zich ook niet voordoen. Dit is een 20 geheel nieuwe benaderingswijze van het testen van printplaten, waarbij voorheen gebruikt gemaakt werd van verende elementen. Volstaan kan worden met bestaande gebruikelijke materialen voor test-adapters. Deze bezitten reeds voldoende elasticiteit.A further object of the invention is to provide a method for testing printed circuit boards of the type described above, wherein proper contacting between the test adapter and the printed circuit board to be tested is obtained. To this end, the method for testing printed circuit boards according to the invention is characterized in that a uniform pressure is exerted on the test adapter and is thereby elastically deformed, whereby the contact surfaces of the test adapter are brought into contact with the test surfaces of the test adapter. testing circuit board. By making use of the elastic (substantially compressible) properties of the test adapter, the so-called stamping effect, no additional resilient elements are required, so that the problems with regard to the miniaturization of the resilient elements do not arise either. This is a completely new approach to circuit board testing, previously using resilient elements. Sufficient existing conventional materials for test adapters will suffice. These already have sufficient elasticity.
Een uitvoeringsvorm van de werkwijze voor het testen van printplaten volgens de uitvinding is gekenmerkt, doordat tussen de test-inrichting en de test-adapter een 25 drukplaat aangebracht wordt via welke de druk uniform wordt overgebracht. Hierdoor wordt een uniforme aandrukkracht gewaarborgd waardoor men verzekerd is dat ook alle contactvlakken contact maken met de testvlakken.An embodiment of the method for testing printed circuit boards according to the invention is characterized in that a printing plate is arranged between the test device and the test adapter via which the pressure is uniformly transferred. This ensures a uniform contact pressure, which ensures that all contact surfaces also make contact with the test surfaces.
Om er zeker van te zijn dat er een voldoende aandrukkracht aanwezig is, is een verdere uitvoeringsvorm gekenmerkt, doordat de druk waarmee de test-adapter tegen 30 de te testen printplaat gedrukt wordt, gemeten wordt door ten minste één druksensor.In order to ensure that a sufficient contact pressure is present, a further embodiment is characterized in that the pressure with which the test adapter is pressed against the printed circuit board to be tested is measured by at least one pressure sensor.
Hieronder zal de uitvinding nader worden toegelicht aan de hand van in de tekeningen weergegeven uitvoeringsvoorbeelden van de test-adapter volgens de uitvinding.The invention will be explained in more detail below with reference to illustrative embodiments of the test adapter according to the invention shown in the drawings.
1004510 61004510 6
Hierbij toont:Hereby shows:
Figuur 1 een schematische weergave van een test-inrichting met adapters, drukplaten en een te testen printplaat;Figure 1 shows a schematic representation of a test device with adapters, printing plates and a printed circuit board to be tested;
Figuur 2 een doorsnede van een eerste uitvoeringsvorm van een test-adapter 5 volgens de uitvinding;Figure 2 shows a cross-section of a first embodiment of a test adapter 5 according to the invention;
Figuur 3 een doorsnede van een tweede uitvoeringsvorm van een test-adapter volgens de uitvinding;Figure 3 shows a cross-section of a second embodiment of a test adapter according to the invention;
Figuur 4 een stap in de werkwijze volgens de uitvinding waarbij elektrisch geleidend materiaal wordt aangebracht in gaten in het substraat van de test-adapter; 10 Figuur 5 een bovenaanzicht van een zeef voor het aanbrengen van een laag van het banenpatroon van de test-adapter; enFigure 4 shows a step in the method according to the invention in which electrically conductive material is placed in holes in the substrate of the test adapter; Figure 5 shows a top view of a screen for applying a layer of the web pattern of the test adapter; and
Figuur 6 een verdere stap in de werkwijze volgens de uitvinding waarbij verhogingen op de doorgecontacteerde plaatsen aangebracht worden.Figure 6 shows a further step in the method according to the invention in which elevations are applied to the contacted places.
