KR910012972A - 기록 오동작 방지 회로 및 이를 구비한 메모리 장치 및 데이타 처리 장치 - Google Patents
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Abstract
내용 없음.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 실시예에 따른 기록 오동작 방지 회로를 갖는 메모리 장치의 블럭선도,
제2도는 본 발명의 다른 실시예에 따른 기록 오동작 방지 회로를 갖는 메모리 장치의 블럭선도.
Claims (12)
- 기록 오동작 방지 회로로서, 소스 전압치를 검출하여 메모리 장치의 상태 선택단자에 전송될 제1제어 신호를 발생하기 위한 소스 전압 검출 수단과, 소정의 참조 데이타가 사전 기억된 참조 레지스터와, 데이타 버스를 통해 참조되어질 데이타를 수신하기 위해 데이타를 기록 및 판독할 수 있는 제1기록 테스트 레지스터와, 참조 데이타가 참조되어질 상기 데이타와 일치하는지 아닌지를 판정화여 상기 판정에 따라 제2제어신호를 발생하는 기록 테스트용 정당상 판정수단과, 상기 참조 데이타 및 참조되어질 상기 데이타는 상기 참조 레지스터와 상기 제1기록 테스트 레지스터로부터 각각 판독되어짐, 상기 제1 및 제2 제어 신호에 따라 상기 상태 선택 단자에 인가되어질 상태 선택 신호를 발생하는 상태 선택 수단을 구비한 기록 오동작 방지 회로.
- 제1항에 있어서, 회로 소자 각각은 모노리딕 반도체 집적 회로로서 구성되는 기록 오동작 방지 회로.
- 기록 오동작 방지회로와, 메모리 수단과, 소스 전압 검출 수단을 구비하며, 상기 메모리 수단은 이것의 두 상태중 한 상태를 선택하는데 사용된 상태 선택 단자를 포함하며, 상기 한 상태는 상기 메모리 수단으로부터 데이타가 기록 및 판독될 수 있는 활성 상태이며, 상기 다른 상태는 상기 메모리 수단에 기억된 데이타가 보유되어지는 비활성 상태이며, 상기 소스 전압 검출 수단은 소스 전압치를 검출하여 상기 검출된 전압치에 따라 상기 상태 선택 단자에 인가 되어질 제1제어 신호를 발생하는 메모리 장치로서, 소정의 참조 데이타가 사전 기억되어있는 참조 레지스터와, 데이타 버스를 통해 참조되어질 데이타를 수신하기 위해 데이타를 기록 및 판독할 수 있는 제1기록 테스트 레지스터와 상기 참조 데이타와 참조되어질 상기 데이타의 일치를 판정하여 상기 판정에 따라 제2 제어 신호를 발생시키는 정당성 판정 수단과, 상기 참조 데이타 및 참조되어질 상기 데이타는 상기 참조 레지스터 및 상기 제1기록 테스트 레지스터 각각으로부터 판독됨, 상기 제1제어 신호 및 상기 제2제어 신호에 따라 상기 칩 인에이블 단자에 인가되어질 상태 선택 신호를 발생시키는 상태 선택 수단을 구비하는 메모리 장치.
- 제3항에 있어서, 상기 데이타 버스를 통해 전달된 데이타를 기억하기 위해 데이타를 기록 및 판독할 수 있는 제2기록 테스트 레지스터를 또한 구비하며, 상기 정당성 판정 수단을 상기 제2기록 테스트 레지스터로부터 판독 출력된 데이타를 반전시켜 생성된 반전 데이타가 발전된 참조 데이타와 일치하는지를 판정하는 메모리 장치.
- 기록 오동작 방지 회로와, 메모리 수단과, 소스 전압 검출 수단을 구비하며, 상기 메모리 수단은 이것의 두 상태중 한 상태를 선택하는데 사용된 상태 선택 단자를 포함하며, 상기 한 상태는 상기 메모리 수단으로부터 데이타가 기록 및 판독될 수 있는 활성 상태이며, 상기 다른 상태는 상기 메모리 수단에 기억된 데이타가 보유되어지는 비 활성 상태이며, 상기 소스 전압 검출 수단은 소스 전압치를 검출하여 상기 검출된 전압치에 따라 상기 상태 선택단자에 인가되어질 제1제어 신호를 발생하는 메모리 장치로서, 데이타 버스를 통해 참조되어질 데이타를 수신하기 위해 데이타를 기록 및 판독할 수 있는 제1기록 테스트 레지스터와 상기 제1기록 테스트에 레지스터에 기억되어 참조되어질 상기 데이타를 디코딩하는 디코더와, 상기 제1제어신호와 제2제어 신호에 따라 상기 상태 선택 신호를 발생시키는 상태 선택 제어 수단을 구비하며, 상기 제2제어 신호는 참조될 상기 데이타의 디코드 결과로서 상기 디코더로부터 획득되는 메모리 장치.
- 기록 오동작 방지 회로와, 메모리 수단과, 소스 접압 검출 수단을 구비하며, 상기 메모리 수단은 이것의 두상태중 한 상태를 선택하는데 사용된 상태 선택 단자를 포함하며, 상기 한 상태는 상기 메모리 수단으로 부터 데이타가 기록 및 판독될 수 있는 활성 상태이며, 상기 다른 상태는 상기 메모리 수단에 기억된 데이타가 보유되어지는 비활성 상태이며, 상기 소스 전압 검출수단은 소스 전압치를 검출하여 상기 검출된 전압치에 따라 상기 상태 선택 단자에 인가되어질 제1제어 신호를 발생하는 메모리 장치로서, 데이타 버스를 통해 참조될 데이타를 수신하기 위해 데이타를 기록 및 판독할 수 있는 제1기록 테스트 레지스터와, 상기 제1기록 테스트 레지스터와 상기 제1제어 신호에 기억되어 참조되어질 상기 데이타를 수신하고 상기 수신된 데이타 및 신호를 분석하여 상기 상태 선택 단자에 인가되어질 상기 상태 선택 신호를 발생하는 디코더를 구비하는 메모리 장치.
- 제3,4,5또는 제6항에 있어서, 상기 메모리 수단은 모노리딕 반도체 집적 회로로서 형성되는 메모리 장치.
- 제7항에 있어서, 상기 모노리딕 반도체 집적 회로 및 다른 메모리 회로 소자는 IC카드형인 메모리 장치.
- 제3,4,5 또는 제6항에 있어서, 상기 메모리 장치를 구비한 각 소자는 모노리딕 반도체 집적 회로로서 형성되는 메모리 장치.
- 제9항에 있어서, 상기 모노리딕 반도체 집적 회로는 IC카드형인 메모리 장치.
- 기록 오동작 방지 회로를 구비한 데이타 처리 장치로서, 메모리 수단과 소스 전압 검출수단을 포함한 메모리 장치와, 소정의 참조 데이타가 사전 기억되어 있는 참조 레지스터와, 데이타 버스를 통해 참조되어질 데이타를 수신하기 위해 데이타를 기록 및 판독할 수 있는 제1기록 테스트 레지스터와, 마이크로 프로세서 수단을 갖는 제어블럭과, 상기 참조 데이타와 참조되어질 상기 데이타의 일치를 판정하여 상기 판정에 따라 제2제어 신호를 발생시키는 정당성 판정 수단과, 상기 제1 및 제2제어 신호에 따라 상기 칩 인에이블 단자에 인가되어질 상태 선택 신호를 발생시키는 상태 선택 수단을 구비하며, 상기 메모리 수단은 상기 메모리 수단의 두 상태중 한 상태를 선택하는데 사용된 상태 선택 단자가 제공되어 있으며, 상기 한 상태는 상기 메모리 수단으로부터 데이타를 판독하고 또한 기록할 수 있는 활성 상태이며, 상기 다른 상태는 상기 메모리 수단에 기억된 데이타를 보유하는 비활성 상태이며, 상기 소스 전압 검출 수단은 소스 전압치를 검출하여 상기 검출된 전압치에 따라 상기 상태 선택 단자에 인가되어질 제1제어 신호를 발생하며, 상기 참조 데이타와 참조되어질 상기 데이타는 상기 참조 레지스터 및 상기 제1기록 테스트 레지스터로부터 판독되어지는 데이타 처리 장치.
- 기록 오동작 방지 회로를 구비한 데이타 처리 장치로서, 메모리 수단과 소스 전압 검출 수단을 포함한 메모리 장치와, 데이타 버스를 통해 참조되어질 데이타를 수신하기 위해 데이타를 기록 및 판독할 수 있는 제1기록 테스트 레지스터와, 마이크로프로세서 수단을 갖는 제어 블럭과, 상기 제1기록 테스트 레지스터에 기록되어 참조되어질 상기 데이타를 디코딩하는 디코더와, 상기 제1 및 제2제어 신호에 따라 상기 칩 인에이블 단자에 인가되어질 상태 선택 신호를 발생시키는 상태 선택 수단을 구비하며, 상기 메모리 수단에는 상기 메모리 수단의 두 상태중한 상태를 선택하는데 사용된 상태 선택 단자가 제공되어 있으며, 상기 한 상태는 상기 메모리 수단으로부터 데이타를 판독하고 또한 기록할 수 있는 활성 상태이며, 상기 다른 상태는 상기 메모리 수단에 기억된 데이타를 보유하는 비활성 상태이며, 상기 소스 전압 검출수단은 소스 전압치를 검출하여 상기 검출된 전압치에 따라 상기 상태 선택 단자에 인가되어질 제1제어 신호를 발생하며, 상기 제2제어 신호를 참조될 상기 데이타의 디코드 결과로서 상기 디코더로부터 획득되는 데이타 처리 장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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