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KR890004159A - 방사 검출 시스템 - Google Patents

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KR890004159A
KR890004159A KR1019880010429A KR880010429A KR890004159A KR 890004159 A KR890004159 A KR 890004159A KR 1019880010429 A KR1019880010429 A KR 1019880010429A KR 880010429 A KR880010429 A KR 880010429A KR 890004159 A KR890004159 A KR 890004159A
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KR
South Korea
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point source
lens
optical fiber
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KR1019880010429A
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Inventor
테일러 바흐 데이비드
Original Assignee
랠프 즁스 메더스트
아모코 코포레이션
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Publication date
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Abstract

내용 없음

Description

방사 검출 시스템
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 본 발명에 따라서 구성된 분석적 기구의 광학 성분에 대한 블럭구성도. 제 2 도는 제1,3 및 제 4 도에서 도시한 분석적 기구에 유용한 분기된 광섬유 다발에 대한 다이어그램.

Claims (22)

  1. 샘플 용기를 규정하기 위해 얇은 막으로 폐쇄된 바닥부 벽 및 최상부 개구를 가지며 깊은 우물에 배치되는 샘플로부터 방출하는 방사를 집중 및 샘플에 여기 방사를 전달하기 위한 장치에 있어서, 렌즈수단이 제 1 표면 및 반대하는 제 2 표면을 가지며, 상기 렌즈수단이 제 2 표면을 깊은 우물로 삽입하기 위한 크기이며, 상기 렌즈수단이 제 1 표면상에 입사한 점원에서 제 2 표면으로부터 방출하는 방사의 빔까지 결정하도록 동작하며, 상기 제 2 표면을 통하여 상기 렌즈수단을 인입하며 및 상기 제 1 표면을 통하여 상기 렌즈수단으로부터나가는 방사를 수신하기 위해 상기 제 1 표면에 이웃하여 배치된 집중수단을 구비하는 것을 특징으로하는 방사 검출장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 렌즈수단이 상기 제 1 표면상에 방사의 점원을 구비하는 것을 특징으로하는 방사 검출장치 .
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 렌즈수단이 상기 방사의 점원을 방사의 조준된 빔으로 결정하는 것을 특징으로하는 방사 검출장치.
  4. 제 2 항에 있어서, 상기 렌즈수단이 상기 방사의 점원을 방사의 수렴 빔으로 결정하는 것을 특징으로하는 방사 검출장치.
  5. 제 3 항 또는 제 4 항에 있어서, 상기 렌즈수단이 렌즈의 광축으로부터의 반경 거리의 제곱으로써 감소하는 굴절율을 가지는 원주형 로드인 것을 특징으로하는 방사 검출장치.
  6. 샘플 용기를 규정하기 위해 얇은 막으로 폐쇄된 바닥부 및 최상부 개구를 가지며 깊은 우물에 배치되는 샘플로부터 방출하는 방사를 집중 및 샘플에 여기 방사를 전달하기 위한 장치에 있어서, 렌즈수단이 제 1 표면 및 반대하는 제 2 표면을 가지며, 상기 렌즈수단은 제 1 표면상에 입사한 점원에서 제 2 표면으로부터 방출하는 방사의 빔까지 방사를 결정하도록 동작하며, 동시에 상기 제 2 표면상에 입사한 방사를 상기 제 1표면에 주사하도록 동작하며, 광 릴레이 수단이 제 3 표면 및 제 4 표면을 가지며, 상기 제 3 표면이 상기 렌즈수단의 상기 제 2표면에 광학적으로 결합되며, 상기 광 릴레이 수단이 제 4 표면을 깊은 우물로 삽입하기 위한 크기이며, 상기 광 릴레이 수단이 상기 제 3 표면에서 상기 제 4 표면까지 반전된 실상을 전달하며, 동시에 상기 제 4 표면상에 입사한 방사를 상기 제 3 표면에 주사하도록 동작하며, 상기 제 4 표면을 통하여 상기 광 릴레이 수단을 인입 및 상기 제 1 표면을 통하여 상기 렌즈수단으로부터 나가를 방사를 수신하기 위해 상기 제 1표면에 이웃하여 배치된 집중수단을 구비하는 것을 특징으로하는 방사 검출장치.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 렌즈수단 이 상기 제 1 표면상에 방사의 점원을 구비하는 것을 특징으로하는 빙사 검출장치.
  8. 제 1 항 또는 제 6 항에 있어서. 상기 렌즈수단의 상기 제 1 표면에 광학적으로 결합되는 한 표면을 가지는 직각 프리즘과, 광섬유 수단과, 상기 광섬유의 제 1 단에서 방사원과, 상기 방사의 점원을 제공하도록 싱기 렌즈수단의 제 1 표면에 광학적으로 결합되는 상기 광섬유의 제 2 단과, 상기 광섬유 수단을 통과하도록 개구를 가지는 상기 직각 프리즘과, 광축에서 상기 렌즈수단 90˚로부터 방출하는 방사를 재주사하도록 반사하는 상기 직각 프리즘의 직각 표면과, 방출하는 방사를 검출하도록 상기 프리즘으로부터 고정된 공간위치에 배시된 검출수단을 구비하는 것을 특징으로하는 방사 검출장치.
