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KR930700855A - 전자 소자 테스트및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템 및 그 방법 - Google Patents

전자 소자 테스트및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템 및 그 방법

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KR930700855A
KR930700855A KR1019920702980A KR920702980A KR930700855A KR 930700855 A KR930700855 A KR 930700855A KR 1019920702980 A KR1019920702980 A KR 1019920702980A KR 920702980 A KR920702980 A KR 920702980A KR 930700855 A KR930700855 A KR 930700855A
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KR
South Korea
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lead
probe
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test
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KR1019920702980A
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KR0168823B1 (ko
Inventor
데이. 브루노 데이빗
디. 크로스 죤
Original Assignee
레리 티.랩
일렉트로 싸이언티픽 인더스트리즈 인코포레이티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 레리 티.랩, 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리즈 인코포레이티드 filed Critical 레리 티.랩
Publication of KR930700855A publication Critical patent/KR930700855A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0168823B1 publication Critical patent/KR0168823B1/ko

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/08—Measuring resistance by measuring both voltage and current
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

전자 소자 테스트및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템 및 그 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 리드 검사 및 소자 테스트가 동시에 실행되는 본 발명의 시스템을 나타내는 블럭도,
제5도는 본 발명에 사용되는 전류원 회로를 나타내는 도,
제6도는 본 발명에 사용되는 감지 증폭기 회로를 나타내는 도,
제7도는 본 발명에 사용되는 비교기 회로를 나타내는 도.

Claims (23)

