KR970000021B1 - 직물 길이의 결함 검출 방법 - Google Patents

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Description

직물 길이의 결함 검출 방법

제1도는 결함 모니터 장치를 구비한 원형 편직기의 기본 구성의 측면도이다.

제2도는 제1도에 따른 결함 모니터 장치의 광전 감지 헤드의 측면에서의 축방향 단면도이다.

제3도는 제2도에 따른 감지 헤드의 전기 회로의 블럭 회로도이다.

제4도는 제1도에 따른 결함 모니터 장치의 전자 신호 분석 회로의 블럭 회로도이다.

제5도는 제1도에 따른 결함 모니터 장치의 제어 장치의 작동 측면상의 전방 패널을 다른 축척에 의해 나타낸 평면도이다.

제6도 내지 제9도는 제4도에 따른 결함 모니터 장치의 신호 분석 회로의 마이크로 컴퓨터상에 대한 프로그램의 연속 흐름도이다.

본 발명은 직물의 길이, 특히 편직기(편성기) 또는 원형 경편기상에서 제조된 관형 편직물에 존재하는 결함(fault)을 검출하는 방법에 관한 것으로서, 직물의 길이는 감지 수단에 의해 스트립 형태의 적어도 한 영역에서 광전 방법으로 스캔되며, 이 감지 수단은 직물의 상태를 기록하기 위해 스트립 형태 영역내에 놓인 다수의 감지 포인트에서 전기 판별 감지 신호를 발생하며, 결함을 판별하기 위해 여러 가지 결함 형태중 다른 형상 및/또는 다른 크기 사이의 차이를 제공하고, 이 방법으로 감지된 결함 형태에 대해 디스플레이 및/또는 제어 또는 스위치 장치에 에너지를 가하기 위해 개별 출력 신호가 발생되며, 스트립 형태 영역에 교차하는 방향으로 소정의 속도의 상대 이동은 스캔 동안에 직물의 길이와 감지 수단 사이에서 유지되며, 스캔될 직물 길이의 영역은 여러번 스캔되는 것이 양호하다.

고속 원형 편직기에서, 작동하는 동안에 연속적으로 인출되는 관형 직물을 결함 발생에 대해 모니터할 필요가 있다. 이 결함은 점(spot) 결함, 즉 관형 직물, 주로 스티치의 웨일(wale)에 걸친, 관형 직물의 길이 방향에 대하여 횡방향으로의 풀림 및 사절단(thred break)에 의하여 유발되는 구멍(holes)일 것이다. 그러나 그것은 또한 롱(long) 결함일 수 있는데, 즉 스티치(stitch)의 수개의 코스에 걸쳐 관형 직물을 따라 종방향으로 연장되고 대표적으로 런(runs)이라 일컫는 결함이 될 수 있다. 열등한 품질의 편성사(knitting yarn)에서와 같이 단지 돌발적으로 발생하는 점 결함, 또는 비교적 짧은 길이의 롱 결함으로 인해, 기계를 자주 정지시킬 수는 없다. 그러나, 단위 시간당 또는 직물 롤당 발생하는 이 결함의 수를 기록하는 것이 바람직하다. 그러나, 상당한 길이 이상 연장한 관형 직물에서 갑자기 런이 발생하기 시작될 때, 니들 파손의 신호가 발생하고 기계를 가능한 빨리 정지시켜야 한다.

광전 감지 헤드 및 그에 관련된 분석 장치를 구비한 다양한 직물 모니터 장치는 직물, 특히 편직기 또는 원형 경편기에서 제조된 관형 편성 직물의 길이를 연속 모니터하기 위한 것으로 공지되어 있다. 이 감지 헤드는, 열로 배열되고 직물 결함으로 나타나는 직물의 반사율의 변화에 반응하여 대응 신호를 발생하는 광전관(photocell)의 형태로 광원 및 광 감지기로 작동된다. 이 신호들은 다양한 특징에 따라 공지된 다양한 방법으로 분석된다. 분석 결과가 소정의 허용 오차값을 초과했을 때 기계는 정지된다.

종래의 공지된 감지 장치의 대부분은, 이 장치들이 점 결함 및 롱 결함에 반응할지라도 연루된 결함의 형태에 따라 어떠한 확실한 결함 식별을 수행할 수 없다는 단점을 가진다. 편물 공정에서 불필요한 정지를 방지하기 위해서, 허용할 수 있는 결함율을 설정하고 이 결함율에 도달할 때 기계에 정지신호를 보내는 것이 바람직하다.

따라서, 보다 중요한 것은 런, 강하 스티치(dropped stitches), 인장 스티치(pulled stiches) 형태의 롱 결함 즉, 기계의 매회전시 반복하여 기록되는 결함을 검출하는 것이다. 상술한 바와 같이, 상당한 길이의 롱 결함은 스티치 형태의 지점에서 니들 결함으로 인해 일정하며, 편직물의 결함 길이를 방지하기 위해 신속히 바로 잡아야 한다.

한편, 편직물에서 짧은 간격의 결함 현상(예컨대 실에서 두껍거나 얇은 부분, 섬유등에서의 부서짐)으로 인한 기계의 불필요한 정지는 편직기의 생산성에 역효과를 나타내며 방해 인자로 다시 나타나기 때문에 명백히 방지되어야 한다. 광전 감지 헤드를 구비한 직물의 길이를 모니터하기 위한 공지된 장치 및 방법의 예는 많은 공보에서 개되어 있다.

독일 OS 1 938 677호에는, 관형 편직물내에 배열되고, 비임 감지기로서 적어도 하나의 감광성 반도체 소자(photodiode)를 구비한 조명 비임원을 가진 편직기 및 경편기용 런 감지기가 공지되어 있으며, 이 감광성 반도체 소자는 관형 직물로부터 일정한 거리에 배열되며, 그 감광성 반도체 소자중 하나는 직접적인 광을 비임원으로부터 감지할 수 없는 방식으로 비임원에 대하여 위치된다. 여기에서 제시한 광원은 표준 광원 또는 적외선 영역에서 작동하는 발광 다이오드이다. 광 감지기에 의해 보내진 신호를 분석하는 제어 회로가 어떻게 설계되었는가 하는 설명은 개시되어 있지 않다.