In figuur 1 is een test-opstelling weergegeven voor het testen van printplaten. 15 De test-opstelling omvat een test-inrichting 1 voorzien van meetvlakken 3. De te testen printplaat 5 is in dit voorbeeld een tweezijdig bedrukte printplaat voorzien van testvlakken 7 aan elke zijde. De testvlakken 7 hebben een andere configuratie dan die van de meetvlakken 3 en hebben een veel grotere dichtheid dan de meetvlakken. Voor de koppeling van de testvlakken 7 met de meetvlakken 3 bevindt zich tussen elke zijde van de printplaat 20 5 en de test-inrichting 1 een test-adapter 9. De test-adapter 9 bestaat uit een substraat 11 met aan een zijde eerste contactvlakken 13 in een met de meetvlakken 3 corresponderende configuratie en aan de andere zijde tweede contactvlakken 15 in een met de testvlakken 7 corresponderende configuratie. De eerste en tweede contactvlakken zijn elektrisch met elkaar verbonden door elektrisch geleidende banen 17. Tussen de test-adapters 9 en de test-25 inrichting 1 bevinden zich units 19 met verende compensatie stiften 21, die de eerste contactvlakken 13 elektrisch koppelen met de meetvlakken 3 en eventuele hoogteverschillen opvangen. Deze units 19 zijn meestal nodig om de afstand tussen de beide delen van bestaande test-inrichtingen 1 en de test-adapters 9 te overbruggen. Deze units zouden achterwege kunnen blijven indien gewerkt wordt met nieuwe test-inrichtingen welke speciaal 30 voor deze nieuwe test-methoden ontworpen zijn. Voor het testen worden de beide getoonde delen van de test-inrichting 1 naar elkaar toe gebracht waarbij de test-adapters 9 met hun tweede contactvlakken 15 tegen de testvlakken 7 worden gedrukt. De aandrukkracht dient 1004510 7 voldoende groot en uniform te zijn om ervan verzekerd te zijn dat alle testvlakken 7 contact maken met de tweede contactvlakken 15. Dit wordt bereikt door tussen de test-adapters 9 en de units 19 of, bij afwezigheid van de units, de test-inrichting 1 drukplaten 20 aan te brengen. Deze drukplaten 20 dienen zeer stijf te zijn en zijn daartoe bijvoorbeeld uit massief 5 aluminium vervaardigd. Door het aandrukken worden de test-adapters 9 elastisch vervormd waardoor de contactvlakken 15 tegen de testvlakken 7 gedrukt worden. Om ervoor te zorgen dat er een voldoende grote druk wordt aangebracht, wordt de druk tussen de test-adapters 9 en de te meten printplaten 5 gemeten door middel van druksensoren 22.Figure 1 shows a test setup for testing printed circuit boards. The test arrangement comprises a test device 1 provided with measuring surfaces 3. The printed circuit board 5 to be tested in this example is a printed circuit board printed on both sides with test surfaces 7 on each side. The test surfaces 7 have a different configuration than that of the measuring surfaces 3 and have a much greater density than the measuring surfaces. A test adapter 9 is provided between each side of the printed circuit board 20 5 and the test device 1 for coupling the test surfaces 7 to the measuring surfaces 3. The test adapter 9 consists of a substrate 11 with first contact surfaces 13 on one side. in a configuration corresponding to the measuring surfaces 3 and on the other side second contact surfaces 15 in a configuration corresponding to the test surfaces 7. The first and second contact surfaces are electrically connected to each other by electrically conductive paths 17. Between test adapters 9 and test 25 device 1 there are units 19 with resilient compensation pins 21, which electrically couple the first contact surfaces 13 to the measuring surfaces 3 and absorb any height differences. These units 19 are usually required to bridge the distance between the two parts of existing test devices 1 and the test adapters 9. These units may be omitted if new test devices are used which are specially designed for these new test methods. For testing, the two parts of the test device 1 shown are brought together, the test adapters 9 being pressed against the test surfaces 7 with their second contact surfaces 15. The contact pressure must be 1004510 7 sufficiently large and uniform to ensure that all test surfaces 7 make contact with the second contact surfaces 15. This is achieved by passing between test adapters 9 and units 19 or, in the absence of the units, the test device 1 arranges printing plates 20. These printing plates 20 must be very rigid and for this purpose are made of, for example, solid aluminum. The test adapters 9 are elastically deformed by pressing, so that the contact surfaces 15 are pressed against the test surfaces 7. To ensure that a sufficiently large pressure is applied, the pressure between the test adapters 9 and the printed circuit boards 5 to be measured is measured by means of pressure sensors 22.
