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KR950006470A - 테스트 및 자체 진단용 경계 주사 기저의 시스템과 방법 - Google Patents

테스트 및 자체 진단용 경계 주사 기저의 시스템과 방법 Download PDF

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KR950006470A
KR950006470A KR1019940021970A KR19940021970A KR950006470A KR 950006470 A KR950006470 A KR 950006470A KR 1019940021970 A KR1019940021970 A KR 1019940021970A KR 19940021970 A KR19940021970 A KR 19940021970A KR 950006470 A KR950006470 A KR 950006470A
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타허 자와라 나즈미
스틸링 폴에이.
타마루 앤
왕 유 치
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알. 비. 레비
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Abstract

각각이 적어도 한개 체인의 경계 주사 셀(141-14p)을 포함하는 하나이상의 회로 기판(121-n)을 테스트 하는 시스템(10)은 회로 기판에 의해 형성된 시스템의 전체 테스트를 관리하는 시스템 및 자체 진단 호스트(16)를 포함한다. 경계-주사 가상 머신(BVM : 17)은 테스트될 기판의 성질과 수에 관계없이 시스템 테스트 및 자체 진단 호스트로부터의 시작 테스트 명령을 수신하여 동작한다. 테스트 명령에 응하여, BVM(17)은 각 회로 기판이 기판에서 에러를 결정하도록 특정한 테스트 프로그램(23)을 실행하도록 한다. 각각의 기판으로부터의 에러가 BVM(17)로 다시 통과되어, 차례로 기판의 동작을 나타내는 테스트 정보를 발생하도록 에러를 중계하고 그 다음에 시스템 테스트 및 자체 진단 호스트(16)로 다시 돌아간다.

Description

테스트 및 자체 진단용 경계 주사 기저의 시스템과 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 적어도 하나의 회로 기판을 테스트 하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스트 시스템의 블럭도,
제2도는 제1도의 테스트 시스템의 부분으로 이루어진 경계-주사 마스터의 블럭도.

Claims (5)

  1. 일련의 경계-주사 체인(boundary scan shain)으로 연결된 다수의 경계-주사-테스트 가능한 전자 부품을 포함하는 적어도 하나의 회로 기판을 테스트 하는 시스템에 있어서, 각 기판의 경계-주사 테스트를 시작하는 시작 테스트 명령을 발생하여 그것의 동작을 표시하는 테스트 정보를 수신하는 테스트 및 자체 진단 호스트 프로세서(16)와; 상기 테스트 및 자체 진단 호스트 프로세서로부터의 시작 테스트 명령에 응답하여 상기 회로 기판이 특정한 테스트 프로그램을 실행하도록 하는 테스트 명령을 각각의 회로 기판에 통신하는 경계-주사 마스터 가상 머신(Boundary-scan master virtual machine : BVM : 17)로 상기 기판이 테스트를 실행하여 테스트 결과를 발생하고 BVM이 테스트 결과를 중계하여 회로 기판의 동작을 표시하는 테스트 정보로서 테스트 및 자체 진단 호스트에 그러한 결과를 보내는 경계-주사 마스터 가상 머신(BVM) 및; BVM에 각각의 회로 기판을 접속하는 통신 버스(21)를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로기판 테스트 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 BVM은, 각각의 회로기판에 의해 실행된 경계-주사마스터(BSM : 20)으로 회로 기판을 테스트하도록 회로 기판에 연관된 특정한 테스트 프로그램을 실행하고 그것의 동작을 나타내는 회로 기판 테스트 정보로부터 수신하도록 하는 BSM(20)과; BSM을 실행하는 회로 기판에 맞는 테스트 프로그램을 기억하는 개개의 BSM과 연관된 프로그램 기억 메모리(22) 및; 각각의 BSM이 그에 맞는 회로 기판을 테스트 하도록 그것에 대응하는 테스트 프로그램을 실행하도록 하기 위해 테스트 및 자체 진단 호스트로부터의 초기 테스트 명령을 중계하고; 회로 기판의 동작을 나타내는 테스트 정보를 테스트 및 자체 진단 호스트로 제공하기 위해 각각의 BSM으로부터 수신된 테스트 정보를 중계하는 경계-주사 인터프리터(18)를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로기판 테스트 시스템.
  3. 제2항에 있어서, 상기 경계 주사 인터프리터는, 테스트 동안에 검출된 각각의 회로 기판에서의 에러에 연관된 정보와 테스트 프로그램의 위치를 나타내는 정보를 포함하여, 시스템 테스트와 자체 진단 호스트에 의해 통과된 정보를 BVM에 기억하는 다수의 데이타 레지스터(54-60)와; 테스트 프로그램의 실행에 연관된 정보를 포함하여 각각의 회로 기판의 테스트를 제어하는 정보를 기억하는 다수의 제어 레지스터(62-68) 및; 테스트 동안에 발생하는 에러 상태를 기록하는 다수의 상태 레지스터(70-74)를 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 기판 테스트 시스템.
  4. 제1항에 있어서, 각각의 테스트 프로그램은, 프로그램이 실행되는 회로 기판을 표시하는 정보와 기판상에 실행되는 테스트를 나타내는 정보를 포함하는 테스트 프로그램 헤더(24)와; 회로 기판상에 실행될 테스트를 포함하는 적어도 하나의 테스트 모듈(25)을 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 기판 테스트 시스템.
  5. 직렬 경계-주사 체인으로 접속된 다수의 경계-주사-테스트 가능한 전자 부품(14)을 포함하는 적어도 하나의 회로 기판(12)테스트 방법에 있어서, 회로 기판의 테스트를 시작하도록 시스템 테스트 및 자체 진단 호스트(17)에서 높은 레벨의 테스트 명령을 발생하는 단계와; 각각의 회로 기판이 특정한 테스트 프로그램을 실행하여 기판의 에러를 표시하는 테스트 결과를 발생하도록 시스템 테스트 및 자체 진단 호스트로부터의 테스트 명령을 중계하여 각각의 회로 기판(12)에 테스트 명령을 제공하는 단계 및; 시스템 테스트 및 자체진단 호스트(17)에 전송되는 기판의 동작을 표시하는 테스트 정보를 설정하도록 회로기판(12)으로부터 테스트 결과를 중계하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 회로 기판 테스트 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5774644A (en) * 1993-12-17 1998-06-30 International Business Machines Corporation Method and apparatus for generating a pair of interoperating communications programs
US5537052A (en) * 1994-06-17 1996-07-16 Emc Corporation System and method for executing on board diagnostics and maintaining an event history on a circuit board
DE69634515T2 (de) * 1995-06-09 2005-09-29 Fujitsu Ltd., Kawasaki Verfahren, system und anordnung zur effizienten generierung binärer zahlen zum testen von spreichervorrichtungen
US5706297A (en) * 1995-08-24 1998-01-06 Unisys Corporation System for adapting maintenance operations to JTAG and non-JTAG modules
EP1630566A2 (en) * 1995-12-27 2006-03-01 Koken Co., Ltd. Monitoring control apparatus
US5815510A (en) * 1996-03-28 1998-09-29 Cypress Semiconductor Corp. Serial programming of instruction codes in different numbers of clock cycles
US5835503A (en) * 1996-03-28 1998-11-10 Cypress Semiconductor Corp. Method and apparatus for serially programming a programmable logic device
US5805794A (en) * 1996-03-28 1998-09-08 Cypress Semiconductor Corp. CPLD serial programming with extra read register
US5768288A (en) * 1996-03-28 1998-06-16 Cypress Semiconductor Corp. Method and apparatus for programming a programmable logic device having verify logic for comparing verify data read from a memory location with program data
US5668947A (en) * 1996-04-18 1997-09-16 Allen-Bradley Company, Inc. Microprocessor self-test apparatus and method
US5968196A (en) * 1998-04-21 1999-10-19 Atmel Corporation Configuration control in a programmable logic device using non-volatile elements
US6378094B1 (en) * 1999-04-01 2002-04-23 Lucent Technologies Inc. Method and system for testing cluster circuits in a boundary scan environment
US7493540B1 (en) 1999-11-23 2009-02-17 Jansuz Rajski Continuous application and decompression of test patterns to a circuit-under-test
US8533547B2 (en) * 1999-11-23 2013-09-10 Mentor Graphics Corporation Continuous application and decompression of test patterns and selective compaction of test responses
US6874109B1 (en) 1999-11-23 2005-03-29 Janusz Rajski Phase shifter with reduced linear dependency
JP3845016B2 (ja) * 1999-11-23 2006-11-15 メンター・グラフィクス・コーポレーション テスト中回路技術分野へのテストパターンの連続的な適用およびデコンプレッション
US6557129B1 (en) 1999-11-23 2003-04-29 Janusz Rajski Method and apparatus for selectively compacting test responses
US6327687B1 (en) * 1999-11-23 2001-12-04 Janusz Rajski Test pattern compression for an integrated circuit test environment
US9664739B2 (en) 1999-11-23 2017-05-30 Mentor Graphics Corporation Continuous application and decompression of test patterns and selective compaction of test responses
US9134370B2 (en) 1999-11-23 2015-09-15 Mentor Graphics Corporation Continuous application and decompression of test patterns and selective compaction of test responses
US6684358B1 (en) 1999-11-23 2004-01-27 Janusz Rajski Decompressor/PRPG for applying pseudo-random and deterministic test patterns
US6353842B1 (en) * 1999-11-23 2002-03-05 Janusz Rajski Method for synthesizing linear finite state machines
AU2001227892A1 (en) * 2000-01-14 2001-07-24 Parthus Technologies Plc An algorithmic test pattern generator, with built-in-self-test (bist) capabilities, for functional testing of a circuit
US6959257B1 (en) * 2000-09-11 2005-10-25 Cypress Semiconductor Corp. Apparatus and method to test high speed devices with a low speed tester
US20020093356A1 (en) * 2000-11-30 2002-07-18 Williams Thomas W. Intelligent test vector formatting to reduce test vector size and allow encryption thereof for integrated circuit testing
US6744256B2 (en) * 2001-10-29 2004-06-01 Agilent Technologies, Inc. Boundary-scan testing of opto-electronic devices
TW200401194A (en) * 2002-07-11 2004-01-16 Advanced Micro Devices Inc Method and apparatus for determining a processor state without interrupting processor operation
US20050159925A1 (en) * 2004-01-15 2005-07-21 Elias Gedamu Cache testing for a processor design
US20050172178A1 (en) * 2004-01-15 2005-08-04 Elias Gedamu Cache-testable processor identification
US20050172182A1 (en) * 2004-01-15 2005-08-04 Elias Gedamu Optimal operational voltage identification for a processor design
US7906982B1 (en) 2006-02-28 2011-03-15 Cypress Semiconductor Corporation Interface apparatus and methods of testing integrated circuits using the same
US8453026B2 (en) * 2006-10-13 2013-05-28 Advantest (Singapore) Pte Ltd Process for improving design limited yield by efficiently capturing and storing production test data for analysis using checksums, hash values, or digital fault signatures
US8615691B2 (en) * 2006-10-13 2013-12-24 Advantest (Singapore) Pte Ltd Process for improving design-limited yield by localizing potential faults from production test data
US20080239082A1 (en) * 2007-03-29 2008-10-02 Analogix Semiconductor, Inc. HDMI format video pattern and audio frequencies generator for field test and built-in self test
US9759772B2 (en) 2011-10-28 2017-09-12 Teradyne, Inc. Programmable test instrument
US10776233B2 (en) 2011-10-28 2020-09-15 Teradyne, Inc. Programmable test instrument
CN102520344B (zh) * 2011-12-16 2014-04-02 大唐微电子技术有限公司 一种用于智能卡测试的边界扫描模块、边界扫描系统
CN102621483B (zh) * 2012-03-27 2014-04-16 中国人民解放军国防科学技术大学 多链路并行边界扫描测试装置及方法
US9595350B2 (en) * 2012-11-05 2017-03-14 Nxp Usa, Inc. Hardware-based memory initialization
US10184980B2 (en) 2016-09-06 2019-01-22 Texas Instruments Incorporated Multiple input signature register analysis for digital circuitry
TWI736721B (zh) * 2017-12-13 2021-08-21 英業達股份有限公司 連接器的腳位連接測試系統及其方法
US10515039B2 (en) * 2018-01-05 2019-12-24 Molex, Llc Vehicle USB hub system

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4872169A (en) * 1987-03-06 1989-10-03 Texas Instruments Incorporated Hierarchical scan selection
US4872125A (en) * 1987-06-26 1989-10-03 Daisy Systems Corporation Multiple processor accelerator for logic simulation
US5029166A (en) * 1989-05-31 1991-07-02 At&T Bell Laboratories Method and apparatus for testing circuit boards
DE69031676T2 (de) * 1989-08-09 1998-03-12 Texas Instruments Inc Architektur des Abtastpfads eines Systems
US5132635A (en) * 1991-03-05 1992-07-21 Ast Research, Inc. Serial testing of removable circuit boards on a backplane bus
GB2260414A (en) * 1991-10-10 1993-04-14 Genrad Inc Circuit tester with scanner path assignment

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Publication number Publication date
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