직물, 특히 편직물에서 결함을 감지 및 분석하기 위한 독일 PS 3 133 428호에 공지된 방법에서는, 다수의 이미터(emitter) 헤드가 사용되었으며, 신호 분석 회로는 마이크로 컴퓨터를 포함한다. 독일 PS 3 536 991호에 따른 마이크로 프로세서와 유사하게 작동하는 직물 모니터 장치는 직물 길이부의 반사율 레벨에 대해 그 민감도의 자동 조정을 허용하여 결함 기록의 신뢰성을 향상시킨다. 열로 배열된 다수의 적외선 광 다이오드는 광 펄스 이미터로서 사용된다.

런, 바아(bar), 니들 스트립 및 구멍(hole)을 감지하기 위해 원형 편직기의 직물의 길이부에서 결함을 모니터하기 위한 독일OS 4 001 650호에 공지된 방법에서, 기계의 속도에 상관없이 결함 모니터 장치가 자동적으로 보정되며, 기계 자동 정지 장치가 동일 위치에서 반복적으로 결함이 감지되는 경우에만 기계 자동 정지 장치가 작동된다. 기계 자동 정지 장치용에 요구된 결함의 반복적 발생의 횟수는 필요에 따라 조정할 수 있다. 그러나, 불필요한 정지를 방지하기 위해서, 런 자체의 결함만이 의도적으로 고려된다. 광전 센서는 열로 선택적으로 배열된 적외선 다이오드 및 광전 변환 소자(phototransistor)를 포함한다.

마지막으로, 본 발명의 기초를 형성하고 직물의 이동 방향에 횡방향으로 연장한 구멍, 즉 런의 본래 구멍과 비교적 작은 구멍 사이의 차이를 구별하도록 직물의 조각이나 길이에서 구멍을 감지하기 위한 장치가 독일 OS 2 644 502호에 공지되어 있다. 이 목적을 위해 광전 감지 수단은 직물 이동 방향에 횡방향으로 배열한 슬롯을 합체하여 사용하며, 이 슬롯에는 다수의 광전관(photocell)이 배열되며, 그 출력 신호는 서로 비교된다. 분석 회로는 각 광전간의 출력 신호와 나머지 광전관의 평균과를 비교하며, 대칭성이나 비대칭성 신호 분포상에서 점 결함 또는 롱 결함의 존재를 확인한다. 구멍으로 부터의 롱 결함(런) 및 그 차이점의 확인은 롱 결함이 수직 열로 배열된 광전관과 정확히 평행하게 작동되는 것으로 추측되기 때문에 이 수단에 의해 충분하게 신뢰할 수 있을 정도는 못된다. 그러한 요구조건은 초기의 원통형의 관형 직물이 직물 롤상에서 인장을 위해 평평하게 되어야만 하기 때문에 원형 편직기에서 실제로 불가능하다. 만일 열로 약간 비스듬히 놓인 런이 광전관을 통과한다면, 연속적으로 엇갈린 개개 신호가 이후에 발생하며, 그 결과 런이 빠른 연속물에서 발생하는 구멍으로서 잘못 해석된다.

본 발명의 목적은 이러한 기술 상황에 따라서 특히 편직기에서 제조된 관형 직물에서 점 결함과 롱 결함 사이의 분명한 식별로 결함의 검출시에 보다 신뢰성을 부여하는 동시에 쓸데없이 기계를 정지시키는 것을 방지하는 것이다.

이러한 목적을 성취하기 위해서, 이미 언급한 방법의 순서는, 각 감지 지점에 대한 확인 감지 신호가 각각 처리되어 분석되는 적어도 두 개의 결함 신호내로 그룹 형태로 반복적으로 수집되며, 이 분석에서 증폭값, 간격(시간), 및 각 그룹의 결함 신호의 개별 또는 집단 발생이 측정 또는 설정되며, 이로부터 분석은 하기와 같이 취해진다.

a) 소정의 제1증폭 한계값에서 벗어난 증폭값을 가진 적어도 하나의 결함 신호에서, 그 신호 기간이 측정 기간내에 많은 결함 신호를 발생함이 없이 소정의 제1시간 한계값 및 적어도 하나의 소정의 보다 긴 간격을 초과한다면, 이 결함은 점 결함으로 확인되며, b) 소정의 제2증폭 한계값에서 벗어난 증폭값을 가진 적어도 두 개의 결함 신호에서, 그 신호 기간이 적어도 하나의 소정의 보다 짧은 기간에 의해 소정의 제2시간 한계값을 초과하고 적어도 두 개의 결함 신호가 한 측정 기간 및 다른 기간내에 발생한다면, 이 결함은 롱 결함으로 확인되며, c) 상기 어느 결함도 없을 때는 결함이 없는 것으로 확인된다.

이 방법은 점 결함이나 구멍과 롱 결함이나 런의 차이를 올바르게 식별하도록 다양한 기준에 의거하여 결함 신호를 다차원(multi-dimensional)적으로 식별 분석한다.

제1 및 제2증폭 한계값은 동일하거나 상이할 수 있다. 두 개의 결함 형태가 개별적으로 분석될 때, 일반적으로 롱 결함의 경우 점 결함보다 월등한 감광 한계치에서 작동하며, 더우기 그 때문에 쓸데없는 정지가 생기지 않도록 하면 적합하다. 본 발명에 의하면 점 결함은 보다 큰 결함 신호 증폭을 발생한다. 그 증폭은 보다 낮은 감광 한계값으로 이 결함을 검출하도록 허용한다.

적어도 두 개의 다른 감광 한계값을 적용함으로써, 편직물의 불규칙성으로 인한 한계 결함도 구별할 수 있다.

이 평가에서 얻은 결함 신호의 신호 기간 분석은 일반적으로 점 결함(구멍)이 다수 직물에 걸쳐 연장되는, 즉 런보다 넓게 연장된다는 것에 근거한다. 한편 런은 하나의 직물로 일정하게 제한된다.

신호 기간 동안 적합한 증폭 한계값과 시간 한계값을 적용함으로서, 소수 불규칙성 및 전기 간섭 신호는 결함 검출로 제거된다.

소정의 측정 기간(논리 윈도우)내에서 결함 신호의 개별 또는 집단 발생이 결정될 때, 스트립형 감지 영역에 대해 런의 분명한 배열로 인해 그룹으로 수집된 개별 감지 수단으로 부터 나타난 감지 신호의 어떠한 시간 시프트는 롱 결함 대신에 많은 연속 구멍의 잘못된 판단으로 귀착되지 않는다. 이 평가 단계의 실제 실시예에서, 결함 신호는 소정의 기간에 걸친 일시적인 메모리로 개별적으로 유지될 수 있고 반복 발생에 대해서만 조사된다.

