KR20230118477A - Photographing module for vision inspection - Google Patents
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Abstract
본 발명에 의하면, 상기한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 회로기판; 상기 회로기판의 전면에 실장되는 복수개의 이미지 센서들; 상기 복수개의 이미지 센서들 각각의 전방에 일대일로 대응하여 배치되는 복수개의 렌즈들; 상기 회로기판을 내부에 수용하는 하우징; 상기 복수개의 렌즈들 각각이 설치되는 복수개의 경통들; 및 상기 회로기판에 결합되고 상기 복수개 경통들이 결합되는 렌즈 정렬 부재를 포함하며, 상기 복수개의 렌즈들 각각은 대응하는 상기 이미지 센서에 서로 다른 초점거리를 제공하고, 상기 경통에 결합되어서 대응하는 상기 이미지 센서와의 거리가 고정되는, 비전검사용 촬영 모듈이 제공된다.According to the present invention, in order to achieve the above object of the present invention, the circuit board; a plurality of image sensors mounted on the front surface of the circuit board; a plurality of lenses disposed in a one-to-one correspondence in front of each of the plurality of image sensors; a housing accommodating the circuit board therein; a plurality of lens barrels in which each of the plurality of lenses is installed; and a lens aligning member coupled to the circuit board and to which the plurality of lens barrels are coupled, wherein each of the plurality of lenses provides a different focal length to the corresponding image sensor and is coupled to the lens barrel to provide the corresponding image sensor. A photographing module for vision inspection in which a distance to a sensor is fixed is provided.
Description
본 발명은 비전검사 기술에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 비전검사에서 검사 대상물을 촬영하는 촬영 모듈에 관한 것이다.The present invention relates to a vision inspection technology, and more particularly, to a photographing module for photographing an inspection object in a vision inspection.
일반적으로 비전(vision) 검사는 검사 대상물인 각종 부품에 대한 불량 여부 판단을 위하여 검사 대상물을 촬영하여 형상, 치수, 이물질, 손상 등을 검사하는 것을 의미한다. 산업화 구조 변화에 따라 검사 대상물의 특성이 다양해지면서 비전 검사에서 피사계 심도에 즉각적으로 대응하는 것이 점점 어려워지고 있다. 피사계 심도는 촬영 피사체가 허용 수준의 선명도를 보이는 거리방향 범위를 의미한다. 비전 검사에서 피사계 심도 개선은 촬영부의 렌즈 초점거리를 조절하는 방식이 일반적으로 사용된다. 렌즈 초점거리은 통상적으로 렌즈의 위치를 물리적으로 이동시키거나 렌즈의 형상을 변화시키는 방식으로 조절되고 있다. 하지만 이러한 종래의 렌즈 초점거리 조절 방식은 렌즈 이동 또는 렌즈 변형에 시간이 소요되기 때문에, 검사 시간을 증가시키는 요소로 작용한다. 본 발명의 기술분야인 비전검사용 촬영 모듈에 대한 배경이 되는 기술로서, 등록특허 제10-2360140호에는 카메라에 구비되는 렌즈의 위치를 조절하도록 구동하는 소형모터와 같은 구동부재를 구비하는 카메라 모듈의 구성이 기재되어 있다.In general, vision inspection refers to inspecting the shape, size, foreign matter, damage, etc. by photographing an inspection object to determine whether or not defects are present in various parts of the inspection object. As the characteristics of inspection objects diversify according to industrialization structure changes, it is becoming more and more difficult to respond immediately to the depth of field in vision inspection. Depth of field refers to the range in the distance in which the photographed subject has an acceptable level of sharpness. To improve the depth of field in vision inspection, a method of adjusting the focal length of the lens of the photographing part is generally used. The focal length of a lens is usually adjusted by physically moving the position of the lens or changing the shape of the lens. However, since this conventional lens focal length control method takes time to move or deform the lens, it acts as a factor that increases inspection time. As a background technology for the photographic module for vision inspection, which is the technical field of the present invention, Registration Patent No. 10-2360140 discloses a camera module having a driving member such as a small motor that drives to adjust the position of a lens provided in a camera. The composition of is described.
본 발명의 목적은 비전검사에서 검사 대상물에 대한 정확한 이미지를 신속하게 획득할 수 있도록 하는 비전검사용 촬영 모듈을 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide a photographing module for vision inspection that enables rapid acquisition of an accurate image of an object to be inspected in a vision inspection.
