KR20200052157A - Digital microscope in which high-magnification image is guided by low-magnification image and digital microscope system - Google Patents
Digital microscope in which high-magnification image is guided by low-magnification image and digital microscope system Download PDFInfo
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Abstract
저배율 촬상 모듈과 고배율 촬상 모듈을 동시에 배치하여, 저배율 이미지로 샘플의 전체 영역을 대략적으로 관찰하는 동시에 샘플의 특징 영역으로 고배율 촬상 모듈을 이동시킴으로써, 특징 영역의 위치 파악 및 초점 맞춤의 번거로움을 해결할 수 있는 디지털 현미경과 디지털 현미경 시스템이 제공된다.
상기 디지털 현미경은 샘플이 안착되는 재물대; 상기 샘플을 촬상하여 저배율 이미지를 생성하는 저배율 촬상 모듈; 상기 샘플을 촬상하여 고배율 이미지를 생성하고, 상기 샘플을 기준으로 상기 저배율 촬상 모듈의 반대편에 위치하는 고배율 촬상 모듈; 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 이동시키는 구동 모듈을 포함하고, 상기 구동 모듈의 구동에 의해 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역이 변경되는 것을 특징으로 한다.By simultaneously disposing the low magnification imaging module and the high magnification imaging module, the entire area of the sample is roughly observed with a low magnification image, and the high magnification imaging module is moved to the characteristic area of the sample to solve the hassle of locating and focusing the feature area. A digital microscope and a digital microscope system are provided.
The digital microscope comprises a stage on which the sample is placed; A low magnification imaging module that captures the sample to generate a low magnification image; A high magnification imaging module that captures the sample to generate a high magnification image and is located on the opposite side of the low magnification imaging module based on the sample; And a driving module for moving at least one of the sample, the stage, and the high magnification imaging module, and an imaging area of the high magnification imaging module is changed by driving the driving module.
Description
본 발명은 고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드되는 디지털 현미경 및 디지털 현미경 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a digital microscope and digital microscope system in which a high magnification image is guided by a low magnification image.
종래의 현미경은 도 1에서 나타내는 바와 같이, 검체(Sample)가 안착되는 재물대(Stage)와, 촬상된 이미지의 배율을 결정하는 대물 렌즈(Object lens))와, 사용자의 눈으로 검체의 이미징광을 가이드하는 접안 렌즈(Ocular lens)와, 대물 렌즈와 접안 렌즈를 광학적으로 연결하는 튜브 렌즈(Extention tube)로 이뤄졌다.As shown in FIG. 1, a conventional microscope is equipped with a stage on which a sample is seated, an objective lens for determining the magnification of the imaged image, and imaging light of the sample with the user's eye. It consists of a guided eyepiece (Ocular lens) and a tube lens (Extention tube) that optically connects the objective lens and the eyepiece.
또한, 종래의 현미경은 상호 다른 배율을 가진 복수의 대물 렌즈가 회전판(Rotating plate)의 회전에 의해 선택되어, 저배율 이미지와 고배율 이미지를 각각 생성하였다.In addition, in the conventional microscope, a plurality of objective lenses having different magnifications are selected by rotation of a rotating plate, thereby generating a low magnification image and a high magnification image, respectively.
따라서 종래의 현미경에서는 사용자가 샘플의 특징 영역(특징점이 발견되어 정밀 관찰이 필요한 영역)을 관찰하기 위해서, 저배율 대물 렌즈로 전체 이미지에서 특징 영역의 대략적인 위치를 파악(저배율 이미지)한 후, 고배율 대물 렌즈로 특징 영역의 위치를 다시 찾아 정밀 관찰(고배율 이미지)을 수행하였다.Therefore, in a conventional microscope, the user grasps the approximate location of the feature region in the entire image (low magnification image) with a low magnification objective lens in order to observe the feature region of the sample (the region where the feature point is found and requires precise observation), and then the high magnification The objective region was located again with an objective lens to perform precise observation (high magnification image).
그 결과, 종래의 현미경에서는 정밀 관찰을 위해 저배율 대물 렌즈를 고배율 대물 렌즈로 스위칭해야 하며, 재물대를 이동시켜 고배율 대물 렌즈와 샘플의 특징 영역을 광학적으로 얼라인(x축, y축: 위치 정렬; z축: 초점 정렬)해야하는 번거로움이 존재하였다.As a result, in the conventional microscope, the low magnification objective lens needs to be switched to the high magnification objective lens for precise observation, and the feature region of the high magnification objective lens and the sample is optically aligned by moving the stage (x-axis, y-axis: position alignment; There was a hassle to do (z-axis: focus alignment).
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 저배율 촬상 모듈과 고배율 촬상 모듈을 동시에 배치하여, 저배율 이미지로 샘플의 전체 영역을 대략적으로 관찰하는 동시에 샘플의 특징 영역으로 고배율 촬상 모듈을 이동시킴으로써, 특징 영역의 위치 파악 및 초점 맞춤의 번거로움을 해결할 수 있는 디지털 현미경과 디지털 현미경 시스템을 제공하는 것이다.The problem to be solved by the present invention is to place the low magnification imaging module and the high magnification imaging module at the same time, roughly observing the entire area of the sample with the low magnification image, and at the same time moving the high magnification imaging module to the characteristic area of the sample, thereby grasping the position of the characteristic area And a digital microscope and a digital microscope system capable of solving the hassle of focusing.
본 발명이 해결하고자 하는 과제들은 이상에서 언급된 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems to be solved by the present invention are not limited to the problems mentioned above, and other problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 면에 따른 디지털 현미경은 샘플이 안착되는 재물대; 상기 샘플을 촬상하여 저배율 이미지를 생성하는 저배율 촬상 모듈; 상기 샘플을 촬상하여 고배율 이미지를 생성하고, 상기 샘플을 기준으로 상기 저배율 촬상 모듈의 반대편에 위치하는 고배율 촬상 모듈; 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 이동시키는 구동 모듈을 포함하고, 상기 구동 모듈의 구동에 의해 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역이 변경될 수 있다.A digital microscope according to an aspect of the present invention for solving the above-described problem is a stage in which a sample is seated; A low magnification imaging module that captures the sample to generate a low magnification image; A high magnification imaging module imaging the sample to generate a high magnification image and positioned on the opposite side of the low magnification imaging module based on the sample; And a driving module for moving at least one of the sample, the stage, and the high magnification imaging module, and an imaging area of the high magnification imaging module may be changed by driving the driving module.