In figuur 2 is een eerste uitvoeringsvorm van de test-adapter 9 volgens de 10 uitvinding in doorsnede weergegeven. Het substraat 11 van de test-adapter 9 is opgebouwd uit twee plaatdelen 23,25 waartussen zich de geleidingsbanen 17 bevinden. Aan een zijde van het substraat bevinden zich de eerste contactvlakken 13 in een met de meetvlakken 3 corresponderende configuratie. Aan de andere zijde bevinden zich de tweede contactvlakken 15 in een met de testvlakken 7 corresponderende configuratie. De plaatdelen 23, 25 zijn 15 doorgecontacteerd. Deze doorcontacteringen 27, 29 zijn gevormd door in gaten 31, 33 aanwezig elektrisch geleidend materiaal, met uitstulpingen 35,37 aan de buitenste zijden van het substraat 11. De elektrisch geleidende banen 17 bevinden zich in verschillende lagen 39 boven elkaar. De ruimten 41 tussen de banen 17 in een laag zijn gevuld met een isolatiemateriaal. Tussen deze lagen 39 zijn isolatielagen 41 aanwezig die op een aantal 20 plaatsen voorzien zijn van doorcontacteringen 43. Het bovenste plaatdeel 25 kan eventueel ook weggelaten worden. Hiervoor in plaats dienen dan bij voorkeur wel verhogingen op de doorgecontacteerde plaatsen van de bovenste isolatielaag aangebracht te worden ten behoeve van het verbeteren van het contact met de meetvlakken.Figure 2 shows a cross-section of a first embodiment of the test adapter 9 according to the invention. The substrate 11 of the test adapter 9 is composed of two plate parts 23, 25 between which the guide tracks 17 are located. On one side of the substrate, the first contact surfaces 13 are in a configuration corresponding to the measuring surfaces 3. On the other side, the second contact surfaces 15 are in a configuration corresponding to the test surfaces 7. The plate parts 23, 25 are contacted through. These through-contacts 27, 29 are formed by electrically conductive material present in holes 31, 33, with protrusions 35,37 on the outer sides of the substrate 11. The electrically conductive paths 17 are arranged in several layers 39 one above the other. The spaces 41 between the sheets 17 in a layer are filled with an insulating material. Insulating layers 41 are provided between these layers 39 and are provided at a number of places with through-contacts 43. The top plate part 25 can optionally also be omitted. Instead, it is preferable to provide elevations at the through-contacted locations of the upper insulating layer in order to improve contact with the measuring surfaces.
In figuur 3 is een tweede uitvoeringsvorm van de test-adapter volgens de 25 uitvinding in doorsnede weergegeven. Bij deze test-adapter 45 bevinden de elektrisch geleidende banen 47 zich allen in één laag 49 op het substraat 51. Tussen de banen 47 bevindt zich isolatiemateriaal 53. De laag 49 is afgedekt met een elektrische isolatielaag 55. Ter plaatse van de contactvlakken 57 is deze isolatielaag 55 doorgecontacteerd. Op de doorgecontacteerde plaatsen zijn verhogingen 59 van het elektrisch geleidend materiaal 30 aangebracht. Deze verhogingen 59 vormen de tweede contactvlakken 57.Figure 3 shows a cross-section of a second embodiment of the test adapter according to the invention. With this test adapter 45, the electrically conductive paths 47 are all in one layer 49 on the substrate 51. Between the paths 47 there is insulating material 53. The layer 49 is covered with an electrical insulating layer 55. At the location of the contact surfaces 57 this insulating layer 55 is contacted. Elevations 59 of the electrically conductive material 30 are provided at the through-contacted locations. These elevations 59 form the second contact surfaces 57.