상술한 기준과 관련해서, AND-조건 또는 OR-조건이 연루된 결함 형태의 확실한 식별을 위해 결함 신호의 발생에 만족하는지 마지막으로 설정된다. 실제로, 결함 신호는 분석후에 결함의 형태가 각 결함 형태에 적합한 범주를 만족시킨다면 기계를 정지시킨다.

광전 감지 수단에 의해 발생된 감지 신호는 결함을 확인할 뿐만 아니라 직물의 광 감지 상태를 모니터하기 위해 사용될 수 있다. 예컨대, 누적 신호의 작용으로서 일정한 소정 광 감지 조건으로 광전 감지 수단을 자동적으로 보정하기 위해 이 감지 신호로 부터 부가된 누적 신호가 발생될 수 있다. 이 보정은 광원에 의해 나타난 전류의 펄스형 제어에 의해 양호하게 성취되어, 광 감지기(광전 변환 소자)는 최적 작동 영역내에서 일정하게 작동된다.

이 부가된 누적 신호는 소정의 허용 오차내에 있는지를 모니터하고, 이들중 하나가 허용오차를 초과했다면 제어 신호가 발생된다. 이 방법으로 예컨대 램프 파손, 맞물림 결함, 강한 외란 광, 제어 실패등과 같은 것이 감지수단(센서 헤드)의 영역에 나타나는지를 감지할 수 있다.

새로운 방법은 특허청구 범위에 기재되어 있다.

도면에서, 원형 편직기에 의해 제조된 관형 직물에 대한 본 발명에 따른 방법에 의해 작동되는 결함 모니터 장치가 실시예로 도시되어 있다. 하기에는 개략적인 형태로 도시되어 있다.

제1도에 개략 도시한 원형 편직기(1)는 프레임(2)을 가지며, 니들 실린더(3)는 수직축(4)상에 회전 가능하게 장착된다. 다중 공급 원형 편직기는 수직축(4)둘레를 회전하는 관형 직물(5)을 형성하며 이는 구동되는 통상의 직물 인출 장치(6)에 의해 인출되며 연속적으로 평탄한 직물(7)로 되도록 회전된다.

회전 또는 경편 관형 직물(5)은 니들 실린더(3) 아래의 고정 위치에 위치한 광전자 센서 헤드(8)에 의해 결함을 연속 모니터한다. 센서 헤드(8)는 기계 형태에 따라 관형 직물(5) 내측 또는 외측에 위치된다. 도시한 실시예에서 자루 직물(5)이 스캐닝은 외측에서 내측으로 이뤄지며, 그에 따라 센서 헤드(8)는 관형 직물(5)의 편성 구조와 관련되어 쿠션 형태로 다소 이동 할 수 있는 방식으로 브래킷(9)에 의해 기계 프레임(2)에 고정된다.

제2도에 개략적인 형태로 도시한 바와 같이, 센서 헤드(8)는 박스 형태의 하우징(10)을 가지며, 다수(본 발명의 경우에 여섯 개)의 광원(11)은 관련된 브래킷(12)상에서 지면의 평면에 수직으로 연장한 열(row)로 배열된다. 광원(11)으로 부터 나오고 콘덴서 렌즈에 의해 각 케이스에 집중된 광은 스트립 형태로 측방으로 감싸지고 하우징(10)의 면을 형성하여 직물(5) 길이부의 편물 구조체상으로 투명 디스크(13)를 통해 통과한다. 렌즈에 의해 반사된 빛은 투명 디스크(13) 및 하우징(10)에서의 렌즈(15)를 통과하며 광 감지기(16,본 발명의 경우 여섯 개)에 대해 광원(11)의 각각이 접하며, 상기 감지기는 광전 변환 소자 형태이며 하우징(10)에서 볼트(18)에 의해 고정 유지된 브래킷(17)상에 광원(11)의 열과 일치하는 열로 배열된다. 또한, 센서 헤드(8)의 하우징(10)은 광 감지기(16)에 의해 나온 감지 신호의 처리를 위해 그리고 광원(11)의 자동 밝기 조절을 위한 전자 모듈을 포함한다. 관련된 회로판은 도면 부호 19로 표시되어 있다. 그 회로 설계는 제3도와 관련하여 하기에서 설명된다.

각각의 광원(11)인 광 이미터에 의해 나온 집중 광은 스캔되며 직물(5) 길이부의 직물 표면에 의해 반사되어 광 감지기(16)로 통과한다. 광 감지기는 신호 처리 회로(21)에 공급된 출력 라인(20)을 경유하여 전자 감지 신호를 인도한다. 감지 신호는 각 감지 지점에서 반사 직물의 상태를 나타낸다. 이 감지 지점(22)은 광원(11) 및 광 감지기(16)의 열 배열에 의해 형성된 스트립 형태의 영역내에 놓여있으며, 관형 직물(5)의 회전 방향에 횡방향으로 연장되어 있다. 이러한 스트립 형태의 영역은 제1도에서 수직축(4)에 평행하게 배열된다. 여기에서 열로 놓여있는 광 감지기(16)의 각각은 개별 감지 지점을 형성한다.

신호 처리 회로(21)에서, 열로 배열된 광 감지기(16, 본 발명의 경우 여섯 개)의 신호 출력은 각각 세 개의 신호 출력으로서 두 개의 그룹으로 조합된다. 예컨대 이러한 그룹은, 상부열에 위치한 세 개의 인접한 광 감지기는 제1그룹(I)으로 할당되고, 하부 열에서 세 개의 광 감지기는 제2그룹(II)으로 할당되는 방식으로 형성된다. 실제로, 광 감지기(16)는 그룹(I) 및 그룹(II)으로 선택적으로 할당되는 방식으로 다르게 그룹 할당으로 될 수 있으며, 이에 의해 센서 헤드에 의해 통과한 직물(5) 길이부의 점진적 감지가 성취될 수 있다.

광원(11) 및 광 감지기(16)가 조립되는 다수의 그룹은 두 개의 그룹으로 제한되지 않으며, 각 감지 상황 및 센서 헤드(8)의 사용 조건에 따라 보다 많은 수로 적용될 수 있다.

그룹중 하나 즉, 이 경우에 그룹(I,II)중 하나에서의 광 감지기(16)의 하나가 감지 신호를 내보내고 반응할 때, 결함 신호는 그룹(I)에 할당된 제1신호 라인(23)과 그리고 그룹(II)에 할당된 제2신호 라인(24)으로 나오게 되는 방식으로 그룹에 포함된 광 감지기(16)의 신호 출력의 보정은 신호 처리 회로(21)에서 발생된다.