상기 구동 모듈은 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 x축과 y축을 기준으로 이동시킬 수 있다.The driving module may move at least one of the sample, the stage, and the high magnification imaging module based on the x-axis and the y-axis.
상기 저배율 촬상 모듈의 광축과 상기 고배율 촬상 모듈의 광축은 z축을 기준으로 배열될 수 있다.The optical axis of the low magnification imaging module and the optical axis of the high magnification imaging module may be arranged based on the z axis.
상기 구동 모듈은 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 x축과 y축과 z축을 기준으로 이동시키고, 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역은 상기 구동 모듈의 x축 구동과 y축 구동에 의해 변경되고, 상기 고배율 촬상 모듈의 초점 거리는 상기 구동 모듈의 z축 구동에 의해 변경될 수 있다.The driving module moves at least one of the sample, the stage, and the high magnification imaging module based on the x-axis, y-axis, and z-axis, and the imaging area of the high-magnification imaging module drives the x-axis driving and the y-axis driving of the driving module. And the focal length of the high-magnification imaging module may be changed by driving the z-axis of the driving module.
상기 저배율 촬상 모듈과 상기 고배율 촬상 모듈 각각은 대물 렌즈가 마운트된 렌즈 프리 이미지 센서 모듈이거나 카메라 모듈일 수 있다.Each of the low magnification imaging module and the high magnification imaging module may be a lens-free image sensor module equipped with an objective lens or a camera module.
상기 저배율 촬상 모듈은 상기 샘플과 상기 재물대의 사이에 배치되는 렌즈 프리 이미지 센서 모듈일 수 있다.The low magnification imaging module may be a lens-free image sensor module disposed between the sample and the stage.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 면에 따른 디지털 현미경 시스템은 디지털 현미경; 저배율 이미지와 고배율 이미지가 재생되는 사용자 기기; 상기 디지털 현미경을 제어하는 전자 제어 모듈을 포함하고, 상기 디지털 현미경은, 샘플이 안착되는 재물대; 상기 샘플을 촬상하여 상기 저배율 이미지를 생성하는 저배율 촬상 모듈; 상기 샘플을 촬상하여 상기 고배율 이미지를 생성하고, 상기 샘플을 기준으로 상기 저배율 촬상 모듈의 반대편에 위치하는 고배율 촬상모듈; 및 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 이동시키는 구동 모듈을 포함하고, 상기 구동 모듈의 구동에 의해 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역이 변경되고, 상기 전자 제어 모듈은 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역이 상기 저배율 이미지에서 선택된 영역과 대응되도록, 상기 구동 모듈을 제어할 수 있다.A digital microscope system according to an aspect of the present invention for solving the above-described problems is a digital microscope; A user device in which a low magnification image and a high magnification image are reproduced; It includes an electronic control module for controlling the digital microscope, the digital microscope, the stage where the sample is seated; A low magnification imaging module that captures the sample to generate the low magnification image; A high magnification imaging module that generates the high magnification image by imaging the sample, and is located on the opposite side of the low magnification imaging module based on the sample; And a driving module for moving at least one of the sample, the stage, and the high-magnification imaging module, the imaging area of the high-magnification imaging module is changed by driving the driving module, and the electronic control module is configured to The driving module may be controlled such that the imaging area corresponds to the area selected from the low magnification image.
상기 전자 제어 모듈은 상기 저배율 이미지를 기준으로 형성한 이미지 좌표계를 상기 샘플이 실재하는 공간을 기준으로 형성한 현미경 좌표계와 매칭시키고, 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역과 상기 샘플에서 상기 저배율 이미지에서 선택된 영역과 매칭되는 부분을 일치시킬 수 있다.The electronic control module matches the image coordinate system formed on the basis of the low magnification image with a microscope coordinate system formed on the basis of the space in which the sample is present, and selects the imaging area of the high magnification imaging module and the area selected from the low magnification image in the sample. And matching parts.
상기 전자 제어 모듈은 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 상기 현미경 좌표계에서 x축과 y축을 기준으로 이동시킴으로써, 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역과 상기 샘플에서 상기 저배율 이미지에서 선택된 영역과 매칭되는 부분을 일치시킬 수 있다.The electronic control module moves at least one of the sample, the stage, and the high-magnification imaging module based on the x-axis and y-axis in the microscope coordinate system, thereby selecting an imaging area of the high-magnification imaging module and an area selected from the low-magnification image in the sample. And matching parts.
상기 전자 제어 모듈은 저배율 이미지와 고배율 이미지 중 적어도 하나를 데이터베이스의 표준 데이터와 비교하여 분석할 수 있다.The electronic control module may analyze at least one of a low magnification image and a high magnification image by comparing it with standard data in a database.
본 발명의 디지털 현미경과 디지털 현미경 시스템에서는 저배율 이미지와 고배율 이미지를 동시에 생성하므로, 고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드됨으로써, 특징 영역의 위치 파악에 따른 시간을 줄일 수 있다.Since the digital microscope and the digital microscope system of the present invention simultaneously generate a low magnification image and a high magnification image, the high magnification image is guided by the low magnification image, thereby reducing the time required to locate the feature region.
또한, 본 발명의 디지털 현미경과 디지털 현미경 시스템에서는 원하는 특징점을 데이터베이스에서 찾고 분석을 수행하는데 소요되는 시간을 줄일 수 있는 장점이 있다.In addition, the digital microscope and the digital microscope system of the present invention has the advantage of reducing the time required to find the desired feature point in the database and perform analysis.
또한, 본 발명의 디지털 현미경과 디지털 현미경 시스템에서는 저배율 촬상 모듈과 고배율 촬상 모듈의 초점 거리가 초기 설정에서 유지되기 때문에 초점을 맞추기가 용이하다.In addition, in the digital microscope and digital microscope system of the present invention, since the focal lengths of the low magnification imaging module and the high magnification imaging module are maintained at the initial setting, it is easy to focus.
본 발명의 효과들은 이상에서 언급된 효과로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The effects of the present invention are not limited to the effects mentioned above, and other effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.
도 1은 종래의 현미경을 나타낸 개념도이다.
도 2는 본 발명의 디지털 현미경 시스템을 나타낸 개념도이다.
도 3은 본 발명의 변형례의 디지털 현미경 시스템을 나타낸 개념도이다.
도 4는 본 발명의 다른 변형례의 디지털 현미경 시스템을 나타낸 개념도이다.
도 5는 광원에서 출사된 광이 다이크로익 미러에 의해 샘플을 경유한 후 렌즈 프리 이미지 센서 모듈로 가이드되는 것을 나타낸 개념도이다.