상기한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 측면에 따르면, 회로기판; 상기 회로기판의 전면에 실장되는 복수개의 이미지 센서들; 상기 복수개의 이미지 센서들 각각의 전방에 일대일로 대응하여 배치되는 복수개의 렌즈들; 상기 회로기판을 내부에 수용하는 하우징; 상기 복수개의 렌즈들 각각이 설치되는 복수개의 경통들; 및 상기 회로기판에 결합되고 상기 복수개 경통들이 결합되는 렌즈 정렬 부재를 포함하며, 상기 복수개의 렌즈들 각각은 대응하는 상기 이미지 센서에 서로 다른 초점거리를 제공하고, 상기 경통에 결합되어서 대응하는 상기 이미지 센서와의 거리가 고정되는, 비전검사용 촬영 모듈이 제공된다.In order to achieve the above object of the present invention, according to an aspect of the present invention, the circuit board; a plurality of image sensors mounted on the front surface of the circuit board; a plurality of lenses disposed in a one-to-one correspondence in front of each of the plurality of image sensors; a housing accommodating the circuit board therein; a plurality of lens barrels in which each of the plurality of lenses is installed; and a lens aligning member coupled to the circuit board and to which the plurality of lens barrels are coupled, wherein each of the plurality of lenses provides a different focal length to the corresponding image sensor and is coupled to the lens barrel to provide the corresponding image sensor. A photographing module for vision inspection in which a distance to a sensor is fixed is provided.
본 발명에 의하면 앞서서 기재한 본 발명의 목적을 모두 달성할 수 있다. 구체적으로, 본 발명에 따른 비전검사용 촬영 모듈은 복수개의 이미지 센서들과, 복수개의 이미지 센서들 각각에 일대일로 대응하여 설치되는 복수개의 렌즈들을 구비하며, 복수개의 렌즈들 각각은 검사 대상물에 대해 서로 다른 초점거리를 제공하므로, 검사 대상물의 전체 범위에 대한 선명한 이미지를 동시에 획득이 가능하다. 그에 따라, 종래의 방식에서 필요한 초점조절을 위한 시간이 감소되고 개별 촬영시간의 생략에 따라 생산성이 향상된다.According to the present invention, all of the objects of the present invention described above can be achieved. Specifically, the photographing module for vision inspection according to the present invention includes a plurality of image sensors and a plurality of lenses installed in a one-to-one correspondence with each of the plurality of image sensors, and each of the plurality of lenses is provided with respect to an object to be inspected. Since different focal lengths are provided, it is possible to obtain clear images of the entire range of the inspection object at the same time. Accordingly, the time required for focus adjustment in the conventional method is reduced and productivity is improved by omitting individual photographing time.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 비전검사용 촬영 모듈에 대한 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시된 비전검사용 촬영 모듈에 대한 분해 사시도이다.
도 3은 도 2에 도시된 비전검사용 촬영 모듈에서 촬영 본체에 대한 분해 사시도이다.
도 4는 도 2에 도시된 비전검사용 촬영 모듈에서 촬영부에 의한 검사 대상물에 대한 촬영 원리를 설명하는 도면이다.1 is a perspective view of a photographing module for vision inspection according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an exploded perspective view of the imaging module for vision inspection shown in FIG. 1 .
FIG. 3 is an exploded perspective view of a photographing body in the photographing module for vision inspection shown in FIG. 2 .
FIG. 4 is a diagram explaining a principle of photographing an object to be inspected by a photographing unit in the photographing module for a vision inspection shown in FIG. 2 .
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예의 구성 및 작용을 상세하게 설명한다. 도 1에는 본 발명의 일 실시예에 따른 비전검사용 촬영 모듈이 사시도로서 도시되어 있고, 도 2에는 도 1에 도시된 비전검사용 촬영 모듈이 분해 사시도로서 도시되어 있다. 도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 비전검사용 촬영 모듈(100)은 비전검사에서 실질적으로 검사 대상물에 대한 이미지를 획득하는 기능을 수행하는 촬영 본체(110)와, 촬영 본체(110)를 수용하여 보호하는 하우징(170)을 포함한다.Hereinafter, the configuration and operation of an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. 1 is a perspective view of the imaging module for vision inspection according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an exploded perspective view of the imaging module for vision inspection shown in FIG. 1 . 1 and 2, the
촬영 본체(110)는 비전검사에서 실질적으로 검사 대상물에 대한 이미지를 획득하는 기능을 수행한다. 도 3에는 촬영 본체(110)가 분해 사시도로서 도시되어 있다. 도 1 내지 도 3을 참조하면, 촬영 본체(110)는 회로기판(111)과, 피사체인 검사 대상물에 대한 아날로그 이미지 데이터를 획득하는 촬영부(120)와, 회로기판(111)에 실장되고 촬영부(120)로부터 전달되는 아날로그 이미지 데이터를 처리하는 이미지 처리 반도체 소자(미도시)와, 회로기판(111)에 고정되고 이미지 처리 반도체 소자(미도시)에서 발생하는 열을 방출시키는 방열 유닛(160)을 구비한다.The photographing
회로기판(111)은 통상적인 PCB 구조를 갖는 편평한 판상으로서, 하우징(170)의 내부에 수용된 상태로 하우징(170)에 고정된다. 회로기판(111)의 전면(112)에는 촬영부(120)가 위치하고 이미지 처리 반도체 소자(150)가 실장된다. 회로기판(111)의 배면(113)에는 도시되지는 않았으나, 전원결단자, 메모리 연결 포트, 외부장치 연결 포트 및 통신 연결 포트가 장착된다.The
촬영부(120)는 검사 대상물에 대한 아날로그 이미지 데이터를 획득한다. 도 4에는 촬영부(120)에 의한 검사 대상물에 대한 촬영 원리가 도시되어 있다. 도 1 내지 도 4를 참조하면, 촬영부(120)는 회로기판(111)에 실장되는 복수개의 이미지 센서(121, 122, 123, 124)들과, 복수개의 이미지 센서(121, 122, 123, 124)들 각각에 대응하여 배치되는 복수개의 렌즈 유닛(131, 132, 133, 134)들과, 회로기판(111)에 고정되고 복수개의 렌즈 유닛(131, 132, 133, 134)들을 정위치시키는 렌즈 정렬 부재(140)를 구비한다.The photographing
복수개의 이미지 센서(121, 122, 123, 124)들은 회로기판(111)의 전면(112)에 실장된다. 복수개의 이미지 센서(121, 122, 123, 124)들 각각은 입력되는 빛을 아날로그 전기 신호로 변환하여 출력하는 반도체 소자로서, CCD(Charge Coupled Device)일 수 있다. 복수개의 이미지 센서(121, 122, 123, 124)들 각각으로부터 출력되는 아날로그 전기 신호는 이미지 처리 반도체 소자(150)로 입력된다. 본 실시예에서는 회로기판(111)에 4개의 이미지 센서(121, 122, 123, 124)들이 실장되는 것으로 설명하는데, 본 발명은 이에 제한되지 않는다. 회로기판(111)에는 2개, 3개 또는 5개 이상의 이미지 센서가 실장될 수 있으며, 이 또한 본 발명의 범위에 속하는 것이다. 4개의 이미지 센서(121, 122, 123, 124)들은 서로 인접하도록 배치되는데, 본 실시예에서는 정사각형의 꼭짓점에 대응하는 위치에 각각 배치되는 것으로 설명한다. 4개의 이미지 센서(121, 122, 123, 124)들 중 하나를 제1 이미지 센서(121)라 하고, 다른 하나를 제2 이미지 센서(122)라 하며, 또 다른 하나를 제3 이미지 센서(123)라 하고, 나머지 하나를 제4 이미지 센서(124)라 한다.The plurality of
복수개의 렌즈 유닛(131, 132, 133, 134)들 각각은 복수개의 이미지 센서(121, 122, 123, 124)들 각각에 대응하여 배치된다. 본 실시예에서 렌즈 유닛(131, 132, 133, 134)은 4개이며, 각각이 4개의 이미지 센서(121, 122, 123, 124)들 각각과 일대일로 대응하여 배치된다. 그에 따라, 4개의 렌즈 유닛(131, 132, 133, 134)들도 4개의 이미지 센서(121, 122, 123, 124)들의 위치에 대응하여 정사각형의 꼭짓점에 대응하는 위치에 각각 배치된다. 4개의 렌즈 유닛(131, 132, 133, 134)들 중 제1 이미지 센서(121)에 대응하여 배치되는 것을 제1 렌즈 유닛(131)이라 하고, 제2 이미지 센서(122)에 대응하여 배치되는 것을 제2 렌즈 유닛(132)이라 하며, 제3 이미지 센서(123)에 대응하여 배치되는 것을 제3 렌즈 유닛(133)라 하고, 제4 이미지 센서(124)에 대응하여 배치되는 것을 제4 렌즈 유닛(134)이라 한다. 4개의 렌즈 유닛(131, 132, 134, 134)들은 렌즈 정렬 부재(140)에 결합되어서 대응하는 이미지 센서(121, 122, 123, 124)에 정위치한다.Each of the plurality of
제1 렌즈 유닛(131)은 제1 렌즈(131a)와, 제1 렌즈(131a)가 설치되는 제1 경통(131b)을 구비한다.The
제1 렌즈(131a)는 제1 이미지 센서(121)에 제1 초점거리(L1)를 제공한다. 제1 렌즈(131a)는 제1 이미지 센서(121)와 제1 렌즈(131a) 사이의 거리인 제1 렌즈 거리(M1)가 변함없이 일정하게 유지되도록 제1 경통(131b)에 결합된다. 제1 초점거리(L1)는 제1 렌즈(131a)에 의한 제1 정초점(P1)과 제1 렌즈(131a) 사이의 거리이다. 제1 렌즈(131a)는 제1 피사계 심도(D1)를 제공한다.The
제1 경통(131b)은 렌즈 정렬 부재(140)에 결합되어서, 제1 경통(131b)에 설치된 제1 렌즈(131a)를 제1 이미지 센서(121)에 대해 정위치시킨다.The
제2 렌즈 유닛(132)은 제2 렌즈(132a)와, 제2 렌즈(132a)가 설치되는 제2 경통(132b)을 구비한다.The
제2 렌즈(132a)는 제2 이미지 센서(122)에 제2 초점거리(L2)를 제공한다. 제2 렌즈(132a)는 제2 이미지 센서(122)와 제2 렌즈(132a) 사이의 거리인 제2 렌즈 거리(M2)가 변함없이 일정하게 유지되도록 제2 경통(132b)에 결합된다. 제2 초점거리(L2)는 제2 렌즈(132a)에 의한 제2 정초점(P2)과 제2 렌즈(132a) 사이의 거리이다. 제2 렌즈(132a)가 제공하는 제2 초점거리(L2)는 제1 렌즈(131a)가 제공하는 제1 초점거리(L1)보다 크다. 이를 위하여, 본 실시예에서는 제2 렌즈(132a)가 제1 렌즈(131a)와 다른 형상이면서, 동시에 제2 렌즈 거리(M2)가 제1 렌즈 거리(M1)와 다르게 설정되는 것으로 설명한다. 이와는 달리, 제2 렌즈 거리(M2)와 제1 렌즈 거리(M1)가 동일한 상태에서 제2 렌즈(132a)가 제1 렌즈(131a)와 다른 형상을 갖거나, 제2 렌즈(132a)가 제1 렌즈(131a)와 동일한 형상이고 제2 렌즈 거리(M2)가 제1 렌즈 거리(M1)와 다르게 설정될 수도 있으며, 이 또한 본 발명의 범위에 속하는 것이다. 제2 렌즈(132a)는 제2 피사계 심도(D2)를 제공한다. 제1 피사계 심도(D1)와 제2 피사계 심도(D2)는 거리방향인 광축선 상에서 일부 구간(C1-2)에 걸쳐서 겹치게 형성된다.The
제2 경통(132b)은 렌즈 정렬 부재(140)에 결합되어서, 제2 경통(132b)에 설치된 제2 렌즈(132a)를 제2 이미지 센서(122)에 대해 정위치시킨다. 제2 렌즈 거리(M2)가 제1 렌즈 거리(M1)와 동일한 상태에서 제2 렌즈(132a)가 제1 렌즈(131a)와 다른 형상을 갖는 경우에는, 제2 경통(132b)의 길이는 제1 경통(131b)의 길이와 동일할 수 있다.The
제3 렌즈 유닛(133)은 제3 렌즈(133a)와, 제3 렌즈(133a)가 설치되는 제3 경통(133b)을 구비한다.The
제3 렌즈(133a)는 제3 이미지 센서(123)에 제3 초점거리(L3)를 제공한다. 제3 렌즈(133a)는 제3 이미지 센서(123)와 제3 렌즈(133a) 사이의 거리인 제3 렌즈 거리(M3)가 변함없이 일정하게 유지되도록 제3 경통(133b)에 결합된다. 제3 초점거리(L3)는 제3 렌즈(133a)에 의한 제3 정초점(P3)과 제3 렌즈(133a) 사이의 거리이다. 제3 렌즈(133a)가 제공하는 제3 초점거리(L3)는 제2 렌즈(132a)가 제공하는 제2 초점거리(L2)보다 크다. 이를 위하여, 본 실시예에서는 제3 렌즈(133a)가 제2 렌즈(132a)와 다른 형상이면서, 동시에 제3 렌즈 거리(M3)가 제2 렌즈 거리(M2)와 다르게 설정되는 것으로 설명한다. 이와는 달리, 제3 렌즈 거리(M3)가 제2 렌즈 거리(M2)와 동일한 상태에서 제3 렌즈(133a)가 제2 렌즈(132a)와 다른 형상을 갖거나, 제3 렌즈(133a)가 제2 렌즈(132a)와 동일한 형상이고 제3 렌즈 거리(M3)가 제2 렌즈 거리(M2)와 다르게 설정될 수도 있으며, 이 또한 본 발명의 범위에 속하는 것이다. 제3 렌즈(133a)는 제3 피사계 심도(D3)를 제공한다. 제2 피사계 심도(D2)와 제3 피사계 심도(D3)는 거리방향인 광축선 상에서 일부 구간(C2-3)에 걸쳐서 겹치게 형성된다.The
제3 경통(133b)은 렌즈 정렬 부재(140)에 결합되어서, 제3 경통(133b)에 설치된 제3 렌즈(133a)를 제3 이미지 센서(123)에 대해 정위치시킨다. 제3 렌즈 거리(M3)가 제2 렌즈 거리(M2)와 동일한 상태에서 제3 렌즈(133a)가 제2 렌즈(132a)와 다른 형상을 갖는 경우에는, 제3 경통(133b)의 길이는 제1 경통(131b) 및 제2 경통(132b)의 길이와 동일할 수 있다.The
제4 렌즈 유닛(134)은 제4 렌즈(134a)와, 제4 렌즈(134a)가 설치되는 제4 경통(134b)을 구비한다.The
제4 렌즈(134a)는 제4 이미지 센서(124)에 제4 초점거리(L4)를 제공한다. 제4 렌즈(134a)는 제4 이미지 센서(124)와 제4 렌즈(134a) 사이의 거리인 제4 렌즈 거리(M4)가 변함없이 일정하게 유지되도록 제4 경통(134b)에 결합된다. 제4 초점거리(L4)는 제4 렌즈(134a)에 의한 제4 정초점(P4)과 제4 렌즈(134a) 사이의 거리이다. 제4 렌즈(134a)가 제공하는 제4 초점거리(L4)는 제3 렌즈(133a)가 제공하는 제3 초점거리(L3)보다 크다. 이를 위하여, 본 실시예에서는 제4 렌즈(134a)가 제3 렌즈(133a)와 다른 형상이면서, 동시에 제4 렌즈 거리(M4)가 제3 렌즈 거리(M3)와 다르게 설정되는 것으로 설명한다. 이와는 달리, 제4 렌즈 거리(M4)가 제3 렌즈 거리(M3)와 동일한 상태에서 제4 렌즈(134a)가 제3 렌즈(133a)와 다른 형상을 갖거나, 제4 렌즈(134a)가 제3 렌즈(133a)와 동일한 형상이고 제4 렌즈 거리(M4)가 제3 렌즈 거리(M3)와 다르게 설정될 수도 있으며, 이 또한 본 발명의 범위에 속하는 것이다. 제4 렌즈(134a)는 제4 피사계 심도(D4)를 제공한다. 제3 피사계 심도(D3)와 제4 피사계 심도(D4)는 거리방향인 광축선 상에서 일부 구간(C3-4)에 걸쳐서 겹치게 형성된다.The
제4 경통(134b)은 렌즈 정렬 부재(140)에 결합되어서, 제4 경통(134b)에 설치된 제4 렌즈(134a)를 제4 이미지 센서(124)에 대해 정위치시킨다. 제4 렌즈 거리(M4)가 제3 렌즈 거리(M3)와 동일한 상태에서 제4 렌즈(134a)가 제3 렌즈(133a)와 다른 형상을 갖는 경우에는, 제4 경통(134b)의 길이는 제1 경통(131b), 제2 경통(132b) 및 제3 경통(133b)의 길이와 동일할 수 있다.The
렌즈 정렬 부재(140)는 회로기판(111)의 전면(112)에 고정되도록 결합되고 복수개의 렌즈 유닛(131, 132, 133, 134)들을 대응하는 이미지 센서(121, 122, 123, 124)들 각각의 전방에 정위치시킨다. 렌즈 정렬 부재(140)는 회로기판(111)과 결합되는 기초부(141)와, 기초부(141)로부터 돌출되는 돌출부(145)를 구비한다.The
기초부(141)는 회로기판(111)의 전면(112)에 실장된 4개의 이미지 센서(121, 122, 123, 124)들은 포함하는 영역을 덮도록 회로기판(111)에 나사 결합에 의해 결합된다.The
돌출부(145)는 4개의 이미지 센서(121, 122, 123, 124)들은 포함하는 영역에서 기초부(141)로부터 돌출되어서 형성된다. 돌출부(145)는 전면판부(146)와, 측벽부(148)를 구비한다. 전면판부(146)는 편평한 판상으로서, 4개의 이미지 센서(121, 122, 123, 124)가 배치되는 평면과 대체로 평행하다. 전면판부(146)에는 4개의 이미지 센서(121, 122, 123, 124)들 각각의 위치에 대응하여 4개의 관통구(147a, 147b, 147c, 147d)들이 형성된다. 4개의 관통구(147a, 147b, 147c, 147d)들 중 제1 이미지 센서(121)에 대응하여 위치하는 것을 제1 관통구(147a)라 하고, 제2 이미지 센서(122)에 대응하여 위치하는 것을 제2 관통구(147b)라 하며, 제3 이미지 센서(123)에 대응하여 위치하는 것을 제3 관통구(147c)라 하고, 제4 이미지 센서(124)에 대응하여 위치하는 것을 제4 관통구(147d)라 한다.The protruding
제1 관통구(147a)에 제1 경통(131b)이 통과하면서 결합된다. 도시되지는 않았으나, 제1 관통구(147a)에 암나사가 형성되고 제1 경통(131b)에 수나사가 형성되어서 제1 관통구(147a)에 제1 경통(131b)이 나사 결합될 수 있다.The
제2 관통구(147b)에 제2 경통(132b)이 통과하면서 결합된다. 도시되지는 않았으나, 제2 관통구(147b)에 암나사가 형성되고 제2 경통(132b)에 수나사가 형성되어서 제2 관통구(147b)에 제2 경통(132b)이 나사 결합될 수 있다.The
제3 관통구(147c)에 제3 경통(133b)이 통과하면서 결합된다. 도시되지는 않았으나, 제3 관통구(147c)에 암나사가 형성되고 제3 경통(133b)에 수나사가 형성되어서 제3 관통구(147c)에 제3 경통(133b)이 나사 결합될 수 있다.The
제4 관통구(147d)에 제4 경통(134b)이 통과하면서 결합된다. 도시되지는 않았으나, 제4 관통구(147d)에 암나사가 형성되고 제4 경통(134b)에 수나사가 형성되어서 제4 관통구(147d)에 제4 경통(134b)이 나사 결합될 수 있다.The
촬영부(120)는 검사 대상물(A)을 한 번의 촬영으로 동시간대에 제1 이미지 센서(121)에 의해 획득된 제1 촬영 이미지, 제2 이미지 센서(122)에 의해 획득된 제2 촬영 이미지, 제3 이미지 센서(123)에 의해 획득된 제3 촬영 이미지, 제4 이미지 센서(124)에 의해 획득된 제4 촬영 이미지를 제공한다. 각각의 촬영 이미지는 검사 대상물(A)에 대해 설정된 피사체 심도에서 선명한 이미지를 제공하므로, 한 번의 촬영으로 검사 대상물(A)의 전체 범위에 대한 선명한 이미지 획득이 가능해진다. 각각의 촬영 이미지들에 대한 별도의 이미지 프로세싱을 통해 촬영 이미지들 각각의 선명한 부분들이 합쳐져서 하나의 통합 이미지로 병합될 수도 있으며, 이 또한 본 발명의 범위에 속하는 것이다.The photographing
이미지 처리 반도체 소자(미도시)는 회로기판(111)의 전면(112)에 실장되고 복수개의 이미지 센서(121, 122, 123, 124)들로부터 전달되는 이미지 데이터를 처리한다. 이미지 처리 반도체 소자(미도시)는 통상적인 CPU(Central Processing Unit) 및 GPU(Graphic Processing Unit)으로 구성될 수 있다.An image processing semiconductor device (not shown) is mounted on the
방열 유닛(160)은 회로기판(111)에 고정되도록 설치되어서 회로기판(111)에 실장된 이미지 처리 반도체 소자(미도시)에서 발생하는 열을 방출시킨다. 방열 유닛(160)은 히트싱크(heat sink)(161)와 쿨링 팬(cooling fan)(165)를 구비한다.The
하우징(170)은 촬영 본체(110)를 수용하여 보호한다. 하우징(170)은 제1 하우징부(180)와 제2 하우징부(190)를 구비한다. 제1 하우징부(180)와 제2 하우징부(190)가 나사 결합되어서 하우징(170)을 구성한다.The
제1 하우징부(180)는 회로기판(111)의 전면(112)에서 촬영 본체(110)를 덮도록 배치된다. 제1 하우징부(180)에는 렌즈 정렬 부재(140)의 돌출부(145)를 노출시키는 개구부(181)가 형성된다. 개구부(181)를 통해 복수개의 렌즈(131a, 132a, 133a, 134a)들이 노출된다. 제1 하우징부(180)에는 배기구(185)가 형성된다. 배기구(185)를 통해 방열 유닛(160)에 의해 기체가 하우징(170)의 외부로 배출된다.The
제2 하우징부(190)는 회로기판(111)의 배면(113)에서 촬영 본체(110)를 덮도록 배치된다. 제2 하우징부(190)는 제1 하우징부(180)와 결합되어서 하우징(170)을 형성한다.The
이상 실시예를 통해 본 발명을 설명하였으나, 본 발명은 이에 제한되는 것은 아니다. 상기 실시예는 본 발명의 취지 및 범위를 벗어나지 않고 수정되거나 변경될 수 있으며, 본 기술분야의 통상의 기술자는 이러한 수정과 변경도 본 발명에 속하는 것임을 알 수 있을 것이다.Although the present invention has been described through the above examples, the present invention is not limited thereto. The above embodiments may be modified or changed without departing from the spirit and scope of the present invention, and those skilled in the art will recognize that such modifications and changes also belong to the present invention.
100 : 비전검사용 촬영 모듈
110 : 촬영 본체
111 : 회로기판
120 : 촬영부
121 : 제1 이미지 센서
122 : 제2 이미지 센서
123 : 제3 이미지 센서
124 : 제4 이미지 센서
131 : 제1 렌즈 유닛
131a : 제1 렌즈
131b : 제1 경통
132 : 제2 렌즈 유닛
132a : 제2 렌즈
132b : 제2 경통
133 : 제3 렌즈 유닛
133a : 제3 렌즈
133b : 제3 경통
134 : 제4 렌즈 유닛
134a : 제4 렌즈
134b : 제4 경통
140 : 렌즈 정렬 부재
147a : 제1 관통구
147b : 제2 관통구
147c : 제3 관통구
147d : 제4 관통구
160 : 방열 유닛
170 : 하우징100: filming module for vision inspection 110: filming body
111: circuit board 120: shooting unit
121: first image sensor 122: second image sensor
123: third image sensor 124: fourth image sensor
131:
131b: first lens barrel 132: second lens unit
132a:
133:
133b: third barrel 134: fourth lens unit
134a:
140:
147b: second through
147d: fourth through hole 160: heat dissipation unit
170: housing
Claims (7)
상기 회로기판의 전면에 실장되는 복수개의 이미지 센서들;
상기 복수개의 이미지 센서들 각각의 전방에 일대일로 대응하여 배치되는 복수개의 렌즈들;
상기 회로기판을 내부에 수용하는 하우징;
상기 복수개의 렌즈들 각각이 설치되는 복수개의 경통들; 및
상기 회로기판에 결합되고 상기 복수개 경통들이 결합되는 렌즈 정렬 부재를 포함하며,
상기 복수개의 렌즈들 각각은 대응하는 상기 이미지 센서에 서로 다른 초점거리를 제공하고, 상기 경통에 결합되어서 대응하는 상기 이미지 센서와의 거리가 고정되는,
비전검사용 촬영 모듈.circuit board;
a plurality of image sensors mounted on the front surface of the circuit board;
a plurality of lenses disposed in a one-to-one correspondence in front of each of the plurality of image sensors;
a housing accommodating the circuit board therein;
a plurality of lens barrels in which each of the plurality of lenses is installed; and
A lens alignment member coupled to the circuit board and coupled to the plurality of lens barrels;
Each of the plurality of lenses provides a different focal length to the corresponding image sensor, and is coupled to the lens barrel so that the distance to the corresponding image sensor is fixed.
Filming module for vision inspection.
상기 렌즈 정렬 부재에는 상기 복수개의 경통들 각각이 통과하는 복수개의 관통구들이 형성되는,
비전검사용 촬영 모듈.The method of claim 1,
The lens alignment member is formed with a plurality of through-holes through which each of the plurality of lens barrels passes.
Filming module for vision inspection.
상기 복수개의 렌즈들은 모두 다른 형상이고, 상기 복수개의 렌즈들 각각이 대응하는 상기 이미지 센서와 이루는 거리는 모두 다르게 형성되는,
비전검사용 촬영 모듈.The method of claim 1,
All of the plurality of lenses have different shapes, and the distances formed by each of the plurality of lenses from the corresponding image sensor are all different.
Filming module for vision inspection.
상기 복수개의 렌즈들은 모두 동일한 형상이고, 상기 복수개의 렌즈들 각각이 대응하는 상기 이미지 센서와 이루는 거리는 모두 다르게 형성되는,
비전검사용 촬영 모듈.The method of claim 1,
All of the plurality of lenses have the same shape, and the distances formed by each of the plurality of lenses from the corresponding image sensor are all different.
Filming module for vision inspection.
상기 복수개의 렌즈들은 모두 다른 형상이고, 상기 복수개의 렌즈들 각각이 대응하는 상기 이미지 센서와 이루는 거리는 모두 동일하게 형성되는,
비전검사용 촬영 모듈.The method of claim 1,
All of the plurality of lenses have different shapes, and the distances between the plurality of lenses and the corresponding image sensor are all formed the same.
Filming module for vision inspection.
상기 복수개의 렌즈들 각각은 상기 초점거리들을 거리방향을 따라서 배치시키는,
비전검사용 촬영 모듈.The method of claim 1,
Each of the plurality of lenses arranges the focal lengths along the distance direction,
Filming module for vision inspection.
상기 복수개의 렌즈들 중 인접한 두 초점거리들을 각각 제공하는 두 렌즈들 각각의 피사체 심도는 상기 거리방향을 따라 일부 구간에서 겹치는,
비전검사용 촬영 모듈.The method of claim 6,
The depth of subject of each of the two lenses providing two adjacent focal lengths among the plurality of lenses, respectively, overlaps in some section along the distance direction.
Filming module for vision inspection.
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Citations (1)
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|---|---|---|---|---|
| KR102284121B1 (en) | 2018-12-24 | 2021-07-30 | 김성태 | Smart vision inspection module for display inspection |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1078257A4 (en) * | 1998-05-09 | 2007-07-18 | Iconisys Inc | Method and apparatus for computer controlled rare cell, including fetal cell, based diagnosis |
| JP2002015303A (en) * | 2000-06-30 | 2002-01-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Pattern defect detection method and apparatus |
| KR20050068085A (en) * | 2003-12-29 | 2005-07-05 | (주)아이디에스 | Analysis method and apparatus for poor lcd module by use of camera multiple focus process |
| KR100609604B1 (en) | 2004-03-12 | 2006-08-08 | 주식회사 미르기술 | Vision Inspection System and Vision Inspection Method with Focus Control |
| KR101485637B1 (en) * | 2012-12-03 | 2015-01-23 | (주)쎄미시스코 | Inspection method and apparatus for an article comprising multiple layers |
| US11153508B2 (en) * | 2017-12-17 | 2021-10-19 | Ramona Optics Inc. | Unscanned optical inspection system using a micro camera array |
| KR102172637B1 (en) * | 2018-06-01 | 2020-11-03 | 삼성전기주식회사 | Dual camera module |
| CN113677981B (en) * | 2021-07-06 | 2024-04-30 | 香港应用科技研究院有限公司 | Flexible display inspection system |
-
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Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102284121B1 (en) | 2018-12-24 | 2021-07-30 | 김성태 | Smart vision inspection module for display inspection |
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