KR860003504A - 온도측정장치 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1의 실시예를 보인 구성도.
제2도는 발광소자의 광강도가 변화한 경우의 온도센서의 투과광스펙트럼과 동작레벨을 보인 설명도.
제3도는 본 발명의 제2의 실시예를 보인 구성도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
2,4 : 광섬유 6 : 광원으로서의 발광소자
9 : 온도센서 15 : 분광기로서의 회절격자(回折格子)
19 : 1차월 광전 변환소자 20 : 처리회로
또 각도 중의 동일부호는 동일, 혹은 상당부를 나타낸다.
Claims (5)
- 광파장의 흡수단이 온도의 함수로서 변화하는 재료로 된 온도센서(9)를 광섬유(2)(4)의 통로에 설치하고, 광원(6)으로부터의 광을 상기 온도센서(9)를 투과한 광을 분광기(15)에서 분광한 후 전기신호를 변환하고 광출력의 파장성분의 최단파장에서 온도를 측정하는 것에 있어서, 상기 분광기(15)에서 분광한 광신호를 전기신호로 변환하는 1차원 광전변환소자(19)와, 이 1차원 광전변환소자(19)로부터의 소정의 전기신호레벨에서 동작하는 비교기(17-1) 또는 (17-2)과, 상기 레벨에서 동작한 최단파장측 위치로부터 상기 흡수단의 상승점(λ0)을 연산처리하는 처리회로(20)를 구비한 것을 특징으로 하는 온도측정장치.
- 제1항에 있어서, 1차원 광원변환소자는 CCD(charged coupled device) 또는 포토다이오드아레이인 것을 특징으로 하는 온도측정장치.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 1차원 광전 변환소자의 소정의 전기신호레벨은 서로 다른 적어도 2개의 레벨(Ll)(L2)로 검지하며 흡수단의 특성을 직선으로 간주하여 상기 각 레벨에서 동작한 최단파장측 위치로부터 상기 흡수단의 상승점(λ0)을 연산처리하는 것을 특징으로 하는 온도측정장치.
- 광의 투과율이 온도의 함수로써 변화하는 재료로 된 온도센서(9)를 광섬유(2)84)의 통로로 설치하고 광원(6)으로부터의 광을 상기 온도센서(9)로 전도시켜, 상기 온도센서(9)를 투과한 광을 분광기(15)에서 분광한 후 포토다이오드아레이(16)에서 전기신호로 변환하고, 소정레벨 이상의 광출력의 파장성분의 최저파장으로부터 온도를 측정하는 것에 있어서, 상기 포토다이오드아레이(16)의 각 소자에 접속된 교류결합을 위한 콘덴서(22)와 이 콘덴서(22)에 각각 접속되고 장성분만을 증폭하는 증폭기(23)와, 상기 광원(6)을 동기적으로 점등, 소등시키는 펄스발생기(21)를 구비하고 상기 광원(6)을 광강도 변조하여 상기 분광기(15)의 출력을 교류결합으로 인출하여서 신호처리하는 것을 특징으로 하는 온도측정기.
- 제4항에 있어서, 상기 펄스발생기(21)는 광원의 광강도를 변조하여 수단으로서 특정주파수로 펄스구동시키는 것을 특징으로 하는 온도측정기.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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