직물(5) 길이부의 정밀한 스캐닝을 위해 그리고 감지 에러로 인해 기계를 정지시키는 것을 방지하기 위해서, 스캐닝 영역에서 광 감지 조건을 가능한한 일정하게 유지해야 한다. 광원(11)의 스캐닝 영역에서 직물 표면은 한정된 광도로 조사된다. 환경 조건(실내 광도, 그림자 등)의 변화를 보정하기 위해서, 자동 광도 조정기는 센서 헤드(8)에 합체되어 제공된다.

제3도에 도시한 바와 같이, 센서 헤드(8)는 광도 조정기(25)를 포함하며, 광 감지기(16)의 출력 신호로부터 도출된 부가된 누적 신호는 신호 처리 회로(21)에 의해 도면 부호 26으로 공급되며, 이는 펄스 제어 출력 단계(27)을 거쳐서 전기적 직렬로 연결된 광원의 발생 전류를 소정의 목표값으로 다음과 같이 조정한다. 즉 광 감지기(16, 광전 변환 소자)가 그 최적 작동 범위에서 항상 작동되도록 조정된다. 이러한 범위는 도면 부호 28로 표시한 목표값 제너레이터(generator)에 의해 설정될 수 있고 그리고 통상 변하지 않는 소정의 목표값으로 결정된다. 광원(11)의 광도 조정은 광원(11)의 펄스형 제어 전류의 출력 단계(27)에서 펄스폭 제어에 의해 공지된 방법으로 형성되며, 그 주파수는 약 20 내지 30KHz가 양호하다.

신호 처리 회로(21) 및 광원(11)과 펄스 제어 출력 단계(27)의 전력 공급은 전력 공급 라인(29)을 거쳐서 행해지며 그 라인은 두 개의 신호 라인(23,24)과 함께 플러그 커넥터(30)에 연결된다.

또한, 플러그 커넥터(30)는 광도 조정기(25)로부터 다른 제어라인(31)을 수용하고, 그 라인을 거쳐서 펄스 제어 출력 단계(27)의 광도 조정기(25)에 의해 공급된 제어 전류가 모니터된다. 이러한 제어 전류가 소정의 한계값을 초과하거나 한계값 이하로 떨어질 때, 이것은 즉각적인 주의를 요구하는 램프 파손, 맞물림 결함, 강한 외란 광, 제어 실패등과 같은 실제의 센서 헤드(8)에서 나타나는 결함을 표시하는 것이다. 따라서, 센서 헤드(8)에 나타난 이러한 결함은 광 감지기(16)의 출력 신호로부터 신호 처리 회로(21)에서 발생한 부가된 누적 신호를 경유하여 유사하게 확인되며, 신호 처리 회로(21)는 그 광도 조정기(25)로 공급된다.

제1도에 도시한 방식으로 원형 편직기(1)는 센서 헤드(8)용 신호 분석 회로를 포함하는 구동 케이스(33)에 고정된 제어 장치(34)를 가지며 제어 장치는 센서 헤드와 라인(23,24,29,31; 제3도)을 포함한 일단의 라인(35)에 연결되어 있으며, 입력측에서 기계 프레임(2)에 고정된 펄스 제너레이터(36)가 연결되어 있다. 펄스 제너레이터는 라인(37)을 거쳐 제어 장치(34)에 기계 타이밍 펄스를 공급한다. 제어 장치(34)의 주 공급 라인은 도면부호 38로 표시되어 있다.

제어장치(34)에는 센서 헤드(8)에 의해 공급되는 그리고 결함 신호용 분석 회로가 합체되며 분석 회로는 제4도와 관련하여 상술될 것이다. 또한, 전체 결함 모니터 장치를 작동하는데 필요한 요소도 갖추고 있다. 또한, 이것은 제5도에서 제어 장치(34)의 전방 패널(40)의 표시로서 도시한 바와 같이, 대응 입력 키패드(42)를 갖춘 전류 작동 데이타 및 메뉴 제어용 시각 디스플레이 필드(41)를 포함한다. V24 인터페이스(43)는 제4도에서 도면부호 44로 표시한 바와 같이 외부 데이타 기록 장치 및/또는 주 컴퓨터 시스템의 링크로서 작동한다. 이러한 방법에 의해 결함 매개변수를 변환시키는 것이 가능하다.

시각 디스플레이 필드(41)는 결국 두 개의 칼럼 디스플레이 형태이며, 각 결함 보고 및 중요한 어떠한 작동 상황을 명확하게 볼 수 있다. 이러한 디스플레이 필드의 다른 형태를 물론 고려할 수 있다. 입력 키패드(42)의 키보드의 목적은 일반 작동 절차를 위해 필요한 특정 값을 입력 및 호출하는 것이다.

마지막으로, 전방 패널의 하부에 제공된 키 스위치(45)의 목적은 입력 키패드(42)의 키보드에 허용하지 않는 접근을 방지하는 것이다.

제4도에 도시한 제어 장치(34)의 결함 신호 분석 회로는 주 그룹 아날로그/디지탈 변환기(46), 마이크로 프로세서(CPU ; 47), 프로그램 메모리(48) 및 데이타 메모리(49)를 포함한다. 또한, 이 회로는 센서 헤드(8)용 전력 공급부와, 적합한 전력선 필터(51) 및 라인(29)을 경유하여 전자 결함 신호 분석 회로의 다양한 요소를 제공하는 주 공급 라인(34)에 연결된 전력 팩(50 ; power pack)을 갖추고 있다.

제1 및 제2신호 라인(23,24) 및 제어 라인(31)을 경유하여 센서 헤드(8)로부터 발생한 아날로그 결함 신호 또는 아날로그 제어 신호는 네 개의 채널 아날로그/디지탈 변환기(46)로 통과하고 프로세서용으로 적합하게 디지탈화된다. 마이크로 프로세서(47)는 접수한 디지탈화 값을 분석하고, 변하지 않는 데이타 메모리(49)에서 결함 형태에 따라 분류한 분석으로부터 얻은 데이타를 정리 보관(files)하며, 데이타 입력은 입력 키패드(42)를 통해 수행된다. 시각 디스플레이 필드(41)는 마이크로 프로세서(47)에 의해 일치되게 공급된 프로그램 메모리(48)로부터 그 데이타를 수용한다.

관형 직물(5)의 회전 운동으로 결함 신호 분석의 처리 절차를 동기화시키는데 필요하고 귀납적 접근 수용의 형태로 기계 펄스 제너레이터(36)에 의해 제조되어 라인(37)을 경유하여 전달되는 동기화 펄스는 광전자 신호 변환 회로(52)를 경유하여 제어 라인(34)에서 인터페이스(53)로 통과하며, 결함의 경우에 원형 편직기 및 V24 인터페이스(43)를 정지시키는데 사용되는 자동 정지 제어 장치(43)는 마이크로 프로세서(47)에 연결된다.

A/D 변환기(46)로부터 마이크로 프로세서(47)에 전달된 데이타의 분석은 하기에 약술하는 소프트웨어 프로그램을 이용하여 수행된다. 이러한 소프트웨어 프로그램은 하기의 원리에 의해 결함 분석을 수행한다.

제1 및 제2신호 라인(23,24)을 경유하여 통과한 결함 신호는 그룹(I) 또는 그룹(II)에서 광 감지기(16)중 적어도 하나에서 또는 두 개의 그룹(I,II)에서 적어도 두 개의 광 감지기(16)에서 스캔될 직물 표면의 반사 현상에서의 변화가 발생하는 것을 표시한다. 각 그룹(I,II)에 할당된 이 결함 신호는 어떠한 결함의 발생뿐만 아니라 결함 형태의 정보를 제공한다. 이러한 목적을 위해 하기의 조건이 평가된다.

a) 결함 신호의 진폭 : 결함의 다른 형태 즉, 점 결함 또는 롱 결함용으로 한정된 다른 한계값의 가능성으로 소정의 한계값 위에 진폭이 놓여 있는지 확인한다. 만일 진폭이 최하위 한계값 이하로 놓여있다면, 결함은 없고 결함 신호는 무시된다.

b) 결함 신호의 기간 : 신호 길이(기간)가 특정시간 한계를 초과했는지 확인한다. 다른 한계가 다른 형태의 결함을 위해 유사하게 적용될 수 있다. 만일 신호 기간이 최하위 한계값 이하로 놓여있다면, 결함이 나타나지 않으며; 짧은 시간 간섭(즉, 전기 간섭 또는 실에서의 두꺼운 부분)이 거의 없는 것으로 추측되기 때문에 결함 신호는 무시된다.

런(run)이 스티치의 한 직물의 폭에 제한되고 반면에 파손된 실에 의해 발생된 구멍(hole)이 몇몇 인접 직물의 폭을 커버하기 때문에, 롱 결함은 수에 있어서 점 결함보다 훨씬 작다는 고려에 근거하여 신호 기간의 분석은 결함 형태 간의 구별을 위해 초기 기준을 제공한다. 만일 미리 설정한 한계 기간이 짧은 기간을 초과했다면, 이것은 롱 결함을 나타내고, 반면에 특정(가능한한 다른) 한계 기간이 보다 긴 시간을 초과했다면 롱 결함의 존재가 예측된다.

c) 결함신호(논리 윈도우)의 조합된 발생 : 만일 그룹(I,II)에 할당된 결함 신호가 함께 발생한다며, 이것은 스캔될 직물 표면의 영역 및 반사현상의 변화가 발생하는 영역이 광 감지기(16)의 두 개 그룹(I,II)에 영향을 미치는 길이에 걸려 연장되는 것을 나타낸다. 따라서, 반복 결함의 논리 AND 조건이 두 개 그룹 특정 결함 신호에 대해 만족한다면, 롱 결함이 나타날 것이다. 한편, 이 테스트가 OR 조건이 만족되는 것으로 나타난다면, 점 결함이 포함된다.

만일 센서 헤드(8)의 스트립형 감지영역(22)에서 스캔된 회전 관형 직물(5)이 런 즉, 롱 결함을 포함한다면, 그룹(I,II)에서 센서 헤드(8)의 영향을 받은 광 감지기(16)는 단지 런이 스트립형 스캐닝 영역(22)의 축과 정확히 평행 정렬된다면 동시에 결함 신호를 발생한다. 그러나, 실제로 원통형에서 평면 형태로 변형된 관형 직물의 직물 인장 및 연속 변형으로 인해, 편성사의 변형은 실제로 피할 수 없다. 달리 말하면, 니들 실린더에 대한 센서 헤드(8)의 부착 포인트에 따라 스티치의 직물은 스캐닝 영역의 축에 대해 다소 비스듬히 또는 곡선으로 놓여있다. 하나 이상의 그룹에서 결함 신호의 동시 발생시 롱 결함 발생의 표시로서 분석될 때, 하나 이상의 명확한 결함 확인은, 종방향 스티치(예컨대 런)가 스트립형 스캐닝 영역의 축, 즉 광 감지기(16)의 열과 정확히 평행한 스캐닝 영역에서 발생할 수 있는 장치에서만 보장될 수 있다. 모두 비스듬한 위치에서의 발생에 의해 각 그룹의 광 감지기(16)는 시간적으로 서로 엇갈리게 반응한다. 그 결과 특별한 주의없이 롱 결함이 점 결함의 연속으로 잘못 해석될 수 있다.

이것을 방지하고, 또한 논리 윈도우의 분석에서 인장 스티치의 경우에 즉 빗각의 런에서 기울어지지 않는 결함 확인을 확실하게 하도록, 두 개 그룹의 잇따른 결함 신호가 각 결함 형태에 대해 기대되는 두 결함 신호 발생 사이에서 최대 시간 시프트에 대응하는 소정의 측정 주기내에서 발생하는지를 조사한다. 실제로 이것은 두 개의 결함 신호가 소정의 주기로 개별 저장되고, 상호 발생에 대해 분석된다.

만일 이들이 이 주기내에서 함께 발생한다면, 롱 결함이 포함된다.(AND-요구조건 만족). 만일 두 개 신호중 단지 하나가 발생한다면, 점 결함이 나타난다(OR-요구조건 만족).

d) 주기적으로 반복하는 결함 : 결함의 주기적 반복은 결함이 반복되는 제1시간에 또는 결함이 반복되는 다수의 회전후에만 기계를 정지시키도록 취한 측정치의 선택으로 기계의 매 회전이 기록된다.

결함 반복이 연속 기계 회전에서 발생한다면, 롱 결함이 포함된다. 그러한 결함의 반복이 설정되지 않는다면, 대체로 점 결함이 나타난다.

