KR920005760A - 방사선 분석용 홀로그래픽 분광계 및 이의 분석 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (23)
- 방사선을 발생하는 방사선 소오스 수단; 상기 방사선을 수신하여 상기 방사선을 성분 파장들로 분산시키기 위해 내부에 기록된 간섭 패턴을 갖는 홀로그래픽 렌즈 수단; 및 상기 성분 파장들을 검출하기 위한 검출기 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 방사선 분석용 홀로그래픽 분광계.
- 제 1 항에 있어서, 상기 방사선 소오스 수단으로 부터의 방사선을 투과하는 압전 블럭과 최소한 2개의 전극을 포함하고, 상기 홀로그래픽 렌즈 수단, 검출기 수단 및 최소한 2개의 전극이 상기 압전 블럭의 외부면들에 부착되는 것을 특징으로 하는 홀로그래픽 분광계.
- 제 1 항에 있어서, 상기 검출기 수단이 검출기 어레이이고, 상기 홀로그래픽 렌즈 수단이 방사선 소오스에서 검출기 어레이의 특정 검출기 소자들로 성분 파장들의 방사선을 조사 및 분산시키는 것을 특징으로 하는 홀로그래픽 분광계.
- 제 3 항에 있어서, 상기 검출기 소자들의 어레이가 자체에서 주사하는 것을 특징으로 하는 홀로그래픽 분광계.
- 제 2 항에 있어서, 상기 2개의 전극이, 상기 압전 블럭이 상기 홀로그래픽 렌즈 수단에 의해 분산된 방사선 방향을 변경시키도록 상기 압전 블럭내에 전계를 발생시키는 것을 특징으로 하는 홀로그래픽 분광계.
- 제 2 항에 있어서, 상기 검출기 수단이 검출기 소자들의 어레이이고 상기 홀로그래픽 렌즈 수단에 의해 조사되어 분산된 특징 파장의 방사선이 한 검출기 소자에서 다른 검출기 소자로 조사됨으로서 상기 압전 블럭이 물리적으로 변경되도록 상기 2개의 전극이 상기 압전 블럭내에 전계를 발생시키는 것을 특징으로 하는 홀로그래픽 분광계.
- 제 3 항에 있어서, 상기 검출기 소자들의 어레이가 자체에서 주사하는 것을 특징으로 하는 홀로그래픽 분광계.
- 제 2 항에 있어서, 상기 압전 블럭이 리튬 니오브산염인 것을 특징으로 하는 홀로그래픽 분광계,
- 제 2 항에 있어서, 상기 압전 블럭이 장방형 블럭이고, 상기 홀로그래픽 렌즈 수단이 상기 장방향 블럭의 한 짧은 면에 부착되며, 상기 2개의 전극이 상기 장방형 블럭에 대향하는 긴 면들에 부착되고, 상기 검출기 수단이상기 홀로그래픽 렌즈 수단을 보유하는 짧은 면에 대향하는 단부에 전극들 중 한 전극을 갖고 있는 긴 면들중의한 면에 부착되는 것을 특징으로 하는 홀로그래픽 분광계.
- 개스의 스펙트럼을 분석하기 위한 콤펙트 필드 분광계에 있어서, 분석될 상기 개스를 유입하고 유출시키기 위한 수단을 포함하는 기밀 하우징; 상기 하우징내의 방사선 소오스; 상기 하우징내의 상기 방사선 소오스로부터 원거리에 배치되고 상기 방사선으로부터의 방사선을 투과하는 압전 물질 블럭; 상기 압전 블럭상에 배치되고; 상기 방사선 소오스로부터의 방사선을 수신하고, 상기 압전 블럭내의 방사선을 성분 파장으로 분산시키는 홀로그래픽 렌즈; 상기 압전 블럭상에 배치되고, 상기 홀로그래픽 렌즈에 의해 분산된 방사선을 수신하는 검출기; 및 상기 검출기에 의해 수신된 방사선을 분석하기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 콤펙트 필드 분광계.