In figuur 4 is een stap in het fabricageproces van de in figuur 2 weergegeven eerste uitvoeringsvorm van de test-adapter getoond. Vooraf hieraan zijn in het substraat 11 1004510 8 gaten 31 gemaakt. Deze kunnen door mechanisch boren of met een laser- of waterstraal gemaakt zijn. De ruimte 61 onder het substraat 11 wordt vacuüm gezogen. Vervolgens wordt een zeef 63 op het substraat 11 aangebracht met enkel openingen 65 ter plaatse van de gaten 31. Met een rubberen strip 67 wordt vervolgens een elektrisch geleidende pasta 69 5 door de openingen 65 in de gaten 31 gestreken. Als pasta kan bijvoorbeeld gebruikt worden een pasta met een geleidende polymeer of een zilver-pasta. Door het aan de onderzijde aanwezige vacuüm wordt de pasta 69 in de gaten 31 gezogen waardoor het vullen van de gaten verbeterd wordt. Tijdens dit proces ontstaan aan de onderzijde van het substraat uitstulpingen 35 van het geleidende materiaal zoals in figuur 2 is weergegeven.Figure 4 shows a step in the manufacturing process of the first embodiment of the test adapter shown in Figure 2. Prior to this, 8 holes 31 have been made in the substrate 11 1004510. These can be made by mechanical drilling or with a laser or water jet. The space 61 under the substrate 11 is evacuated. Then a screen 63 is applied to the substrate 11 with only openings 65 at the locations of the holes 31. With an rubber strip 67, an electrically conductive paste 69 is then passed through the openings 65 in the holes 31. As a paste, for example, a paste with a conductive polymer or a silver paste can be used. Due to the vacuum present at the bottom, the paste 69 is drawn into the holes 31, which improves the filling of the holes. During this process, protuberances 35 of the conductive material as shown in Figure 2 are formed on the underside of the substrate.
10 Hierna worden de elektrisch geleidende banen in één of meer lagen op het substraat aangebracht door middel van zeefdrukken. Dit wordt beschreven aan de hand van de figuren 5 en 6. In deze processtap wordt een tweede laag van elektrisch geleidende banen aangebracht nadat daarvoor al een eerste laag 71 en een isolatielaag 73 op het substraat 11 zijn aangebracht. Het banenpatroon en de door te contacteren plaatsen zijn als openingen 15 75 in een zeef 77 aangebracht, zie figuur 5. De zeef 77 bestaat uit een raster van zeer fijne draden 79 waarop een afdeklaag 81 is aangebracht. In figuur 6 is deze zeef 77 op de reeds aanwezige lagen 71 en 73 op het substraat 11 gepositioneerd. Dit positioneren dient uiterst nauwkeurig te geschieden en gebeurt daarom bij voorkeur op geautomatiseerde mechanische wijze. Vervolgens wordt met een rubberen strip 83 elektrisch geleidend 20 materiaal 85 in pastavorm in de openingen 75 gestreken. Het kan gewenst zijn dit in een aantal strijkgangen te laten plaatsvinden. Ook dit strijken dient bij voorkeur automatisch op mechanische wijze uitgevoerd te worden. Hierna wordt met een verdere zeef, die uitsluitend de zojuist gevormde banen en doorcontacteerplaatsen afdekt, de ruimte tussen deze banen en doorcontacteerplaatsen gevuld met isolatiemateriaal, ook weer bij voorkeur door 25 zeefdrukken. Voor de elektrisch geleidende pasta kunnen in de printplaten- en zeefdruktechniek bekende materialen toegepast worden. Hetzelfde geldt voor de isolatiematerialen.After this, the electrically conductive strips are applied to the substrate in one or more layers by means of screen printing. This is described with reference to Figures 5 and 6. In this process step, a second layer of electrically conductive strips is applied after a first layer 71 and an insulating layer 73 have already been applied to the substrate 11 before this. The web pattern and the places to be contacted are arranged as openings 15 75 in a screen 77, see figure 5. The screen 77 consists of a grid of very fine wires 79 on which a cover layer 81 is applied. In figure 6, this screen 77 is positioned on the already present layers 71 and 73 on the substrate 11. This positioning has to be done very accurately and is therefore preferably done in an automated mechanical manner. Then, with a rubber strip 83, electrically conductive material 85 is pasted into the openings 75 in paste form. It may be desirable to have this take place in a number of strokes. This ironing, too, should preferably be carried out automatically in a mechanical manner. After this, with a further screen, which only covers the just-formed webs and through-contact points, the space between these webs and through-contact places is filled with insulating material, again preferably by screen printing. Known materials can be used for the electrically conductive paste in the printed circuit board and screen printing technology. The same goes for the insulation materials.
