KR20220139353A

KR20220139353A - 시드 분배 시스템을 위한 광전 센서

Info

Publication number: KR20220139353A
Application number: KR1020227030773A
Authority: KR
Inventors: 배리 씨 미어스; 카일 티 캘크
Original assignee: 티에스아이 인코포레이티드
Priority date: 2020-02-11
Filing date: 2021-02-11
Publication date: 2022-10-14
Also published as: EP4102950A4; US20240251699A1; US20210243942A1; WO2021163335A1; BR112022015886A2; US12022765B2; EP4102950A1

Abstract

시드 분배 시스템에는, 시드 분배기를 통해 시드들을 이송하는 컨베이어 플라이트를 갖는 방출 컨베이어를 포함하는 시드 분배기로부터 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 광전 센서가 제공된다. 그 센서는 센서의 광학 경로에서 광의 플로우에 대한 장애물들을 나타내는 신호를 출력하고, 컴퓨팅 유닛은 하나 이상의 시드들의 통과에 기인하는 출력 신호의 부분들을, 컨베이어 플라이트의 통과에 기인하는 출력 신호의 부분들로부터 구별하도록 적응된다.

Description

시드 분배 시스템을 위한 광전 센서

본 발명은 시드 식재 (seed planting) 를 위한 시스템들 및 방법들에 관한 것으로서, 상세하게는, 작물 식재 동안 분배되는 시드들을 모니터링 및 카운팅함에 있어서의 사용을 위한 광전 센서에 관한 것이다.

종래의 시딩 (seeding) 시스템은, 시드들을 작물 밭에 분산시키기 위한 시스템의 폭을 따라 정렬된 적어도 하나의 방출 튜브 (102) 에 시드들을 이송하는 적어도 하나의 호퍼 (101) 를 포함하는 시드 분배기 (100) 를 포함한다. 도 1 에 도시된 바와 같은 시드 분배기 (100) 의 일 예는 시드들 (10) 이 중력 하에서 유입구 (106) 로부터 유출구 (108) 로 자유롭게 낙하하거나 활주하는 수직 배향 통로 (104) 를 갖는 방출 튜브 (102) 를 포함한다. 동작 시, 시딩 시스템은, 시딩 시스템이 밭을 따라 이동함에 따라, 개별 작물 고랑들에 시드들을 독립적으로 공급하기 위해 다중의 방출 튜브들 (102) 을 사용할 것이다.

이상적으로, 작물 밀도를 최적화하기 위한 시드들의 균일한 간격을 달성하기 위해, 시드 분배기들은 각각의 연속적인 시드 사이에 미리 결정된 간격으로 개별 시드들을 한번에 하나씩 방출한다. 하지만, 종래의 시스템들은, 연속적인 시드들이 그들 사이의 너무 작거나 너무 큰 간격으로 분산되는 경우들이 종종 있기 때문에 이상적인 결과들을 거의 달성하지 못한다. 따라서, 더 균일한 시드 분산을 촉진하기 위하여, 시딩 시스템에는, 종종, 방출된 시드들의 수를 카운트하기 위해 시드 분배를 모니터링하고 및/또는 개별적으로 방출된 시드들 사이의 간격을 추적하기 위한 수단이 제공된다.

광전 센서들이, 광 신호들에 기초하여 방출 튜브들을 통한 시드 분배를 모니터링하기 위해 종래에 사용되었다. 그러한 센서들의 예들은 Steffen (US 4,166,948) 및 Steffen (US 4,555,624) 에 의해 개시되었다. 이들 센서들은 통상적으로, 방출 튜브의 일측에 위치된 발광 다이오드 (LED) 와 같은 광 소스, 및 방출 튜브의 반대측에 위치된 포토-응답 다이오드 또는 광기전 셀과 같은 광 응답 엘리먼트를 포함한다. 동작 시, 광 소스는 광을 출력하고, 광 응답 엘리먼트는 그에 입사하는 광의 레벨에 응답하여 신호를 생성한다. 통상적으로, 광 소스는 일정한 광을 출력하고, 광 응답 엘리먼트는 정상 상태 신호를 생성한다. 시드가 방출 튜브를 통해, 그리고 광 소스와 광 응답 엘리먼트 사이에서 연장되는 광학 경로를 통해, 통과할 때, 시드는 광학 경로를 따라 광을 방해하여, 광 응답 엘리먼트에 그림자를 드리움으로써, 광 응답 엘리먼트에 입사하는 광의 레벨을 감소시키며, 이는, 차례로, 광 응답 엘리먼트에 의해 생성된 신호에 대한 변화를 초래한다. 그 다음, 시드 방출 카운트 및 간격이, 광 응답 엘리먼트에 의해 생성된 출력 신호의 변화들로부터 결정된다.

시딩 시스템들에 대한 최근의 혁신들은 종래의 중력 낙하 방출 튜브들을 방출 컨베이어들로 대체한다. 방출 컨베이어의 일 예가 Radtke 등 (US 2019/0219606) 에 의해 개시된다. 광전 센서들은, 종래의 중력 낙하 방출 튜브를 채용하는 시드 분배기들에서 효과적인 것으로 입증되었지만, 방출 컨베이어를 포함하는 시드 분배기들에서 사용하기에는 현재까지 부적합하였다.

이에 따라, 방출 컨베이어를 채용하는 시드 분배기에서 시드들을 신뢰성있게 모니터링 및 카운팅할 수 있는 광전 모니터링 디바이스에 대한 당업계에서의 필요성이 남아있다.

본 발명은 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스를 포함하며, 그 디바이스는 발광 엘리먼트와 광 응답 엘리먼트 사이의 광학 경로를 통한 광 플로우의 변화들을 검출하고 그리고 광 플로우의 검출된 변화들을 전달하는 신호를 출력하기 위한, 발광 엘리먼트 및 광 응답 엘리먼트를 갖는 광전 센서를 포함한다. 광전 센서의 출력 신호에 기초하여 신호 파형들을 수신 및 프로세싱하여 신호 파형의 하나 이상의 파라미터들을 측정하고 그리고 신호 파형의 하나 이상의 측정된 파라미터들에 기초하여 시드 카운팅에 유용한 신호 파형의 부분들을 구별하기 위한 컴퓨팅 디바이스가 제공된다.

신호 컨디셔닝 회로부는, 컨베이어 플라이트 (flight) 의 통과로부터 생성된 펄스들이 피크 주기, 폭 및 면적과 같은 시드 펄스들의 특성들의 일관된 결정에 필요한 신호 레퍼런스로서 서빙하는 균일한 진폭 및 안정한 베이스라인으로 유지되는 펄스 신호 파형을 생성하기 위해 광전 센서의 출력 신호를 컨디셔닝하기 위해 제공된다. 디지털 비례-적분 제어 루프는 미리결정된 강도 범위 내에서 컨베이어 플라이트의 통과로부터 생성된 펄스들을 유지하기 위해 광전 센서의 발광 엘리먼트의 강도를 제어하는데 사용되고, 추가적인 아날로그 이득 조정 제어 루프는 비례-적분 루프가 미리결정된 범위 내에서 컨베이어 플라이트 펄스들을 유지할 수 없는 경우에 프로세싱된 펄스 진폭을 부스팅하는데 사용된다.