- 제10항에 있어서, 상기 압전 블럭이 상기 홀로그래픽 렌즈로부터의 방사선 방향을 변경하여 상기 압전 블럭이 수축되거나 확장되도록, 전압을 상기 전극들에 인가하기 위한 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 필드 분광계.
- 제11항에 있어서, 상기 검출기가 검출기 소자들의 어레이이고; 전압이, 특정 파장의 방사선이 한 검출기 소자로부터 다른 검출기 소자로 조사되도록 상기 압전 블럭을 압축 또는 확장시키는 것을 특징으로 하는 필드 분광계.
- 제11항에 있어서, 상기 압전 블럭이 리튬 니오브산염인 것을 특징으로 하는 필드 분광계.
- 제12항에 있어서, 상기 검출기 소자들의 어레이가 자체에서 주사하는 것을 특징으로 하는 필드 분광계.
- 표본체의 스펙트럼 분석을 실행하기 위한 홀로그래픽 분광계에 있어서, 방사선 소오스; 상기 방사선 소오스에서 원격 위치에 배치되고; 상기 방사선 소오스로부터 방사선을 투과하고, 한면상에는 홀로그래픽 렌즈, 대향면상에는 2개의 전극 및 다른 한면상에는 검출기가 부착되는 압전 블럭을 포함하고, 상기 방사선 소오스가, 상기 홀로그래픽 렌즈가 상기 압전 블럭을 통해 상기 검출기를 향하는 방사선을 조사하여 성분 파장으로 분산시키도록 상기 압전 블럭을 향해 방사선을 방사하는 것을 특징으로 하는 홀로그래픽 분광계.
- 제15항에 있어서, 상기 전극들이, 상기 홀로그래픽 렌즈로부터의 방사선 방향이 변경되도록 상기 압전 블럭을 수축 또는 확장시키기 위한 전위를 수신하도록 배치되는 것을 특징으로 하는 홀로그래픽 분광계.
- 제16항에 있어서, 상기 검출기가 검출기 소자들의 어레이이고; 상기 전위가, 특정 파장이 한 검출기 소자로부터 다른 검출기 소자로 조사되도록 방사선의 방향을 변경하는 것을 특징으로 하는 홀로그래픽 분광계.
- 제17항에 있어서, 상기 압전 블럭이 리튬 니오브산염인 것을 특징으로 하는 홀로그래픽 분광계.
- 방사선 소오스로부터 특정 주파수들의 방사선을 방사하는 단계; 상기 홀로그래픽 렌즈가 방사선을 검출기를 향해 조사하여 성분 파장들로 분산시키도록 기록된 간섭 패턴을 갖는 홀로그래픽 렌즈를 통해 방사선 소오스로부터의 방사선을 수신하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 분석 방법.
- 제19항에 있어서, 압전 블럭상의 홀로그래픽 렌즈와 검출기를 배치하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 분석 방법.
- 제20항에 있어서, 압전 블럭상에 한쌍의 전극을 배치하고, 상기 압전 블럭을 확장 또는 수축하여 상기 홀로그래픽 렌즈로부터 상기 검출기로의 방사선 방향을 변경하기 위해 상기 전극들에 전압을 공급하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 분석 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 검출기가 자체-주사 검출기 소자의 어레이이고, 상기 전극들에 공급된 상기 전압이 한 검출기 소자에서 다른 검출기 소자로 한 특정 파장의 방사선을 조사하는 것을 특징으로 하는 스펙트럼 분석 방법.
- 제21항에 있어서, 분석될 개스 표본체를 흡입 및 배출하기 위한 수단을 갖는 하우징내에 압전 블럭, 전극, 방사선 소오스, 홀로그래픽 렌즈 및 검출기를 배치하는 단계를 포함하는 스펙트럼 분석 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개EHL는 것임.
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