도 6 및 도 7은 본 발명의 디지털 현미경 시스템에서 고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드되는 것을 나타낸 개념도이다.
도 8은 본 발명의 사용자 기기에서 고배율 이미지와 저배율 이미지가 동시에 재생되는 것을 나타낸 개념도이다.1 is a conceptual view showing a conventional microscope.
2 is a conceptual diagram showing the digital microscope system of the present invention.
3 is a conceptual diagram showing a digital microscope system of a modification of the present invention.
4 is a conceptual diagram showing a digital microscope system of another modification of the present invention.
5 is a conceptual diagram illustrating that light emitted from a light source is guided to a lens-free image sensor module after passing through a sample by a dichroic mirror.
6 and 7 are conceptual diagrams showing that a high magnification image is guided by a low magnification image in the digital microscope system of the present invention.
8 is a conceptual diagram showing that a high magnification image and a low magnification image are simultaneously reproduced in the user device of the present invention.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 제한되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 기술자에게 본 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Advantages and features of the present invention, and methods for achieving them will be clarified with reference to embodiments described below in detail together with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but may be implemented in various different forms, and only the present embodiments allow the disclosure of the present invention to be complete, and are common in the technical field to which the present invention pertains. It is provided to fully inform the skilled person of the scope of the present invention, and the present invention is only defined by the scope of the claims.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소 외에 하나 이상의 다른 구성요소의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다. 명세서 전체에 걸쳐 동일한 도면 부호는 동일한 구성 요소를 지칭하며, "및/또는"은 언급된 구성요소들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다. 비록 "제1", "제2" 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다.The terminology used herein is for describing the embodiments and is not intended to limit the present invention. In the present specification, the singular form also includes the plural form unless otherwise specified in the phrase. As used herein, “comprises” and / or “comprising” does not exclude the presence or addition of one or more other components other than the components mentioned. Throughout the specification, the same reference numerals refer to the same components, and “and / or” includes each and every combination of one or more of the components mentioned. Although "first", "second", etc. are used to describe various components, it goes without saying that these components are not limited by these terms. These terms are only used to distinguish one component from another component. Therefore, it goes without saying that the first component mentioned below may be the second component within the technical spirit of the present invention.
다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또한, 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms (including technical and scientific terms) used in the present specification may be used as meanings commonly understood by those skilled in the art to which the present invention pertains. In addition, terms defined in the commonly used dictionary are not ideally or excessively interpreted unless explicitly defined.
공간적으로 상대적인 용어인 "아래(below)", "아래(beneath)", "하부(lower)", "위(above)", "위(upper)" 등은 도면에 도시되어 있는 바와 같이 하나의 구성요소와 다른 구성요소들과의 상관관계를 용이하게 기술하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어는 도면에 도시되어 있는 방향에 더하여 사용시 또는 동작시 구성요소들의 서로 다른 방향을 포함하는 용어로 이해되어야 한다. 예를 들어, 도면에 도시되어 있는 구성요소를 뒤집을 경우, 다른 구성요소의 "아래(below)"또는 "아래(beneath)"로 기술된 구성요소는 다른 구성요소의 "위(above)"에 놓여질 수 있다. 따라서, 예시적인 용어인 "아래"는 아래와 위의 방향을 모두 포함할 수 있다. 구성요소는 다른 방향으로도 배향될 수 있으며, 이에 따라 공간적으로 상대적인 용어들은 배향에 따라 해석될 수 있다.The spatially relative terms "below", "beneath", "lower", "above", "upper", etc., are as shown in the figure. It can be used to easily describe a correlation between a component and other components. Spatially relative terms should be understood as terms including different directions of components in use or operation in addition to the directions shown in the drawings. For example, if a component shown in the drawing is turned over, a component described as "below" or "beneath" of another component will be placed "above" the other component. Can be. Accordingly, the exemplary term “below” can include both the directions below and above. The component can also be oriented in other directions, so that spatially relative terms can be interpreted according to the orientation.