  1. 전자 소자 테스트 및 리드검사를 동시에 실행하는 시스템에 있어서, 제1및 제2전기 탐침과,제1탐침 및 소자의 리드간과, 제2탐침 및 소자 리드간의 접촉 저항의 합을 결정하기 위해 제1 및 제2탐침에 전기적으로 연결되며, 제1탐침, 소자의 리드, 및 제2탐침을 통하여 흐르는 전류 I1을 발생하는 제1전류 구동 수단을 포함하는 접촉 저항 결정 수단, 및 접촉 저강 수단이 접촉 저항의 합계를 결정하는 동안 소자의 파라메터 값을 결정하며, 제1 및 제2탐침에 전기적으로 연결되고, 소자를 통하여 전류 I2를 발생하는 제2전류 구동 수단을 포함하는 소자 테스트 수단을 구비하며, 상기 전류 I1및 I2는 주파수를 가지며, I1의 주파수는 I2의 주파수와 다르고, 상기 소자 테스트 수단은 전류 I1을 차단하는 제1주파수 차단 수단을 포함하며, 상기 접촉 저항 결정 수단은 전류 I2를 차단하는 제2주파수 차단 수단을 포함하는 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 전류 I1이 제로 주파수의 직류 전류인, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  3. 제1항에 있어서, 전류 I1의 주파수가 전류 I2의주파수보다 높은, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템
  4. 제1항에 있어서, 전류 I2의 주파수가 전류 I1의주파수보다 높은, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  5. 제1항에 있어서, 소자 테스트 수단으로부터 접촉 저항 결정 수단을 전기적으로 절연시키는 절연된 DC/DC 변환 수단을 더 포함하는, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  6. 제1항에 있어서, 접촉 저항 결정 수단이 제1탐침의 전압 및 제2탐침의 전압간의 차를 결정하는 감지 증폭 수단을 포함하는, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  7. 제1항에 있어서, 소자 테스트 수단이 종래의 브리지를 포함하는, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  8. 제1항에 있어서, 파라메트는 캐패시턴스이며, 소자는 캐패시터인, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  9. 제1항에 있어서, 리드는 제1리드이며, 소자는 제2리드를 포함하고, 소자 테스트 수단이 제1리드의 전압 및 소자의 제2리드의 전압간에 차를 결정하는 수단을 포함하는, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  10. 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템에 있어서, 제1및 제2전기 탐침과, 제1탐침 및 소자의 리드간과, 제2탐침 및 소자의 리드간에 접촉 저항의 합을 결정하며, 제1및 제2탐침에 리드간에 접촉 저향의 합을 결정하며, 제1및 제2탐침에 전기적으로 연결된 접촉 저항 결정 수단과, 상기 접촉 저항 결정 수단이 제1탐침 및 소자의 리드간과, 제2탐침 및 소자의 리드간에 접촉 저항의 합계를 결정하는 동안, 소자의 파라메터 값을 결정하며, 상기 제1및 제2탐침에 전기적으로 연결되고, 상기 접촉 저항 결정 수단과는 서로간에 전기적으로 절연된 소자 테스트 수단을 구비하는, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  11. 제10항에 있어서, 접촉 저항 결정 수단과 소자 테스트 수단에 전기적으로 연결되는 제3 및 제4탐침을 더 구비하며, 소자의 리드는 제1리드이고, 접촉 저항의 합계가 제1합계이며, 접촉 저항 결정 수단이 제3탐침 및 소자의 제2리드간과, 제4탐침 및 소자의 제2리드간의 접촉 저항의 제2합계를 결정하는 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  12. 제11항에 있어서, 제1합계가 제1한계를 초과하는지, 제2합계가 제2한계를 초과하는지, 제1 및 제2의 합계가 제3함계를 초과하는지를 결정하는 비교 수단을 더 구비하는, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  13. 제12항에 있어서, 제1한계가 제2한계와 같고, 제1한계와 제3한계와 같은, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  14. 제10항에 있어서, 접촉 저항 결정 수단이 제1탐침, 소자의 리드, 및 제2탐침을 통해 흐르는 전류 I1을 발생하는 제1전류 구동 수단으로 포함하고, 소자 테스트 수단이 소자를 통해 흐르는 전류 I2를 발생하는 제2전류 구동 수단을 포함하며, 전류 I1및 I2는 주파수를 가지고, I1의 주파수는 I2의 주파수와는 다르며, 접촉 저항 결정 수단이 전류 I2를 차단하는 제2주파수 차단 수단을 포함하며, 소자 테스트 수단이 전류 I1을 차단하는 제1주파수 차단 수단을 포함하는, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  15. 제10항에 있어서, 소자 테스트 수단으로부터 접촉 저항 결정 수단을 전기적으로 절연시키는 절연된 DC/DC 변환 수단을 더 구비하는, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  16. 제10항에 있어서, 접촉 저항 결정 수단이 제1탐침의 전압 및 제2탐침의 전압간의 차를 결정하는 감지 증폭 수단을 포함하는, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  17. 제10항에 있어서, 리드는 제1리드이며, 소자는 제2리드를 포함하고, 소자 테스트 수단이 소자의 제2리드 전압 및 제1리드 전압간의 차를 결정하는 감지 증폭 수단을 포함하는, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  18. 리드를 가지는 전기 소자의 리드 검사 및 테스트를 동시에 실행하는 방법에 있어서, 제1 및 제2전기적 탐침을 소자의 리드와 물리적으로 접속하게 하고, 전류를 발생시켜, 제1탐침, 부품의 리드, 및 제2탐침을 통해 전류를 흐르게하며, 제1 및 제2탐침의 전압간의 차를 측정하여, 그 차가 소정의 값을 초과하는가를 결장하고, 상기 전압간의 차가 측정되는 동안 부품의 파라메터를 측정하는 단계를 구비하는 방법.
  19. 제1항에 있어서, 소자 테스트 수단이 컨테이너에 포함되며, 제1주파수 차단 수단이 상기 컨테이너 내에 포함되는, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  20. 제1항에 있어서, 소자 테스트 수단이 컨테이너에 포함되며, 제1주파수 차단 수단이 상기 컨테이너 외부에 위치하는, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  21. 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템에 있어서, 제1 및 제2전기적 탐침과, 제1탐침 및 소자의 리드간과, 제2탐침 및 소자의 리드간의 접촉 저항의 합계를 결정하기 위해 제1 및 제2탐침에 전기적으로 연결되고, 제1탐침, 소자의 리드, 및 제2탐침을 통해 흐르는 전류 I1을 발생하는 제1전류 구동 수단을 구비하는 접촉 저항 결정 수단과, 상기 접촉 저항 결정 수단이 접촉 저항의 합계를 결정하는 동안, 소자의 파라메터 값을 결정하기 위해 제1 및 제2탐침에 전기적으로 연결되며, 소자를 통해 흐르는 전류 I2를 발생하는 제2전류 구동 수단을 포함하는 소자 테스트 수단, 여기에서 전류 I1및 I2는 전류 I1의 주파수가 전류 I2의 주파수와는 다른 주파수를 가지게 되며, 전류 I1이 소자 테스트 수단에 들어가는 것을 차단하는 제1주파수 차단 수단, 전류 I2가 접촉 저항 결정 수단에 들어가는 것을 차단하는 접촉 저항 결정 수단에 포함된 제2주파수 차단 수단을 구비하는, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  22. 제21항에 있어서, 소자 테스트 수단이 컨테이너에 포함되며, 제1주파수 차단 수단이 상기 컨테이너 외부에 위치하는, 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템.
  23. ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920702980A 1990-05-29 1991-04-18 전자 소자 테스트 및 리드 검사를 동시에 실행하는 시스템 및 방법 KR0168823B1 (ko)

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