KR20240101784A - 중수 감속 중성자 소스 및 열 중성자 이미징에의 적용 - Google Patents
중수 감속 중성자 소스 및 열 중성자 이미징에의 적용 Download PDFInfo
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 62
- XLYOFNOQVPJJNP-ZSJDYOACSA-N Heavy water Chemical compound [2H]O[2H] XLYOFNOQVPJJNP-ZSJDYOACSA-N 0.000 title claims description 28
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 47
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 32
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 229920001903 high density polyethylene Polymers 0.000 claims description 15
- 239000004700 high-density polyethylene Substances 0.000 claims description 15
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 15
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 10
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 claims description 7
- 239000004033 plastic Substances 0.000 claims description 7
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 6
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 6
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 6
- 239000000314 lubricant Substances 0.000 claims description 6
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 5
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 5
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 4
- 239000010959 steel Substances 0.000 claims description 4
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 claims description 3
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 claims description 3
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims description 3
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 claims description 3
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000002872 contrast media Substances 0.000 claims description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 17
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 10
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 5
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 4
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 3
- -1 water Chemical class 0.000 description 3
- 229920000049 Carbon (fiber) Polymers 0.000 description 2
- 239000004917 carbon fiber Substances 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 238000004146 energy storage Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000010797 grey water Substances 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 2
- 230000009919 sequestration Effects 0.000 description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 2
- 239000002689 soil Substances 0.000 description 2
- 239000011232 storage material Substances 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001069 Ti alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000012809 cooling fluid Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004992 fission Effects 0.000 description 1
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 1
- 239000004519 grease Substances 0.000 description 1
- 239000008233 hard water Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 1
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052722 tritium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012800 visualization Methods 0.000 description 1
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- G21G—CONVERSION OF CHEMICAL ELEMENTS; RADIOACTIVE SOURCES
- G21G4/00—Radioactive sources
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/09—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being neutrons
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
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Abstract
본 발명은, 특히 열 중성자 이미징을 위한 열 중성자 발생 장치에 관한 것으로서, 상기 장치는,
- 중성자 발생기(2);
- 중성자 감속재(4);
- 감속재의 출구에 있는 중성자 반사체(6)를 포함한다.
- 중성자 발생기(2);
- 중성자 감속재(4);
- 감속재의 출구에 있는 중성자 반사체(6)를 포함한다.
Description
본 발명은, 특히 열 중성자 이미징 적용을 위한 열 중성자 소스에 관한 것이다. 열 중성자 이미징 시스템 및 열 중성자 이미징 방법에도 관한 것이다.
중성자 이미징은 알려져 있지만, 입자 가속기와 같은 대형 시설을 사용해야 한다.
휴대용 중성자 소스가 알려져 있는데, 이는 통상적으로 HDPE로 제조된 중성자 발생기 및 감속재(4)를 포함한다.
기존의 휴대용 중성자 소스는 열 중성자 이미징을 수행하는 데 충분한 열 중성자의 플럭스를 제공하지 못한다. 통상적으로 중성자 소스는 중성자 이미징에 의해 요구되는 바와 같이 강도(초(s-1)로 생성된 중성자의 수)의 측면에서 평가되지만, 플럭스(초(s-1) 및 표면 단위(s-1cm-2))에 의해 생성된 중성자의 수)의 측면에서는 평가되지 않는다.
따라서 강도 및 분해능 문제를 위해 열 중성자의 높은 플럭스/s/cm2를 생성하는 열 중성자 이미징을 위한 새로운 열 중성자 소스 또는 발생기가 필요하다.
또 다른 양태에 따르면, 본 발명은 복합 재료, 예를 들면 탄소 및 세라믹 재료 모두를 포함하는 재료, 보다 일반적으로 X-선 이미징과 같은 알려진 이미징 기술에 의해서는 통상적으로 구별되지 않는 재료를 이미징하기 위한 이미징 기술에 관한 것이다.
또한 통상적인 이미징 기술, 특히 X-선 이미징으로는 구별될 수 없는 상이한 재료, 특히 유서헌 X-선 감쇠 계수를 갖는 재료 간에 충분한 콘트라스트를 생성하는 새로운 이미징 방법이 필요하다. 예를 들면, 어떤 장치 또는 방법도 자동차 엔진 또는 항공기 엔진과 같이 세라믹 또는 금속으로 만들어진 환경에 포함되거나 내장된, 예를 들면 물과 같은 수소 또는 수소 함유 화합물을 포함하는 오브젝트 또는 장치의 이미지를 제공할 수 없다. 예를 들면 시일 또는 개스킷이 충분히 수밀한지 타이트한지 검출하기 위해 및/또는 누출을 검출하기 위해, 세라믹 또는 재료로 제조된 피스(piece) 내부의 윤활제를 이미징하기 위한 장치나 방법도 없다. 이러한 시일 또는 개스킷을 포함하는 재료의 부품 또는 오브젝트 또는 피스에 대한 통상적인 조사 기술에는, 상기 부품 또는 오브젝트 또는 피스를 개방하거나 분해하는 것이 포함된다. 이러한 부품 또는 오브젝트 또는 피스를 개방하거나 분해하는 일 없이 이미징하기 위한 장치 또는 방법이 있다면 매우 유용할 것이다.
본 발명은 먼저 열 중성자 이미징을 위한 중성자 발생기에 관한 것으로서, 상기 중성자 발생기는,
- 중성자 발생기;
- 중성자 감속재;
- 감속재 출구에 있는 중성자 반사체를 포함한다.
상기 발생기는 본질적으로 고속 중성자를 발생시키고, 상기 감속재는 중성자를 감속시켜 열 중성자를 발생시킨다. 감속재는 열 중성자가 빠져나가고 이동하는 출구를 갖는다. 그 중 일부는 "탈축(off axis)" - 발생기의 빔 축을 따라 및/또는 조사될 타겟이나 샘플 재료를 향해 이동하지 않음 - 된다. 감속재로부터 하류에 위치한 중성자 반사체는 장치의 빔 축을 향해 열 중성자의 적어도 일부를 반사시키기 위한 것이며, 이 중성자는 상기 빔 축과 정렬되지 않는 방향으로 감속재로부터 빠져나가고, 또는 조사될 타겟 또는 샘플을 향해 전파되지 않는다.
상기 감속재 및 상기 반사체 모두는 동일한 재료로 제조될 수 있고, 동일한 피스에 조합될 수 있다.
일 실시형태에 있어서, 상기 감속재 및/또는 상기 반사체는 HDPE를 포함하거나 HDPE로 제조될 수 있다.
보다 바람직한 실시형태에 있어서, 상기 감속재 및/또는 상기 반사체는 중수(heavy water)를 포함하거나, 또는 중수로 제조될 수 있다.
감속재는, 예를 들면 20mm 또는 25mm에서 70mm 또는 80mm 사이에서 구성된 두께를 갖는다. 중수로 제조된 감속재는 통상적으로 HDPE로 제조된 감속재보다 얇을 것이며; 예를 들면 중수 감속재는 약 40mm의 두께, 또는 30mm에서 50mm 사이에서 구성된 두께를 가질 수 있는 반면, HDPE 감속재는 약 60mm의 두께, 또는 50mm에서 70mm 사이에서 구성된 두께를 가질 수 있다.
바람직하게는 반사체는 2cm에서 10cm 사이에서 구성된 두께를 갖는다.
본 발명에 따른 중성자 발생기는, 발생기 주변의 영역, 또는 이의 적어도 일부를 감마선 및/또는 X선으로부터 차폐하기 위해 적어도 하나의 차폐물을 더 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 중성자 발생기는, 상기 중성자 반사체의 출구에 위치한 X-선 필터를 포함할 수 있고; 이 필터는 예를 들면 2mm에서 10mm 사이의 두께를 가질 수 있으며 납 또는 비스무트로 제조될 수 있다.
바람직하게는, 본 발명에 따른 중성자 발생기는 106s-1cm-2에서 109s-1cm-2 사이, 또는 107s-1cm-2에서 108s-1cm-2 사이의 열 중성자의 출력 플럭스를 갖는다. 이러한 플럭스 범위는, 특히 마이크로채널 플레이트를 포함하는 검출기가 구현되는 경우 다소 낮은 노출 시간을 허용한다.
또한 본 발명은 열 중성자 이미징 시스템에 관한 것으로서, 상기 이미징 시스템은,
- 상기 및/또는 본 출원에 개시된 바와 같은 본 발명에 따른 중성자 발생기;
- 바람직하게는 마이크로채널 플레이트(MCP)를 포함하는 열 중성자의 검출기 - MCP는 이 이미징 적용에서 특히 효율적이기 때문에 선호됨 - ; 를 포함한다.
본 발명에 따른 이미징 시스템은, 상기 검출기에 의해 형성된 이미지를 이미징하는 카메라를 더 포함할 수 있다.
본 발명은 또한 본 발명에 따른 열 중성자 이미징 시스템을 구현하는 것을 포함하는, 재료의 샘플을 이미징하기 위한 이미징 방법에 관한 것이다.
또한 본 발명은 재료의 샘플을 이미징하기 위한 이미징 방법에 관한 것으로서, 상기 이미징 방법은,
- 상기 및/또는 본 출원에 개시된 바와 같은 본 발명에 따른 중성자 발생기와 검출기, 예를 들면 마이크로채널 플레이트를 포함하는 유형의 검출기 사이에 상기 샘플을 위치시키는 단계;
- 예를 들면 106s-1cm-2에서 109s-1cm-2 사이의 출력 플럭스를 갖는 열 중성자를 발생시키는 단계;
- 상기 샘플을 통해 이동하는 열 중성자의 플럭스를 중성자 검출기로 검출하는 단계;
- 상기 검출기에 의해 제공된 신호에 기초하여, 이미징 수단을 이용하여 상기 샘플의 이미지를 형성하는 단계를 포함한다.
본 발명에 따른 이미징 방법에 있어서, 상기 샘플은 상이한 열 중성자 감쇠 계수를 갖는 재료의 혼합물 또는 조합을 포함할 수 있다. 예를 들면, 붕소, 리튬, 탄소, 플라스틱, 금, 코발트, 테플론, 알루미늄 중 적어도 하나와 철 및/또는 강철의 혼합물 또는 조합을 포함할 수 있다. 본 출원에는 재료의 다른 조합이 개시되어 있다.