이하, 도면을 참조하여, 본 발명의 디지털 현미경 시스템(1000)을 설명한다. 도 2는 본 발명의 디지털 현미경 시스템을 나타낸 개념도이고, 도 3은 본 발명의 변형례의 디지털 현미경 시스템을 나타낸 개념도이고, 도 4는 본 발명의 다른 변형례의 디지털 현미경 시스템을 나타낸 개념도이고, 도 5는 광원에서 출사된 광이 다이크로익 미러에 의해 샘플을 경유한 후 렌즈 프리 이미지 센서 모듈로 가이드되는 것을 나타낸 개념도이고, 도 6 및 도 7은 본 발명의 디지털 현미경 시스템을 이용하여 고배율 이미지가 저배율 이미지에 의해 가이드되는 것을 나타낸 개념도이고, 도 8은 본 발명의 사용자 기기에서 고배율 이미지와 저배율 이미지가 동시에 재생되는 것을 나타낸 개념도이다.Hereinafter, the
본 발명의 디지털 현미경 시스템(1000)에서는 샘플(s)로부터 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)를 동시에 생성하며, 고배율 이미지(2)가 저배율 이미지(1)에 의해 가이드되어, 정밀 관찰을 쉽고 빠르게 수행할 수 있다(즉, 사용자는 저배율 이미지로부터 고배율 이미지로 관찰할 특징 영역을 가이드받을 수 있다).In the
본 발명의 디지털 현미경 시스템(1000)은 디지털 현미경(100), 전자 제어 모듈(200) 및 사용자 기기(300)를 포함할 수 있다.The
본 발명의 디지털 현미경(100)은 샘플(s)에 대한 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)를 동시에 생성하는 기기일 수 있다(즉, 샘플을 동시에 촬상하여 저배율 이미지와 고배율 이미지를 생성). 한편, 샘플(s)은 슬라이드 글라스(Slide glass)와 커버 글라스(Cover glass)에 덮여, 재물대(130)에 안착될 수 있다.The
이를 위해, 본 발명의 디지털 현미경(100)은 저배율 촬상 모듈(110), 고배율 촬상 모듈(120), 재물대(130) 및 구동 모듈(미도시)을 포함할 수 있다. 한편, 본 발명의 디지털 현미경(100)은 샘플(s)에 광을 조사하는 광원(미도시, Light source)을 더 포함할 수 있다.To this end, the
광원에서 샘플(s)로 조사된 광은 이미징광으로 전환되어, 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120)에 의해 획득될 수 있다. 일 예로, 광원은 레이저광을 출력할 수 있고 샘플(s)에는 조영제가 주입될 수 있다. 광원에서 출력된 여기광(Excitation)은 조영제로 처리된 샘플(s)에서 방출광(Emission)으로 전환되어, 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120)에서 형광 이미지를 생성할 수 있다(형광 현미경 구현).The light irradiated from the light source to the sample s is converted to imaging light, and may be obtained by the low
특히, 광원은 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120)이 "대물 렌즈가 마운트된 렌즈 프리 이미지 센서 모듈"인 경우, 대물 렌즈의 외측면을 따라 링 타입으로 배치될 수 있다. 이 경우, 저배율 촬상 모듈(110)에 배치된 광원은 고배율 촬상 모듈(120)의 이미징광을 출력할 수 있고(고배율용 광원), 고배율 촬상 모듈(120)에 배치된 광원은 저배율 촬상 모듈(110)의 이미징광을 출력할 수 있다(저배율용 광원).Particularly, when the low
또한, 광원은 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120)이 "대물 렌즈가 마운트된 렌즈 프리 이미지 센서 모듈"인 경우, 대물 렌즈와 렌즈 프리 이미지 센서 모듈과 이웃하게 배치될 수 있고, 대물 렌즈와 렌즈 프리 이미지 센서 모듈 사이에는 다이크로익 미러(Dichroic mirror)가 배치될 수 있다. 이 경우, 대물 렌즈와 렌즈 프리 이미지 센서 모듈과 다이크로익 미러는 일체로 패키징될 수 있다.In addition, when the low
광원의 출사광은 다이크로익 미러에서 반사(또는 투과)되어 대물 렌즈를 경유하여 샘플(s)에 조사될 수 있고, 샘플(s)을 경유한 광은 대물 렌즈를 경유하고 다이크로익 미러를 투과(또는 반사)하여 렌즈 프리 이미지 센서 모듈에 조사될 수 있다(도 5 참조). 이 경우, 광원의 출사광은 여기광(레이저광)일 수 있고, 샘플(s)을 경율한 광은 조영제 처리된 샘프에 의한 방출광일 수 있다.The emitted light of the light source may be reflected (or transmitted) from the dichroic mirror and irradiated to the sample s via the objective lens, and the light passing through the sample s may pass through the objective lens and the dichroic mirror. It may be transmitted (or reflected) to be irradiated to the lens-free image sensor module (see FIG. 5). In this case, the light emitted from the light source may be excitation light (laser light), and the light obtained by tilting the sample s may be light emitted by the contrast-treated sample.
또한, 노이즈를 제거하기 위해, 다이크로익 미러에서 광원의 출사광이 입사되는 면에는 광원의 출사광을 선택적으로 투과시키는 필터(일 예로, 여기광 필터)가 배치될 수 있고, 샘플(s)을 경유한 광이 투과되는 면에는 샘플(s)을 경유한 광을 선택적으로 투과시키는 필터(일 예로, 방출광 필터)가 배치될 수 있다. 이 경우, 필터는 특정 파장 대역을 선택적으로 투과시키는 필터(BPF; Band pass filter)일 수 있다.In addition, in order to remove noise, a filter (for example, an excitation light filter) for selectively transmitting the exit light of the light source may be disposed on a surface where the exit light of the light source is incident from the dichroic mirror, and the sample s A filter (for example, an emission light filter) for selectively transmitting light passing through the sample s may be disposed on a surface through which light passing through is transmitted. In this case, the filter may be a filter (BPF) that selectively transmits a specific wavelength band.
또한, 저배율 촬상 모듈(110)이 샘플(s)과 재물대(130)의 사이에 배치되는 "렌즈 프리 이미지 센서 모듈"인 경우, 고배율용 광원이 저배율 촬상 모듈(110)에 조사되어 노이즈를 발생시키는 것을 방지하기 위해, 고배율용 광원은 렌즈 프리 이미지 센서 모듈의 기판의 주변에 소정 각도로 경사지게 배치되거나, 투명 면광원(투명하면서도 빛이 전면으로 나오는 조명필름)을 포함하여 렌즈 프리 이미지 센서 모듈과 샘플(s)의 사이에 배치될 수 있다.In addition, when the low
저배율 촬상 모듈(110)은 샘플(s)을 촬상하여 저배율 이미지(1)를 생성할 수 있고, 고배율 촬상 모듈(120)은 샘플(s)을 촬상하여 고배율 이미지(2)를 생성할 수 있다.The low
저배율 촬상 모듈(110)은 촬상 영역이 넓으며(화각이 넓음) 샘플(s)의 영역 전반에 대한 저배율 이미지(1)를 생성할 수 있고, 고배율 촬상 모듈(120)은 촬상 영역이 좁으며(화각이 좁음) 샘플(s)의 영역 중 특징 영역에 대한 고배율 이미지(2)를 생성할 수 있다.The low
저배율 촬상 모듈(110)의 촬상 영역은 샘플(s)의 영역 전부를 포함하며, 사용자 기기(300)에서 저배율 이미지(1)로 재생되는 영역을 의미할 수 있다. 또한, 고배율 촬상 모듈(120)의 촬상 영역은 샘플(s)의 영역 중 특징 영역(특징점이 발견된 영역)을 포함하며, 사용자 기기(300)에서 고배율 이미지(2)로 재생되는 영역을 의미할 수 있다.The imaging area of the low
일 예로, 샘플(s)이 인간의 혈액인 경우, 사용자는 저배율 이미지(1)에서 혈액을 전반적으로 관찰할 수 있고, 고배율 이미지(2)에서 혈액의 특징 영역(일 예로, 특징점이 발견되어 정밀 관찰이 필요한 영역)을 세포 단위(적혈구, 백혈구 등)로 관찰할 수 있다.For example, when the sample s is human blood, the user can observe the blood in the
즉, 저배율 촬상 모듈(110)의 촬상 영역은 고배율 촬상 모듈(120)의 촬상 영역의 적어도 일부를 포함할 수 있고, 고배율 이미지(2)의 적어도 일부의 영역은 저배율 이미지(1)의 일부의 영역이 고배율로 확대된 영역일 수 있다.That is, the imaging area of the low
한편, 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)는 이미지 처리 단계에 따라, 전자 신호, 이미지 정보 및 육안으로 인식되는 이미지 등 다양한 형태를 가질 수 있다.Meanwhile, the
일 예로, 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)는 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120)에서 샘플(s)의 이미징광이 변환되어 생성되는 전자 신호 형태로 존재할 수 있다. 그 후, 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)는 전자 제어 모듈(200)에서 사용자 기기(300)에서 재생되도록 이미지 처리되어, 이미지 정보 형태로 존재할 수 있다. 그 후, 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)는 사용자 기기(300)에서 육안으로 인식되는 이미지 형태로 재생될 수 있다.For example, the
본 발명의 디지털 현미경(100)에서는 샘플(s)을 기준으로 일측에 저배율 촬상 모듈(110)이 배치될 수 있고 타측에 고배율 촬상 모듈(120)이 배치될 수 있다. 즉, 고배율 촬상 모듈(120)은 샘플(s)을 기준으로 저배율 촬상 모듈(110)의 반대편에 위치할 수 있다.In the
나아가 저배율 촬상 모듈(110)의 광축(Optical axis)과 고배율 촬상 모듈(120)의 광축은 z축을 기준으로 배열될 수 있다. 이 경우, 저배율 촬상 모듈(110)은 하측에 위치하고 고배율 촬상 모듈(120)은 상측에 위치할 수 있다. 이에 한정되는 것은 아니고, 고배율 촬상 모둘(120)이 하측에 위치하고 저배율 촬상 모듈(110)이 상측에 위치할 수도 있다.Furthermore, the optical axis of the low
상술한 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120)의 위치 및 배열에 의해, 본 발명의 디지털 현미경(100)에서는 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120)이 동일한 샘플(s)을 동시에 촬상하여 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)를 동시에 생성할 수 있다.By the position and arrangement of the low
한편, 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120)에는 다양한 광학 모듈이 사용될 수 있다. 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120) 각각은 대물 렌즈(Object lens)가 마운트된 렌즈 프리 이미지 센서 모듈(Lens-free image sensor module)이거나 카메라 모듈(Camera module)일 수 있다.Meanwhile, various optical modules may be used for the low
일 예로, 도 2에서 나타내는 바와 같이, 본 발명의 디지털 현미경(100)에서는 저배율 촬상 모듈(110)과 고배율 촬상 모듈(120) 모두가 "대물 렌즈가 마운트된 렌즈 프리 이미지 센서 모듈"일 수 있다.For example, as shown in FIG. 2, in the
또한, 도 3에서 나타내는 바와 같이, 본 발명의 변형례의 디지털 현미경(100)에서는 저배율 촬상 모듈(110)이 "카메라 모듈"일 수 있고 고배율 촬상 모듈(120)이 "대물 렌즈가 마운트된 렌즈 프리 이미지 센서"일 수 있다.In addition, as shown in FIG. 3, in the
이 경우, 대물 렌즈와 렌즈 프리 이미지 센서 모듈은 별개의 광학 부품으로 커넥터에 의해 연결될 수도 있고, 단일의 광학 부품으로 일체로 패키징(Packaging)될 수도 있다.In this case, the objective lens and the lens-free image sensor module may be connected by connectors as separate optical components, or may be packaged integrally as a single optical component.
또한, "렌즈 프리 이미지 센서 모듈"은 기판(PCB, Printed circuit board)과 기판에 실장되는 이미지 센서(Image sensor)로 이루어질 수 있으며, 촬상 이미지의 배율을 결정하는 대물 렌즈가 마운트된 것 외에 다른 광학 렌즈(일 예로, 접안 렌즈, 튜브 렌즈 등)가 생략될 수 있다. 그 결과, 본 발명의 디지털 현미경(100)은 전장 길이(z축 길이)가 최소화되어 소형 제작될 수 있는 장점이 있다.In addition, the "lens free image sensor module" may be composed of a substrate (PCB, Printed circuit board) and an image sensor mounted on the substrate (image sensor), an optical lens other than the objective lens to determine the magnification of the captured image is mounted Lenses (eg, eyepieces, tube lenses, etc.) may be omitted. As a result, the
또한, "카메라 모듈"은 렌즈 홀더와, 렌즈 홀더에 배치되는 렌즈 어레이와, 기판과, 렌즈 어레이를 투과한 광이 조사되며 기판에 실장되는 이미지 센서로 이루어질 수 있다. 카메라 모듈의 렌즈 어레이는 촬상 이미지의 배율을 결정하는 대물 렌즈 외에 다른 광학 렌즈가 생략될 수 있다. 그 결과, 카메라 모듈은 렌즈 프리 이미지 센서 모듈과 마찬가지로 본 발명의 디지털 현미경(100)의 전장 길이를 최소화할 수 있다.In addition, the "camera module" may be formed of a lens holder, a lens array disposed on the lens holder, a substrate, and an image sensor mounted on the substrate while light transmitted through the lens array is irradiated. In the lens array of the camera module, other optical lenses may be omitted in addition to the objective lens that determines the magnification of the captured image. As a result, the camera module, like the lens-free image sensor module, can minimize the length of the
다만, 본 발명의 디지털 현미경(100)의 실시예가 상술한 실시예로 한정되는 것은 아니다.However, the embodiment of the
일 예로, 도 4에서 나타내는 바와 같이, 본 발명의 다른 변형례의 디지털 현미경(100)에서는 저배율 촬상 모듈(110)이 대물 렌즈를 포함한 다양한 광학 렌즈가 생략된 "렌즈 프리 이미지 센서 모듈"일 수 있다.For example, as shown in FIG. 4, in the
이 경우, 저배율 촬상 모듈(110)은 샘플(s)과 재물대(130)의 사이에 배치될 수 있다. 그 결과, 저배율 촬상 모듈(110)은 샘플(s)과 인접하여(슬라이드 글라스나 커버 글라스와 접촉) 샘플(s)을 접사하므로, 대물 렌즈가 생략되었음에도 불구하고 저배율 이미지(1)를 생성할 수 있다.In this case, the low
재물대(130)는 샘플(s)이 안착되는 부분일 수 있다. 좀 더 상세히, 재물대(130)에는 샘플(s)이 슬라이드 글라스와 커버 글라스로 덮인 프레파라트(Preparat)가 안착될 수 있다. 재물대(130)에서 샘플(s)이 안착되는 부분에는 샘플(s)의 이미징광의 광 경로를 제공하기 위한 홀(Hole)이 형성될 수 있다.The
구동 모듈(미도시)은 샘플(s)과 고배율 촬상 모듈(120)과 재물대(130) 중 적어도 하나를 x축과 y축과 z축 중 적어도 하나의 축을 기준으로 이동시키는 모듈일 수 있다. 이 경우, x축과 y축과 z축은 샘플(s)이 실재하는 공간을 기준으로 형성된 현미경 좌표계를 구성하는 축일 수 있다.The driving module (not shown) may be a module that moves at least one of the sample s and the high
"구동 모듈의 x축과 y축 구동"에 의해 고배율 촬상 모듈(120)의 촬상 영역이 변경될 수 있다. 따라서 "구동 모듈의 x축과 y축 구동"에 의해 샘플(s)의 영역 중 고배율 이미지(2)로 정밀하게 관찰하고자 하는 특징 영역을 변경할 수 있다. 일 예로, 구동 모듈은 고배율 촬상 모듈(120)을 x축과 y축을 기준으로 이동시켜 고배율 촬상 모듈(120)의 촬상 영역을 변경할 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니고, 구동 모듈은 샘플(s)을 이동(일 예로, 프레파라트를 이동시킴으로써 구현)시키거나 재물대(130)를 이동시켜 실질적으로 재물대(130)를 이동시키는 것과 동일한 효과를 나타낼 수 있다. 한편, 구동 모듈이 고배율 촬상 모듈(120)만을 x축과 y축을 기준으로 이동시키는 경우, 저배율 촬상 모듈(110)의 촬상 영역은 변경되지 않고 고정되는 효과(즉, 저배율 이미지가 변경되지 않는 효과)를 나타낼 수 있다.The imaging area of the high
"구동 모듈의 z축 구동"에 의해 고배율 촬상 모듈(120)의 초점 거리가 변경될 수 있다. 따라서 "구동 모듈의 z축 구동"에 의해 고배율 촬상 모듈(120)의 포커싱 스텝(Focusing step)이 결정될 수 있다.The focal length of the high-
한편, 본 발명의 디지털 현미경(100)은 고배율 촬상 모듈(120)의 초점 거리가 초기 설정에서 유지되는 장점을 가진다. 즉, 본 발명의 디지털 현미경(100)은 종래의 현미경과 같이 다양한 배율을 가지는 대물 렌즈의 스위칭(Swiching)에 의해 초점 거리가 초기 설정에서 변경되지 않는다. 따라서 본 발명의 디지털 현미경(100)에서는 초점을 맞추기가 용이한 장점이 있다.On the other hand, the
한편, 구동 모듈에는 다양한 종류의 구동 기기가 이용될 수 있다. 일 예로, 본 발명의 디지털 현미경(1000)은 리드 스크류 방식(Lead screw type)이나 볼 스크류 방식(Ball screw type)으로 구동될 수 있다.Meanwhile, various types of driving devices may be used as the driving module. For example, the
전자 제어 모듈(200)은 디지털 현미경(100)과 송신 및 수신하고, 디지털 현미경(100)으로부터 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)를 전달받아 분석을 수행하며, 디지털 현미경(100)을 제어하는 모듈일 수 있다.The
사용자 기기(300)는 전자 제어 모듈(200)과 송신 및 수신하며, 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)가 재생되는 기기일 수 있다.The
사용자 기기(300)는 스마트폰, 태블릿, PDA, 랩톱 등과 같은 전기 통신 장치, 리모트 콘트롤러 중 하나 이상을 포함할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.The
사용자 기기(300)의 디스플레이 패널에서는 사용자의 선택에 따라, 도 6 및 도 7에서 나타내는 바와 같이 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2) 중 하나만 재생될 수도 있고, 도 8에서 나타내는 바와 같이 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)가 동시에 재생될 수도 있다.In the display panel of the
나아가 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)가 동시에 재생되는 경우, 도 8의 (1)에서 나타내는 바와 같이 저배율 이미지(1)가 메인 화면으로 재생되는 동시에 고배율 이미지(2)가 서브 화면으로 재생될 수도 있고, 도 8의 (2)에서 나타내는 바와 같이 고배율 이미지(2)가 메인 화면으로 재생되는 동시에 저배율 이미지(1)가 서브 화면으로 재생될 수도 있다.Furthermore, when the
본 발명의 디지털 현미경 시스템(1000)은 인공지능(AI, Artificial intelligence)을 이용하여 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)를 데이터베이스에 저장된 표준 데이터와 비교하여 분석할 수 있다. 이 경우, 전자 제어 모듈(200)에는 비교 분석을 위한 인공지능이 프로그래밍되어 있을 수 있다.The
일 예로, 본 발명의 디지털 현미경 시스템(1000)은 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)를 분석하여 암세포를 진단할 수 있다.For example, the
이 경우, 저배율 이미지(1)를 표준 데이터와 비교하여 특징점(암세포 의심 영역)을 도출한 후, 고배율 이미지(2)로 특징점(암세포)을 더욱 정밀하게 분석할 수 있다(저배율 이미지 분석 후 고배율 이미지 분석).In this case, after comparing the
또한, 고배율 이미지(2)를 표준 데이터와 비교하여 특징점(암세포)을 도출한 후, 저배율 이미지(1)로 고배율 이미지(2)에서 도출된 특징점(암세포)의 주변 영역을 분석하여 특징점(암세포 의심 영역)을 추가로 발견할 수 있다(고배율 이미지 분석 후 저배율 이미지 분석).In addition, after comparing the high magnification image (2) with the standard data to derive feature points (cancer cells), the low magnification image (1) analyzes the surrounding area of the feature points (cancer cells) derived from the high magnification image (2), thereby highlighting the feature points (cancer cells suspected). Area) can be further discovered (high magnification image analysis followed by low magnification image analysis).
나아가 사용자는 사용자 기기(300)를 통해 저배율 이미지(1)에서 고배율 이미지(2)로 관찰할 영역을 선택할 수 있다. 일 예로, 사용자는 사용자 기기(300)를 통해 저배율 이미지(1)를 관찰하다가 특징점이나 문제점이 발생한 특정 영역에 대해, 고배율 이미지(2)로 관찰할 수 있다.Furthermore, the user may select an area to be observed from the
즉, 본 발명의 디지털 현미경 시스템(1000)에서는 저배율 이미지(1)와 고배율 이미지(2)가 동시에 생성되기 때문에, 저배율 이미지(1)에 의해 고배율 이미지(2)가 가이드될 수 있다.That is, in the
이하, 도 6와 도 7을 참조하여, 고배율 이미지(2)가 저배율 이미지(1)에 의해 가이드되는 것을 설명한다. 도 6와 도 7의 (1)은 사용자 기기(300)의 저배율 이미지(1)에서 특정 영역이 선택되는 것을 나타낸 개념도이고, 도 6와 도 7의 (2)는 사용자 기기(300)에서 저배율 이미지(1)에서 선택된 영역이 재생되는 것을 나타낸 개념도이다.Hereinafter, it will be described with reference to FIGS. 6 and 7 that the
사용자는 일 예로, 터치 스크린 방식으로 저배율 이미지(1)에서 특정 영역을 선택할 수 있다. 사용자 기기(300)는 사용자의 선택에 따른 콘트롤 신호를 전자 제어 모듈(200)로 송신할 수 있고, 전자 제어 모듈(200)은 사용자 기기(300)의 콘트롤 신호에 따라 디지털 현미경(100)을 제어할 수 있다.For example, the user may select a specific area from the
이 경우, 전자 제어 모듈(200)은 고배율 촬상 모듈(110)의 촬상 영역이 저배율 이미지(1)에서 선택된 영역(10)과 대응되도록, 디지털 현미경(100)의 구동 모듈을 제어할 수 있다.In this case, the
이를 구현하기 위한 일 예로, 전자 제어 모듈(200)은 저배율 이미지(1)를 기준으로 형성한 이미지 좌표계(Image coordinate system)를 샘플(s)이 실재하는 공간을 기준으로 형성한 현미경 좌표계(Microscope coordinate system)와 매칭시키고, 고배율 촬상 모듈(110)의 촬상 영역(High magnification image pickup filed)과 샘플(s)에서 저배율 이미지(1)에서 선택된 영역(10)과 매칭되는 부분(20)을 일치시킬 수 있다.As an example for implementing this, the
전자 제어 모듈(200)은 샘플(s)과 재물대(130)와 고배율 촬상 모듈(120) 중 적어도 하나를 현미경 좌표계에서 x축과 y축을 기준으로 이동시킴으로써, 고배율 촬상 모듈(110)의 촬상 영역(High magnification image pickup filed)과 샘플(s)에서 저배율 이미지(1)에서 선택된 영역(10)과 매칭되는 부분(20)을 일치시킬 수 있다.The
즉, 저배율 이미지(1) 상의 이미지 좌표계를 샘플(s)이 실재하는 공간 상의 현미경 좌표계와 매칭시킴으로써, 현미경 좌표계에 실재하는 샘플(s)에서 저배율 이미지(1)에서 선택된 영역(10)과 매칭되는 부분(20)을 도출할 수 있다.That is, by matching the image coordinate system on the
그 후, 샘플(s), 재물대(130) 및 고배율 촬상 모듈(120) 중 적어도 하나를 이동시켜, 샘플(s)의 선택 영역(10)과 고배율 촬상 영역을 일치시킴으로써, 저배율 이미지(1)에 의해서 가이드된 고배율 이미지(2)를 얻을 수 있다. 일 예로, 도 6에서 나타내는 바와 같이 샘플(s) 및 재물대(130) 중 적어도 하나를 현미경 좌표계에서 x축과 y축을 기준으로 이동시킴으로써 샘플(s)의 선택 영역(10)과 고배율 촬상 모듈(120)의 촬상 영역을 일치시키거나, 도 7에서 나타내는 바와 같이 고배율 촬상 모듈(120)을 현미경 좌표계에서 x축과 y축을 기준으로 이동시킴으로써 샘플(s)의 선택 영역(10)과 고배율 촬상 모듈(120)의 촬상 영역을 일치시킬 수 있다.Thereafter, at least one of the sample s, the
상술한 바에 따르면, 본 발명의 디지털 현미경 시스템(1000)에서 사용자는 저배율 이미지(1)에 의해 가이드되어 샘플(s)의 특징 영역에 대한 고배율 이미지(2)를 재생할 수 있다.According to the above, in the
이상, 첨부된 도면을 참조로 하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며, 제한적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.The embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, but a person skilled in the art to which the present invention pertains may implement the present invention in other specific forms without changing its technical spirit or essential features. You will understand. Therefore, it should be understood that the above-described embodiments are illustrative in all respects and not restrictive.
Claims (10)
상기 샘플을 촬상하여 저배율 이미지를 생성하는 저배율 촬상 모듈;
상기 샘플을 촬상하여 고배율 이미지를 생성하고, 상기 샘플을 기준으로 상기 저배율 촬상 모듈의 반대편에 위치하는 고배율 촬상 모듈; 및
상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 이동시키는 구동 모듈을 포함하고,
상기 구동 모듈의 구동에 의해 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역이 변경되는 디지털 현미경.
A stage on which the sample is seated;
A low magnification imaging module that captures the sample to generate a low magnification image;
A high magnification imaging module that captures the sample to generate a high magnification image and is located on the opposite side of the low magnification imaging module based on the sample; And
And a driving module for moving at least one of the sample, the stage, and the high magnification imaging module,
A digital microscope in which the imaging area of the high-magnification imaging module is changed by driving the driving module.
상기 구동 모듈은 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 x축과 y축을 기준으로 이동시키는 디지털 현미경.
According to claim 1,
The driving module is a digital microscope that moves at least one of the sample, the stage, and the high magnification imaging module based on the x-axis and y-axis.
상기 저배율 촬상 모듈의 광축과 상기 고배율 촬상 모듈의 광축은 z축을 기준으로 배열되는 디지털 현미경.
According to claim 1,
A digital microscope in which the optical axis of the low magnification imaging module and the optical axis of the high magnification imaging module are arranged on the basis of the z axis.
상기 구동 모듈은 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 x축과 y축과 z축을 기준으로 이동시키고,
상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역은 상기 구동 모듈의 x축 구동과 y축 구동에 의해 변경되고, 상기 고배율 촬상 모듈의 초점 거리는 상기 구동 모듈의 z축 구동에 의해 변경되는 디지털 현미경.
According to claim 3,
The driving module moves at least one of the sample, the stage, and the high magnification imaging module based on the x-axis, y-axis, and z-axis,
The digital microscope in which the imaging area of the high magnification imaging module is changed by the x-axis driving and the y-axis driving of the driving module, and the focal length of the high-magnification imaging module is changed by the z-axis driving of the driving module.
상기 저배율 촬상 모듈과 상기 고배율 촬상 모듈 각각은 대물 렌즈가 마운트된 렌즈 프리 이미지 센서 모듈이거나 카메라 모듈인 디지털 현미경.
According to claim 1,
Each of the low magnification imaging module and the high magnification imaging module is a digital microscope that is a lens-free image sensor module or a camera module equipped with an objective lens.
상기 저배율 촬상 모듈은 상기 샘플과 상기 재물대의 사이에 배치되는 렌즈 프리 이미지 센서 모듈인 디지털 현미경.
According to claim 1,
The low magnification imaging module is a digital microscope that is a lens-free image sensor module disposed between the sample and the stage.
저배율 이미지와 고배율 이미지가 재생되는 사용자 기기; 및
상기 디지털 현미경을 제어하는 전자 제어 모듈을 포함하고,
상기 디지털 현미경은,
샘플이 안착되는 재물대;
상기 샘플을 촬상하여 상기 저배율 이미지를 생성하는 저배율 촬상 모듈;
상기 샘플을 촬상하여 상기 고배율 이미지를 생성하고, 상기 샘플을 기준으로 상기 저배율 촬상 모듈의 반대편에 위치하는 고배율 촬상 모듈; 및
상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 이동시키는 구동 모듈을 포함하고,
상기 구동 모듈의 구동에 의해 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역이 변경되고,
상기 전자 제어 모듈은,
상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역이 상기 저배율 이미지에서 선택된 영역과 대응되도록, 상기 구동 모듈을 제어하는 디지털 현미경 시스템.
Digital microscope;
A user device in which a low magnification image and a high magnification image are reproduced; And
It includes an electronic control module for controlling the digital microscope,
The digital microscope,
A stage on which the sample is seated;
A low magnification imaging module that captures the sample to generate the low magnification image;
A high magnification imaging module that captures the sample to generate the high magnification image, and is located on the opposite side of the low magnification imaging module based on the sample; And
And a driving module for moving at least one of the sample, the stage, and the high magnification imaging module,
The imaging area of the high-magnification imaging module is changed by driving the driving module,
The electronic control module,
A digital microscope system for controlling the driving module so that an imaging area of the high magnification imaging module corresponds to an area selected from the low magnification image.
상기 전자 제어 모듈은 상기 저배율 이미지를 기준으로 형성한 이미지 좌표계를 상기 샘플이 실재하는 공간을 기준으로 형성한 현미경 좌표계와 매칭시키고, 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역과 상기 샘플에서 상기 저배율 이미지에서 선택된 영역과 매칭되는 부분을 일치시키는 디지털 현미경 시스템.
The method of claim 7,
The electronic control module matches the image coordinate system formed on the basis of the low magnification image with a microscope coordinate system formed on the basis of the space in which the sample is present, and selects the imaging area of the high magnification imaging module and the area selected from the low magnification image in the sample. The digital microscope system that matches the part to be matched with.
상기 전자 제어 모듈은 상기 샘플과 상기 재물대와 상기 고배율 촬상 모듈 중 적어도 하나를 상기 현미경 좌표계에서 x축과 y축을 기준으로 이동시킴으로써, 상기 고배율 촬상 모듈의 촬상 영역과 상기 샘플에서 상기 저배율 이미지에서 선택된 영역과 매칭되는 부분을 일치시키는 디지털 현미경 시스템.
The method of claim 8,
The electronic control module moves at least one of the sample, the stage, and the high-magnification imaging module based on the x-axis and y-axis in the microscope coordinate system, thereby selecting an imaging area of the high-magnification imaging module and an area selected from the low-magnification image in the sample. The digital microscope system that matches the part to be matched with.
상기 전자 제어 모듈은 저배율 이미지와 고배율 이미지 중 적어도 하나를 데이터베이스의 표준 데이터와 비교하여 분석하는 디지털 현미경 시스템.
The method of claim 7,
The electronic control module is a digital microscope system for analyzing by comparing at least one of the low magnification image and the high magnification image with standard data in the database.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020180135394A KR102259841B1 (en) | 2018-11-06 | 2018-11-06 | Digital microscope in which high-magnification image is guided by low-magnification image and digital microscope system |
| PCT/KR2019/013001 WO2020071834A1 (en) | 2018-10-04 | 2019-10-04 | Image sensor module, small digital microscope and small digital microscope array system, real-time three-dimensional digital microscope, and digital microscope and digital microscope system in which high magnification image isguided by low magnification image |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020180135394A KR102259841B1 (en) | 2018-11-06 | 2018-11-06 | Digital microscope in which high-magnification image is guided by low-magnification image and digital microscope system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20200052157A true KR20200052157A (en) | 2020-05-14 |
| KR102259841B1 KR102259841B1 (en) | 2021-06-02 |
Family
ID=70737042
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020180135394A Active KR102259841B1 (en) | 2018-10-04 | 2018-11-06 | Digital microscope in which high-magnification image is guided by low-magnification image and digital microscope system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102259841B1 (en) |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR102259841B1 (en) | 2021-06-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20181106 |
|
| PA0201 | Request for examination | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20190716 Patent event code: PE09021S01D |
|
| AMND | Amendment | ||
| PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20200227 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20190716 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |
|
| X091 | Application refused [patent] | ||
| AMND | Amendment | ||
| PX0901 | Re-examination |
Patent event code: PX09011S01I Patent event date: 20200227 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PX09012R01I Patent event date: 20191015 Comment text: Amendment to Specification, etc. |
|
| PX0601 | Decision of rejection after re-examination |
Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PX06014S01D Patent event date: 20200416 Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event code: PX06012R01I Patent event date: 20200327 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PX06011S01I Patent event date: 20200227 Comment text: Amendment to Specification, etc. Patent event code: PX06012R01I Patent event date: 20191015 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PX06013S01I Patent event date: 20190716 |
|
| X601 | Decision of rejection after re-examination | ||
| PG1501 | Laying open of application | ||
| J201 | Request for trial against refusal decision | ||
| PJ0201 | Trial against decision of rejection |
Patent event date: 20200518 Comment text: Request for Trial against Decision on Refusal Patent event code: PJ02012R01D Patent event date: 20200416 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PJ02011S01I Patent event date: 20200227 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PJ02011S01I Appeal kind category: Appeal against decision to decline refusal Appeal identifier: 2020101001346 Request date: 20200518 |
|
| J301 | Trial decision |
Free format text: TRIAL NUMBER: 2020101001346; TRIAL DECISION FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 20200518 Effective date: 20210412 |
|
| PJ1301 | Trial decision |
Patent event code: PJ13011S01D Patent event date: 20210412 Comment text: Trial Decision on Objection to Decision on Refusal Appeal kind category: Appeal against decision to decline refusal Request date: 20200518 Decision date: 20210412 Appeal identifier: 2020101001346 |
|
| PS0901 | Examination by remand of revocation | ||
| GRNO | Decision to grant (after opposition) | ||
| PS0701 | Decision of registration after remand of revocation |
Patent event date: 20210511 Patent event code: PS07012S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20210415 Patent event code: PS07011S01I Comment text: Notice of Trial Decision (Remand of Revocation) |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20210527 Patent event code: PR07011E01D |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20210527 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |