KR20240025319A - 디스플레이 부품 검사 소켓용 실리콘 패턴체 및 그 제조방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 디스플레이 부품 검사 소켓용 실리콘 패턴체 및 그 제조방법에 관한 것이다.
본 발명의 실시 예를 따르는 디스플레이 부품 검사 소켓용 실리콘 패턴체의 제조방법은, 제조하고자 하는 디스플레이 부품 검사 소켓의 전극의 배치에 대한 정보를 수집하는 단계; 상기 전극 배치 정보를 기초로 실리콘 패턴체의 단일 패턴 구조를 도출하는 단계; 실리콘 패드의 전체 평면 구조 상에 앞서 도출된 단일 패턴 구조를 대입하여 다중 패턴 구조를 도출하는 단계; 실리콘 패드를 준비하고, 상기 실리콘 패드 상에 상기 다중 패턴 구조에 따라 도전성 패턴을 생성하는 단계; 및 상기 실리콘 패드를 단일 패턴 구조별로 절단하는 단계;를 포함한다.

Description

디스플레이 부품 검사 소켓용 실리콘 패턴체 및 그 제조방법{Silicon patten body for inspecting socket and manufacturing method for the same}

본 발명은 디스플레이 부품 검사 소켓용 실리콘 패턴체 및 그 제조방법에 관한 것이다.

일반적으로 디스플레이 부품이나 반도체 소자 등의 제조 공정이 완료되면 테스트 소켓 등과 같은 결함 검사 장비에 의하여 상기 부품 및 소자의 전기적 성능을 시험한다.

디스플레이 부품이나 반도체 소자의 전기적 성능 시험은 결함 검사 장비, 예컨대 테스트 소켓의 콘택부에 반도체 소자의 리드 단자가 접촉되도록 삽입하고, 각 콘택부에 입출력되는 신호를 시험용 회로로써 분석하는 방식으로 이루어지고 있다.

최근 전자제품 등이 초소형화됨에 따라 이에 내장되는 디스플레이 부품 또는 반도체 소자의 리드 단자 또한 초소형화되고, 그 피치가 작아지고 있는데, 종래 일반적으로 사용되던 테스트 소켓은 그 콘택부의 크기가 크고 상기 콘택부에 사용되는 포고 핀 등의 피치가 커 상기와 같이 초소형화되는 디스플레이 부품 또는 반도체 소자의 검사에 사용되기 어려운 문제점이 있다. 이러한 문제를 해결하기 위해 디스플레이 부품 검사 소켓의 핀이 미세화 및 정밀화되고 있고, 핀의 정렬이 집적화되고 있다. 그러나, 종래의 디스플레이 부품 검사 소켓으로는 생산 속도가 느리고 불량률이 높은 문제가 있다.

한편, 실리콘 패턴체는 디스플레이 부품 검사 소켓에 포함되는 부품으로서, 실리콘 몸체 상에 일정한 패턴을 갖는 도전성 전극이 배치된 것이다. 상기 실리콘 패턴체는 도전성 전극 상에 핀을 배치하거나 그 자체로 디스플레이 부품 검사 소켓에 포함되어 사용할 수 있다.

한국 공개특허공보 제10-2022-0017828호

본 발명은 디스플레이 부품 검사 소켓에 포함되는 부품 중 하나인 실리콘 패턴체 및 그 제조방법을 제공함을 목적으로 한다.

본 발명은 정밀하고 미세한 디스플레이 부품 검사 소켓의 제조가 가능한 실리콘 패턴체 및 그 제조방법을 제공할 수 있다.

또한, 하나의 실리콘 패드에 패턴을 집적하여 제조할 수 있어 생산 효율을 높일 수 있고, 생산 비용을 낮출 수 있다.

본 발명의 실시 예를 따르는 디스플레이 부품 검사 소켓용 실리콘 패턴체의 제조방법은, 제조하고자 하는 디스플레이 부품 검사 소켓의 전극의 배치에 대한 정보를 수집하는 단계; 상기 전극 배치 정보를 기초로 실리콘 패턴체의 단일 패턴 구조를 도출하는 단계; 실리콘 패드의 전체 평면 구조 상에 앞서 도출된 단일 패턴 구조를 대입하여 다중 패턴 구조를 도출하는 단계; 실리콘 패드를 준비하고, 상기 실리콘 패드 상에 상기 다중 패턴 구조에 따라 도전성 패턴을 생성하는 단계; 및 상기 실리콘 패드를 단일 패턴 구조별로 절단하는 단계;를 포함한다.

상기 다중 패턴 구조를 도출하는 단계는, 상기 실리콘 패드의 전체 평면 구조 상에 상기 단일 패턴 구조를 x방향으로 연속하여 배치하여 단일 패턴 구조 열을 생성하는 단계, 상기 단일 패턴 구조 열을 y방향으로 연속하여 배치하는 단계, 상기 실리콘 패드의 전체 평면 구조 중 단일 패턴 구조가 삽입될 수 있는 영역을 도출하는 단계, 및 상기 도출된 영역에 상기 단일 패턴 구조를 방향을 달리하여 배치하는 단계를 포함할 수 있다.

