KR20230144770A - Method for inspecting defects of optical film - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 광학필름 검사 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는, 디스플레이 등에 이용되는 광학필름 내 이물, 찍힘 및 긁힘 등의 결함을 검사하는 방법에 있어서, 다수개의 필름이 적층된 광학필름 내에서 결함이 발생한 필름층의 위치를 정확하게 검사할 수 있는 광학필름 검사 방법을 제공하고자 하는 데 그 목적이 있다.The present invention relates to a method for inspecting optical films, and more specifically, to a method for inspecting defects such as foreign substances, dents, and scratches in optical films used in displays, etc., in which defects occur in an optical film in which a plurality of films are stacked. The purpose is to provide an optical film inspection method that can accurately inspect the location of the generated film layer.
LCD 등의 디스플레이 패널에는 굴절/반사를 통해 빛의 방향을 전면을 향하게 하여 낭비되는 빛을 최소화 하고 화면을 밝게 하는 역할로서, 반사판, 프리즘시트, 보호 시트 등의 다양한 광학필름들이 사용되어 빛의 휘도를 높이는 기능을 한다. In display panels such as LCDs, various optical films such as reflectors, prism sheets, and protective sheets are used to minimize wasted light and brighten the screen by directing the light toward the front through refraction/reflection. It functions to increase.
상기와 같이 광학필름은 다수개의 필름이 적층된 형태로 구성되는데, 각 층상 및 층간에 이물, 오염, 흑점, 겔, 오일, 탄화물, 피쉬아이, 핀홀, 스크래치, 찍힘 등의 결함이 발생할 경우, 이와 같은 결함이 발생 하지 않도록 하는 공정관리와 압출 다이의 수지 개선 및 기계조건 개선 등 품질관리와 함께 생산성향상을 위해 결함 검사 장치의 설치 필요가 요구되고 있다.As described above, the optical film is composed of multiple films laminated, and if defects such as foreign matter, contamination, black spots, gel, oil, carbide, fish eye, pinhole, scratch, or dent occur in each layer or between layers, It is necessary to install a defect inspection device to improve productivity along with quality control such as process management to prevent the same defect from occurring, improvement of resin of the extrusion die, and improvement of machine conditions.
일반적인 광학필름 검사 방법은 기본적으로 투광기, 수광기 및 신호처리부로 구성되며, 상기 투광기는 피검사재 표면에 조명을 광을 조사하는 것으로, 일반적으로 형광등(고주파)을 광원으로 사용한다. 검사하는 피검사재와 결점에 따라 빛을 비추 는 방법도 달라진다. 투광 방식에는, 투과방식, 난반사방식, 정반사방식과 이런 방식을 조합한 콤비네이션 방식이 있다. 상기 수광기는 투광기로 빛춰진 빛이 피검사재 표면의 정보를 CCD 라인 센터 영상신호로 변화하여 신호 처리부으로 출력한다. 카메라 대수는 최소 결점 검출 사이즈로 결정한다. 상기 신호처리부에서는 상기 수광기로부터 보내온 영상신호를 처리하여, 결점을 판정하고, 결점 검출시에는 표시등 및 경보 울림 장치 등의 알람 장치를 통해 결점 판정 결과를 출력할 수도 있다.A general optical film inspection method basically consists of a light emitter, a light receiver, and a signal processing unit. The light emitter irradiates light to the surface of the inspection object, and generally uses a fluorescent lamp (high frequency) as a light source. The method of illuminating the light also varies depending on the inspection material and defects being inspected. There are transmission methods, diffuse reflection methods, regular reflection methods, and a combination method that combines these methods. The light receiver converts the information on the surface of the inspection object using light emitted by the transmitter into a CCD line center image signal and outputs it to the signal processing unit. The number of cameras is determined by the minimum defect detection size. The signal processing unit processes the image signal sent from the light receiver to determine a defect, and when a defect is detected, the defect determination result may be output through an alarm device such as an indicator light and an alarm sounding device.
이와 같은, 광학필름 검사 방법 기술분야의 선행기술로서, 한국공개특허공보 10-2017-0010675(2017.02.01. 공개일)는 광학필름 공급롤; 광학필름 권취롤; 상기 광학필름 공급롤로부터 상기 광학필름 권취롤로 진행하는 광학필름의 적어도 일면에 위치하고, 에어 배출홀과 에어 흡입홀이 구비된 1 이상의 플레이트; 및 상기 플레이트와 광학필름 권취롤 사이 또는 2 이상의 플레이트 사이에 위치하고, 광원과 상기 광원을 이용하여 상기 광학필름의 영상을 획득하는 카메라를 포함하는 검사유닛을 포함하는 것인 광학필름 검사장치를 개시하고 있고, 또한 한국공개특허공보 10-2010-0025082(2010.03.09. 공개일)는 광학필름의 투과검사를 위해 광원과 마주보 는 위치에 설치되는 촬상수단을 광학필름에 대해 평행한 방향으로 일정한 거리로 이격시켜 설치하여 광원으로부 터 조사된 경사광과 수직광을 동시에 수광하여 이물을 검출할 수 있는 광학필름의 검사장치를 개시하고 있으며, 또한 한국등록특허공보 10-2102610(2020.04.21. 공고일)은 디스플레이의 제조 공정 중 상기 디스플레이 보호 필름의 표면을 촬영하여 획득한 이미지를 분석하고, 상기 디스플레이 보호 필름의 표면에 형성된 손상 또는 비정질성의 얼룩을 검사하여 검출하는 디스플레이 보호 필름 얼룩 검사장치를 개시하고 있다.As a prior art in the field of optical film inspection method technology, Korea Patent Publication No. 10-2017-0010675 (published on February 1, 2017) discloses an optical film supply roll; Optical film winding roll; One or more plates located on at least one side of the optical film advancing from the optical film supply roll to the optical film winding roll and provided with an air discharge hole and an air suction hole; and an inspection unit positioned between the plate and the optical film winding roll or between two or more plates and including a light source and a camera that acquires an image of the optical film using the light source. In addition, Korea Patent Publication No. 10-2010-0025082 (published on March 9, 2010) discloses that an imaging means installed at a position facing a light source for transmission inspection of an optical film is placed at a certain distance in a direction parallel to the optical film. An optical film inspection device is disclosed that can detect foreign substances by simultaneously receiving oblique and vertical light emitted from a light source by installing them at a distance from each other, and is also disclosed in Korean Patent Publication No. 10-2102610 (announced on April 21, 2020). ) discloses a display protection film stain inspection device that analyzes images obtained by photographing the surface of the display protection film during the manufacturing process of the display and detects damage or amorphous stains formed on the surface of the display protection film, there is.