Hoewel in het voorgaande de uitvinding is toegelicht aan de hand van de tekeningen, dient te worden vastgesteld dat de uitvinding geenszins tot de in de tekeningen 30 getoonde uitvoeringsvormen is beperkt. De uitvinding strekt zich mede uit tot alle van de in de tekeningen getoonde uitvoeringsvormen afwijkende uitvoeringsvormen binnen het door de conclusies gedefinieerde kader. Zo kan de test-adapter vanzelfsprekend ook ,1004510 9 gebruikt worden in test-inrichtingen voor het testen van eenzijdig bedrukte printplaten. Ook kan de werkwijze voor het testen van printplaten met andere test-adapters dan de test-adapter volgens de uitvinding uitgevoerd worden zolang maar gebruik gemaakt wordt van het zogenaamde stempeleffect waarbij het contact tot stand wordt gebracht door elastische 5 vervorming en niet door verende elementen.Although the invention has been elucidated with reference to the drawings in the foregoing, it should be noted that the invention is by no means limited to the embodiments shown in the drawings. The invention also extends to all embodiments deviating from the embodiments shown in the drawings within the scope defined by the claims. For example, the test adapter 1004510 9 can of course also be used in test devices for testing printed circuit boards printed on one side. Also, the method for testing printed circuit boards with test adapters other than the test adapter according to the invention can be carried out as long as use is made of the so-called stamping effect in which the contact is effected by elastic deformation and not by resilient elements.
10045101004510
Claims (15)
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL1004510A NL1004510C2 (en) | 1996-11-12 | 1996-11-12 | Method for manufacturing a test adapter as well as test adapter and a method for testing printed circuit boards. |
AU49700/97A AU4970097A (en) | 1996-11-12 | 1997-11-11 | Method for the manufacture of a test adapter as well as test adapter and a method for the testing of printed circuit-boards |
PCT/NL1997/000616 WO1998021597A1 (en) | 1996-11-12 | 1997-11-11 | Method for the manufacture of a test adapter as well as test adapter and a method for the testing of printed circuit-boards |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL1004510 | 1996-11-12 | ||
NL1004510A NL1004510C2 (en) | 1996-11-12 | 1996-11-12 | Method for manufacturing a test adapter as well as test adapter and a method for testing printed circuit boards. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NL1004510C2 true NL1004510C2 (en) | 1998-05-14 |
Family
ID=19763858
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NL1004510A NL1004510C2 (en) | 1996-11-12 | 1996-11-12 | Method for manufacturing a test adapter as well as test adapter and a method for testing printed circuit boards. |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
AU (1) | AU4970097A (en) |
NL (1) | NL1004510C2 (en) |
WO (1) | WO1998021597A1 (en) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6741085B1 (en) | 1993-11-16 | 2004-05-25 | Formfactor, Inc. | Contact carriers (tiles) for populating larger substrates with spring contacts |
US6483328B1 (en) | 1995-11-09 | 2002-11-19 | Formfactor, Inc. | Probe card for probing wafers with raised contact elements |
US6690185B1 (en) | 1997-01-15 | 2004-02-10 | Formfactor, Inc. | Large contactor with multiple, aligned contactor units |
DE19838407C2 (en) * | 1998-08-24 | 2000-11-23 | Siemens Ag | Contacting device, in particular for contacting printed circuit boards, multichip modules, wafers and other electrical components to a test device, method for their production and test device |
JP2004500699A (en) * | 1999-05-27 | 2004-01-08 | ナノネクサス インコーポレイテッド | Structure and manufacturing method of integrated circuit wafer probe card assembly |
US7215131B1 (en) | 1999-06-07 | 2007-05-08 | Formfactor, Inc. | Segmented contactor |
US7189077B1 (en) | 1999-07-30 | 2007-03-13 | Formfactor, Inc. | Lithographic type microelectronic spring structures with improved contours |
US6780001B2 (en) | 1999-07-30 | 2004-08-24 | Formfactor, Inc. | Forming tool for forming a contoured microelectronic spring mold |
US6939474B2 (en) | 1999-07-30 | 2005-09-06 | Formfactor, Inc. | Method for forming microelectronic spring structures on a substrate |