감지된 결함은 결함의 형태에 따라 개별적으로 기록 및 저장되며 필요에 따라 시각 디스플레이 필드(41)상에 디스플레이 된다. 작물 롤당 전체 결함 수(결함 형태에 의해 개별 또는 전체)를 기록하는 카운터가 제공되며, 단위 시간당 결함의 수(유사하게 결함 형태에 의해 개별 또는 전체) 등과 그 전류 카운터 상황은 조작자에 의해 입력 키패드(42)를 경유하며 디스플레이 필드(41)에 응답 지령 신호를 보낼 수 있다. 기계자동 정지 장치(54) 및 그에 필요한 경보 장치에는 감지한 결함의 수와 형태에 의거하여 인터페이스를 경유하여 에너지가 가해지며, 이 장치는 니들 실린더로 하여금 예컨대 기계가 정지할 때 파손된 니들이 니들 도어에 대향하는 위치에 놓이게 된다.

마이크로 프로세서(47)에서, 제어 라인(31)을 경유하여 수용된 제어 신호는 광도 조정기(제3도,25)의 제어 전류가 소정의 허용 오차내에 있는지 또는 그렇지 않은지를 테스트한다. 한계 오차중 하나가 초과하고, 광학 감지 조건이 허용할 수 없게 되자마자, 기계 자동 정지 장치(54)는 인터페이스(43) 또는 시각 디스플레이 필드(41)상에 나타나 경보 신호를 경유하여 작동된다.

마이크로 프로세서(47)용의 적당한 프로그램의 흐름도는 제6도 내지 제9도에 도시된다. 스위치 온을 하면 마이크로 프로세서는 먼저 비귀한 출발 루틴을 주행한다. 내부 초기 위상에서, 프로그램 또는 명령 시퀀스 카운터는 출발 수치에 설정된다. 제어 또는 상태 색인은 마이크로 프로세서(47)의 RAM 또는 ROM 메모리에 규정된 데이타에 따라 설정된다. 일단 이러한 출발 루틴이 완성되면, A/D 변환기(46)를 경유하여 센서 헤드(8)로부터 나온 TKS 결함 신호는 그룹(I)에 대해 TKS-1 그리고 그룹(II)에 대해 TKS-2에 대해 식별하는 단계(60)에서 판독한다.

그룹(I)의 결함 신호의 진폭이 런 즉, 롱 결함에 대한 진폭 한계값을 초과했는지 그렇지 않은지를 단계(61)에 의해 테스트가 수행된다. 만일 초과했다면, 신호 TKS-1(그룹 I)의 신호 기간 또는 길이 (LA 1)가 런에 대한 소정의 시간 한계값 이상인지 아닌지를 단계(62)에서 설정한다. 만일 두 개의 테스트가 긍정의 결과라면, 이것은 단계(63)에서 일시 기억되는 즉, TK-Lauf(masche)-Erg(ebnis)-1=1로 설정된다.

다음에, 동일 테스트는 그룹(II)의 결함 신호TKS-2에 대해 단계(64,65)에서 수행되며, 그 긍정의 결과는 적용가능한 단계(66)에서 유사하게 일시 기억된다.

이제 결함의 형태를 구별하기 위한 기준의 분석을 위해 제공된 논리 윈도우가 단계(67)에서 시작된다. 이러한 목적을 위해, 결함 신호 TKS-1 또는 TKS-2 상의 상기 선행 테스트는 긍정의 결과를 발생하는지 그리고 그룹(I) 또는 (II)에 대한 TK-Lauf-Erg가 입증되는지 그렇지 않은지를 먼저 설정한다. 만일 그렇다면 단계(68)에서 1의 지수는 지연 카운트가 영으로 돌아오지 않으면 지연 카운트를 런에 적용할 수 있게 된다.

따라서, 이것은 센서 헤드(8)의 스캐닝 필드에 대한 런의 어떠한 비스듬한 위치에 대해 보정이 발생하게 되는 경우이다. 신호 TKS-1 및 TKS-2의 상기 테스트 결과는 일시 기억으로 각각 유지되며, 다음에 그 상호 발생에 대해서만 분석된다.

이 목적을 위해, 저장된 결과 TK-Lauf-Erg-1 및 TK-Lauf-Erg-2가 AND -요구를 만족하는지 그리고 다른 AND-요구로서 런에 적용할 수 있는 지연이 0보다 크거나 소정의 시간 시프트 보다 작은가를 단계(69)에서 조사한다. 이 시간 시프트는 스캔될 편직물의 특정 형태로부터 발생된다. 이것은 센서 헤드(8)의 스트립형 스캐닝 영역(22)을 통해 통과하도록 스티치의 세 개 인접 직물에 의해 취한 시간과 일치한다.

만일 테스트가 상기 세 개의 AND 요구가 만족하는 것으로 나타난다면, 런이 존재한다. 런 표시기는 1로 설정되는 반면에, 나머지 매개 변수는 단계(70)의 위치에서 취한 0으로 다시 설정된다. 프로그램중에서, 테스트는 감지된 런 결함이 다음 기계 회전에서 반복되는지 서브 프로그램의 도움으로 단계(71)에서 수행된다. 만일 그러하다면, 예컨대 기계 자동 정지 장치(54)가 작동될 수 있다. 동시에, 런 디스플레이는 디스플레이 필드(41)에 나타난다. 단위 시간당 결함의 전체 수, 런 결함의 전체 수, 결함 또는 런 결함의 전체 수 등등에 대한 카운터가 작동되도록 계속된다. 이 프로그램 순서의 일부는 점 결함(구멍)의 하기 확인의 도움으로 간략하게 설명된다.

만일 AND-요구가 안전 목적에 대해 단계(69)에서 만족하지 않는다면, 테스트는 런 지연이 소정의 시간 시프트보다 큰가 또는 그렇지 않은가 단계(제7도,72)에서 다시 수행된다. 만일 그렇다면, 런의 존재에 대한 요구는 명확하게 만족되지 않는다. 모든 매개 변수는 단계(73)에서 0으로 설정된다.

그러나, 테스트한 신호 TKS-1 및 TKS-2가 런에 적용 가능한 예비 설정(최대) 시간 시프트보다 큰 시간 간격을 갖는 것으로 단계(72)에서 설정된다면, 두 개 신호의 테스트는 이 신호가 점 결함, 즉 구멍의 존재를 만족하는지를 바로 시작된다.

이 목적을 위해 단계(74,76)에서, TKS-1 또는 TKS-2의 진폭이 구멍 검출(구멍 한계 값)에대해 한정된 진폭 한계값을 초과했는지 또는 그렇지 않은지의 테스트를 수행하는 반면에, 단계(75,77)에서 두 개 신호의 테스트는 신호 기간 또는 길이가 구멍 검출에 적용가능한 소정의 시간 한계값을 초과했는지 또는 그렇지 않은지가 설정된다.

TK-Loch-Erg-1 및 TK-Loch-Erg-2의 결과는 단계(78,79)에서 차례로 일시 기억된다.

마지막으로 단계(80)에서, 일시 기억된 이전 테스트의 결과가 논리 OR 요구를 만족하는지 또는 그렇지 않은지가 설정된다. 만일 만족한다면, 구멍 검출에 적용가능한 지연에 대한 지수는 단계(81)에서 적용되며, 이에 의해 스티치의 세 개 직물과 일치하는 인자에 의해 증폭된 런 검출에 대해 한정된 시간 시프트보다 큰 구멍 지연이 초과했는지 또는 초과하지 않았는지를 단계(82)에서 조사한다.

이러한 인자는 시간 윈도우를 확대시키는 효과가 있다. 이 확대는 넓은 구멍이 한 번이상 카운트되는 것을 방지한다. 만일 구멍 지연이 인자의 시간 시프트(x)보다 크게 설정되면, 측정은 계속되지 않는다. 이 매개변수는 단계(83)에서 0으로 설정된다.

그러나, 이 요구 단계가 단계(82)에서 만족되지 않는다면, 즉 신호가 구멍 검출에 적용 가능한 넓은 시간 윈도우에 아직 놓여있다면, 저장된 테스트 결과 TK-Loch-Erg-1 및 TK-Loch-Erg-2가 논리 AND 요구 조건을 만족하는지 또는 만족하지 않는지 테스트가 재차 단계(84)에서 수행된다. 그 응답이 예이라면, 그 진폭과 기간이 구멍 검출에 적용 가능한 대응 한계값 이상일지라도 런은 존재한다. 따라서, 단계(85)에서, 런 표시기는 1로 설정되는 반면에 구멍 표시기는 0으로 설정된다.

만일 두 개의 결과 TK-Loch-Erg-1 및 TK-Loch-Erg-2가 논리 AND-요구 조건에 만족하지 않는다면, 만족한 결과를 위해 OR-요구 조건에 대한 테스트가 다시 단계(86)에서 수행되며 그 긍정 결과의 경우 단계(87)에서 구멍 표시기는 1로 설정된다.

프로그램이 이 지점에서, 센서 헤드(8)에 제공된 결함 신호의 분석은 완성된다. 점 결함 또는 롱 결함, 즉 구멍 또는 런이 나타나는지 알기 위해 데이타 메모리는 각 정보를 포함한다.

따라서, 얻은 정보의 다른 처리는 단계(71)에서 헌에 대해 그리고 런 검출과 유사한 방법으로 단계(71)에서 구체화하고 하기에 간략히 기재한 프로그램 부분에서의 구멍에 대해 이루어진다. 따라서, 구멍 검출에 대한 이러한 프로그램 부분을 간단하게 할 수 있다.

상술한 프로그램 단계에 이어서, 구멍 지연이 상술한 인자인 설정 시간 시프트(x)와 동일한지 그리고 런 표시기가 0으로 또는 구멍 표시기가 1을 나타내는지 검사하는 테스트는 단계(88)에서 다시 수행된다. 이 요구 조건이 만족된다면, 단계(89)에서 필요한 결함의 전체 수로 주어진 카운터와 함께 구멍의 전체수로 주어진 카운터, 구멍 카운터 및 단일 카운터는 각각 적용된 1의 지수를 가진다. 구멍의 발생후에 작동되도록 한 기계 자동 정지 장치(54)의 경우에, 대응 명령은 입력 키패트(42)를 경유하여 입력된다. 따라서, 테스트는 그러한 자동 장치의 명령인 구멍-오프가 나타났는지 또는 그렇지 않은지 단계(90)에서 수행된다. 만일 그렇다면, 자동 정지 루틴은 기계가 니들 실린더를 정지할 때 니들 도어에 대해 소정의 위치에 설정되도록 단계(91)에서 표시되어 있으며, 자동 정지 장치는 단계(92)에서 작동된다. 더우기 단계(93)에 의해 디스플레이 필드(41)가 제어된다. 디스플레이 필드는 결함 디스플레이를 부여하고 공통으로 조작자에 결함을 보정하는 것을 요구한다.

또한, 디스플레이 필드(41)상의 기록 디스플레이를 알기 위해 단위 시간당 감지된 결함을 점 결함 또는 롱 결함으로 분류하는 것이 바람직하다.

이것은 단계(94, 구멍에 대해)에서 프로그램의 다른 과정에서 발생할 수 있는 반면, 감지된 결함의 수가 소정의 결함 한계를 초과했는지 단계(95)에서 테스트가 수행된다. 만일 그렇다면, 기계 자동 정지 장치(54)용 자동 정지 루틴은 단계(96)에서 작동된다. 단계(97)의 경우에, 대응 결함 디스플레이를 위해 디스플레이 필드(41)가 제어되며 결함 정정을 위한 요구가 행해진다.

이 프로그램은 부가적으로 더우기 다음의 것도 실시할 수 있다. 디스플레이 보고를 발생하기 위해 서브루틴을 호출하고, 직물 롤당 결함의 수가 주어지도록 직물 롤의 단부에 도달하는 결함용 카운터를 다시 설정하고, 다른 원인으로 인한 정지 이후에 기계를 재가동시키기 위해 출발 루틴 및 개시 루틴을 가동시킨다. 이 프로그램 단계는 하기에 상세히 설명하지 않는다.

제8도는, 센서 헤드(8)로부터 제어 라인(29)을 경유하여 스캔되고 전달된 직물의 조명 광도 수치용 제어신호가 어떻게 처리되는가를 간단히 설명한 것이다. 이 제어값은 단계(100)에서 판독된다. 이 제어값이 소정의 상한값을 초과했는지 단계(101)에서 수행된다. 만일 초과했다면, 기계 자동 정지 장치(54)는 단계(102)에서 작동되며, 동시에 디스플레이 필드(41)에는 단계(105)에 의해 대응하는 정보가 제공되어 결함의 원인을 나타내는 즉 센서 헤드는 직물에 인접하지 않는다.

단계(106)에서, 하한값에 관련된 대응하는 테스트는 단계(107)에서 기계 자동 장치가 긍정의 결과를 발생시키도록 발생되며, 단계(108)에서 디스플레이 필드(41)는 결함의 예측 가능한 원인을 나타내는 즉, 센서 헤드가 외부 광을 갖는 것을 나타내도록 제어된다.

따라서, 프로그램 절차는 완성되고, 프로그램은 출발 루틴을 따라서 처음으로 귀환한다.

마지막으로, 입력 키패드(42)를 경유하여, 행해진 명령 매개변수 등등을 입력하는 것은 제어 라인(34)의 오작동으로 인해 제조시에 기계를 필요없이 정지시키는 것을 방지하기 위해 기계가 정지한 동안에만 이뤄지도록 다른 프로그램이 상기 프로그램에 합체될 수 있다.

새로운 방법은 회전 니들 실린더를 가진 원형 편직기를 예로서 상기에 설명했다. 원칙적으로, 이 방법은 원형 편직기와, 고정 니들 실린더[회전 센서 헤드(8)를 구비함]를 구비한 원형 경편기로 그리고 편직기용으로 적합하다. 센서 헤드의 스캐닝 영역(22)과 스캔될 직물의 표면 사이에는 상대 이동이 있고 이 스캐닝 이동은 소정의 일정 속도로 발생하도록 보장하는 것만이 필요하다.

Claims (15)

1. 직물의 길이가 스트립 형태의 적어도 한 영역에서 광전 방법으로 감지 수단에 의해 스캔되며, 이 감지수단은 스트립 형태의 영역내에 놓인 다수의 감지 지점에서 직물 길이의 조건을 특징지우기 위해 전자 감지 신호를 발생하며, 이 직물 길이의 결함 확인을 위해 여러 가지 결함 형태중 다른 형상 또는 다른 크기 사이의 차이를 제공하고, 이 방법으로 감지된 결합 형태를 위해 디스플레이 장치, 제어 장치 또는 스위치 장치에 에너지를 가하도록 개별 출력 신호가 발생되며, 감지 동안에 스트립 형태 영역에 교차하는 방향으로 직물 길이와 감지 수단 사이에서 소정 속도의 상대 이동이 유지되며, 직물 길이에서 스캔될 영역이 적합하게 여러번 스캔되며, 각 감지 지점의 특성을 이루는 감지 신호가 각각 처리되어 분석되는 적어도 두 개 그룹의 특정 결함 신호로 각각 수집되며, 각 그룹의 결함 신호의 증폭, 기간 및 비반복 또는 반복적 발생이 이 분석으로 측정 또는 설정되는, 직물의 길이, 특히 원형 편직기 또는 원형 경편기에서 제조한 관형 편직물에 존재하는 결함 검출 방법에 있어서, ㄱ) 소정의 제1증폭 한계값에서 증폭이 변화하는 적어도 하나의 결함 신호의 경우에 그 신호 기간이 측정 기간내에 많은 결함 신호를 발생함이 없이 소정의 제1시간 한계값이 적어도 하나의 보다 긴 소정 기간을 초과한다면, 이 결함은 점 결함(spot fault)으로 확인되며, ㄴ) 소정의 제2증폭 한계값에서 증폭이 변화하는 적어도 두 개의 결함 신호에서, 그 신호 기간이 적어도 하나의 소정의 보다 짧은 기간에서 소정의 제2시간 한계값을 초과하고 적어도 두 개의 결함 신호가 한 측정 기간내에 함께 발생한다면, 이 결함은 롱 결함(long fault)으로 확인되고, ㄷ) 상기 어느 결함도 없을때는 결함이 없는 것으로 확인되는 방법으로 결함 분석이 수행되는 것을 특징으로 하는 직물 길이의 결함 검출 방법.
2. 제1항에 있어서, 주기적으로 발생하는 반복 신호가 예컨대 원형 편직기의 경우에 적어도 한 번의 기계 회전시에 나타나는지 결함 분석시에 부가적으로 설정되며, 설정된 주기적으로 발생하는 신호 반복이 롱 결함으로서 결함의 확인을 위해 부가적인 기준으로서 사용되는 것을 특징으로 하는 직물 길이의 결함 검출 방법.
3. 제2항에 있어서, 각 결함 신호가 소정의 주기 동안에 적어도 일시 기억 장치에 각각 유지되고 그리고 재발생 동안에 조사되는 것을 특징으로 하는 직물 길이의 결함 검출 방법.
4. 제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 및 제2증폭 한계값이 동일한 것을 특징으로 하는 직물 길이의 결함 검출 방법.
5. 제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 및 제2증폭 한계값이 서로 상이한 것을 특징으로 하는 직물 길이의 결함 검출 방법.
6. 제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 및 제2시간 한계값이 동일한 것을 특징으로 하는 직물 길이의 결함 검출 방법.
7. 제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 및 제2시간 한계값이 서로 상이한 것을 특징으로 하는 직물 길이의 결함 검출 방법.
8. 제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서, 점 결함 및 롱 결함의 확인을 위한 측정 주기의 길이가 서로 상이한 것을 특징으로 하는 직물 길이의 결함 검출 방법.
9. 제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서, 직물을 스캐닝할 때 롱 결함용 측정 주기가 스트립형 스캐닝 영역을 통과하도록 스티치의 세 개 직물에 대해 필요한 시간에 대략 일치하는 것을 특징으로 하는 직물 길이의 결함 검출 방법.
10. 제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서, 부가된 누적 신호가 감지 신호로 부터 형성되고 그리고 광전 감지 수단이 누적 신호의 작용으로서 일정한 소정의 광 감지 조건으로 자동적으로 조정되는 것을 특징으로 하는 직물 길이의 결함 검출 방법.
11. 제10항에 있어서, 부가된 누적 신호가 모니터되고, 그 신호가 소정의 허용 오차 한계값내에 있고 그리고 상기 신호가 상기 허용 오차 한계값 이상 또는 이하에 있을 때 제어 신호를 발생하는 것을 특징으로 하는 직물 길이의 결함 검출 방법.
12. 제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서, 상기 감지 지점이 기하학적으로 일열로 배열되는 것을 특징으로 하는 직물 길이의 결함 검출 방법.
13. 제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서, 결함 신호의 분석으로 부터 얻어진 확인된 결함에 관한 정보를 결함의 형태에 따라 각각의 데이타 메모리에 기억하고 그리고 데이타 메모리로부터 디스플레이 및 다른 처리를 위해 호출하는 것을 특징으로 하는 직물 길이의 결합 검출 방법.
14. 제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서, 확인된 결함에 관한 정보를 결함의 종류에 의해 분류하고 일련의 데이타 인터페이스(interface)를 경유하여 외부 데이타 기록 장치로 통과하는 것을 특징으로 하는 직물 길이의 결함 검출 방법.
15. 제14항에 있어서, 결함 매개변수가 일련의 데이타 인터페이스를 경유하여 프로그램 처리되는 것을 특징으로 하는 직물 길이의 결함 검출 방법.