그러나, 상기와 같은 종래 광학필름 검사 방법은 다층 구조의 광학필름에서 결함 위치를 정확하게 검사하는데 한계가 있었다. 본 발명은 이와 같은 실정에 따라 다층 구조의 광학필름의 결함을 검사하는 데 있어서, 결함 검사 결과의 신뢰도를 높이고, 결함 발생 위치를 정확하게 검출할 수 있는 새로운 광학필름 검사 방법을 제시하고자 한다.However, the conventional optical film inspection method described above had limitations in accurately inspecting the location of defects in a multi-layered optical film. In response to such circumstances, the present invention seeks to propose a new optical film inspection method that can increase the reliability of defect inspection results and accurately detect the location of defects in inspecting defects in multi-layered optical films.
본 발명은 상기와 같은 과제를 해결하기 위해 창작된 것으로, 다수개의 필름이 적층된 광학필름 내 이물, 찍힘 및 긁힘 등의 결함을 검사하는 방법에 있어서, 결함 발생 위치를 정확하게 검출할 수 있는 광학필름 검사 방법을 제공하고자 하는 데 그 목적이 있다.The present invention was created to solve the above problems, and is an optical film that can accurately detect the location of defects in a method of inspecting defects such as foreign substances, dents, and scratches in an optical film in which a plurality of films are stacked. The purpose is to provide a testing method.
또한, 본 발명은 상기와 같이 결함 발생 위치를 검사하는 데 있어서, 광학필름 검사 시 광학필름 상부 표면을 향해 소정 기울기 각도로 조명을 조사하고, 이에 반사되는 반사광을 광학필름 상부 표면으로부터 수직 상부 방향에 구비된 카메라부에서 수광하는 방식을 이용하여, 다수개의 필름이 적층된 광학필름 내에서 결함발생 위치를 정확하게 검사할 수 있는 광학필름 검사 방법을 제공하고자 하는 데 그 목적이 있다.In addition, in the present invention, in inspecting the location of defects as described above, when inspecting an optical film, light is irradiated at a predetermined tilt angle toward the upper surface of the optical film, and the reflected light is directed vertically upward from the upper surface of the optical film. The purpose is to provide an optical film inspection method that can accurately inspect the location of defects in an optical film in which multiple films are stacked, using a method of receiving light from a provided camera unit.
본 발명의 일 실시예에 따른 다층 필름이 적층된 구조를 가지는 광학필름 내 결함을 검사하는 방법은, 소정 기울기 각도로 광학필름 표면을 향해 조명을 조사하고, 조사된 조명에 의해 상기 광학필름의 표면에서 수직방향으로 반사되는 반사광을 수광하는 방식으로 광학필름 내 각 필름층의 상부면, 하부면 또는 접착면에 해당하는 레이어별 이미지를 취득하는, 이미지 취득 단계; 상기 이미지 취득 단계에서 취득된 광학필름의 레이어별 이미지로부터 이물질 검사 알고리즘을 이용하여 결함 부위를 검출하는, 결함 검출 단계; 상기 결함 검출 단계에서 검출된 결함 부위의 사이즈 및 개수를 기준으로 결함 여부를 판정하는, 결함 판정 단계; 및 상기 결함 판정 단계에서 결함으로 판정된 결함 부위가 발생한 레이어를 도출하여 해당 이미지 및 좌표를 출력하는, 레이어 결함 판별 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.A method of inspecting defects in an optical film having a structure in which multilayer films are stacked according to an embodiment of the present invention involves irradiating light toward the surface of the optical film at a predetermined tilt angle, and irradiating the surface of the optical film by the irradiated light. An image acquisition step of acquiring images for each layer corresponding to the upper surface, lower surface, or adhesive surface of each film layer in the optical film by receiving reflected light reflected in the vertical direction; A defect detection step of detecting a defective area using a foreign matter inspection algorithm from the layer-by-layer image of the optical film acquired in the image acquisition step; A defect determination step of determining whether or not there is a defect based on the size and number of defective parts detected in the defect detection step; And a layer defect determination step of deriving a layer in which a defective part determined to be a defect in the defect determination step occurs and outputting the corresponding image and coordinates.
또한, 본 발명의 일 실시예로서, 상기 이미지 취득 단계는, 카메라와 조명을 광학필름의 일측으로부터 가로 또는 세로 방향을 따라 이동시키면서, 상기 카메라의 이동범위에서 상기 카메라의 앵글범위에 해당하는 상기 광학필름의 이미지를 촬영하되, 카메라의 촬영 앵글 직경을 기준으로 상기 광학필름의 표면을 적어도 하나 이상의 촬영라인을 구분하여 각 라인별 이미지를 촬영하는, 라인별 이미지 촬영 단계; 각 라인별로 촬영된 이미지에서 레이어별 이미지를 구별하고, 구별된 레이어별 이미지를 취합하는, 라인별 이미지 취합 단계; 및 각 라인별로 취합된 레이어별 이미지를 취합하여 광학필름 전체의 레이어별 이미지를 취득하는, 광학필름 이미지 취득 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, as an embodiment of the present invention, the image acquisition step includes moving the camera and lighting along the horizontal or vertical direction from one side of the optical film, and the optical film corresponding to the angle range of the camera in the moving range of the camera. A line-by-line image capturing step of capturing an image of a film, dividing the surface of the optical film into at least one capturing line based on the diameter of the capturing angle of the camera, and capturing an image for each line; A line-by-line image collection step of distinguishing images for each layer from images taken for each line and collecting images for each differentiated layer; And an optical film image acquisition step of acquiring images for each layer of the entire optical film by collecting images for each layer collected for each line.
또한, 본 발명의 일 실시예로서, 상기 결함 검출 단계는, 상기 이미지 취득 단계에서 취득된 광학필름의 레이어별 이미지를 불러오는, 이미지 불러오기 단계; 상기 레이어별 이미지로부터 필름의 가장자리를 검출하여 필름 이미지 영역을 검출하는, 필름 영역 검출 단계; 상기 필름 이미지 영역을 적어도 하나 이상의 영역으로 분할하는, 필름 영역 분할 단계; 및 상기 분할된 필름 이미지 영역별로 이물질 검사 알고리즘을 이용하여 결함 검출 여부를 판정하는, 영역별 결함 검출 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, as an embodiment of the present invention, the defect detection step includes an image loading step of loading images for each layer of the optical film acquired in the image acquisition step; A film area detection step of detecting a film image area by detecting an edge of the film from the image for each layer; A film region dividing step of dividing the film image region into at least one region; and a region-specific defect detection step of determining whether or not a defect is detected for each divided film image region using a foreign matter inspection algorithm.
또한, 본 발명의 일 실시예로서, 상기 필름 영역 검출 단계는, 상기 레이어별 이미지의 가로 또는 세로방향으로 픽셀 밝기의 임계값 평균을 계산하고, 일정 픽셀에서의 밝기가 임계값 평균을 초과할 때 해당 픽셀 위치를 필름의 가장자리로 판정하는 것을 특징으로 한다.In addition, as an embodiment of the present invention, the film area detection step calculates the threshold average of pixel brightness in the horizontal or vertical direction of the image for each layer, and when the brightness at a certain pixel exceeds the threshold average The pixel location is determined to be the edge of the film.
또한, 본 발명의 일 실시예로서, 상기 이물질 검사 알고리즘은, 이미지 내 픽셀별로 소정 밝기값 이상일 경우 흰색으로 판정하고, 소정 밝기값 미만일 경우 검은색으로 판정하여 결함 의심 부위를 도출하는, 이치화 단계; 상기 이치화 단계 후 상기 결함 의심 부위의 이미지를 바깥으로부터 침식시키는 이로전(erosion) 기법을 이용하여 결함 의심 부위의 이미지를 부드럽게 변환하는, 이로전 단계; 상기 이로전 단계 후 상기 결함 의심 부위의 이미지를 바깥방향으로 팽창시키는 익스펜션(expansion) 기법을 이용하여 결함 의심 부위의 이미지를 뚜렷하게 변환하는, 익스펜션 단계; 및 상기 익스펜션 단계 후 이미지로부터 결함 부위를 도출하는, 결함 부위 검출 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, as an embodiment of the present invention, the foreign matter inspection algorithm includes a binarization step of deriving a suspected defect area by determining each pixel in the image as white if the brightness value is above a predetermined brightness value and black if the pixel is less than a predetermined brightness value; An erosion step of smoothly converting the image of the suspected defect area using an erosion technique that erodes the image of the suspected defect area from the outside after the binarization step; An expansion step of clearly converting the image of the suspected defect area using an expansion technique that expands the image of the suspected defect area outward after the migration step; and a defective area detection step of deriving the defective area from the image after the expansion step.
또한, 본 발명의 일 실시예로서, 상기 결함 판정 단계는, 상기 결함 검출 단계에서 검출된 결함 부위의 사이즈를 계산하는, 결함 부위 사이즈 계산 단계; 상기 결함 부위 사이즈 계산 단계에서 계산된 결함 부위의 사이즈 정보를 기반으로 결함판정기준이 되는 사이즈 범위별 결함 부위의 개수를 도출하는, 사이즈 범위별 결함 부위 도출 단계; 및 상기 사이즈 범위별 결함 부위 도출 단계에서 도출된 사이즈 범위별 결함 부위의 개수를 기반으로 소정의 결함판정기준에 따라 결함 여부를 판정하는, 결함 여부 판정 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, as an embodiment of the present invention, the defect determination step includes a defect portion size calculation step of calculating the size of the defect portion detected in the defect detection step; A step of deriving defective parts by size range, deriving the number of defective parts by size range that serves as a defect determination standard based on the size information of the defective parts calculated in the defective part size calculation step; and a defect determination step of determining whether or not there is a defect according to a predetermined defect determination standard based on the number of defective portions for each size range derived in the defect portion derivation step for each size range.
또한, 본 발명의 일 실시예로서, 상기 결함 부위 사이즈 계산 단계는, 결함 부위의 중심점으로 기준으로 가로 직경과 세로 직경의 평균값을 결함 부위 사이즈로 계산하는 것을 특징으로 한다.In addition, as an embodiment of the present invention, the step of calculating the size of the defective region is characterized by calculating the average value of the horizontal diameter and the vertical diameter as the size of the defective region based on the center point of the defective region.
또한, 본 발명의 일 실시예로서, 상기 레이어 결함 판별 단계는, 각 레이어별 결함 좌표를 도출하는, 결함 좌표 도출 단계; 모든 레이어 간 결함 좌표를 비교하는, 결함 좌표 비교 단계; 및 특정 레이어의 결함 좌표와 일치되는 타 레이어의 결함 좌표가 존재하지 않을 경우 해당 레이어에 결함이 발생한 것으로 판정하고, 적어도 둘 이상의 레이어 간 결함 좌표 일치할 경우 최상층의 레이어에 결함이 발생한 것으로 판정하는, 결함 레이어 도출 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, as an embodiment of the present invention, the layer defect determination step includes deriving defect coordinates for each layer; A defect coordinate comparison step of comparing defect coordinates between all layers; And if there are no defect coordinates of another layer that match the defect coordinates of a specific layer, it is determined that a defect has occurred in that layer, and if the defect coordinates of at least two or more layers match, it is determined that a defect has occurred in the uppermost layer, Characterized in that it includes a defect layer derivation step.
본 발명에 따른 광학필름 검사 방법은, 다수개의 필름이 적층된 광학필름 결함을 검사하는 데 있어서, 결함이 다층의 필름층 중 어느 위치에 발생한 것인지 정확히 검사할 수 있는 효과가 잇다.The optical film inspection method according to the present invention is effective in inspecting defects in an optical film in which a plurality of films are stacked, and precisely where the defect occurs in the multilayer film layer.
또한, 본 발명은 상기와 같이 결함 발생층을 정확히 검출함으로써, 광학필름 제조 공정 보완에 대한 정확 피드백을 제공할 수 있어, 광학필름 제조 공정 효율을 높이고 비용을 최소화 할 수 있는 효과가 있다.In addition, the present invention can provide accurate feedback for supplementing the optical film manufacturing process by accurately detecting the defect-generating layer as described above, which has the effect of increasing the efficiency of the optical film manufacturing process and minimizing costs.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학필름의 레이어에 대해 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학필름 검사 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학필름 촬영 방법에 대해 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 이미지 취득 단계에 대해 설명하기 위한 흐름도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 검출 단계에 대해 설명하기 위한 흐름도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 검출 단게에서 필름 영역 검출 단계를 설명하기 위한 도면이다.
도 7 및 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 이물질 검사 알고리즘에 대해 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 판정 단계에 대해 설명하기 위한 흐름도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 레이어 결함 판별 단계에 대해 설명하기 위한 흐름도이다.1 is a diagram for explaining the layers of an optical film according to an embodiment of the present invention.
Figure 2 is a flowchart for explaining an optical film inspection method according to an embodiment of the present invention.
Figure 3 is a diagram for explaining an optical film photographing method according to an embodiment of the present invention.
Figure 4 is a flowchart for explaining the image acquisition step according to an embodiment of the present invention.
Figure 5 is a flowchart for explaining the defect detection step according to an embodiment of the present invention.
Figure 6 is a diagram for explaining the film area detection step in the defect detection step according to an embodiment of the present invention.
7 and 8 are diagrams for explaining a foreign matter inspection algorithm according to an embodiment of the present invention.
Figure 9 is a flowchart for explaining the defect determination step according to an embodiment of the present invention.
Figure 10 is a flowchart for explaining the layer defect determination step according to an embodiment of the present invention.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명에 따른 광학필름 검사 방법의 바람직한 실시예를 상세히 설명하도록 한다. Hereinafter, with reference to the attached drawings, preferred embodiments of the optical film inspection method according to the present invention will be described in detail so that those skilled in the art can easily practice the present invention.
본 발명의 각 도면에 있어서, 구조물들의 사이즈나 치수는 본 발명의 명확성을 기하기 위하여 실제보다 확대하거나 축소하여 도시한 것이고, 특징적 구성이 드러나도록 공지의 구성들은 생략하여 도시하였으므로 도면으로 한정하지는 아니한다.In each drawing of the present invention, the size or dimensions of the structures are enlarged or reduced from the actual size for clarity of the present invention, and known structures are omitted to reveal the characteristic structure, so it is not limited to the drawing. .
본 발명의 바람직한 실시예에 대한 원리를 상세하게 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다.In explaining in detail the principles of a preferred embodiment of the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the gist of the present invention, the detailed description will be omitted.
또한, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원 시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.In addition, the embodiments described in this specification and the configurations shown in the drawings are only one of the most preferred embodiments of the present invention and do not represent the entire technical idea of the present invention, so at the time of filing the present application, various methods that can replace them are available. It should be understood that equivalents and variations may exist.
본 발명은 디스플레이 등에 이용되는 광학필름 내 이물, 찍힘 및 긁힘 등의 결함을 검사하는 방법에 관한 것으로, 다수개의 필름이 적층된 광학필름에서 결함이 발생한 레이어를 정확히 검출할 수 있는 광학필름 검사 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for inspecting defects such as foreign substances, nicks, and scratches in optical films used in displays, etc., and to an optical film inspection method that can accurately detect a defective layer in an optical film in which multiple films are stacked. It's about.
본 발명의 설명에서 상기 레이어란 다층으로 구성된 광학필름에서 필름의 상부면, 하부면 또는 필름과 필름의 접합면을 나타내는 것이다.In the description of the present invention, the layer refers to the upper surface, lower surface, or bonding surface of the film in an optical film composed of multiple layers.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학필름의 레이어에 대해 설명하기 위한 도면으로, 이에 도시되어 있는 바와 같이, 광학필름이 필름(상부)과 보호필름(하부)으로 구성될 경우, 레이어는 필름 상부면(레이어 1), 필름과 보호필름의 접합면(레이어 2) 및 보호필름의 하부면(레이어 3)으로 구분된다.1 is a diagram for explaining the layer of an optical film according to an embodiment of the present invention. As shown here, when the optical film is composed of a film (top) and a protective film (bottom), the layer is It is divided into the upper surface of the film (layer 1), the joint surface of the film and the protective film (layer 2), and the lower surface of the protective film (layer 3).
이하 도면을 참조하여 본 발명에 따른 스크린마스크 검사 방법에 관해 더욱 상세하게 설명한다.Hereinafter, the screen mask inspection method according to the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학필름 검사 방법을 설명하기 위한 흐름도이다. Figure 2 is a flowchart for explaining an optical film inspection method according to an embodiment of the present invention.
이에 도시되어 있는 바와 같이, 본 발명에 따른 광학필름 검사 방법은 이미지 취득 단계, 결함 검출 단계, 결함 판정 단계 및 레이어 결함 판별 단계를 포함한다.As shown, the optical film inspection method according to the present invention includes an image acquisition step, a defect detection step, a defect determination step, and a layer defect determination step.
더욱 상세하게는, 먼저 상기 이미지 취득 단계에서는 광학필름의 레이어별 이미지를 취득하는 것으로서, 소정 기울기 각도로 광학필름 표면을 향해 조명을 조사하고, 조사된 조명에 의해 상기 광학필름의 표면에서 수직방향으로 반사되는 반사광을 수광하는 방식으로 광학필름 내 각 필름층의 상부면, 하부면 또는 접착면에 해당하는 레이어별 이미지를 취득한다.More specifically, in the image acquisition step, images of each layer of the optical film are acquired, and light is irradiated toward the surface of the optical film at a predetermined tilt angle, and the irradiated light is directed vertically from the surface of the optical film. By receiving reflected light, images for each layer corresponding to the top, bottom, or adhesive surface of each film layer in the optical film are acquired.
상기 결함 검출 단계에서는 상기 이미지 취득 단계에서 취득된 광학필름의 레이어별 이미지로부터 이물질 검사 알고리즘을 이용하여 결함 부위를 검출한다.In the defect detection step, defective areas are detected using a foreign matter inspection algorithm from the image of each layer of the optical film acquired in the image acquisition step.
상기 결함 판정 단계에서는 상기 결함 검출 단계에서 검출된 결함 부위의 사이즈 및 개수를 기준으로 결함 여부를 판정한다.In the defect determination step, the presence or absence of a defect is determined based on the size and number of defective parts detected in the defect detection step.
상기 레이어 결함 판별 단계에서는 상기 결함 판정 단계에서 결함으로 판정된 결함 부위가 발생한 레이어를 도출하고, 해당 이미지 및 좌표를 출력한다.In the layer defect determination step, the layer in which the defective part determined to be defective in the defect determination step occurs is derived, and the corresponding image and coordinates are output.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학필름 촬영 방법에 대해 설명하기 위한 도면이다. Figure 3 is a diagram for explaining an optical film photographing method according to an embodiment of the present invention.
이에 도시되어 있는 바와 같이, 본 발명에 따른 광학필름 검사 방법에서는 조명의 빛이 광학필름을 통과할 때 결함에 반사되는 위치에 따라 결함이 발생한 필름 층의 위치를 검출한다.As shown, in the optical film inspection method according to the present invention, the position of the film layer where the defect occurs is detected according to the position where the illumination light is reflected on the defect when it passes through the optical film.
더욱 상게하게는, 본 발명에 따른 광학필름 검사 방법은 조명과 카메라가 동일한 거리 및 방향으로 이동하면서 광학필름을 촬영하는데, 조명의 빛이 광학필름을 사선으로 관통하기 때문에 다층 필름 구조에서 필름 상층부에 결함이 있을수록 조명의 빛에 따른 반사광이 촬영되는 거리(조명으로부터의 거리)가 짧아진다. 이와 같은 원리를 이용하여 광학필름의 레이어별 이미지를 구별할 수 있다.More specifically, in the optical film inspection method according to the present invention, the optical film is photographed while the lighting and the camera move at the same distance and direction, and since the light of the lighting penetrates the optical film diagonally, it is attached to the upper layer of the film in the multi-layer film structure. The more defects there are, the shorter the distance at which reflected light from the lighting is captured (distance from the lighting). Using this principle, images for each layer of the optical film can be distinguished.
이하, 상기 각 단계에 대하여 더욱 상세하게 설명하도록 한다.Hereinafter, each of the above steps will be described in more detail.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 이미지 취득 단계에 대해 설명하기 위한 흐름도이다.Figure 4 is a flowchart for explaining the image acquisition step according to an embodiment of the present invention.
이에 도시되어 있는 바와 같이, 상기 이미지 취득 단계는 라인별 이미지 촬영 단계, 라인별 이미지 취득 단계 및 광학필름 이미지 취득 단계를 포함한다.As shown, the image acquisition step includes a line-by-line image capture step, a line-by-line image acquisition step, and an optical film image acquisition step.
먼저, 상기 라인별 이미지 촬영 단계에서는 카메라와 조명을 광학필름의 일측으로부터 가로 또는 세로 방향을 따라 이동시키면서, 상기 카메라의 이동범위에서 상기 카메라의 앵글범위에 해당하는 상기 광학필름의 이미지를 촬영한다.First, in the line-by-line image capturing step, the camera and lighting are moved from one side of the optical film along the horizontal or vertical direction, and an image of the optical film corresponding to the angle range of the camera is captured within the moving range of the camera.
이때, 카메라의 촬영 앵글 직경을 기준으로 상기 광학필름의 표면을 적어도 하나 이상의 촬영라인을 구분하여 각 라인별 이미지를 촬영함으로써 광학필름 표면 전체의 이미지를 촬영한다. 또한, 카메라의 성능 및 광학필름의 사이즈에 따라 검사에 필요한 이미지 개수가 결정되고 각 촬영라인별로 촬영된 이미지의 개수가 상기 필요한 이미지 개수 보다 부족할 경우 해당 촬영라인의 영상촬영을 반복하여 필요수의 이미지 개수를 취득한다.At this time, the surface of the optical film is divided into at least one shooting line based on the camera's shooting angle diameter, and an image is taken for each line, thereby capturing an image of the entire surface of the optical film. In addition, the number of images required for inspection is determined depending on the performance of the camera and the size of the optical film. If the number of images taken for each shooting line is insufficient than the required number of images, the video shooting of the corresponding shooting line is repeated to obtain the required number of images. Get the count.
참고로, 도 4에서는 예시적으로 필름과 보호필름으로 구성되는 광학필름(3개의 레이어 존재)을 6개의 촬영라인으로 구분하였고, 필요검사에 필요한 이미지 개수가 1950장인 방법을 나타내었다. For reference, Figure 4 illustrates a method in which an optical film (three layers) consisting of a film and a protective film is divided into six shooting lines, and the number of images required for necessary inspection is 1950.
또한, 상기 라인별 이미지 취득 단계에서는 상기 라인별 이미지 촬영 단계에서 각 라인별로 촬영된 이미지로부터 레이어별 이미지를 구별하고, 구별된 레이어별 이미지를 취합한다.Additionally, in the line-by-line image acquisition step, images for each layer are distinguished from the images taken for each line in the line-by-line image capturing step, and the differentiated images for each layer are collected.
또한, 상기 광학필름 이미지 취득 단계에서는 상기 라인별 이미지 취득 단계에서각 라인별로 취합된 레이어별 이미지를 취합하여 광학필름 전체의 레이어별 이미지를 취득한다.In addition, in the optical film image acquisition step, the layer-by-layer images collected for each line in the line-by-line image acquisition step are collected to obtain a layer-by-layer image of the entire optical film.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 검출 단계에 대해 설명하기 위한 흐름도이다.Figure 5 is a flowchart for explaining the defect detection step according to an embodiment of the present invention.
이에 도시되어 있는 바와 같이, 상기 결함 검출 단계는 이미지 불러오기 단계, 필름 영역 검출 단계, 필름 영역 분할 단계 및 영역별 결함 검출 단계를 포함한다.As shown, the defect detection step includes an image loading step, a film region detection step, a film region division step, and a defect detection step for each region.
먼저, 상기 이미지 불러오기 단계는 상기 이미지 취득 단계에서 취득된 광학필름의 레이어별 이미지를 불러온다.First, the image loading step loads images for each layer of the optical film acquired in the image acquisition step.
또한, 상기 필름 영역 검출 단계에서는 상기 레이어별 이미지로부터 필름의 가장자리를 검출하여 필름 이미지 영역을 검출한다.Additionally, in the film area detection step, the film image area is detected by detecting the edge of the film from the image for each layer.
더욱 상세하게는, 상기 필름 영역 검출 단계는 상기 레이어별 이미지의 가로 또는 세로방향으로 픽셀 밝기의 임계값 평균을 계산하고, 일정 픽셀에서의 밝기가 임계값 평균을 초과할 때 해당 픽셀 위치를 필름의 가장자리로 판정한다(도 6 참조).More specifically, the film area detection step calculates the threshold average of pixel brightness in the horizontal or vertical direction of the image for each layer, and when the brightness at a certain pixel exceeds the threshold average, the corresponding pixel location is selected on the film. It is judged by the edge (see Figure 6).
또한, 상기 필름 영역 분할 단계에서는 상기 필름 이미지 영역을 적어도 하나 이상의 영역으로 분할한다.Additionally, in the film area dividing step, the film image area is divided into at least one area.
또한, 상기 영역별 결함 검출 단계는 상기 분할된 필름 이미지 영역별로 이물질 검사 알고리즘을 이용하여 결함 검출 여부를 판정한다.In addition, the defect detection step for each region determines whether a defect is detected using a foreign matter inspection algorithm for each divided film image region.
도 7 및 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 이물질 검사 알고리즘에 대해 설명하기 위한 도면이다.7 and 8 are diagrams for explaining a foreign matter inspection algorithm according to an embodiment of the present invention.
이에 도시되어 있는 바와 같이, 상기 영역별 결함 검출 단계에서 결함 여부를 판정하는 이물질 검사 알고리즘은 이치화 단계, 이로전(erosion) 단계, 익스펜션(expansion) 단계 및 결함 부위 검출 단계를 포함한다.As shown, the foreign matter inspection algorithm that determines whether or not there is a defect in the defect detection step for each region includes a binarization step, an erosion step, an expansion step, and a defect site detection step.
먼저 상기 이치화 단계에서는 이미지 내 픽셀별로 소정 밝기값 이상일 경우 흰색으로 판정하고, 소정 밝기값 미만일 경우 검은색으로 판정하는 방식(이치화)으로 결함 의심 부위를 도출한다.First, in the binarization step, a suspected defect is derived by determining each pixel in the image as white if the brightness is above a predetermined value, and black if the pixel is below a predetermined brightness value (rationalization).
상기 이로전 단계에서는 상기 이치화 단계 후 상기 결함 의심 부위의 이미지를 바깥으로부터 침식시키는 이로전(erosion) 기법을 이용하여 결함 의심 부위의 이미지를 부드럽게 변환한다. In the erosion step, the image of the suspected defect area is smoothly converted using an erosion technique that erodes the image of the suspected defect area from the outside after the binarization step.
상기 익스펜션 단계에서는 상기 이로전 단계 후 상기 결함 의심 부위의 이미지를 바깥방향으로 팽창시키는 익스펜션(expansion) 기법을 이용하여 결함 의심 부위의 이미지를 뚜렷하게 변환한다.In the expansion step, the image of the suspected defective region is clearly transformed using an expansion technique that expands the image of the suspected defective region outward after the migration step.
상기 결함 부위 검출 단계에서는 상기 익스펜션 단계 후 이미지로부터 결함 부위를 도출한다.In the defect site detection step, the defect site is derived from the image after the expansion step.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 판정 단계에 대해 설명하기 위한 흐름도이다.Figure 9 is a flowchart for explaining the defect determination step according to an embodiment of the present invention.
이에 도시되어 있는 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 결함 판정 단계는 결함 부위 사이즈 계산 단계, 사이즈 범위별 결함 부위 도출 단계 및 결함 여부 판정 단계를 포함한다.As shown, the defect determination step according to an embodiment of the present invention includes a defect portion size calculation step, a defect portion derivation step for each size range, and a defect determination step.
상기 결함 부위 사이즈 계산 단계는 상기 결함 검출 단계에서 검출된 결함 부위의 사이즈를 계산한다. 이때 결함 부위의 중심점으로 기준으로 가로 직경과 세로 직경의 평균값을 결함 부위 사이즈로 계산한다.The defect area size calculation step calculates the size of the defect area detected in the defect detection step. At this time, the average value of the horizontal and vertical diameters is calculated as the size of the defective area based on the center point of the defective area.
상기 사이즈 범위별 결함 부위 도출 단계는 상기 결함 부위 사이즈 계산 단계에서 계산된 결함 부위의 사이즈 정보를 기반으로 결함판정기준이 되는 사이즈 범위별 결함 부위의 개수를 도출한다.The step of deriving defective parts by size range derives the number of defective parts by size range, which serves as a defect determination standard, based on the size information of the defective parts calculated in the defective part size calculation step.
상기 결함 여부 판정 단계는 상기 사이즈 범위별 결함 부위 도출 단계에서 도출된 사이즈 범위별 결함 부위의 개수를 기반으로 소정의 결함(불량)판정기준에 따라 결함 여부를 판정한다.The defect determination step determines whether or not there is a defect according to a predetermined defect (defect) determination standard based on the number of defective portions for each size range derived in the defect portion derivation step for each size range.
도 9에 나타낸 불량판정기준은 예시적인 것으로, 광학필름의 종류 및 용도에 따라 별도의 결함(불량)판정기준에 따라 결함 여부를 판정할 수 있다.The defect determination criteria shown in FIG. 9 are exemplary, and defects can be determined according to separate defect (defect) determination criteria depending on the type and use of the optical film.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 레이어 결함 판별 단계에 대해 설명하기 위한 흐름도이다.Figure 10 is a flowchart for explaining the layer defect determination step according to an embodiment of the present invention.
이에 도시되어 있는 바와 같이, 상기 레이어 결함 판별 단계는 결함 좌표 도출 단계, 결함 좌표 비교 단계 및 결함 레이어 도출 단계를 포함한다.As shown, the layer defect determination step includes a defect coordinate derivation step, a defect coordinate comparison step, and a defect layer derivation step.
이와 같이, 먼저 각 레이어별 결함 좌표를 도출한 후, 모든 레이어 간 결함 좌표를 비교한다.In this way, the defect coordinates for each layer are first derived, and then the defect coordinates between all layers are compared.
이때, 상기 결함 레이어 도출 단계에서는 특정 레이어의 결함 좌표와 일치되는 타 레이어의 결함 좌표가 존재하지 않을 경우 해당 레이어에 결함이 발생한 것으로 판정하고, 적어도 둘 이상의 레이어 간 결함 좌표 일치할 경우 최상층의 레이어에 결함이 발생한 것으로 판정한다.At this time, in the defect layer derivation step, if there are no defect coordinates of another layer that match the defect coordinates of a specific layer, it is determined that a defect has occurred in the corresponding layer, and if the defect coordinates between at least two or more layers match, the defect coordinates of the other layer match. It is determined that a defect has occurred.
본 발명은 상기와 같은 방법을 통하여 다층 필름 구조에서 결함이 발생한 레이어를 정확히 검출할 수 있다.The present invention can accurately detect a defective layer in a multilayer film structure through the above method.
이상으로 본 발명은 첨부된 도면에 도시된 실시예를 참조하여 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술에 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 것을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 기술적 보호범위는 아래의 청구범위에 의해서 정하여져야 할 것이다.The present invention has been described above with reference to the embodiments shown in the attached drawings, but these are merely illustrative, and various modifications and other equivalent embodiments can be made by those skilled in the art. You will understand that Therefore, the scope of technical protection of the present invention should be determined by the claims below.
Claims (8)
소정 기울기 각도로 광학필름 표면을 향해 조명을 조사하고, 조사된 조명에 의해 상기 광학필름의 표면에서 수직방향으로 반사되는 반사광을 수광하는 방식으로 광학필름 내 각 필름층의 상부면, 하부면 또는 접착면에 해당하는 레이어별 이미지를 취득하는, 이미지 취득 단계;
상기 이미지 취득 단계에서 취득된 광학필름의 레이어별 이미지로부터 이물질 검사 알고리즘을 이용하여 결함 부위를 검출하는, 결함 검출 단계;
상기 결함 검출 단계에서 검출된 결함 부위의 사이즈 및 개수를 기준으로 결함 여부를 판정하는, 결함 판정 단계; 및
상기 결함 판정 단계에서 결함으로 판정된 결함 부위가 발생한 레이어를 도출하고, 해당 이미지 및 좌표를 출력하는, 레이어 결함 판별 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는, 광학필름 검사 방법.
In a method of inspecting defects in an optical film having a structure in which multilayer films are stacked,
Light is irradiated toward the surface of the optical film at a predetermined inclination angle, and the reflected light reflected in the vertical direction from the surface of the optical film by the irradiated light is received by receiving the upper surface, lower surface, or adhesive of each film layer in the optical film. An image acquisition step of acquiring images for each layer corresponding to the face;
A defect detection step of detecting a defective area using a foreign matter inspection algorithm from the layer-by-layer image of the optical film acquired in the image acquisition step;
A defect determination step of determining whether or not there is a defect based on the size and number of defective parts detected in the defect detection step; and
A layer defect determination step of deriving a layer in which a defective portion determined as a defect occurs in the defect determination step and outputting the corresponding image and coordinates. An optical film inspection method comprising a.
상기 이미지 취득 단계는,
카메라와 조명을 광학필름의 일측으로부터 가로 또는 세로 방향을 따라 이동시키면서, 상기 카메라의 이동범위에서 상기 카메라의 앵글범위에 해당하는 상기 광학필름의 이미지를 촬영하되, 카메라의 촬영 앵글 직경을 기준으로 상기 광학필름의 표면을 적어도 하나 이상의 촬영라인을 구분하여 각 라인별 이미지를 촬영하는, 라인별 이미지 촬영 단계;
각 라인별로 촬영된 이미지에서 레이어별 이미지를 구별하고, 구별된 레이어별 이미지를 취합하는, 라인별 이미지 취합 단계; 및
각 라인별로 취합된 레이어별 이미지를 취합하여 광학필름 전체의 레이어별 이미지를 취득하는, 광학필름 이미지 취득 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는, 광학필름 검사 방법.
According to paragraph 1,
The image acquisition step is,
While moving the camera and lighting along the horizontal or vertical direction from one side of the optical film, an image of the optical film corresponding to the angle range of the camera is captured within the moving range of the camera, based on the camera's shooting angle diameter. A line-by-line image capturing step of dividing the surface of the optical film into at least one capturing line and capturing an image for each line;
A line-by-line image collection step of distinguishing images for each layer from images taken for each line and collecting images for each differentiated layer; and
An optical film image acquisition step of acquiring layer-by-layer images of the entire optical film by collecting layer-by-layer images collected for each line. An optical film inspection method comprising:
상기 결함 검출 단계는,
상기 이미지 취득 단계에서 취득된 광학필름의 레이어별 이미지를 불러오는, 이미지 불러오기 단계;
상기 레이어별 이미지로부터 필름의 가장자리를 검출하여 필름 이미지 영역을 검출하는, 필름 영역 검출 단계;
상기 필름 이미지 영역을 적어도 하나 이상의 영역으로 분할하는, 필름 영역 분할 단계; 및
상기 분할된 필름 이미지 영역별로 이물질 검사 알고리즘을 이용하여 결함 검출 여부를 판정하는, 영역별 결함 검출 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는, 광학필름 검사 방법.
According to paragraph 1,
The defect detection step is,
An image loading step of loading images for each layer of the optical film acquired in the image acquisition step;
A film area detection step of detecting a film image area by detecting an edge of the film from the image for each layer;
A film region dividing step of dividing the film image region into at least one region; and
An optical film inspection method comprising a region-specific defect detection step of determining whether or not a defect is detected for each divided film image region using a foreign matter inspection algorithm.
상기 필름 영역 검출 단계는,
상기 레이어별 이미지의 가로 또는 세로방향으로 픽셀 밝기의 임계값 평균을 계산하고, 일정 픽셀에서의 밝기가 임계값 평균을 초과할 때 해당 픽셀 위치를 필름의 가장자리로 판정하는 것을 특징으로 하는, 광학필름 검사 방법.
According to paragraph 3,
The film area detection step is,
An optical film, characterized in that the threshold average of pixel brightness is calculated in the horizontal or vertical direction of the image for each layer, and when the brightness at a certain pixel exceeds the threshold average, the pixel location is determined to be the edge of the film. method of inspection.
상기 이물질 검사 알고리즘은,
이미지 내 픽셀별로 소정 밝기값 이상일 경우 흰색으로 판정하고, 소정 밝기값 미만일 경우 검은색으로 판정하여 결함 의심 부위를 도출하는, 이치화 단계;
상기 이치화 단계 후 상기 결함 의심 부위의 이미지를 바깥으로부터 침식시키는 이로전(erosion) 기법을 이용하여 결함 의심 부위의 이미지를 부드럽게 변환하는, 이로전 단계;
상기 이로전 단계 후 상기 결함 의심 부위의 이미지를 바깥방향으로 팽창시키는 익스펜션(expansion) 기법을 이용하여 결함 의심 부위의 이미지를 뚜렷하게 변환하는, 익스펜션 단계; 및
상기 익스펜션 단계 후 이미지로부터 결함 부위를 도출하는, 결함 부위 검출 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는, 광학필름 검사 방법.
According to paragraph 3,
The foreign matter inspection algorithm is,
A binarization step of deriving a suspected defect area by determining each pixel in the image as white if the brightness value is above a predetermined brightness value and black if the pixel is less than a predetermined brightness value;
An erosion step of smoothly converting the image of the suspected defect area using an erosion technique that erodes the image of the suspected defect area from the outside after the binarization step;
An expansion step of clearly converting the image of the suspected defect area using an expansion technique that expands the image of the suspected defect area outward after the migration step; and
An optical film inspection method comprising a defective area detection step of deriving a defective area from the image after the expansion step.
상기 결함 판정 단계는,
상기 결함 검출 단계에서 검출된 결함 부위의 사이즈를 계산하는, 결함 부위 사이즈 계산 단계;
상기 결함 부위 사이즈 계산 단계에서 계산된 결함 부위의 사이즈 정보를 기반으로 결함판정기준이 되는 사이즈 범위별 결함 부위의 개수를 도출하는, 사이즈 범위별 결함 부위 도출 단계; 및
상기 사이즈 범위별 결함 부위 도출 단계에서 도출된 사이즈 범위별 결함 부위의 개수를 기반으로 소정의 결함판정기준에 따라 결함 여부를 판정하는, 결함 여부 판정 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는, 광학필름 검사 방법.
According to paragraph 1,
The defect determination step is,
A defective part size calculation step of calculating the size of the defective part detected in the defect detection step;
A step of deriving defective parts by size range, deriving the number of defective parts by size range that serves as a defect determination standard based on the size information of the defective parts calculated in the defective part size calculation step; and
Optical film inspection, characterized in that it includes a defect determination step of determining whether or not there is a defect according to a predetermined defect determination standard based on the number of defective portions for each size range derived in the step for deriving defective portions for each size range. method.
상기 결함 부위 사이즈 계산 단계는,
결함 부위의 중심점으로 기준으로 가로 직경과 세로 직경의 평균값을 결함 부위 사이즈로 계산하는 것을 특징으로 하는, 광학필름 검사 방법.
According to clause 6,
The step of calculating the size of the defect area is,
An optical film inspection method characterized in that the average value of the horizontal and vertical diameters is calculated as the size of the defective area based on the center point of the defective area.
상기 레이어 결함 판별 단계는,
각 레이어별 결함 좌표를 도출하는, 결함 좌표 도출 단계;
모든 레이어 간 결함 좌표를 비교하는, 결함 좌표 비교 단계; 및
특정 레이어의 결함 좌표와 일치되는 타 레이어의 결함 좌표가 존재하지 않을 경우 해당 레이어에 결함이 발생한 것으로 판정하고, 적어도 둘 이상의 레이어 간 결함 좌표 일치할 경우 최상층의 레이어에 결함이 발생한 것으로 판정하는, 결함 레이어 도출 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는, 광학필름 검사 방법.
According to paragraph 1,
The layer defect determination step is,
A defect coordinate derivation step of deriving defect coordinates for each layer;
A defect coordinate comparison step of comparing defect coordinates between all layers; and
If there are no defect coordinates of another layer that match the defect coordinates of a specific layer, it is determined that a defect has occurred in that layer, and if the defect coordinates of at least two or more layers match, it is determined that a defect has occurred in the topmost layer. An optical film inspection method comprising a layer derivation step.
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