US6888362B2 (en) | 2000-11-09 | 2005-05-03 | Formfactor, Inc. | Test head assembly for electronic components with plurality of contoured microelectronic spring contacts |
AT412027B (en) * | 2001-02-12 | 2004-08-26 | Austria Tech & System Tech | METHOD AND DEVICE FOR LOCALIZING POSSIBLY FAULTY PINS IN A TEST ADAPTER AND PEN DRAWING TOOL |
US7009381B2 (en) | 2002-03-21 | 2006-03-07 | Agilent Technologies, Inc. | Adapter method and apparatus for interfacing a tester with a device under test |
US6828773B2 (en) * | 2002-03-21 | 2004-12-07 | Agilent Technologies, Inc. | Adapter method and apparatus for interfacing a tester with a device under test |
CN109270299B (en) * | 2017-07-18 | 2020-11-10 | 泰可广科技股份有限公司 | Circuit rotating plate integrating thin film circuit board and spring needle |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2529406A1 (en) * | 1982-06-23 | 1983-12-30 | Labo Electronique Physique | Rotor for printed circuit electric motor rotor mfr. - using thick film integrated circuit fabrication techniques onto aluminium disc to form rotor capable of high temp. operation |
EP0278484A2 (en) * | 1987-02-13 | 1988-08-17 | Aristo Graphic Systeme GmbH & Co KG | Process for making a digitalization board |
US5030318A (en) * | 1989-09-28 | 1991-07-09 | Polycon Corporation | Method of making electrical probe diaphragms |
-
1996
- 1996-11-12 NL NL1004510A patent/NL1004510C2/en not_active IP Right Cessation
-
1997
- 1997-11-11 WO PCT/NL1997/000616 patent/WO1998021597A1/en active Application Filing
- 1997-11-11 AU AU49700/97A patent/AU4970097A/en not_active Abandoned
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2529406A1 (en) * | 1982-06-23 | 1983-12-30 | Labo Electronique Physique | Rotor for printed circuit electric motor rotor mfr. - using thick film integrated circuit fabrication techniques onto aluminium disc to form rotor capable of high temp. operation |
EP0278484A2 (en) * | 1987-02-13 | 1988-08-17 | Aristo Graphic Systeme GmbH & Co KG | Process for making a digitalization board |
US5030318A (en) * | 1989-09-28 | 1991-07-09 | Polycon Corporation | Method of making electrical probe diaphragms |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1998021597A1 (en) | 1998-05-22 |
AU4970097A (en) | 1998-06-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NL1004510C2 (en) | Method for manufacturing a test adapter as well as test adapter and a method for testing printed circuit boards. | |
JPH0814603B2 (en) | Test connector for electrical equipment | |
CN109068478B (en) | Flexible circuit board and display device | |
KR920017524A (en) | Shear Stress Interconnect Devices and Methods | |
TW472205B (en) | Coordinate data input device and method of fabricating the same | |
TW200426378A (en) | Electrical inspection apparatus | |
US4510345A (en) | Screen for electrical circuits | |
EP0100144B1 (en) | Low cost electronic apparatus construction method | |
KR20110015902A (en) | Inspection device of printed circuit board | |
JPS6058831B2 (en) | Characteristic inspection jig for electronic components | |
JPS5856277B2 (en) | How to install electronic components | |
JPH06784Y2 (en) | Jig for inspection of electronic parts | |
KR100480860B1 (en) | LCD Display | |
US7408189B2 (en) | Method of testing FPC bonding yield and FPC having testing pads thereon | |
KR20020062955A (en) | Undetachable electrical and mechanical connection, contact element for an undetachable electrical and mechanical connection and method for producing such an electrical and mechanical connection | |
JP4334684B2 (en) | Substrate inspection sensor and substrate inspection apparatus | |
JP4467027B2 (en) | Electrical circuit disconnection inspection method | |
JPH045022Y2 (en) | ||
US4950981A (en) | Apparatus for testing a circuit board | |
JP3252765B2 (en) | Inspection equipment for printed wiring boards | |
CN210514583U (en) | Test system of touch display screen | |
WO2021193579A1 (en) | Inspection probe and inspection device | |
JP2011034978A (en) | Ic socket | |
JPH06201750A (en) | Inspecting device for wiring board | |
JP2002181874A (en) | Inspection device for printed circuit board |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PD2B | A search report has been drawn up | ||
VD1 | Lapsed due to non-payment of the annual fee |
Effective date: 20020601 |