본 발명은 재료, 특히 세라믹 또는 금속으로 제조된 임의의 피스의 상이한 조합을 이미징하는 데 특히 적합하며, 유체는 상기 피스, 예를 들면 물 또는 오일 또는 윤활제 또는 임의의 액체에 포함된다. 유체는 수소 또는 함수소 재료(예를 들면: PTFE, 또는 유기 재료, 또는 오일, 또는 그리스, 또는 윤활제 등)일 수 있거나 이를 포함할 수 있다. 세라믹 또는 금속으로 제조된 상기 피스는, 예를 들면:
- 파이프, 또는 자동차 엔진 또는 항공기 엔진과 같은 엔진, 또는 운송수단의 임의의 다른 부분, 예를 들면 항공기 날개 또는 항공기 동체 또는 항공우주 장치 또는 항공우주 운송수단의 적어도 일부;
- 터빈의 적어도 일부;
- 또는 상기 재료 중의 이온을 조사하기 위한 에너지 저장 재료의 적어도 일부, 예를 들면 배터리일 수 있다.
- 도 1은 본 발명에 따른 중성자 발생기를 나타낸다.
- 도 2는 본 발명의 하나의 양태에 따른 감속재와 반사체의 조합을 포함하는 본 발명에 따른 중성자 발생기를 나타낸다.
- 도 3은 HDPE 감속재(반사체 없음)의 플럭스와 관련한, 반사체 두께에 따른 열 중성자의 상대 플럭스를 제공하는 곡선을 나타낸다.
- 도 4는 감속재와 반사체 모두에 사용된 상이한 재료에 의해 얻어진 상대 열 플럭스를 나타낸다.
- 도 5는 본 발명에 따른 중성자 발생기, 검출기 및 이미징 수단을 포함하는 이미징 시스템을 나타낸다.
- 도 6a는 CPU 냉각 장치를 나타내고, 도 6b는 이의 열 중성자 이미지를 나타낸다.
- 도 7은 펜의 열 중성자 이미지를 나타낸다.
- 도 2는 본 발명의 하나의 양태에 따른 감속재와 반사체의 조합을 포함하는 본 발명에 따른 중성자 발생기를 나타낸다.
- 도 3은 HDPE 감속재(반사체 없음)의 플럭스와 관련한, 반사체 두께에 따른 열 중성자의 상대 플럭스를 제공하는 곡선을 나타낸다.
- 도 4는 감속재와 반사체 모두에 사용된 상이한 재료에 의해 얻어진 상대 열 플럭스를 나타낸다.
- 도 5는 본 발명에 따른 중성자 발생기, 검출기 및 이미징 수단을 포함하는 이미징 시스템을 나타낸다.
- 도 6a는 CPU 냉각 장치를 나타내고, 도 6b는 이의 열 중성자 이미지를 나타낸다.
- 도 7은 펜의 열 중성자 이미지를 나타낸다.
이미징 장치를 위한 본 발명에 따른 열 중성자 소스 또는 발생기(n1)의 예가 도 1에 도시되어 있다.
이는 중성자를 발생시키기 위한 중성자 발생기(2)를 포함하고, 그 중 대부분은 고속 중성자이며, 이후 감속재(4)에 의해 열화(thermalized)된다.
보다 정확하게는, 중성자 발생기(2)는 예를 들면 마이크로파 발생기를 포함하는 이온 발생기(예를 들면 RFI 플라즈마 이온 소스 또는 페닝(Penning) 이온 소스, 또는 임의의 다른 이온 소스)를 포함하고; 이온 소스는 중수의 소스로부터 또는 중수소-삼중수소 소스로부터 이온을 생성한다. 발생기는, 예를 들면 티타늄 또는 티타늄 합금으로 제조된 타겟(22)을 향해 이온을 가속하기 위해 가속부를 더 갖는다. 이러한 발생기는 리액터에서 일어나는 반응인, 핵분열이 아닌 핵융합 반응으로부터 중성자 빔을 생성한다.
본 발명은 이미징을 수행하기 위한 것이며, 소스(1)에 의해 생성된 열 중성자(1eV 미만, 예를 들면 약 25meV의 에너지를 가짐)의 빔은 감속재의 출구에서 바람직하게는 106s-1cm-2 또는 107s-1cm-2에서 108s-1cm-2 또는 109s-1cm-2 사이에서 구성된 플럭스를 갖는다. 가능한 한 많은 열 중성자를 수집하기 위해, 반사체(6)는 검출기의 방향으로 또는 방향(D)(빔 축)을 따라 이동하지 않는 열 중성자가 가능하게는 검출기를 향하여 방향(D)으로 다시 산란되거나 반사될 수 있도록 감속재의 출구에 위치된다. 일부 고에너지 중성자는 또한 열화되는 일 없이 타겟으로부터 빠져나갈 수 있고 반사체(6)에 의해 열화될 수 있지만, 반사체의 본질적인 효과는 열 중성자에 대한 것이다.
감속재 및 반사체는 동일한 재료, 예를 들면 HDPE 또는 중수로 제조될 수 있다.
