KR940005709B1 - 반도체장치 및 그 제조방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (3)
- 제 1 도전형의 반도체기판(1)과, 이 반도체기판(1)상에 형성된 제 1 층간절연막(3), 이 제 1 층간절연막(3)상에 형성된 제 1 버퍼 층(4), 상기 제 1 층간절연막(3)중에 바닥부분을 갖는 제 1 개공부(6), 이 제 1개공부(6)의 측벽에 형성된 제 2 버퍼층(7), 이 제 2 버퍼층(7)에 의해 개공폭(開孔幅)이 좁혀지며 상기 제 1 개공부(6)의 바닥부분을 관통하여 상기 반도체기판(1)의 표면을 노출시키는 제 2 개공부(8), 상기 제 1 버퍼층(4)상에 선택적으로 형성된 제 1 배선층(9), 상기 제 2 개공부(8)내를 충전해서 상기 제 2 버퍼층(7)상에 형성된 상기 제 1 배선층(9)과 동일한 층의 접속전극(10), 상기 제 1 배선층(9) 및 상기 접속전극(10)의 각 측벽으로서 형성된 제 3 버퍼층(11), 상기 제 1 배선층(9) 및 상기 접속전극(10)을 덮는 제 2 층간전연막(12), 이 제 2 층간절연막(12)에 뚫려져서 상기 제 1 배선층(9)을 노출시키도록 형성된 제 3 개공부(13), 이 제 3 개공부(13)내를 충전해서 상기 제 1 배선층(9)상에 형성된 고융점 금곡막(14), 이 고융점 금속막(14)상에 형성된 제 2 배선층(15)을 구비하여 구성된 것을 특징으로 하는 반도체장치.
- 제 1 도전형 반도제기판(1)상에 제 1 층간절연막(3)을 형성하는 공정과, 이 제 1 층간절연막(3)상에 제 1 버퍼층(4) 및 스토퍼 절연막(5)을 형성하는 공정, 상기 제 1 층간절연막(3)중에 바닥부분을 갖는 제 1 개공부(6)를 선택적으로 형성하는 공정, 상기 스토퍼 절연막(5)상 및 상기 제 1 개공부(6)를 덮는 제 2 버퍼층(7)을 형성하는 공정, 이방성 에칭법을 이용하여 상기 제 1 개공부(6)의 측벽에 제 2 버퍼층(7)을 잔존시키는 공정, 상기 제1,제2버퍼층 (4,7)을 마스크로 이용하여 이방성 에칭을 실시해서 상기 제1개동부(6)의 바닥부분을관통하며 상기 반도체기판(1)의 표면을 노출시키게 되는 제2개공부(8)를 형성하는 공정, 배선용 금속을 상기 제2개공부(8)내에 충전시킴과 더불어 상기 제2버퍼층 (7)상에 퇴적시키는 공정, 상기 배선을 금속을 에칭하여 상기 제1개공부(6)의 선폭을 갖는 정도로 접속전극(10)을 형성함과 더불어 상기 제1버퍼층(4)상에선택적으로 제1배선층 (9)을 형성하는 공정, 제3버퍼층 (11)을 퇴적시켜서 이방성 에칭을 실시함으로써 상기 접속전극(10) 및 제1배선층(9)의 각측벽에 이 제3버퍼층 (11)을 잔존시키는 공정, 제2층 간절연막(12)을 형성하고 이 제2층 간절연막(12)에 상시 제 1 배선층 (9)이 노출되도록 제3개공부 (13)를 형성하는 공정,이 제3개공부(13)내를 충전시키도록 상기 제1배선층(9)상에 고융점 금속막914)을 형성하는 공정, 이 고용점 금속막(14)상에 제2배성층 (15)을 형성하는 공정을 구비하여 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체장치의제조방법.
- 제 2 항에 있어서, 상기 제1, 제2, 제 3 버퍼층을 다결정실리콘 혹은 고융점 금속 규화물로 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체장치의 제조방법.
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JP2-72019 | 1990-03-23 | ||
JP7201990 | 1990-03-23 |
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KR1019910004324A KR940005709B1 (ko) | 1990-03-23 | 1991-03-19 | 반도체장치 및 그 제조방법 |
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1991
- 1991-03-19 KR KR1019910004324A patent/KR940005709B1/ko not_active IP Right Cessation
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