컴퓨팅 디바이스는 펄스 신호 파형들의 형태로 신호 파형들을 수신하도록 적응되고, 하나 이상의 파라미터들로서, 펄스 피크; 펄스 주기; 펄스 폭; 및 펄스 면적 중 적어도 하나를 측정하도록 추가로 적응된다. 컴퓨팅 디바이스는 하나 이상의 측정된 파라미터들을 사용하여, 광전 센서의 광학 경로를 통한 하나 이상의 시드들의 통과에 기초한 광 플로우에서의 교란들에 기인하는 신호 파형의 부분들을, 비-시드 엘리먼트들의 통과, 그리고 특히, 시드 컨베이어 플라이트들의 통과에 기초한 광 플로우에서의 교란들에 기인하는 신호 파형의 부분들로부터 구별한다. 컴퓨팅 유닛은 추가로, 단일 시드의 통과로부터 생성된 펄스들과 다중의 시드들의 동시 통과로부터 생성된 펄스들 사이를 구별하도록 적응된다. 컴퓨팅 디바이스는 펄스 신호 파형에서 펄스들을 구별하기 위해 하나 이상의 측정된 파라미터들에 대한 하나 이상의 미리결정된 임계 값들을 사용하고, 컨베이어 플라이트 및 하나 이상의 시드들의 동시 통과에 대응하도록 결정되는 펄스들에서의 바이어스 에러들을 고려하도록 측정된 파라미터 값들을 조정하도록 적응된다.

본 발명은, 시드 분배기의 통로를 통해 시드들을 캡처 및 이송하기 위해 복수의 플라이트들을 갖는 무한 벨트를 갖는 컨베이어를 포함하는 시드 분배기들을 포함하여, 시드 분배기 및 시드 분배 모니터링 디바이스를 포함하는 시딩 시스템들을 더 포함한다.

전술한 일반적인 설명 및 다음의 상세한 설명 양자 모두는 오직 예시적이고 설명적일 뿐이며, 청구된 바와 같은 본 발명의 추가의 설명을 제공하도록 의도된다. 첨부 도면들은 본 발명의 추가의 이해를 제공하기 위해 포함되고; 본 명세서의 부분에 통합되고 그 부분을 구성하고; 본 발명의 실시형태들을 예시하며; 설명과 함께, 본 발명의 원리들을 설명하도록 서빙한다.

본 발명의 추가의 특징들 및 이점들은, 하기에서 설명되는 도면들과 관련하여 제공되는 다음의 상세한 설명으로부터 확인될 수 있다.
도 1 은 종래의 시드 분배기를 도시한다.
도 2 는 본 발명에 따른 시드 분배기를 도시한다.
도 3 은 도 2 에서의 시드 분배기의 시드 센서를 도시한다.
도 4a 내지 도 4b 는 도 3 에서의 센서에 의해 출력된 신호 파형들을 도시한다.
도 5 는 도 3 에서의 센서에 대한 신호 컨디셔닝 회로부를 도시한다.
도 6 은 도 3 에서의 센서에 대한 컴퓨팅 디바이스를 도시한다.
도 7 은 도 4a 에서의 파형에 대한 펄스 폭 대 펄스 주기의 산점도를 도시한다.
도 8 은 도 4a 에서의 파형에 대한 펄스 면적 대 펄스 주기의 산점도를 도시한다.

다음의 개시는 첨부 도면들에 도시된 예들을 참조하여 본 발명을 논의하지만, 본 발명을 그 예들로 제한하는 것은 아니다.

본 명세서에서 제공되는 임의의 및 모든 예들, 또는 예시적인 언어 (예컨대, "와 같은") 의 사용은 단지 본 발명을 더 잘 설명하도록 의도될 뿐이며, 달리 청구되지 않는 한, 본 발명의 범위에 제한을 두지 않는다. 본 명세서에서의 어떠한 언어도, 문맥에서 명백하게 하지 않는 한, 임의의 청구되지 않은 엘리먼트를 본 발명의 실시에 필수적이거나 그렇지 않으면 중요한 것으로서 나타내는 것으로 해석되지 않아야 한다.

본 명세서에서 사용된 바와 같이, 단수 형태들 ("a", "an" 및 "the") 은, 문맥에서 분명하게 달리 지시되지 않는 한, 복수의 지시대상들을 포함한다. 문맥에 의해 달리 표시되지 않는 한, 용어 "또는" 은 포괄적 "또는" 으로서 이해되어야 한다. 다중의 디바이스들 또는 엘리먼트들을 설명하는데 사용될 경우 "제 1", "제 2", "제 3" 등과 같은 용어들은 별개의 디바이스들의 상대적인 액션들, 포지셔닝 및/또는 기능들을 전달하기 위해서만 사용되며, 그러한 디바이스들 또는 엘리먼트들에 대한 특정 순서, 또는 그러한 디바이스들 또는 엘리먼트들의 임의의 특정 수량 또는 순위를 필요로 하지 않는다.

임의의 특성 또는 상황에 대해 본 명세서에서 사용된 바와 같은 단어 "실질적으로" 는 식별된 특성 또는 상황을 현저하게 손상시키지 않도록 충분히 작은 편차의 정도를 지칭한다. 주어진 상황에서 허용가능한 편차의 정확한 정도는 당업자에 의해 이해될 바와 같이, 특정 문맥에 의존할 것이다.

용어 "약" 또는 "대략" 의 사용은, 개별 문맥에서 당업자에 의해 이해될 바와 같이, 서술된 값 또는 범위의 위 및/또는 아래의 값들을 기술하도록 의도된다. 일부 사례들에서, 이는 대략 +/-10% 범위의 값들을 포괄할 수도 있고; 다른 사례들에서, 대략 +/-5% 범위의 포괄된 값들이 있을 수도 있고; 또 다른 사례들에서, 대략 +/-2% 범위의 값들이 포괄될 수도 있으며; 또 추가의 사례들에서, 이는 대략 +/-1% 범위의 값들을 포괄할 수도 있다.

용어들 "포함한다" 및/또는 "포함하는" 은, 본 명세서에서 사용될 경우, 서술된 특징들, 정수들, 단계들, 동작들, 엘리먼트들, 및/또는 컴포넌트들의 존재를 명시하지만, 본 명세서에서 표시되거나 그렇지 않으면 문맥에 의해 명확히 모순되지 않는 한, 하나 이상의 다른 특징들, 정수들, 단계들, 동작들, 엘리먼트들, 컴포넌트들, 및/또는 이들의 그룹들의 존재 또는 부가를 배제하지 않음이 이해될 것이다.

본 명세서에서의 값 범위의 인용들은, 달리 표시되지 않는 한, 범위의 엔드포인트들, 범위 내의 각각의 별도의 값, 및 전체 범위에 의해 포괄되는 모든 중간 범위들을 포함하여, 서술된 범위 내에 속하는 각각의 별도의 값을 개별적으로 지칭하기 위한 약칭으로서 서빙하며, 각각은 본 명세서에 개별적으로 인용된 것처럼 본 명세서에 통합된다.

달리 표시되거나 또는 문맥에 의해 명확히 모순되지 않는 한, 본 명세서에서 설명된 방법들은, 개시된 정확한 순서를 포함하여 임의의 적합한 순서로 실행되는 개별 단계들로, 임의의 중간 단계들 없이, 또는 개시된 단계들 사이에 개재된 하나 이상의 추가 단계들로 수행될 수 있으며; 개시된 단계들은 개시된 정확한 순서 이외의 순서로 수행되고; 하나 이상의 단계들은 동시에 수행되며; 하나 이상의 개시된 단계들은 생략된다.