본 발명의 실시 예를 따르는 디스플레이 부품 검사 소켓용 실리콘 패턴체는 앞서 설명한 제조방법에 의해 제조한 것이다.

본 발명의 실시 예를 따르는 디스플레이 부품 검사 소켓용 실리콘 패턴체 및 그 제조방법은 디스플레이 부품 검사 소켓에 포함되는 부품 중 하나인 실리콘 패턴체를 제공할 수 있다.

또한, 정밀하고 미세한 디스플레이 부품 검사 소켓의 제조가 가능한 실리콘 패턴체 및 그 제조방법을 제공할 수 있다.

또한, 하나의 실리콘 패드에 패턴을 집적하여 제조할 수 있어 생산 효율을 높일 수 있고, 생산 비용을 낮출 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시 예를 따르는 디스플레이 부품 검사 소켓용 실리콘 패턴체를 도시한 것이다.
도 2는 단일 패턴 구조를 도시한 것이다.
도 3은 실리콘 패드 구조 상에 다중 패턴 구조를 도출하는 단계를 도시한 것이다.
도 4는 실리콘 패드 상에 다중 패턴 구조에 따라 도전성 패턴을 형성한 모습을 촬영한 것이다.
도 5는 도 4의 실리콘 패드를 절단하여 제조한 디스플레이 부품 검사 소켓용 실리콘 패턴체를 촬영한 것이다.

도 1은 본 발명의 실시 예를 따르는 디스플레이 부품 검사 소켓용 실리콘 패턴체(100)를 도시한 것이고, 도 2는 단일 패턴 구조를 도시한 것이고, 도 3은 실리콘 패드 구조 상에 다중 패턴 구조를 도출하는 단계를 도시한 것이다.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 실시 예를 따르는 디스플레이 부품 검사 소켓용 실리콘 패턴체(100)의 제조방법은, 제조하고자 하는 디스플레이 부품 검사 소켓의 전극의 배치에 대한 정보를 수집하는 단계; 상기 전극 배치 정보를 기초로 실리콘 패턴체(100)의 단일 패턴 구조를 도출하는 단계; 실리콘 패드(120)의 전체 평면 구조 상에 앞서 도출된 단일 패턴 구조를 대입하여 다중 패턴 구조를 도출하는 단계; 실리콘 패드(120)를 준비하고, 상기 실리콘 패드(120) 상에 상기 다중 패턴 구조에 따라 도전성 패턴(110)을 생성하는 단계; 및 상기 실리콘 패드(120)를 단일 패턴 구조별로 절단하는 단계;를 포함한다.

제조하고자 하는 디스플레이 부품 검사 소켓의 전극의 배치에 대한 정보를 수집하는 단계에서는 전극의 크기, 간격, 전기적 요구사항에 대한 정보를 수집할 수 있다. 또한, 측정하고자 하는 부품 또는 소자의 전극의 크기 및 간격에 대한 정보를 더 수집할 수 있다. 이러한 정보를 이용함으로써 패턴 구조를 정밀하고 집적하여 설계할 수 있다.

실리콘 패턴체(100)의 단일 패턴 구조를 도출하는 단계에서는 앞서 수집한 정보를 이용하여 디스플레이 부품 검사 소켓에서 요구하는 형상의 패턴 구조를 설계하는 단계이다. 본 단계에서는 디스플레이 부품 검사 소켓의 전체 크기 및 조립 구조를 고려하여 단일 패턴 구조의 전체 크기를 결정할 수 있다. 도 2에서는 일정한 간격으로 연속적으로 배치된 패턴 구조를 생성하였다.

실리콘 패드(120)의 전체 평면 구조 상에 앞서 도출된 단일 패턴 구조를 대입하여 다중 패턴 구조를 도출하는 단계는 일정한 크기의 실리콘 패드(120)에 최대한 많은 단일 패턴 구조를 도입하는 단계이다. 본 단계를 통해 하나의 실리콘 패드(120)로부터 생산할 수 있는 실리콘 패턴체(100)의 생산량을 최대로 늘릴 수 있으며, 생산 효율을 높이고 생산 비용을 낮출 수 있다.

도 3을 참조하면, 상기 다중 패턴 구조를 도출하는 단계는, 상기 실리콘 패드(120)의 전체 평면 구조 상에 상기 단일 패턴 구조를 x방향으로 연속하여 배치하여 단일 패턴 구조 열을 생성하는 단계, 상기 단일 패턴 구조 열을 y방향으로 연속하여 배치하는 단계, 상기 실리콘 패드(120)의 전체 평면 구조 중 단일 패턴 구조가 삽입될 수 있는 영역을 도출하는 단계, 및 상기 도출된 영역에 상기 단일 패턴 구조를 방향을 달리하여 배치하는 단계를 포함할 수 있다.

도 3(a)는 실리콘 패드 구조를 도시한 것이다. 실리콘 패드(120)는 다양한 형상을 가질 수 있으며, 실리콘 패드 구조는 생산에 사용하는 실리콘 패드(120)의 2차원 형상을 이용하게 된다.

도 3(b)는 상기 실리콘 패드 구조 상에 단일 패턴 구조 열을 생성한 모습을 도시한 것이다. 본 단계에서 단일 패턴 구조를 x축 방향으로 최대한 많이 배치하여 집적도를 높였다.

도 3(c)는 상기 단일 패턴 구조 열을 y축 방향으로 다중 생성한 것이다. 여기서는 2열이 생성되었으나, 실리콘 패드 구조에 따라 추가적으로 열을 생성할 수 있다.

도 3(d)는 실리콘 패드 구조의 나머지 영역 중에서 단일 패턴 구조가 추가로 생성될 수 있는 영역을 찾은 후, 상기 단일 패턴 구조를 배치한 것이다. 여기에 배치되는 단일 패턴 구조는 종전의 단일 패턴 구조와는 다른 방향으로 회전하여 배치될 수 있다. 이를 통해 집적도를 높일 수 있다.

다음으로, 앞서 도출된 다중 패턴 구조를 이용하여 실제로 생산 진행할 수 있다. 이를 위해 실리콘 패드(120)를 준비하고, 상기 실리콘 패드(120) 상에 상기 다중 패턴 구조에 따라 도전성 패턴(110)을 생성하는 단계 및 상기 실리콘 패드(120)를 단일 패턴 구조별로 절단하는 단계를 수행할 수 있다.

상기 실리콘 패드(120)는 도전성 패턴(110)을 지지하는 기능을 수행하는 것으로, 절연성일 수 있으며, 일정한 두께 및 탄성을 가진 것일 수 있다.

상기 실리콘 패드(120) 상에 상기 다중 패턴 구조에 따라 도전성 패턴(110)을 생성하는 단계는 해당 분야에서 도전성 패턴(110)을 형성하는 다양한 방법에 의해 수행할 수 있다. 일 예에서, 상기 실리콘 패드(120)의 상부에 다중 패턴 구조에 대응하는 홀을 갖는 마스크를 배치하고 도전성 잉크를 도포한 후 상기 마스크를 제거하는 방법에 의하거나, 3D 프린터를 이용하여 생성할 수 있다. 또한, CVD나 PVD와 같은 증착 장치를 이용하여 증착할 수 있다. 상기 도전성 잉크는 고분자 수지에 카본이나 금속 분말이 포함된 것일 수 있으며 특별히 제한하지 않는다.

상기 실리콘 패드(120)를 단일 패턴 구조별로 절단하는 단계는 해당 분야에서 사용하는 다양한 방법에 의해 수행할 수 있다.

본 발명은 상술한 실시 형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며 첨부된 청구범위에 의해 한정하고자 한다. 따라서, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능할 것이며, 이 또한 본 발명의 범위에 속한다고 할 것이다.

100: 실리콘 패턴체, 110: 도전성 패턴, 120: 실리콘 패드

Claims (3)

1. 제조하고자 하는 디스플레이 부품 검사 소켓의 전극의 배치에 대한 정보를 수집하는 단계;
   상기 전극 배치 정보를 기초로 실리콘 패턴체의 단일 패턴 구조를 도출하는 단계;
   실리콘 패드의 전체 평면 구조 상에 앞서 도출된 단일 패턴 구조를 대입하여 다중 패턴 구조를 도출하는 단계;
   실리콘 패드를 준비하고, 상기 실리콘 패드 상에 상기 다중 패턴 구조에 따라 도전성 패턴을 생성하는 단계; 및
   상기 실리콘 패드를 단일 패턴 구조별로 절단하는 단계;를 포함하는,
   디스플레이 부품 검사 소켓용 실리콘 패턴체의 제조방법.
   
2. 제1항에 있어서,
   상기 다중 패턴 구조를 도출하는 단계는,
   상기 실리콘 패드의 전체 평면 구조 상에 상기 단일 패턴 구조를 x방향으로 연속하여 배치하여 단일 패턴 구조 열을 생성하는 단계, 상기 단일 패턴 구조 열을 y방향으로 연속하여 배치하는 단계, 상기 실리콘 패드의 전체 평면 구조 중 단일 패턴 구조가 삽입될 수 있는 영역을 도출하는 단계, 및 상기 도출된 영역에 상기 단일 패턴 구조를 방향을 달리하여 배치하는 단계를 포함하는,
   디스플레이 부품 검사 소켓용 실리콘 패턴체의 제조방법.
   
3. 제1항의 제조방법에 의해 제조된 디스플레이 부품 검사 소켓용 실리콘 패턴체.