반사체(6)는, 예를 들면 감속재의 출구(41)와 정렬된 중앙 홀(61)을 포함하는 링의 형상을 가질 수 있다. 재료에 따라서는 2cm 또는 3cm에서 10cm 또는 15cm 사이에서 구성된, 중성자의 빔 축(D)을 따라 샘플로 향하는 연장부를 갖는다.
중성자는 타겟(22)으로부터 생성되고, 이후 감속재(4)에 의해 감속됨으로써, 본질적으로 감속재를 빠져나가 반사체(6)로 들어가는 열 중성자를 생성한다. 열 중성자의 플럭스는 빔 축의 방향(D)으로 이동하므로 반사체와 상호작용하지 않지만, 방향(D)으로 이동하지 않는 열 중성자의 일부는 반사체(6)에 의해 반사되거나 산란된 다음, 방향(D)으로 이동한다. 도 3과 관련하여 이하에서 설명되는 바와 같이, 반사체(6)로 인한 플럭스 증가는 상당할 수 있다.
발생기는, 예를 들면 가능하게는 수 %, 예를 들면 5%의 붕소를 포함한 고밀도 폴리에틸렌(HDPE)으로 제조된 차폐물(8, 8')에 수용될 수 있다. 반사체(6)의 적어도 일부는 차폐물(8)의 적어도 일부에 형성된 애퍼처(81) 및/또는 감속재의 일부에 형성된 애퍼처(83)에 위치될 수 있다.
감마 방사선을 정지시키기 위해 추가 차폐물(10)을 추가하는 것이 가능하며; 이 추가 차폐물은 납으로 제조될 수 있다. 이는 반사체의 홀(61)과 정렬되는 홀(101)을 포함한다.
핀홀(12)은 반사체로부터 하류에, 예를 들면 반사체의 출구와 추가 차폐물(10) 사이에 위치될 수 있다. 이는 반사체의 홀(61)과 정렬된다. 핀홀(12)의 직경은 예를 들면 1cm에서 5cm 사이에서 구성된다. 핀홀은, 어떤 중성자도 전방면(63)으로부터 빠져나갈 수 없도록 - 따라서 조사하고자 하는 샘플 재료를 향해 이동하는 중성자가 빔 축(D)을 따라 또는 그것에 가까운 방향을 따라 핀홀의 홀을 통해 이동하도록 - 바람직하게는 반사체의 전방면(63)(예를 들면 도 1의 핀홀의 연장부(12')를 참조)에 걸쳐 연장되는 재료의 피스에 형성된다. 핀홀(12)은 샘플로 향하지 않는 열 중성자 또는 샘플로 향하지만 홀(61)의 출구를 통해 반사체로부터 빠져나가지 않는 중성자를 흡수할 수 있다. 이는, 예를 들면 붕소로 제조된다.
필터(14)는 X-선을 정지시키는 데 사용될 수 있고, 비스무트 또는 납으로 제조될 수 있다. 이는 두께가 수 mm이고, 추가 차폐물(10)에 대해 장치의 출구에 위치될 수 있다.
도 1에서, 반사체(6)와 감속재(4)는 상이한 피스이다. 도 2에 도시된 본 발명에 따른 소스(1')의 다른 실시형태에 있어서, 반사체(6)는 감속재(4)와 조합되고, 둘 모두 동일한 재료로 제조된다.
이미 상술한 바와 같이, 중성자의 빔 축(D)을 따라 샘플로 향하는 반사체의 연장부는 수 cm이고, 2cm 또는 3cm에서 10cm 또는 15cm 사이에서 구성된다.
도 3은 시뮬레이션에 의해 얻어진 곡선을 나타내고, 다양한 구성(모두 HDPE로 제조된 감속재 및 반사체, 모두 중수로 제조된 감속재 및 반사체, HDPE로 제조된 감속재 및 중수 반사체)에 대해 반사체 두께에 따라 검출기 입구에서 측정된 열 중성자의 상대 플럭스(s-1cm-2)를 제공하고, 상기 플럭스는 반사체 없이 HDPE 감속재로 얻어진 플럭스와 관련된다. 이들 곡선은 반사체(6)가 중성자 플럭스에 상당한 기여를 하고, 3cm 또는 5cm에서 7cm 또는 10cm 사이에서 구성된 (발생기의 빔 축을 따라 측정된) 반사체의 길이(l)에 대한 최적 범위가 존재한다는 것을 나타낸다. 10cm 또는 15cm 초과에서는 반사체의 효율이 감소한다. 상이한 곡선은 유사한 일반적인 형상을 갖지만 모두 중수로 제조된 감속재와 반사체의 조합이 통상적으로 HDPE 감속재와 HDPE 반사체의 조합보다 더 짧은 최적 범위(2cm에서 8cm 사이의 최적 두께 범위)를 갖는다. 이들 곡선으로부터 이해될 수 있는 바와 같이, 반사체는 적어도 30% 내지 70%만큼 출력 플럭스를 개선시키는 반면, 중수 반사체는 예를 들면 40%에서 80% 사이의 더 높은 개선을 제공한다. 모두 중수로 제조된 감속재와 반사체의 조합이 특히 효율적이다.
본 발명은, 예를 들면 금속과 붕소 또는 리튬 또는 플라스틱의 조합을 포함하는 복합 부품의 비파괴 이미징에 특히 적합하다. 예를 들면, 스테인리스강과 철(Fe)은 약 1cm-1의 열 중성자 감쇠 계수를 갖는 반면,
- 붕소의 감쇠 계수는 약 99cm-1이고;
- 플라스틱(폴리에틸렌, PE)의 감쇠 계수는 6cm-1에서 7cm-1 사이이고;
- 금의 감쇠 계수는 약 6.3cm-1이고;
- 코발트의 감쇠 계수는 약 3.9cm-1이고;
- 구리(Cu)의 감쇠 계수는 약 1cm-1이다.
이들 재료와 다른 재료의 열 중성자 감쇠 계수는 하기 표 I에 나와 있다.
탄소 섬유는 약 0.5cm-1의 열 중성자 감쇠 계수를 갖고 테플론, SiC, Al2O3은 약 0.4cm-1의 계수를 가지며; 임의의 이들 재료에 내장된 수소 또는 함수소 재료는 열 중성자 이미지 상에서 보여질 수 있다.
알루미늄(Al)은 강철이나 철 또는 Cu 또는 탄소 섬유 또는 플라스틱 또는 붕소 또는 Co, 또는 Au, 또는 Li보다 훨씬 미만인 약 0.1cm-1의 매우 낮은 열 중성자 감쇠 계수를 가져, 열 중성자 이미징에 의해 Al과 임의의 이들 재료 사이의 큰 콘트라스트를 허용한다.
상기 표는 Li, B, Cd 및 Gd 중 적어도 하나를 포함하는 재료가 열 중성자 이미징에 특히 흥미로울 수 있음을 보여준다. 예를 들면 Li와 Cd는 배터리에서 볼 수 있고, 따라서 지속 가능한 기술에 대한 연구와 관련이 있다. Gd는 용해되어 세라믹 재료의 결함을 강조하기 위한 콘트라스트제로서 사용될 수 있으며; 다른 적용에서, 접착제와 다른 재료(들) 사이의 콘트라스트를 높이기 위해 접착제와 또는 접착제 내에 혼합될 수 있으며: 두 부품, 예를 들면 상기 접착제로 접착된 2개의 금속 부품의 조립체의 품질은, 특히 Gd가 접착제에 첨가되는 경우 본 발명에 따른 중성자 이미징에 의해 확인될 수 있다.
이미 언급한 바와 같이, 본 발명은 특히 유체 또는 액체, 예를 들면 오일 또는 윤활제 또는 물과 같은, 또는 플라스틱(PE) 또는 유기 재료 또는 수소 또는 함수소 재료, 예를 들면 고무와 같은 재료 또는 혼합물을 세라믹 또는 금속 부품 내부, 예를 들면 엔진 또는 밸브에 또는 항공기 또는 운송수단(자동차, 트럭) 또는 기계의 일부에 또는 에어백에 이미지징하거나 시각화하도록 되어 있다.
또한 본 발명은 특히 다음을 이미징하거나 시각화하도록 되어 있다:
- 예를 들면 터빈 블레이드와 같은 캐스팅에 의해 피스를 제조한 후의 잔류 재료, 예를 들면 유기 또는 세라믹 재료;
- 예를 들면 에어백이나 금속 또는 세라믹 피스와 같은 부품 또는 피스 내부의 하나 이상의 고무 링(들)의 존재나 부재 또는 위치.
보다 일반적으로, 본 발명은 또한 열 중성자 감쇠 계수가 0.5cm-1 미만 또는 0.2cm-1 미만인 재료, 예를 들면 알루미늄 또는 반도체 재료, 특히 실리콘(Si)에 있어서, 1cm-1보다 높은 열 중성자 감쇠 계수를 갖는 적어도 하나의 재료, 예를 들면 물 또는 PE 또는 Co 또는 Au, 또는 B, 또는 Ni 또는 Fe를 포함하는 샘플을 이미징하거나 시각화하도록 되어 있다.
도 4는 감속재 두께(D축을 따라 측정된)에 따라 감속재(4)에 사용된 상이한 재료(중수(곡선 I), 폴리에틸렌(곡선 II), 경수(곡선 III))에 대한 시뮬레이션에 의해 얻어진 열 플럭스를 나타낸다. 감속재 두께(2cm 내지 6cm, 최적 범위는 HDPE의 경우 5cm에서 7cm 사이, 경수의 경우 6cm에서 8cm 사이임)가 작을수록 중수의 효율이 더 좋다는 것이 분명해진다.
본 발명에 따른 이미징 장치용 검출기는 가장 바람직하게는 마이크로채널 플레이트(MCP) 검출기이다. 이를 통해 양호한 분해능 및 적당한 노출 시간(예를 들면, 열 중성자의 플럭스에 따라 1h에서 5mn 사이)으로 샘플을 이미징할 수 있다. MCP는 예를 들면 FR 2925218에 개시되어 있다. MCP는 특히 리액터와 비교하여 본 발명에 따른 발생기에 의해 생성된 중성자의 더 낮은 플럭스에 매우 잘 적응되도록 하는 매우 높은 검출 효율을 갖는다.
도 5는 본 발명에 따른 중성자 발생기 및 카메라(30) 및 가능하게는 렌즈(40)와 조합될 수 있는 마이크로채널 플레이트(MCP) 검출기(20)를 나타낸다.
샘플(50)은 중성자 발생기와 검출기(20) 사이에 개략적으로 나타내어져 있다. 열 중성자의 빔(52)은 소스에 의해 발생되고 빔 축(D)을 따라 샘플(50)로 전파된다.
핀홀(12) 또는 열 중성자 소스(1, 1')의 출구와 검출기의 입구면 사이의 거리(L)는 예를 들면 0.5m에서 2m 또는 3m 사이일 수 있다. 시스템의 분해능은 핀홀의 직경(D)에 대한 이 거리(L)의 비율에 의해 제한되고, 예를 들면 20에서 500 사이, 예를 들면 100에서 200 사이에서 구성된다. 동일한 거리(L)에 대해, 더 작은 직경(D)은 분해능을 향상시키지만: 중성자 소스는 리액터에 비해 제한된 플럭스를 가지므로, 더 작은 직경(D)은 중성자 플럭스를 제한한다. 열 중성자 이미징을 수행하기 위해 리액터가 구현될 때, 리액터에 의해 발생된 플럭스 또는 매우 높은 강도로 인해 비율 L/D는 약 1000이 될 수 있다.
검출기로의 유입 중성자 플럭스는 (1/L)에 비례하고: 거리(L)가 길수록 유입 중성자 플럭스가 적어진다. 따라서 거리(L)는 검출기의 입구면에 충분한 플럭스를 갖게 하려면 너무 길지 않아야 한다.
상술한 바와 같이, 20에서 200 사이에서 구성된 비율 L/D는 본 발명에 대한 양호한 절충안이다.
도 6a는 CPU 냉각 블록(70)을 나타내고, 도 6b는 도면에서 볼 수 있는 물(72) 및 기포(74)를 포함하는 동일한 블록의 열 중성자 이미지(약 107s-1cm-2인 열 중성자 플럭스)를 나타낸다. 냉각 블록은 중성자를 차단하거나 정지시키는 내부 냉각 유체와 달리 중성자에 대해 특히 투명한 알루미늄으로 제조된다.
도 7은 중성자에 대해 매우 투명하고 펜 내부의 잉크의 존재를 시각화하는 것을 가능하게 하는 금속으로 제조된 펜의 열 중성자 이미지를 나타낸다. 이는, 예를 들면 엔진의 튜브 또는 덕트와 같은 금속 피스에 있어서의 물 또는 윤활제와 같은 유체 또는 액체의 이미징의 가능성을 나타낸다.
본 발명은 특히,
- 금속 부품에 있어서의, 예를 들면 플라스틱 또는 세라믹으로 제조된 삽입물을 이미징하고;
- 또는 재료에 있어서의 갭 또는 함유물을 검출하고;
- 또는 재료, 예를 들면 금속 피스, 또는 토양 또는 다공성 재료에 있어서의 물 침투를 검출하고;
- 또는 금속 피스, 특히 알루미늄 피스, 예를 들면 항공기 부품, 예를 들면 항공기 날개 또는 항공기 동체 또는 항공우주 장치 또는 항공우주 운송수단의 부품에 있어서의 부식을 검출하고;
- 또는 금속 피스, 예를 들면 터빈 블레이드에 있어서 또는 알루미늄 피스, 예를 들면 항공기 부품, 예를 들면 항공기 날개 또는 항공기 동체 또는 항공우주 장치 또는 항공우주 운송수단의 부품에 있어서 형성된 채널 중의 세라믹 잔류물을 검출하고;
- 또는 적층 가공에 의해 제조된 부품 또는 피스의 다공성 또는 내부 구조를 시험하고;
- 또는 에너지 저장 재료, 예를 들면 배터리 또는 전극 또는 전극 주변)에 있어서의 이온 이동 또는 이온의 위치를 식별하고;
- 또는 다공성 재료(들), 예를 들면 토양 또는 돌(고고학)에 있어서의 유체(들)의 이동 또는 위치를 식별하고;
- 또는 파이프(들), 예를 들면, 히트 파이프(들)에 있어서의 2-상 액체를 식별하고;
- 또는 재료에 있어서의 탄소 또는 CO2 격리 또는 생물학적 격리를 식별하도록 되어 있다.
임의의 재료에 있어서의 갭 또는 균열 또는 세라믹 잔류물 또는 재료 또는 다공성 물질을 이미징할 때 콘트라스트제, 예를 들면 액체에 용해된 Gd를 사용하여 피스 또는 샘플의 상이한 부품 간의 차이를 높일 수 있다.
Claims (28)
- 열 중성자 이미징을 위한 열 중성자 발생 장치로서,
- 고속 중성자를 생성하는 중성자 발생기(2);
- 고속 중성자로부터 열 중성자를 발생시키는 중성자 감속재(4);
- 상기 감속재 출구에 위치한 열 중성자 반사체(6)
를 포함하는, 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 감속재는 중수(heavy water)를 포함하는, 중성자 발생기. - 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 감속재는 20mm에서 80mm 사이의 두께를 갖는, 중성자 발생기. - 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,
상기 반사체는 중수를 포함하는, 중성자 발생기. - 청구항 4에 있어서,
상기 반사체는 2cm에서 10cm 사이의 두께를 갖는, 중성자 발생기. - 청구항 1에 있어서,
상기 감속재 및 상기 반사체 모두는 동일한 재료로 제조되는, 중성자 발생기. - 청구항 6에 있어서,
상기 감속재 및 상기 반사체 모두는 HDPE로 제조되거나 HDPE를 포함하는, 중성자 발생기. - 청구항 1에 있어서,
상기 감속재 및 상기 반사체 모두는 중수로 제조되거나 중수를 포함하는, 중성자 발생기. - 청구항 1 내지 청구항 8 중 어느 한 항에 있어서,
적어도 하나의 차폐물(8, 8', 10)을 더 포함하는, 중성자 발생기. - 청구항 1 내지 청구항 9 중 어느 한 항에 있어서,
상기 감속재(4)의 출구에 X-선 필터(14)를 더 포함하는, 중성자 발생기. - 청구항 10에 있어서,
상기 필터(14)는 열 중성자의 전파 축(D)을 따라 측정된 두께가 2mm에서 10mm 사이이고, 납 또는 비스무트로 제조되는, 중성자 발생기. - 청구항 1 내지 청구항 11 중 어느 한 항에 있어서,
0.5cm에서 7cm 사이의 직경을 갖는 핀홀(12) 출구를 더 포함하는, 중성자 발생기. - 청구항 1 내지 청구항 12 중 어느 한 항에 있어서,
106s-1cm-2에서 109s-1cm-2 사이의 열 중성자의 출력 플럭스를 갖는, 중성자 발생기. - 청구항 1 내지 청구항 12 중 어느 한 항에 있어서,
107s-1cm-2에서 108s-1cm-2 사이의 열 중성자의 출력 플럭스를 갖는, 중성자 발생기. - 열 중성자 이미징 시스템으로서,
- 청구항 1 내지 청구항 14 중 어느 한 항에 기재된 중성자 발생기;
- 열 중성자의 검출기(20)를 포함하는, 이미징 시스템. - 청구항 15에 있어서,
상기 검출기는 마이크로채널 플레이트(MCP)를 포함하는, 이미징 시스템. - 청구항 15 또는 청구항 16에 있어서,
상기 검출기에 의해 형성된 이미지를 이미징하는 카메라(30)를 더 포함하는, 이미징 시스템. - 재료의 샘플(70)을 이미징하기 위한 이미징 방법으로서,
- 청구항 1 내지 청구항 14 중 어느 한 항에 기재된 중성자 발생기와 검출기(20) 사이에 상기 샘플(70)을 위치시키는 단계;
- 106s-1cm-2에서 109s-1cm-2 사이의 플럭스를 갖는 열 중성자의 빔을 발생시키는 단계;
- 상기 샘플을 통해 이동하는 열 중성자의 플럭스를 상기 중성자 검출기(20)로 검출하는 단계;
- 이미징 수단(30)을 이용하여 상기 샘플의 이미지를 형성하는 단계를 포함하는, 이미징 방법. - 청구항 18에 있어서,
상기 샘플(70)은 상이한 열 중성자 감쇠 계수를 갖는 재료의 혼합물 또는 조합을 포함하는, 이미징 방법. - 청구항 19에 있어서,
상기 샘플은 붕소, 리튬, 탄소, 플라스틱, 금, 코발트, 테플론, 알루미늄 중 적어도 하나와 철 및/또는 강철의 혼합물 또는 조합을 포함하는, 이미징 방법. - 청구항 18 또는 청구항 19에 있어서,
상기 샘플은, 세라믹 재료 및/또는 금속, 예를 들면 강철 또는 철로 제조되거나 이를 포함하는 피스(piece)에 내장되거나 포함된 수소 또는 함수소 재료 또는 윤활제 또는 물과 같은 유체를 포함하는 엔진의 적어도 일부를 포함하는, 이미징 방법. - 청구항 21에 있어서,
세라믹 재료 및/또는 금속으로 제조되거나 이를 포함하는 상기 피스는 엔진, 예를 들면 항공기 엔진 또는 자동차 엔진의 적어도 일부이거나, 또는 항공기 날개 또는 항공기 동체 또는 항공우주 장치 또는 항공우주 운송수단의 적어도 일부인, 이미징 방법. - 청구항 18 또는 청구항 19에 있어서,
상기 샘플은 배터리의 Li 및 Cd 중 적어도 하나를 포함하는, 이미징 방법. - 청구항 18 또는 청구항 19에 있어서,
상기 샘플은 50cm-1 미만 또는 30cm-1 미만 또는 10cm-1 미만의 열 중성자 감쇠 계수를 갖는 재료에 있어서 Li, B, Cd 및 Gd 중 적어도 하나를 포함하는, 이미징 방법. - 청구항 18 또는 청구항 19에 있어서,
상기 샘플은 0.5cm-1 미만 또는 0.2cm-1 미만의 열 중성자 감쇠 계수를 갖는 재료, 예를 들면 알루미늄 또는 반도체 재료에 있어서, 적어도, 1cm-1보다 높은 열 중성자 감쇠 계수를 갖는 재료를 포함하는, 이미징 방법. - 청구항 18 내지 청구항 25 중 어느 한 항에 있어서,
소스의 출구와 검출기의 입구 사이의 거리(L)와, 소스의 출구의 직경(D)의 비율은 10에서 500 사이에서 구성되는, 이미징 방법. - 청구항 18 내지 청구항 25 중 어느 한 항에 있어서,
소스의 출구와 검출기의 입구 사이의 거리(L)와, 소스의 출구의 직경(D)의 비율은 20에서 200 사이에서 구성되는, 이미징 방법. - 청구항 18 내지 청구항 27 중 어느 한 항에 있어서,
상기 샘플은 적어도 하나의 갭(들) 또는 균열(들) 또는 세라믹 잔류물(들) 또는 재료 또는 다공성 물질(들)을 포함하고, 상기 이미징은 상기 샘플의 재료에 콘트라스트제, 예를 들면 액체에 용해된 Gd를 주입하는 것을 포함하는, 이미징 방법.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/EP2021/081894 WO2023088543A1 (en) | 2021-11-16 | 2021-11-16 | Neutron source with heavy water moderation and applications to thermal neutron imaging |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20240101784A true KR20240101784A (ko) | 2024-07-02 |
Family
ID=78790025
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020247010083A Pending KR20240101784A (ko) | 2021-11-16 | 2021-11-16 | 중수 감속 중성자 소스 및 열 중성자 이미징에의 적용 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP4434059A1 (ko) |
| JP (1) | JP2024545983A (ko) |
| KR (1) | KR20240101784A (ko) |
| CN (1) | CN118043910A (ko) |
| CA (1) | CA3233143A1 (ko) |
| WO (1) | WO2023088543A1 (ko) |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3778627A (en) * | 1973-04-17 | 1973-12-11 | Atomic Energy Commission | High intensity, pulsed thermal neutron source |
| JPH1062365A (ja) * | 1996-08-20 | 1998-03-06 | Toshiba Corp | 中性子散乱材料検査装置 |
| JP2002257996A (ja) * | 2001-03-06 | 2002-09-11 | Hitachi Ltd | 中性子発生装置 |
| CN2541932Y (zh) * | 2002-04-04 | 2003-03-26 | 唐雪飞 | 一种热中子俘获治疗装置 |
| FR2883074B1 (fr) * | 2005-03-10 | 2007-06-08 | Centre Nat Rech Scient | Systeme de detection bidimensionnelle pour rayonnement neutrons |
| KR100923917B1 (ko) * | 2007-09-28 | 2009-10-28 | 한국전력공사 | 중성자 발생기 |
| FR2925218B1 (fr) | 2007-12-13 | 2010-03-12 | Photonis France | Tube intensificateur d'image a encombrement reduit et systeme de vision nocturne equipe d'un tel tube |
| JP5710352B2 (ja) * | 2011-04-15 | 2015-04-30 | 株式会社東芝 | 中性子検出器 |
| US20130129027A1 (en) * | 2011-11-21 | 2013-05-23 | Richard Harris Pantell | High Flux Neutron Source |
| US9082589B2 (en) * | 2012-10-09 | 2015-07-14 | Novellus Systems, Inc. | Hybrid impedance matching for inductively coupled plasma system |
| JP6157036B1 (ja) * | 2016-07-08 | 2017-07-05 | 株式会社京三製作所 | 高周波電源装置、及び高周波電源装置の制御方法 |
| US11315758B2 (en) * | 2017-07-10 | 2022-04-26 | Reno Technologies, Inc. | Impedance matching using electronically variable capacitance and frequency considerations |
| US11375602B2 (en) * | 2018-03-06 | 2022-06-28 | Mirrotron Kft | Neutron source and method of producing a neutron beam |
| WO2019200130A1 (en) * | 2018-04-11 | 2019-10-17 | Phoenix Llc | Neutron imaging systems and methods |
| CN110299279B (zh) * | 2019-08-22 | 2019-11-12 | 中微半导体设备(上海)股份有限公司 | 一种射频电源系统、等离子体处理器及其调频匹配方法 |
| CN110988971B (zh) * | 2019-12-30 | 2022-02-22 | 中国科学院高能物理研究所 | 一种宽能谱白光中子共振照相探测器及探测方法 |
| US10955365B1 (en) * | 2020-09-25 | 2021-03-23 | Adelphi Technology, Inc. | Neutron source with beam shaping apparatus for radiography |
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2021
- 2021-11-16 EP EP21815173.6A patent/EP4434059A1/en active Pending
- 2021-11-16 CN CN202180102780.9A patent/CN118043910A/zh active Pending
- 2021-11-16 JP JP2024518887A patent/JP2024545983A/ja active Pending
- 2021-11-16 WO PCT/EP2021/081894 patent/WO2023088543A1/en active Application Filing
- 2021-11-16 KR KR1020247010083A patent/KR20240101784A/ko active Pending
- 2021-11-16 CA CA3233143A patent/CA3233143A1/en active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN118043910A (zh) | 2024-05-14 |
| JP2024545983A (ja) | 2024-12-17 |
| CA3233143A1 (en) | 2023-05-25 |
| EP4434059A1 (en) | 2024-09-25 |
| WO2023088543A1 (en) | 2023-05-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0105 | International application |
Patent event date: 20240326 Patent event code: PA01051R01D Comment text: International Patent Application |
|
| PG1501 | Laying open of application | ||
| A201 | Request for examination | ||
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