도 1 에 도시된 바와 같이, 방출 튜브 (102) 를 갖는 종래의 시드 분배기 (100) 는 수직으로 배향된 통로 (104) 를 제공하며, 이 통로를 따라, 시드들 (10) 이 중력 하에서 유입구 (106) 로부터 유출구 (108) 로 자유롭게 낙하하거나 활주하며, 시드들 (10) 은 그 통로를 통과하는 유일한 오브젝트이다. 따라서, 종래의 방출 튜브 (102) 에서, 센서의 광학 경로 내의 광의 플로우에서 검출된 임의의 장애물은 시드 (10) 의 통과에 신뢰성있게 기인할 수도 있다.

하지만, 도 2 에 도시된 것과 같은 방출 컨베이어 (202) 를 갖는 진보된 시드 분배기 (200) 에서, 통로 (204) 를 통해 연장되는 무한 벨트 (210) 가 제공되며, 벨트 (210) 는 그를 따라 다수의 플라이트들 (212) 을 갖는다. 동작 시, 호퍼 (201) 는 시드들 (10) 을 유입구 (206) 로 공급하고, 여기서, 시드들 (10) 은 그 다음, 연속적인 플라이트들 (212) 사이의 공간들 (214) 에 캡처되고, 그 다음, 시드들 (10) 은 유출구 (208) 를 향해 플라이트들 (212) 에 의해 운반되며, 그 포인트에서, 시드들 (10) 은 유출구 (208) 를 통해 낙하하도록 방출된다. 이상적인 동작에 있어서, 단일 시드 (10) 가 플라이트 (212) 의 연속적인 쌍들 사이의 공간 (214) 에 캡처될 것이며, 연속적인 시드들은, 사이에 시드가 없는 일관된 수의 비어있는 플라이트들에 의해 분리되고, 그에 의해, 균일한 간격으로 시드들을 공급하며 벨트 (210) 의 속도 및 플라이트들 (212) 의 간격에 기초하여 분배되는 시드들의 신뢰성있는 카운트를 가능하게 한다. 하지만, 실제로, 그 시스템은, 예를 들어, 시드 (10) 가 적절한 공간 (214) 에 캡처되지 않을 때, 또는 2개 이상의 시드들 (10) 이 단일 공간 (214) 에 캡처될 때, 때때로 이상적인 동작으로부터 일탈할 것이다. 따라서, 시드들의 분배를 모니터링 및 카운트하기 위해, 시드 분배기 (200) 에는 광전 센서 (300) 가 제공된다.

일 예에 있어서, 도 3 에 도시된 바와 같이, 센서 (300) 는 통로 (204) 의 일측에 위치된 발광 다이오드 (LED) 와 같은 광 소스 (302) 및 통로 (204) 의 반대측에 위치된 광 응답 다이오드 또는 광기전 셀과 같은 광 응답 엘리먼트 (304) 를 포함한다. 광 소스 (302) 는 광을 출력하고, 광 응답 엘리먼트 (304) 는 그에 입사하는 광의 레벨에 응답하여 신호를 생성한다. 광 소스 (302) 가 일정한 광을 출력할 때, 그리고 광의 경로에 어떠한 장애물도 없을 때, 광 응답 엘리먼트 (304) 는 기본 강도를 갖는 정상 상태 신호를 생성한다. 장애물이 광 소스 (302) 와 광 응답 엘리먼트 (304) 사이의 광학 경로를 통과함으로써 광 응답 엘리먼트 (304) 상으로의 광의 입사를 방해할 경우, 광 응답 엘리먼트 (304) 는 방해된 광의 플로우에 대응하는 강도를 갖는 수정된 신호를 생성한다.

시드 컨베이어 (202) 를 갖는 시드 분배기 (200) 에서의 센서 (300) 의 동작에서, 시드들 (10) 에 추가하여, 벨트 플라이트들 (212) 이 또한 광학 경로에서 광의 플로우를 방해함으로써 광 응답 엘리먼트 (304) 로부터 출력된 신호의 변화들이 시드 (10), 플라이트 (212), 또는 이들의 조합을 나타내는지 여부에 관한 불확실성을 제시할 것이라는 점에 있어서 문제가 발생한다. 본 발명에 따른 시스템들은 도 4a/도 4b 에 도시된 것들과 같은 출력 신호들의 생성을 통해 이를 해결하며, 이들 모두는, 시스템이 8.5 MPH (도 4a) 및 5 MPH (도 4b) 의 속도들 (지상 속도들) 로 이동하고 있던 동안 콩이 에이커 당 135k 의 시딩 모집단으로 분배된 시딩 동작 동안 센서 (300) 로부터 출력되는 신호 파형들의 예들이다. 이들 예들에 있어서, 시간은 4000 틱 (예컨대, 200 ms) 에 대해 마이크로제어기 20kHz 클록 틱에서 측정된 바와 같이 수평 축을 따라 도시되고; 광 응답 엘리먼트 (304) 에 의해 출력된 신호 펄스들은 아날로그-디지털 변환 (ADC) 카운트들로 표현된 바와 같이 수직 축을 따라 도시된다.

도 4a/도 4b 에 도시된 신호 파형들 양자 모두에서, 매우 균일한 주파수 및 ADC 카운트로 관찰된 펄스들 (402) 은 센서 광학기기들 (302/304) 사이의 광학 경로를 통한 벨트 플라이트들 (212) 의 통과에 기인하는 반면, 주파수 및 ADC 카운트 양자 모두에서 더 큰 변동으로 관찰된 펄스들 (404) 은 시드들 (10) 의 통과에 기인한다. 이들 예들에 있어서, 플라이트 펄스들 (402) 은 평균적으로 약 3072 내지 약 3328 (~3072 ≤ x ≤ ~3328 ADC) 의 범위에서 피크 ADC 카운트를 갖는 것으로 관찰되는 반면, 시드 펄스들 (404) 은 평균적으로 약 1536 내지 약 3072 (~1536 ≤ x ≤ ~3072 ADC) 의 범위에서 피크 ADC 카운트를 갖는 것으로 관찰된다. 하지만, ADC 값들은, 예를 들어, 벨트 및 플라이트들의 구성, 시드 타입, 및 출력 신호에 대해 수행된 컨디셔닝에 기초하여 변할 수도 있음이 이해될 것이다.

도 4a/도 4b 에 도시된 예들에 있어서, 플라이트 펄스들 (402) 은 비교적 균일한 주파수에서 발생하는 것으로 관찰되며, 시드 펄스들 (404) 은 연속적인 플라이트 펄스들 (402) 사이에서 발생한다. 일부 시드 펄스들 (404) 은 단일 피크를 가질 수도 있는 한편, 다른 시드 펄스들은 다중의 피크들을 갖는다는 것을 알 수 있다. 시드 펄스 (404) 에서의 단일 피크의 존재 (예컨대, 영역 (406)) 는 단일 시드 (10) 가 2개의 연속적인 벨트 플라이트들 (212) 사이의 공간 (214) 에서 캡처되었음을 나타내는 반면, 시드 펄스 (404) 에서의 다중의 피크들의 존재 (예컨대, 영역 (408)) 는 다중의 시드들 (10) 이 공간 (214) 에서 캡처되었음을 나타낸다.

도 4a 내지 도 4b 를 비교할 시, 2개의 신호 파형들은 펄스 주파수에서 상이함을 알 수 있으며, 도 4a 에서의 신호 (이하, MPH85 신호) 는 1000 틱 당 대략 6-7 펄스들 (예컨대, 50 μs 당 ~6-7 펄스들) 의 플라이트 펄스 (402) 주파수에 의해 특징지어지고, 도 4b 에서의 신호 파형 (이하, MPH50 신호) 은 1000 틱 당 대략 4 펄스들 (예컨대, 50 ms 당 ~4 펄스들) 의 플라이트 펄스 (402) 주파수에 의해 특징지어진다. MPH85 및 MPH50 신호들 사이의 펄스 주파수에서의 차이는 2개의 예들에서 상이한 지상 속도들 (MPH85 신호에 대해 8.5 MPH, 및 MPH50 신호에 대해 5 MPH) 로 이동하는 시딩 시스템에 기인하는 한편, 양자 모두의 예들에서 에이커 당 135k 의 공통 시딩 모집단 하에서 계속 동작한다. 공통 시딩 모집단을 달성하기 위해, 이동 속도의 변화들에 무관하게, 그 시스템은 시딩 시스템의 이동 속도 (지상 속도) 에 비례하는 속도 (벨트 회전 속도) 로 방출 컨베이어 (202) 에서의 무한 벨트 (210) 의 구동을 조정하도록 적응된다. 결과적으로, MPH85 신호와 비교하여, MPH50 신호는 시스템의 더 느린 이동 속도에 비례하여, 무한 벨트 (210) 가 상대적으로 더 느린 속도로 구동되는 시딩 시스템의 동작 상태를 반영하고, 그에 의해, 벨트 플라이트들 (212) 이 더 낮은 주파수에서 센서 (300) 의 광학 경로를 통과하게 한다.

예상되는 바와 같이, 무한 벨트 (210) 가 시딩 시스템의 더 느린 이동 속도에 기초하여 더 느린 속도로 구동될 경우, 벨트 플라이트들 (212) 및 시드들 (10) 은 더 긴 시간 주기 동안 센서 (300) 의 광학 경로를 방해함으로써, 더 넓은 펄스들을 갖는 출력 신호를 초래할 것이다. 시스템 이동 속도에 대한 변화들에 무관하게, 분배된 시드들의 카운트가 더 신뢰성있게 획득될 수 있도록, 출력 신호가 균일한 조건으로 정규화되는 것이 바람직하다. 따라서, 도 4a 내지 도 4b 의 예들에 있어서, 신호 파형들은 플라이트 주기 (즉, 2개의 연속적인 플라이트들 사이의 시간) 의 역에 의해 시간 축을 스케일링함으로써 정규화된다. 선택된 정규화는, 펄스 폭, 주기, 및 면적을 포함하는, 센서 (300) 에 의해 사용된 모든 시간 측정치들에 적용된다. 펄스 진폭들이 또한, 펄스 진폭들을 플라이트 펄스들 (402) 의 평균 진폭으로 제산함으로써 정규화될 수도 있으며, 그러한 정규화는 펄스 피크 및 면적 측정치들에 적용된다. 정규화된 파라미터들은 스케일링된 피크, 스케일링된 주기, 스케일링된 폭, 및 스케일링된 면적으로서 표기된다.

도 5 는 본 발명에 따른 시스템들에 사용될 수도 있는 신호 컨디셔닝 회로부 (500) 의 일 예를 제공하며, 이는 센서 (300) 의 LED (302) 를 구동하기 위한 구동기 회로부 (502); LED (302) 로부터 입사하는 광에 기초하여 출력 신호를 생성하기 위한 광 응답 엘리먼트 (304); 광 응답 엘리먼트 (304) 의 출력 신호를 수신 및 증폭하기 위한 가변 이득 증폭기 (VGA) (504); 및 증폭된 아날로그 출력 신호를 디지털 신호로 변환하기 위한 아날로그-디지털 변환기 (ADC) (506) 를 포함한다.

피크 검출기 (508) 는 광 응답 엘리먼트 (304) 의 출력과 통신하여, 도 4a 내지 도 4b 에서 알 수 있는 바와 같이, 바람직하게는 평균적으로 약 256 내지 약 512 (~256 ≤ x ≤ ~512 ADC) 의 범위에서 일정한 레벨로 출력 신호의 베이스라인을 억제하는데 사용되는 전기 레퍼런스 신호를 제어하기 위한 제어 루프를 구동기 회로부 (502) 에 제공한다. 중앙 프로세싱 유닛 (CPU) (510) 에는, 도 4a 내지 도 4b 에서 알 수 있는 바와 같이, 플라이트 펄스들 (402) 의 피크들이 이 사례에서는 약 3328 ADS 카운트들인, 바람직하게는 평균적으로 약 3072 내지 약 3328 (~3072 ≤ x ≤ ~3328 ADC) 의 범위인 "타겟" ADC 카운트에서 유지되도록, LED (302) 의 강도를 제어하기 위한 PI 제어 루프를 구동기 회로부 (502) 에 제공하기 위해 ADC (506) 의 출력과 통신하는 비례-적분 (PI) 루프 (512) 가 추가로 제공된다. 동시에, PI 제어 루프 (512) 및 피크 검출기 (508) 는 펄스 진폭 및 면적의 일관된 측정들을 가능케 하도록 센서 (300) 의 출력 신호를 표준화하는 이중 진폭 제어 루프를 제공한다.

ADC (506) 의 출력과 통신하고 CPU (510) 에 제공된 디지털 이득 (514) 은, PI 제어 루프 (512) 가 "타겟" ADC 카운트를 유지할 수 없을 때 센서 (300) 의 출력 신호를 증폭하도록 VGA (504) 를 제어한다. 동시에, VGA (504) 및 디지털 이득 (514) 은, (예컨대, 먼지로 인한) 광학 경로에 99% 광 차단이 존재하는 상황들에서도 센서 (300) 가 기능적으로 동작가능한 채로 유지되는 것을 보장하기에 충분한 확장된 동적 범위를 갖도록 출력 신호를 조정하는 이득 제어를 제공한다. 도 4a 내지 도 4b 에 도시된 예들에서 알 수 있는 바와 같이, 이득 제어는, 플라이트 펄스들 (404) 의 피크들이 평균적으로 약 3072 내지 약 3328 (~3072 ≤ x ≤ ~3328 ADC) 의 균일한 레벨을 유지하도록 출력 신호들을 조정한다.

도 5 에 도시된 예에 있어서, PI 루프 제어 (512) 및 디지털 이득 (514) 은 모두 소프트웨어 루프들로서 제공되는 한편, 피크 검출기 (508) 는 하드웨어 루프로서 제공된다. 하지만, 이들 컴포넌트들은 하드웨어 또는 소프트웨어 루프들 중 어느 하나로서 제공될 수도 있음이 이해될 것이다.

분배된 시드들 (10) 의 수를 정확하게 카운트하기 위해, 시스템은 센서 (300) 로부터의 컨디셔닝된 출력 신호들을 프로세싱하여 시드 펄스들 (404) 을 플라이트 펄스들 (402) 과 구별하고, 플라이트 펄스들 (402) 을 무시하면서 각각의 펄스 (404) 에서의 시드들의 수를 결정한다. 시스템은, 예를 들어, 스케일링된 펄스 피크 값; 스케일링된 플라이트 주기; 스케일링된 펄스 폭; 및 조정된 펄스 면적과 같은 정규화된 파라미터들에 기초하여 시드 펄스들 (404) 을 플라이트 펄스들 (402) 과 구별할 수도 있다.

도 6 은 출력 (516) (도 5) 을 통해 ADC (506) 로부터 출력되는 컨디셔닝된 신호의 정규화된 파라미터들을 평가하는데 사용될 수도 있는 컴퓨팅 디바이스 (600) 의 예시적인 블록 다이어그램을 제공한다. 컴퓨팅 디바이스 (600) 는 통상적으로, 임베디드 프로세서, 시스템 온 칩, 개인용 컴퓨터, 워크스테이션, 서버 시스템, 및 미니컴퓨터 또는 메인프레임 컴퓨터와 같은 프로그래밍된 범용 컴퓨터 시스템이고, 하나 이상의 프로세서들 (CPU들) (602A-602N), 입력/출력 회로부 (604), 옵션적인 네트워크 어댑터 (606), 및 메모리 (608) 를 포함할 수도 있다. CPU들 (602A-602N) 은 본 발명의 기능들을 수행하기 위해 프로그램 명령들을 실행한다. 통상적으로, CPU들 (602A-602N) 은 하나 이상의 마이크로프로세서들, 마이크로제어기들, 시스템-온-칩 내의 프로세서 등이다. 도 6 은, 컴퓨팅 디바이스 (600) 가 단일의 멀티-프로세서 컴퓨터 시스템으로서 구현되는 일 실시형태를 예시하며, 여기서, 다중의 프로세서들 (602A-602N) 은 메모리 (608), 입력/출력 회로부 (604), 및 네트워크 어댑터 (606) 와 같은 시스템 리소스들을 공유한다.

입력/출력 회로부 (604) 는 컴퓨팅 디바이스 (600) 에 데이터를 입력하거나 또는 컴퓨팅 디바이스 (600) 로부터 데이터를 출력하는 능력을 제공한다. 예를 들어, 입력/출력 회로부 (604) 는 신호 컨디셔닝 회로부 (500) 로부터 컨디셔닝된 신호를 수신하기 위한 입력을 포함하고, 사용자로 하여금 시스템에서의 미리저장된 데이터 및/또는 설정들에 대한 변경들을 수행할 수 있게 하기 위해 (예컨대, 시딩 캠페인에서의 사용을 위한 특정 시드 타입에 기초하여 임계 값들을 조정하기 위해 디폴트 설정들을 변경하는 것), 마이크로폰들, 키보드들, 마우스들, 터치패드들, 트랙볼들 등과 같은 하나 이상의 사용자 입력 디바이스들을 더 포함할 수도 있다. 입력/출력 회로부 (604) 는 카운트 디스플레이와 통신하기 위한 CAN 버스와 같은 출력뿐만 아니라, 컨디셔닝된 신호 파형에서 검출된 시드들의 수에 기초하여 토글링하는 전기 출력을 더 포함하고, 스피커들, 비디오 어댑터들, 모니터들, 프린터들 등과 같은 사용자 통신 출력들을 더 포함할 수도 있다. 옵션적인 네트워크 어댑터 (606) 는, 인터넷을 포함하지만 이에 한정되지 않는 임의의 공용 또는 독점 LAN 또는 WAN 일 수도 있는 네트워크 (610) 와 컴퓨팅 디바이스 (600) 를 인터페이싱시킬 수도 있다. 제공될 경우, 네트워크 어댑터 (606) 는, 시드 분배기 (200) 를 채용한 시딩 시스템으로부터 시딩 동작들을 감독할 수도 있는 중앙 설비로의 시드 카운트의 실시간 통신을 가능케 하도록 시드 분배기 (200) 를 사물 인터넷에 링크하기 위한 수단을 제공할 수도 있다.

메모리 (608) 는 컴퓨팅 디바이스 (600) 의 기능들을 수행하기 위해 CPU (602) 에 의해 실행되는 프로그램 명령들, 및 CPU (602) 에 의해 사용되고 프로세싱되는 데이터를 저장한다. 메모리 (608) 는, 예를 들어, 랜덤 액세스 메모리 (RAM), 판독 전용 메모리 (ROM), 프로그래밍가능 판독 전용 메모리 (PROM), 전기적으로 소거가능한 프로그래밍가능 판독 전용 메모리 (EEPROM), 플래시 메모리 등과 같은 전자 메모리 디바이스들, 및 자기 디스크 드라이브들, 테이프 드라이브들, 광학 디스크 드라이브들 등과 같은 전자-기계 메모리를 포함할 수도 있으며, 이들은 집적 드라이브 전자기기 (IDE) 인터페이스 또는 그 변형물 또는 향상물, 예컨대, 향상된 IDE (EIDE) 또는 UDMA (ultra-direct memory access), 또는 소형 컴퓨터 시스템 인터페이스 (SCSI) 기반 인터페이스 또는 그 변형물 또는 향상물, 예컨대, 고속-SCSI, 와이드-SCSI, 고속 및 와이드-SCSI 등, 또는 SATA (Serial Advanced Technology Attachment) 또는 그 변형물 또는 향상물, 또는 FC-AL (fiber channel-arbitrated loop) 인터페이스를 사용할 수도 있다.

도 6 에 도시된 예에 있어서, 메모리 (608) 는 센서 데이터 캡처 루틴들 (612), 신호 프로세싱 루틴들 (614), 데이터 집성 루틴들 (616), 데이터 프로세싱 루틴들 (618), 신호 데이터 (622), 물리 데이터 (624), 총계 데이터 (626), 및 시드 데이터 (628) 를 포함할 수도 있다. 예를 들어, 센서 데이터 캡처 루틴들 (612) 은 신호 데이터 (622) 를 형성하기 위해 회로부 (500) 로부터의 컨디셔닝된 신호 파형들을 수신 및 프로세싱하기 위한 루틴들을 포함할 수도 있다. 신호 프로세싱 루틴들 (614) 은 물리 데이터 (624) 를 형성하기 위해 신호 데이터 (620) 를 프로세싱하기 위한 루틴들을 포함할 수도 있다. 데이터 집성 루틴들 (616) 은 총계 데이터 (626) 를 생성하기 위해 물리 데이터 (624) 를 프로세싱하기 위한 루틴들을 포함할 수도 있다. 데이터 프로세싱 루틴들 (618) 은 물리 데이터 (624), 총계 데이터 (626), 및/또는 시드 데이터 (628) 를 프로세싱하기 위한 루틴들을 포함할 수도 있다.

도 5 및 도 6 에 예시된 예들은 신호 컨디셔닝을 위해 CPU (510) 를 사용하고 그 다음 신호 컴퓨팅을 위해 컨디셔닝된 신호를 컴퓨팅 디바이스 (600) 에 출력하는 신호 컨디셔닝 회로부 (500) 를 도시하지만, CPU (510) 및 컴퓨팅 디바이스 (600) 는 대신에 단일 컴퓨팅 유닛에 통합될 수도 있음이 이해될 것이다.

컨디셔닝된 신호 파형들의 신호 컴퓨팅에 후속한 이후, 그 다음, 시스템은 정규화된 파라미터들에 기초하여 플라이트 펄스들 (402) 로부터 시드 펄스들 (404) 을 구별할 수도 있다. 일 예에 있어서, 스케일링된 펄스 폭에 기초하여 펄스 타입을 식별할 경우, 다중의 펄스 폭들이 각각의 펄스에 대해 측정될 수도 있다 - 펄스 베이스에서의 또는 그 근처에서의 제 1 베이스 폭 (W _b ); 및 펄스 피크의 대략 85% 에서의 제 2 피크 폭 (W _p 또는 W ₈₅ ) 을 포함함 -. W ₈₅ 는, 펄스들이 시드들 및 플라이트에 의해 함께 생성되는 상황들을 식별하는 것을 돕기 위해 사용될 수 있다.

도 7 은, 이 사례에서, 스케일링된 폭 및 스케일링된 주기에 기초하여 MPH85 출력 신호 (도 4a) 에서 시드 펄스들 (404) 및 플라이트 펄스들 (402) 을 구별하기 위한 산점도 (700) 의 일 예를 도시한다. 산점도 (700) 에서, 펄스들은, 임계 주기 (P) 뿐만 아니라 개별 제 1 및 제 2 미리결정된 임계 폭들 (W₁/W₂) 에 대한 측정된 펄스 폭에 기초하여 플롯된다. 제 1 임계 폭 (W₁) 은 센서 (300) 의 광학 경로를 통과하는 벨트 플라이트들 (212) 에 의해 생성된 펄스들의 최대 폭 기대치에 대응하도록 미리결정된 값으로 설정되고; 제 2 임계 폭 (W₂) 은 광학 경로를 통과하는 단일 시드 (10) 에 의해 생성된 펄스들의 최대 폭 기대치에 대응하도록 미리결정된 값으로 설정된다. 임계 주기 (P) 는, 플라이트들 (212) 이 광학 경로를 통과할 것으로 예상되는 최소 주기에 대응하도록 미리결정된 값으로 설정된다. 산점도 (700) 예에 있어서, 제 1 임계 폭 (W₁) 은 대략 0.23 으로 설정되고, 제 2 임계 폭 (W₂) 은 대략 1.13 으로 설정되며; 임계 주기 (P) 는 대략 0.96 으로 설정된다.

임계 폭들 (W₁/W₂) 에 기초하여, 제 1 임계 폭 (W₁) 보다 작은 폭을 갖는 펄스들이 플라이트 펄스들 (402) 을 나타내는지; 제 1 및 제 2 임계 폭들 (W₁ 과 W₂) 사이의 폭을 갖는 펄스들이 단일의 시드 펄스들 (404) 를 나타내는지; 및 제 2 임계 폭 (W₂) 보다 큰 폭을 갖는 펄스들이 광학 경로를 동시에 방해하는 다중의 시드들 (2개, 3개, 또는 그 이상) 로부터 생성된 펄스들 (즉, 다중 시드 펄스들) 을 나타내는지의 초기 결정들이 행해질 수 있다. 임계 주기 (P) 보다 작은 주기를 갖는 펄스들이 광학 경로에서의 공간적으로 격리된 장애물들 (예컨대, 격리된 플라이트 (212), 격리된 시드 (10), 또는 다중의 시드들 (10) 의 격리된 집합) 에 기인하는지; 반면, 임계 주기 (P) 보다 큰 주기를 갖는 펄스들이 - 예컨대, 하나 이상의 시드들 (10) 이 벨트 플라이트 (212) 에 대해 놓여 있을 때 - 광학 경로를 동시에 방해하는 플라이트 (212) 와 하나 이상의 시드들 (10) 의 조합에 기인하는지의 초기 결정들이 또한 행해질 수도 있다.

분배된 시드들의 정확한 모니터링 및 카운팅을 용이하게 하도록, 측정된 펄스 폭들은 분배된 시드들의 실제 폭들을 가장 정확하게 반영하는 것이 바람직하다. 하지만, 임계 주기 (P) 보다 큰 주기를 갖는 펄스들에 대해, 측정된 펄스 폭은 하나 이상의 시드들 (10) 이 놓여 있는 벨트 플라이트 (212) 의 폭에 대응하는 바이어스 에러를 포함하는 것으로 추정된다. 따라서, 임계 주기 (P) 보다 큰 주기를 갖는 펄스들에 대해, 조정된 폭 측정치를 산출하도록 미리결정된 평균 플라이트 폭에 대응하는 양만큼 측정된 폭을 감소시키기 위해 바이어스 조정이 행해진다.

플라이트 펄스들 (402) 및 시드 펄스들 (404) 은 또한, MPH85 출력 신호 (도 4a) 에 다시 기초하는 도 8 의 예에 도시된 바와 같이, 조정된 펄스 면적 및 스케일링된 펄스 주기에 기초하여 산점도 (800) 를 통해 구별될 수도 있다. 조정된 펄스 면적은, 하나 이상의 시드들 (10) 이 놓여 있는 벨트 플라이트 (212) 의 면적에 대응하는 바이어스 에러에 대해 정정된 스케일링된 펄스 면적이다. 산점도 (800) 에서, 펄스들은, 임계 주기 (P) 뿐만 아니라 개별 제 1, 제 2, 및 제 3 미리결정된 임계 면적들 (A₁/A₂/A₃) 에 대한 측정된 펄스 면적에 기초하여 플롯된다. 제 1 임계 면적 (A₁) 은 센서 (300) 의 광학 경로를 통과하는 벨트 플라이트들 (212) 에 의해 생성된 펄스의 최대 면적 기대치에 대응하도록 미리결정된 값으로 설정되고; 제 2 임계 면적 (A₂) 은 광학 경로를 통과하는 단일의 시드들 (10) 에 의해 생성된 펄스의 최대 면적 기대치에 대응하도록 미리결정된 값으로 설정되며; 제 3 임계 면적 (A₃) 은 광학 경로를 통과하는 2개의 나란한 시드들 (10) 에 의해 생성된 펄스의 최대 면적 기대치에 대응하도록 미리결정된 값으로 설정된다. 산점도 (800) 에서, 제 1, 제 2, 및 제 3 임계 면적들 (A₁/A₂/A₃) 은, 각각, 대략 0.04; 0.34 및 0.52 로 설정되고; 임계 주기 (P) 는 대략 0.96 으로 다시 설정된다. 면적 임계치들의 선택은 시스템 이동 속도 및 시드 모집단 타겟에 기초한 파라미터 최적화를 통해 행해진다.

임계 면적들 (A₁/A₂/A₃) 에 기초하여, 제 1 임계 면적 (A₁) 보다 작은 면적을 갖는 펄스들이 플라이트 펄스들 (402) 을 나타내는지; 제 1 및 제 2 임계 면적들 (A₁/A₂) 사이의 면적을 갖는 펄스들이 단일의 시드 펄스들 (404) 을 나타내는지; 제 2 및 제 3 임계 면적들 (A₂/A₃) 사이의 면적을 갖는 펄스들이 더블 시드 펄스들 (즉, 2개의 근접하게 위치된 시드들로부터 생성된 펄스들) 을 나타내는지; 제 3 임계 면적 (A₃) 보다 큰 면적을 갖는 펄스들이 광학 경로를 동시에 방해하는 3개 이상의 시드들로부터 생성된 펄스들 (즉, 트리플 플러스 시드 펄스들) 을 나타내는지의 초기 결정들이 행해질 수 있다. 트리플-플러스 시드 펄스들로서 식별된 펄스들은, 존재하는 시드들의 수에 무관하게 트리플 시드들로서 카운트된다. 임계 주기 (P) 는 다시, 임계 주기 (P) 보다 작은 주기를 갖는 펄스들이 광학 경로에서의 공간적으로 격리된 장애물들에 기인한다는 초기 결정들을 허용하는 반면; 임계 주기 (P) 보다 큰 주기를 갖는 펄스들은 광학 경로를 동시에 방해하는 플라이트 (212) 와 하나 이상의 시드들 (10) 의 조합에 기인한다.

펄스 폭 측정치들과 유사하게, 임계 주기 (P) 보다 큰 주기를 갖는 펄스들이, 하나 이상의 시드들이 놓여 있는 벨트 플라이트 (212) 의 면적에 대응하는 바이어스 에러를 포함하는 측정된 펄스 면적을 가질 것으로 추정된다. 따라서, 임계 주기 (P) 보다 큰 주기를 갖는 펄스들에 대해, 조정된 면적 측정치를 산출하도록 미리결정된 평균 플라이트 면적에 대응하는 양만큼 측정된 면적을 감소시키기 위해 바이어스 조정이 행해진다.

시드 카운팅은, 각각의 시드 펄스에 대해 조정된 폭 및/또는 면적을 컴퓨팅하고 그리고 그 다음, 폭 측정들을 위해 산점도 (700) 에서 사용된 것들 및/또는 면적 측정들을 위해 산점도 (800) 에서 사용된 것들과 같은 대응하는 임계치들을 적용하여, 각각의 펄스에서의 시드들의 수를 결정함으로써 달성될 수도 있으며, 이는, 그 다음, 시드 출력 핀을 적절한 횟수로 토글링함으로써 리포팅된다.

이상적으로, 플라이트들, 시드들 및 다중의 시드들 사이를 구별하기 위한 폭 및 면적 임계치들은, 시드 타입, 이동 속도, 및 시드 모집단에 무관하게, 모든 시딩 동작들에 대해 동일할 것이다. 하지만, 임계치들은 특정 시딩 동작의 파라미터들에 의해 필요할 때 변할 수도 있다. 예를 들어, 통상적이지 않은 시드 사이즈를 갖는 시드 타입을 사용한다면, 더 작거나 더 큰 시드 폭 및/또는 면적을 고려하기 위해 하나 이상의 임계 값들에 대해 변경들이 행해질 필요가 있을 수도 있다. 바람직하게, 임계 값들에 대한 임의의 시프트는, 주어진 시드 타입의 모집단에서의 변동들을 고려하는 하나 이상의 히스토그램들로부터 결정된 값들에 기초할 것이다. 따라서, 임계 값들에 대한 그러한 조정들을 가능케 함으로써, 시스템은, 임의의 주어진 시딩 동작에서 사용된 시드의 타입에 무관하게, 개선된 카운팅 정확도를 달성하기 위해 적응적이 된다.

본 발명이 특정 실시형태들을 참조하여 설명되지만, 전술한 개시는 단지 예시적인 실시형태들을 다룰 뿐이고; 본 발명의 범위는 개시된 실시형태들로 제한되지 않으며; 본 발명의 범위는 첨부된 청구항들에서 정의된 바와 같은 본 발명의 범위 및 그에 대한 균등물들로부터 일탈함없이 본 명세서에 개시된 예들에 대한 다양한 변경들 및 수정들을 포괄하는 추가적인 실시형태들을 포함할 수도 있음이 당업자에게 이해될 것이다.

본 발명의 개시를 이해하거나 완성하기 위해 필요한 정도로, 본 명세서에서 언급된 모든 공보들, 특허들, 및 특허 출원들은, 각각이 개별적으로 그렇게 통합된 것과 동일한 정도로 본 명세서에서 명백히 참조에 의해 통합된다. 명시적인 또는 암시적인 어떠한 라이센스도 본 명세서에 통합된 임의의 특허에 허여되지 않는다.

특정 실시형태들이 본 명세서에서 예시되고 설명되었지만, 당업자는, 동일한 목적을 달성하기 위해 계산되는 임의의 배열이 도시된 특정 실시형태들에 대해 대체될 수도 있고 그리고 본 명세서에서의 실시형태들이 다른 환경들에서 다른 어플리케이션들을 갖는다는 것을 인식한다. 본 출원은 본 개시의 임의의 적응들 또는 변형들을 커버하도록 의도된다. 다음의 청구항들은 본 개시의 범위를, 본 명세서에서 설명된 특정 실시형태들로 제한하도록 결코 의도되지 않는다.

본 발명은 본 명세서에서 예시된 예시적인 실시형태들로 제한되지 않지만, 대신, 첨부된 청구항들에 의해 특징지어진다.

Claims

시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스로서,
발광 엘리먼트와 광 응답 엘리먼트 사이의 광학 경로를 통한 광 플로우의 변화들을 검출하고 그리고 상기 광 플로우의 검출된 변화들을 전달하는 신호를 출력하기 위한, 상기 발광 엘리먼트 및 상기 광 응답 엘리먼트를 포함하는 광전 센서; 및
상기 광전 센서의 출력 신호에 기초하여 신호 파형들을 수신 및 프로세싱하여 상기 신호 파형의 하나 이상의 파라미터들을 측정하고 그리고 상기 신호 파형의 하나 이상의 측정된 파라미터들에 기초하여 상기 신호 파형의 부분들을 구별하도록 적응된 컴퓨팅 디바이스를 포함하고,
상기 컴퓨팅 디바이스는 상기 광전 센서의 광학 경로를 통한 하나 이상의 시드들의 통과에 기초한 상기 광 플로우에서의 교란들에 기인하는 상기 신호 파형의 부분들을, 상기 광전 센서의 광학 경로를 통한 비-시드 엘리먼트들의 통과에 기초한 상기 광 플로우에서의 교란들에 기인하는 상기 신호 파형의 부분들로부터 구별하도록 적응되는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 1 항에 있어서,
상기 컴퓨팅 디바이스는 펄스 신호 파형들의 형태로 신호 파형들을 수신하도록 적응되고, 상기 하나 이상의 파라미터들로서, 펄스 피크; 펄스 주기; 펄스 폭; 및 펄스 면적 중 적어도 하나를 측정하도록 추가로 적응되는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 2 항에 있어서,
상기 컴퓨팅 디바이스는 상기 광전 센서의 광학 경로를 통한 하나 이상의 시드들의 통과에 기초한 상기 광 플로우에서의 교란들에 기인하는 상기 신호 파형의 부분들을, 상기 광전 센서의 광학 경로를 통한 컨베이어 플라이트의 통과에 기초한 상기 광 플로우에서의 교란들에 기인하는 상기 신호 파형의 부분들로부터 구별하도록 적응되는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 1 항에 있어서,
상기 컴퓨팅 디바이스는 상기 광전 센서의 광학 경로를 통한 하나 이상의 시드들의 통과에 기초한 상기 광 플로우에서의 교란들에 기인하는 상기 신호 파형의 부분들을, 상기 광전 센서의 광학 경로를 통한 컨베이어 플라이트의 통과에 기초한 상기 광 플로우에서의 교란들에 기인하는 상기 신호 파형의 부분들로부터 구별하도록 적응되는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 3 항에 있어서,
상기 컨베이어 플라이트의 통과로부터 생성된 펄스들이 시드 펄스들의 신호 특성들의 결정을 위한 신호 레퍼런스로서 서빙하기 위한 균일한 진폭으로 유지되는 펄스 신호 파형을 안정한 베이스라인으로 생성하기 위해 상기 광전 센서의 출력 신호를 컨디셔닝하도록 적응된 신호 컨디셔닝 회로부를 더 포함하는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 4 항에 있어서,
상기 컨베이어 플라이트의 통과로부터 생성된 펄스들이 시드 펄스들의 신호 특성들의 결정을 위한 신호 레퍼런스로서 서빙하기 위한 균일한 진폭으로 유지되는 펄스 신호 파형을 안정한 베이스라인으로 생성하기 위해 상기 광전 센서의 출력 신호를 컨디셔닝하도록 적응된 신호 컨디셔닝 회로부를 더 포함하는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 5 항에 있어서,
상기 신호 컨디셔닝 회로부는, 제 1 미리결정된 강도 범위 내로 상기 컨베이어 플라이트의 통과로부터 생성된 펄스들을 유지하기 위해 상기 광전 센서의 상기 발광 엘리먼트의 강도를 제어하기 위한 비례-적분 제어 루프 및 이득 제어 루프 중 적어도 하나를 포함하고, 안정한 펄스 베이스라인을 유지하기 위한 피크 검출기 제어 루프를 더 포함하는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 6 항에 있어서,
상기 신호 컨디셔닝 회로부는, 제 1 미리결정된 강도 범위 내로 상기 컨베이어 플라이트의 통과로부터 생성된 펄스들을 유지하기 위해 상기 광전 센서의 상기 발광 엘리먼트의 강도를 제어하기 위한 비례-적분 제어 루프 및 이득 제어 루프 중 적어도 하나를 포함하고, 안정한 펄스 베이스라인을 유지하기 위한 피크 검출기 제어 루프를 더 포함하는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 7 항에 있어서,
상기 컴퓨팅 디바이스는 단일 시드의 통과로부터 생성된 펄스들과 다중의 시드들의 동시 통과로부터 생성된 펄스들 사이를 구별하도록 적응되는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 8 항에 있어서,
상기 컴퓨팅 디바이스는 단일 시드의 통과로부터 생성된 펄스들과 다중의 시드들의 동시 통과로부터 생성된 펄스들 사이를 구별하도록 적응되는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 1 항에 있어서,
상기 컴퓨팅 디바이스는 상기 광전 센서의 광학 경로를 통한 단일 시드의 통과에 기초한 상기 광 플로우에서의 교란들에 기인하는 상기 신호 파형의 부분들을, 상기 광전 센서의 광학 경로를 통한 다중의 시드들의 동시 통과에 기초한 상기 광 플로우에서의 교란들에 기인하는 상기 신호 파형의 부분들로부터 구별하도록 적응되는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 11 항에 있어서,
상기 컴퓨팅 디바이스는 상기 광전 센서의 광학 경로를 통한 하나 이상의 시드들의 통과에 기초한 상기 광 플로우에서의 교란들에 기인하는 상기 신호 파형의 부분들을, 상기 광전 센서의 광학 경로를 통한 컨베이어 플라이트의 통과에 기초한 상기 광 플로우에서의 교란들에 기인하는 상기 신호 파형의 부분들로부터 구별하도록 적응되는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 9 항에 있어서,
상기 컴퓨팅 디바이스는 상기 신호 파형에서의 펄스들의 펄스 폭 및 펄스 면적 중 적어도 하나를 결정하고, 그리고 펄스 폭 및/또는 펄스 면적에 대한 하나 이상의 미리결정된 임계 값들에 기초하여 하나 이상의 시드들의 통과로부터 생성된 펄스들을 이송 플라이트의 통과에 의해 생성된 펄스들로부터 구별하도록 적응되는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 10 항에 있어서,
상기 컴퓨팅 디바이스는 상기 신호 파형에서의 펄스들의 펄스 폭 및 펄스 면적 중 적어도 하나를 결정하고, 그리고 펄스 폭 및/또는 펄스 면적에 대한 하나 이상의 미리결정된 임계 값들에 기초하여 하나 이상의 시드들의 통과로부터 생성된 펄스들을 이송 플라이트의 통과에 의해 생성된 펄스들로부터 구별하도록 적응되는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 12 항에 있어서,
상기 컴퓨팅 디바이스는 상기 신호 파형에서의 펄스들의 펄스 폭 및 펄스 면적 중 적어도 하나를 결정하고, 그리고 펄스 폭 및/또는 펄스 면적에 대한 하나 이상의 미리결정된 임계 값들에 기초하여 하나 이상의 시드들의 통과로부터 생성된 펄스들을 이송 플라이트의 통과에 의해 생성된 펄스들로부터 구별하도록 적응되는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 13 항에 있어서,
상기 컴퓨팅 디바이스는 상기 신호 파형에서의 펄스들의 주기를 결정하고, 미리결정된 주기 임계치를 초과하는 주기를 갖는 펄스들을 컨베이어 플라이트 및 하나 이상의 시드들의 동시 통과에 기인하는 복합 펄스로서 식별하고, 그 다음, 식별된 복합 펄스들의 하나 이상의 측정된 파라미터들을 조정하여 상기 컨베이어 플라이트에 기인하는 바이어스 에러를 제거하도록 적응되는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 14 항에 있어서,
상기 컴퓨팅 디바이스는 상기 신호 파형에서의 펄스들의 주기를 결정하고, 미리결정된 주기 임계치를 초과하는 주기를 갖는 펄스들을 컨베이어 플라이트 및 하나 이상의 시드들의 동시 통과에 기인하는 복합 펄스로서 식별하고, 그 다음, 식별된 복합 펄스들의 하나 이상의 측정된 파라미터들을 조정하여 상기 컨베이어 플라이트에 기인하는 바이어스 에러를 제거하도록 적응되는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
제 15 항에 있어서,
상기 컴퓨팅 디바이스는 상기 신호 파형에서의 펄스들의 주기를 결정하고, 미리결정된 주기 임계치를 초과하는 주기를 갖는 펄스들을 컨베이어 플라이트 및 하나 이상의 시드들의 동시 통과에 기인하는 복합 펄스로서 식별하고, 그 다음, 식별된 복합 펄스들의 하나 이상의 측정된 파라미터들을 조정하여 상기 컨베이어 플라이트에 기인하는 바이어스 에러를 제거하도록 적응되는, 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스.
시드 분배 시스템으로서,
시드들의 이송을 위한 통로, 및 상기 통로를 통해 시드들을 캡처 및 이송하기 위한 복수의 플라이트들을 갖는 무한 벨트를 포함하는 컨베이어, 를 포함하는 시드 분배기; 및
제 1 항에 기재된 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스를 포함하는, 시드 분배 시스템.
시드 분배 시스템으로서,
시드들의 이송을 위한 통로, 및 상기 통로를 통해 시드들을 캡처 및 이송하기 위한 복수의 플라이트들을 갖는 무한 벨트를 포함하는 컨베이어, 를 포함하는 시드 분배기; 및
제 11 항에 기재된 시드들의 분배를 모니터링하기 위한 디바이스를 포함하는, 시드 분배 시스템.