  9. 제 2 항 또는 제 7 항에 있어서, 방사원과, 상기 방사의 점원을 형성하도록 상기 방사원과 상기 렌즈의 상기 제 1 표면 사이에 배치된 현미경 대물렌즈와, 상기 렌즈수단의 광축에 45˚각도로 배치된 이색 필터와, 상기 이색 필터에 의해 반사된 상기 현미경 대물헨즈로부터 방출하는 방사를 검출하도록 기준 빔 검출기를 구비하는 것을 특징으로하는 방사 검출장치.
  10. 제 2 항 또는 제 7 항에 있어서, 상기 방사의 점원을 형성하도록 광섬유의 하단에서 상기 렌즈수단의 상기 제 2 표면에 결합된 단일 광섬유와, 상기 단일 광섬유의 다른 단에서 방사원과, 광섬유 수단의 제 1 단에서 상기 단일 광섬유에 관해 원주형으로 및 광섬유 수단의 다른 제 2 단에서 원형으로 배치된 광섬유 수단과, 방출하는 방사를 검출하도록 광섬유의 다발중 제 2 단에 이웃하여 배치된 검출기를 구비하는 것을 특징으로하는 방사 검출장치.
  11. 제 8 항에 있어서, 상기 광섬유 수단이 광섬유 다발인 것을 특징으로하는 방사 검출장치.
  12. 제 8 항에 있어서, 상기 광섬유 수단이 유동섬유인 것을 특징으로하는 방사 검출장치.
  13. 제 7 항에 있어서, 상기 렌즈수단이 상기 방사의 점원을 방사의 조준된 빔으로 결정하는 것을 특징으로하는 방사 검출장치.
  14. 제 7 항에 있어서, 상기 렌즈수단이 상기 방사의 점원을 방사의 발산 빔으로 결정하는 것을 특징으로하는 방사 검출장치.
  15. 샘플 용기를 규정하기 위해 얇은 막으로 폐쇄될 바닥부 벽 및 최상부 개구를 가지며 깊은 우물에서 배치된 샘플로부터 방사를 집중 및 샘플에 여기 방사를 전달하기 위한 방법에 있어서, 제 1 표면 및 반대하는 제 2 표면을 가지는 렌즈 수단을 통하여 방사를 통과하며, 상기 렌즈수단이 상기 제 1 표면상에 입사한 점원에서 제 2 표면으로부터 방출하는 방사의 빔까지 방사를 결정하도록 동작하며 동시에 상기 제 2 표면상에 입사한 방사를 상기 제 2 표면에 주사하도록 동작하는 단계와, 상기 제 2 표면이 얇은 막에 반대하는 샘플 용기에 배치될 정도로 깊은 우물에 관련하여 상기 렌즈수단의 위치를 설정하는 단계와, 상기 제 1 표면을 통하여 렌즈구단을 나가는 주사된 방사를 집중하는 단계를 구비하는 것을 특징으로하는 방사 검출방법.
  16. 제15항에 있어서, 깊은 우물의 샘플에 조준 방사를 제공하기 위해 상기 제 1 표면상에 점원의 위치를 설정하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 방사 검출방법.
  17. 제16항에 있어서, 렌즈수단을 통하여 방사를 통과하는 단계가 점원에서 방사의 조준된 빔까지 결정하기 위한 렌즈수단을 이용하는 것을 특징으로하는 방사 검출방법.
  18. 제16항에 있어서, 렌즈수단을 통하여 방사를 통과하는 단계가 점원에서 방사의 수렴 빔까지 방사를 결정하기 위한 렌즈수단은 이용하는 것을 특징으로하는 방사 검출방법.
  19. 샘플 용기를 규정하기 위해 얇은 막으로 폐좨된 바닥부 벽 및 최상부 개구를 가지며 깊은 우물에서 배치된 샘플로부터 방사를 집중 및 샘플에 여기 방사를 전달하기 위한 방법에 있어서, 제 1 표면 및 반대하는 제 2 표면을 가지는 렌즈수단을 통하여 방사를 통과하며, 상기 렌즈수단이 상기 제 1 표면상에 입사한 점원에서 제 2 표면으로부터 방출하는 방사의 빔까지 방사를 결정하도록 동작하며 동시에 상기 제 2 표면상에 입사한 방사를 상기 제 2 표면에 주사하도록 동작하는 단계와, 상기 제 3 표면에서 상기 제 4 표면까지 반전된 실상을 킁계하기 위해 제 3 표면 및 제 4 표면을 가지며 광 릴레이 수단을 통하여 방사를 통과하며, 동시에 상기 제 4 면상에 입사한 방사를 상기 상기 제 3 표면에 주사하도록 동작하는 단계와 상기 렌즈수단의 상기 제 2 표면을 상기 광 릴레이 수단의 상기 제 3표면에 광학적으로 결합하는 단계와, 상기 제 4 표면이 얇은 막과 반대하는 샘플 용기에 배치될 정도로 깊은 우물에 관련하여 상기 광 릴레이 수단의 위치를 설정하는 단계와, 제 1 표면을 통하여 렌즈수단으로 나가는 주사된 방사를 집중하는 단계를 구비하는 것을 특징으로하는 방사 검출방법.
  20. 제19항에 있어서, 조명방사를 깊은 우물에의 샘플에 제공하기 위해서 상기 제 1 표면상에 점원의 위치설정을 구비하는 것을 특징으로하는 방사 검출방법.
  21. 제20항에 있어서, 렌즈수단을 통하여 방사를 통과하는 단계가 점원에서 방사의 조준된 빔까지 방사를 결정하기 위해 렌즈수단을 이용하는 것을 특징으로하는 방사 검출방법.
  22. 제20항에 있어서, 렌즈수단을 통하여 방사를 통과하는 단계가 점원에서 방사의 수렴하는 빔까지 결정하기 위해 렌즈수단을 이용하는 것을 특징으로하는 방사 검출방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원내용에 의하여 공개하는 것임.
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Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 19880817

PG1501 Laying open of application
PC1203 Withdrawal of no request for examination
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid