KR20180076466A

KR20180076466A - 원통형 제품의 고속 검사장치

Info

Publication number: KR20180076466A
Application number: KR1020160180649A
Authority: KR
Inventors: 박시준; 이승훈; 이경준; 이희명; 이종민; 조경일; 손진영
Original assignee: 주식회사 에스디옵틱스
Priority date: 2016-12-28
Filing date: 2016-12-28
Publication date: 2018-07-06
Anticipated expiration: 2036-12-28
Also published as: KR101950447B1

Abstract

복수 개의 물건들을 이송하는 소켓벨트, 및 상기 소켓벨트를 따라 배치된 복수 개의 검사모듈들을 포함하며, 상기 복수 개의 검사모듈들은 서로 동일한 구조를 갖고 있으며, 상기 소켓벨트 상에 배치된 임의의 상기 제1물건과 상기 제1물건에 인접하여 배치된 제2물건은 각각, 상기 복수 개의 검사모듈들 중 서로 다른 검사모듈들에 의해 검사되는, 검사장치를 공개한다.

Description

원통형 제품의 고속 검사장치{High-speed inspection apparatus of cylinder type products}

본 발명은 원통형 제품(=원통형 물품)들의 외관을 고속으로 검사할 수 있는 장치에 관한 것으로서, 특히 금속성 하우징을 포함하는 원통형 전지의 외관을 고속으로 검사하는 데에 적합한 검사장치에 관한 것이다.

원통형 전지와 같은 원통형 제품의 외관 검사를 하기 위한 검사장치들이 있다. 이러한 검사장치는 원통형 제품 외형에 생긴 흠집 등의 문제를 검사하기 위한 것이다.

일반적으로 원통형 전지의 외관 검사는 원통형 전지의 상면, 하면, 및 측면부에 대한 검사가 있다.

관련 등록특허로서, 홍익대학교 산학협력단의 '10-1030449', 및 주식회사 엠케이씨의 '10-1062738' 이 있다.

본 발명에서는, 원통형 전지의 외형상에 발생된 흠집을 검사할 수 있는 검사장치로서, 검사 확인 공정의 시간을 단축시킬 수 있는 검사장치를 제공하고자 한다.

본 발명의 일 관점에 따라 제공되는 검사장치는, 복수 개의 물건들을 이송하는 소켓벨트(71); 및 상기 소켓벨트를 따라 배치된 복수 개의 검사모듈들(80);을 포함하며, 상기 복수 개의 검사모듈들은 서로 동일한 구조를 갖고 있으며, 상기 소켓벨트 상에 배치된 임의의 상기 제1물건과 상기 제1물건에 인접하여 배치된 제2물건은 각각, 상기 복수 개의 검사모듈들 중 서로 다른 검사모듈들에 의해 검사된다.

이때, 상기 소켓벨트에는 상기 소켓벨트의 이동방향을 따라 배치된 복수 개의 (멀티)소켓(70)들이 포함되어 있고, 서로 인접한 임의의 두 개의 상기 소켓들은 미리 결정된 피치만큼 이격되어 있으며, 상기 검사장치는 상기 검사모듈들을 N개 포함하며(단, N은 2 이상의 자연수), 임의의 상기 검사모듈이 검사 프로세스를 수행하는 제1시점과 제2시점 사이에는, 상기 소켓벨트가 [상기 피치*N]의 정수 배에 대응하는 거리만큼 이동하도록 되어 있을 수 있다.

이때, 상기 소켓벨트는 폐로형으로 회전하도록 되어 있으며, 상기 소켓벨트에는 상기 소켓벨트의 회전방향을 따라 배치된 복수 개의 소켓들이 포함되어 있고, 서로 인접한 임의의 두 개의 상기 소켓들은 미리 결정된 피치만큼 이격되어 있으며, 상기 검사장치는 상기 검사모듈들을 N개 포함하며(단, N은 2 이상의 자연수), 임의의 상기 검사모듈이 검사 프로세스를 수행하는 제1시점과 제2시점 사이에는, 상기 소켓벨트가 [상기 피치*N]의 정수 배에 대응하는 거리만큼 회전하도록 되어 있을 수 있다.

이때, 상기 검사장치는 제1스테이지(46) 및 푸셔(60)를 더 포함하며, 상기 제1스테이지에는 k개의 상기 물건들이 대기하도록 되어 있으며, 상기 푸셔는 상기 제1스테이지 상에서 대기하는 상기 k개의 물건들을 상기 소켓벨트에 밀어서 이동시키도록 되어 있을 수 있다.

이때, 상기 검사장치는 피치조절부(=포크부)(50)를 더 포함하며, 상기 피치조절부의 하측에는 위쪽 방향으로 함몰될 형태를 갖는 k개의 피치 고정홈(51)들이 형성되어 있는 가압부(52)가 제공되어 있으며, 상기 가압부가 하강함에 따라, 상기 k개의 피치 고정홈들에 의하여 상기 k개의 물건들 간의 간격이 조절되도록 되어 있으며, 상기 k개의 피치 고정홈들은 일정한 간격으로 이격되어 있을 수 있다.

이때, 상기 소켓벨트(71)에는 상기 소켓벨트의 이동방향을 따라 배치된 복수 개의 (멀티)소켓(70)들이 포함되어 있으며, 상기 복수 개의 소켓들에는 각각 상기 물건이 안착되도록 되어 있을 수 있다.

이때, 상기 복수 개의 검사모듈들 각각은 회전부(90)를 더 포함하며, 상기 회전부는 상기 복수 개의 물건들 중 미리 결정된 검사위치에 도달한 물건을 상기 도달한 물건이 안착되어 있는 소켓으로부터 들어올린 후, 검사를 진행하는 동안 상기 들어올린 물건을 회전시키도록 되어 있을 수 있다.

이때, 상기 각각의 검사모듈은 미리 결정된 순서에 따라 동작하는 제1조명장치(81) 및 제2조명장치(82를 포함하며, 상기 회전부는, 상기 제1조명장치가 동작할 때에 상기 물건을 회전시키고, 상기 제2조명장치가 동작할 때에 상기 물건을 다시 회전시키도록 되어 있을 수 있다.

이때, 상기 회전부는, 수직방향으로 연장된 제1리프팅 아암부(91) 및 제2리프팅 아암부(92); 상기 제1리프팅 아암부 및 상기 제2리프팅 아암부를 상하방향으로 구동하는 액츄에이터(93); 및 상기 도달한 물건보다 위에 배치된 마찰회전축(96 or 97)을 포함하며, 상기 액츄에이터에 의해 상기 제1리프팅 아암부 및 상기 제2리프팅 아암부가 수직방향으로 상승하면, 상기 제1리프팅 아암부 및 상기 제2리프팅 아암부는 상기 도달한 물건의 양 단부에 접촉하여 상기 도달한 물건을 들어 올리도록 되어 있고, 상기 마찰회전축은 상기 들러 올려진 상기 물건의 표면에 접촉한 상태에서 회전함으로써, 상기 들어 올려진 물건을 회전시키도록 되어 있을 수 있다.

이때, 상기 액츄에이터에 의해 상기 제1리프팅 아암부 및 상기 제2리프팅 아암부가 수직방향으로 하강하면, 상기 도달한 물건이 상기 제1소켓에 다시 안착된 후, 상기 제1리프팅 아암부 및 상기 제2리프팅 아암부는 상기 도달한 물건의 양 단부로부터 분리되도록 되어 있을 수 있다.

이때, 상기 제1리프팅 아암부와 상기 제2리프팅 아암부 간의 내측면 간의 간격(L)은 상기 도달한 물건의 연장방향에 대한 상기 소켓의 폭(L3)보다 크고, 상기 물건의 연장방향의 길이(L4)보다는 작도록 되어 있을 수 있다.

이때, 상기 소켓벨트에는 상기 소켓벨트의 이동방향을 따라 배치된 복수 개의 (멀티)소켓(70)들이 포함되어 있고, 상기 소켓에 서로 다른 지름을 갖는 복수 개 타입의 상기 물건들이 안착될 수 있도록, 상기 소켓의 지지면은 아래쪽으로 오목한 형상을 가지며, 상기 소켓에 안착되는 상기 물건은 상기 지지면 중 서로 평행한 2개의 접촉선에만 접촉되도록 되어 있을 수 있다.

이때, 상기 소켓의 지지면은 상기 2개의 접촉선 중 제1접촉선이 포함된 제1면, 및 상기 2개의 접촉선 중 제2접촉선이 포함된 제2면을 포함하며, 상기 제1면과 상기 제2면은 상기 2개의 접촉선에 대해 평행한 수직면을 중심으로 서로 대칭인 형상을 가질 수 있다.

이때, 상기 제1면과 상기 제2면은 모두 평면이거나, 또는 모두 아래로 볼록한 곡면이거나, 또는 모두 위로 볼록한 곡면이며, 상기 제1면과 상기 제2면의 접교부는 직선형이거나, 또는 상기 제1면과 상기 제2면 사이는 곡률을 갖는 곡률면에 의해 접교될 수 있다.

이때, 상기 검사장치는 상기 소켓벨트 상에 배치시킬 상기 물건들을 대기시키는 이송대기부(40)를 더 포함하며, 상기 이송대기부는, 스토퍼(42); 제1스테이지(46); 경사면(41); 피봇면(44), 및 구동부(45)를 포함하며, 상기 스토퍼는 상기 제1스테이지의 제2가장가자리에 배치되어 있고, 상기 제1스테이지의 제1가장자리는 상기 경사면(41)의 제2가장자리에 연결되어 있으며, 상기 경사면의 제1가장자리는 상기 피봇면(44)의 제2가장자리에 피봇축(43)에 의해 연결되어 있으며, 상기 구동부(45)는 상기 피봇면의 제1가장자리의 높이를 조절하도록 되어 있을 수 있다.

이때, 상기 검사장치는 상기 소켓벨트 상에 배치시킬 상기 물건들을 대기시키는 이송대기부(40); 및 상기 이송대기부에 상기 물건들을 제공하는 피커&드롭부(30)를 더 포함하며, 상기 피커&드롭부는 박스(11) 내에 정렬된 상기 물건들을 자력(magnetic force)으로 피킹하여 상기 이송대기부에 내려놓도록 되어 있을 수 있다.

이때, 상기 피커&드롭부(30)는, 본체(31); 상기 본체에 회전가능하게 설치된 회전 샤프트(32); 상기 회전 샤프트에 고정되어 있으며 상기 회전 샤프트의 반지름 방향으로 운동하는 제1피스톤부(34); 상기 제1피스톤부의 일단부에 설치된 자성체(35); 및 상기 회전 샤프트에 고정되어 설치되어 있으며 상기 박스 내에 정렬된 물건들이 직접 접촉되는 금속접촉부(36);를 포함할 수 있다.

이때, 상기 피커&드롭부는, 상기 회전 샤프트에 고정되어 설치되어 있으며 상기 회전 샤프트의 반지름 방향으로 운동하는 제2피스톤부(37); 및 상기 제2피스톤부의 일단부에 설치된 원통형 전지 제거부(38)를 더 포함할 수 있다.

이때, 상기 소켓벨트 상에 배치시킬 상기 물건들을 수납하는 박스의 자세를 제어하는 정렬 스테이지(20)를 더 포함하며, 상기 정렬 스테이지(20)는, 서로 다른 높이에 배치된 두 개의 롤러(21, 22); 및 수직구동부(23)를 포함하며, 상기 수직 구동부는 상기 박스가 상기 정렬 스테이지에 도달하였을 경우, 상기 두 개의 롤러(21, 22)를 수직방향으로 이동시켜 상기 박스의 밑면을 지지하도록 되어 있을 수 있다.

본 발명에 따르면, 원통형 전지의 외형상에 발생된 흠집을 검사할 수 있을 뿐만 아니라, 각 공정에 맞는 검사모듈의 개수를 설정하여 상기 검사에 대한 시간을 단축시킬 수 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사장치의 전체적인 구조를 나타낸 것이다.
도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따라 정렬스테이지의 구조를 나타낸 것이며, 도 2b는 본 발명의 일 실시예에 따라 박스가 정렬스테이지에 도달하였을 때의 동작형태를 나타낸 것이다.
도 3a는 본 발명의 일 실시예에 따른 피커&드롭부를 나타낸 것이며, 도 3b는 본 발명의 일 실시예에 따른 행렬형태로 정렬된 복수 개의 원통형 전지들을 나타낸 것이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 피커&드롭부를 나타낸 것이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 이송대기부의 구조를 나타낸 것이다.
도 6의 (a)는 본 발명의 일 실시예에 따른 포크부를 나타낸 것이며, 도 6의 (b)는 포크부에 의해 원통형 전지들의 모습을 나타낸 것이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 이송대기부와 푸셔 배치구조를 나타낸 것이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따라 멀티소켓들이 배치된 멀티소켓벨트 및 멀티소켓들을 검사하기 위한 검사모듈의 배치구조를 나타낸 것이다.
도 9a는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사모듈의 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다. 도 9b는 본 발명의 다른 실시예에 따른 검사모듈의 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따라 원통형 전지(10)의 측면을 검사하기 위하여 제공되는 회전부의 구성을 나타낸 것이다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따라 회전부가 구동되는 시점에서의 회전부의 형태를 나타낸 것이다.
도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 멀티소켓의 형태를 나타낸 것이다.

이하, 본 발명의 실시예를 첨부한 도면을 참고하여 설명한다. 그러나 본 발명은 본 명세서에서 설명하는 실시예에 한정되지 않으며 여러 가지 다른 형태로 구현될 수 있다. 본 명세서에서 사용되는 용어는 실시예의 이해를 돕기 위한 것이며, 본 발명의 범위를 한정하고자 의도된 것이 아니다. 또한, 이하에서 사용되는 단수 형태들은 문구들이 이와 명백히 반대의 의미를 나타내지 않는 한 복수 형태들도 포함한다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사장치(1)의 전체적인 구조를 나타낸 것이다.

검사장치(1)는 컨베이어 벨트(15), 정렬 스테이지(20), 피커&드롭부(30)(미도시, 도 3a 참조), 이송대기부(40)(미도시, 도 5 참조), 포크부(50)(미도시, 도 6 참조), 푸셔(60), 멀티소켓벨트(71)(=소켓벨트), 및 검사모듈(80)을 포함할 수 있다.

도 1은 위에서 z축 방향에서 xy평면에 대하여 검사장치(1)를 내려다 본 모습일 수 있다.

원통형 전지(10)들의 외관을 검사하기 위해서, 검사장치(1)에는 원통형 전지(10)들이 수납된 박스(11)가 로딩될 수 있다. 이때, 원통형 전지(10)의 외관은 윗면과 아랫면, 그리고 그 사이의 실린더형의 측면으로 구성될 수 있다.

원통형 전지(10)들은 박스(11) 내에 직립된 상태로 배치될 수 있다. 즉, 원통형 전지(10)의 윗면 또는 아랫면이 박스(11)의 바닥면에 접촉된 상태로 박스(11) 내에 정렬되어 있을 수 있다. 박스(11)는 컨베이어 벨트(15)를 통해 정렬 스테이지(20)로 이동할 수 있다. 이때, 좌측의 컨베이어 벨트(15)의 일단부와 우측의 컨베이어 벨트(15)의 컨베이어 벨트(15)의 일단부 사이에는 컨베이어 벨트(15)가 회전되기 위한 컨베이어 벨트 회전축(16)이 연결되어 있을 수 있다. 좌측의 컨베이어 벨트(15)의 타단부와 우측의 컨베이어 벨트(15)의 컨베이어 벨트(15)의 타단부 사이에는 컨베이어 벨트(15)가 회전되기 위한 컨베이어 벨트 회전축(16)이 연결되어 있을 수 있다.

도 2a는 본 발명의 일 실시예에 따라 정렬스테이지(20)의 구조를 나타낸 것이며, 도 2b는 본 발명의 일 실시예에 따라 박스(11)가 정렬스테이지(20)에 도달하였을 때의 동작형태를 나타낸 것이다.

도 2a 및 도 2b는 x축 방향에서, yz평면에 대하여 바라본 정렬스테이지(20) 모습을 나타낸 것이다.

이하, 도 1 내지 도 2b를 함께 참조하여 설명한다.

정렬 스테이지(20)는 서로 다른 높이에 배치된 두 개의 롤러(21, 22), 및 수직구동부(23)를 포함할 수 있다. 이때, 수직 구동부(23)는 박스(11)가 정렬 스테이지(20)에 도달하였을 경우, 두 개의 롤러(21, 22)를 수직방향으로 구동하도록 되어 있을 수 있다.

박스(11)가 두 개의 롤러(21, 22) 위에 배치되면 박스(11)는 두 개의 롤러 중 더 낮은 위치에 배치된 롤러 쪽으로 기울어질 수 있다. 박스(11)가 기울어지면 중력에 의하여 박스 내에 배치된 복수 개의 원통형 전지(10)들이 서로 밀착하여 행렬형태 또는 행렬형태와 유사한 형태로 정렬될 수 있다.

도 3a는 본 발명의 일 실시예에 따른 피커&드롭부(30)를 나타낸 것이며, 도 3b는 본 발명의 일 실시예에 따른 행렬형태로 정렬된 복수 개의 원통형 전지(10)들을 나타낸 것이다.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 피커&드롭부(30)를 나타낸 것이다.

이때, 도 3a는 x축 방향에서 yz평면의 피커&드롭부(30)를 바라본 모습이며, 도 3b는 z축방향에서 xy평면의 박스(11)안의 행렬형태로 정렬된 복수 개의 원통형 전지(10)들을 바라본 모습이다. 그리고 도 4는 피키&드롭부(30)의 사시도를 나타낸 것이다.

이하, 도 1, 도 3a, 도 3b, 및 도 4를 함께 참조하여 설명한다.

피커&드롭부(30)는 상기 행렬형태로 정렬된 복수 개의 원통형 전지(10)들 중 한 개의 열(예컨대, 제1열)에 포함된 복수 개의 원통형 전지(10)들을 자력에 의해 피킹한 후 피킹된 원통현 전지들을 이송대기부(40)에 드롭시킬 수 있다.

피커&드롭부(30)는 본체(31), 본체(31)에 회전가능하게 설치된 회전 샤프트(32), 회전 샤프트(32)를 회전시키는 회전 구동부(33), 회전 샤프트(32)에 고정되어 설치되어 있으며 회전 샤프트(32)의 반지름 방향으로 운동하는 제1피스톤부(34), 제1피스톤부(34)의 일단부에 설치된 자성체(35), 회전 샤프트(32)에 고정되어 설치되어 있으며 원통형 전지(10)들이 직접 접촉되는 금속접촉부(36), 회전 샤프트(32)에 고정되어 설치되어 있으며 회전 샤프트(32)의 반지름 방향으로 운동하는 제2피스톤부(37), 제2피스톤부(37)의 일단부에 설치된 원통형 전지 제거부(38)를 포함할 수 있다.

이때, 제1피스톤부(34)가 수축한 상태에서는 자성체(35)와 금속접촉부(36)가 서로 떨어진 상태를 유지하고, 제1피스톤부(34)가 연장된 상태에서는 자성체(35)와 금속접촉부(36)가 서로 밀착된 상태를 유지하도록 되어 있을 수 있다.

이때, 자성체(35), 금속접촉부(36), 및 제거부(38)는 모두 일 방향으로 길게 연장된 형상을 갖고 있을 수 있다.

그리고 제거부(38)는 금속접촉부(36)의 바로 옆에 배치되어 있을 수 있으며, 제2피스톤부(37)의 수축 또는 연장에 의해 제거부(38)의 위치가 변할 수 있다.

이하, 피커&드롭부(30)의 동작원리를 설명한다.

정렬 스테이지(20) 상에서 박스(11) 내의 복수 개의 원통형 전지(10)들이 행렬형태로 정렬되면, 피커&드롭부(30)의 자세 및 위치를 제어함으로써 정렬된 원통형 전지(10)들 중 제1열의 원통형 전지들 위에 금속접촉부(36)가 배치되도록 한다. 이때, 금속접촉부(36)는 상기 제1열의 원통형 전지들의 상면에 모두 접촉할 수 있도록, 상기 제1열 방향으로 길게 연장된 형상을 할 수 있다.

제1피스톤부(34)를 연장시키고 금속접촉부(36)를 상기 제1열의 원통형 전지들의 상면에 밀착시키면, 상기 제1열의 원통형 전지들의 상면이 자성체인 경우에는 상기 제1열의 원통형 전지들이 금속접촉부(36)에 자력에 의해 홀드된다.

이때, 상기 제1열의 원통형 전지들의 옆에 존재하는 제2열의 원통형 전지들 중 일부 또는 전부가 금속접촉부(36)에 함께 홀드될 수 있다. 이것은 원하지 않는 상황이다. 이러한 상황에서 벗어나기 위하여, 상기 제1열의 원통형 전지들과 상기 제2열의 원통형 전지들 중 일부 또는 전부가 금속접촉부(36)에 홀드된 상태에서, 제2피스톤부(37)를 연장시킴으로써 제거부(38)가 상기 제2열의 원통형 전지들 중 상기 일부 또는 전부를 밀어서 상기 금속접촉부로부터 떨어뜨릴 수 있다. 제거부(38)가 상기 제2열의 원통형 전지들 중 상기 일부 또는 전부를 밀어서 금속접촉부(36)로부터 떨어뜨린 이후에는, 제2피스톤부(37)가 다시 수축할 수 있다. 제2피스톤부(37)가 수축한 상태에서는 제거부(38)의 하면이 금속접촉부(36)의 하면과 같은 높이에 있거나 더 높은 위치에 배치될 수 있으며, 제2피스톤부(37)가 연장된 상태에서는 제거부(38)의 하면이 금속접촉부(36)의 하면보다 낮은 높이까지 하강할 수 있다.

금속접촉부(36)에 홀드되어 있는 상기 제1열의 원통형 전지들은 여전히 중력방향에 대하여 사실상 직립되어 있는 자세를 유지할 수 있다.

이때, 회전 구동부(33)를 약 90도 정도 회전시킴으로써 금속접촉부(36)에 홀드되어 있는 상기 제1열의 원통형 전지들의 자세를 90도 정도 회전시킬 수 있다.

이제, 상기 피커&드롭부(30)를 제어하여, 금속접촉부(36)에 홀드되어 있는 상기 제1열의 원통형 전지들을 이송대기부(40)의 표면 상에 위치시킬 수 있다. 그 다음 제1피스톤부(34)를 수축시키게 되면 자성체(35)가 금속접촉부(36)로부터 멀어지게 된다. 그러면 금속접촉부(36)와 상기 제1열의 원통형 전지들 간의 자력이 약화되면서 상기 제1열의 원통형 전지들이 금속접촉부(36)로부터 떨어지게 된다. 이로써 상기 제1열의 원통형 전지들은 이송대기부(40)의 표면에 안착될 수 있다.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 이송대기부(40)의 구조를 나타낸 것이다.

이하, 도 1 및 도 5를 함께 참조하여 설명한다.

이송대기부(40)는 경사면(41), 스토퍼(42), 피봇축(43), 피봇면(44), 구동부(45), 피치 조절 스테이지(46)(=제1스테이지)를 포함할 수 있다. 피커&드롭부(30)에 의해 이송대기부(40)에 안착된 상기 제1열의 원통형 전지들은 이송대기부(40) 중 피봇면(44) 상에 배치될 수 있다. 피봇면(44)의 제1단부는 피봇축(43)에 의해 경사면(41)에 피봇 연결되어 있고, 피봇면(44)의 제2단부에는 상하높이 조절을 하는 구동부(45)가 연결되어 있을 수 있다. 구동부(45)는 예컨대 피스톤일 수 있다.

구동부(45)가 상기 제2단부의 위치를 상승시키게 되면 피봇면(44)은 피봇축(43)을 중심으로 회전하여 경사를 갖게 된다. 그러면 상기 제1열의 원통형 전지(10)들은 중력에 의하여 피봇면(44)과 경사면(41)을 따라 구르거나 미끄러져 내려가면서 이동하게 된다.

경사면(41)의 제1단부에는 피봇축(43)이 설치되어 있고 반대쪽의 제2단부에는 피치 조절 스테이지(46)가 연결되어 있을 수 있다.

피치 조절 스테이지(46)의 제1단부에는 경사면(41)이 연결되어 있을 수 있고, 피치 조절 스테이지(46)의 제2단부에는 스토퍼(42)가 형성되어 있을 수 있다. 스토퍼(42)는 예컨대 경사면(41)의 상기 제2단부에서 위쪽방향으로 돌출된 돌출부일 수 있다.

경사면(41)을 따라 내려간 원통형 전지는 스토퍼(42)에 의해 정지하게 된다. 정지된 복수 개의 원통형 전지 중 일부, 예컨대 k(k는 2 이상의 자연수)개는 피치 조절 스테이지(46)에 서로 밀착되어 배치될 수 있다.

도 6의 (a)는 본 발명의 일 실시예에 따른 포크부를 나타낸 것이며, 도 6의 (b)는 포크부에 의해 원통형 전지들의 모습을 나타낸 것이다.

이하, 도 1 및 도 6을 함께 참조하여 설명한다.

피치 조절 스테이지(46) 위에는 구동장치에 의하여 상하방향으로 이동되는 포크부(50)가 제공될 수 있다.

포크부(50)는 위쪽 방향으로 함몰된 모양을 갖는 피치 고정홈(51)이 예컨대 k개가 형성된 형태의 단면을 가질 수 있다. 이때, 피치 고정홈(51)들 사이에는 아래쪽 방향으로 돌출된 모양을 갖는 가압부(52)가 예컨대 k-1개가 형성된 형태의 단면을 가질 수 있다. 예컨대, 피치 조절 스테이지(46) 상에 배치된 원통형 전지(10)들의 개수가 k개인 경우 각각, 피치 고정홈(51)은 k개가 제공되고, 가압부(52)는 k-1개가 제공될 수 있다.

포크부(50)를 구동하는 구동장치가 포크부(50)를 아래쪽으로 내리면, 피치 조절 스테이지(46) 상에 서로 밀착되어 있던 복수 개의 원통형 전지(10)들의 사이는 상기 가압부(52)에 의해 서로 벌어지게 되며, 피치 고정홈(51)들의 간격(=피치, pitch)에 따라 상기 복수 개의 원통형 전지(10)들의 위치가 변화되게 된다.

이때, 각 피치 고정홈(51)의 중심축 간의 거리가 L2라고 하고, 원통형 전지(10)의 반지름을 R이라고 한다면, L2>2*R을 만족할 수 있다.

피치 고정홈(51)들의 간격에 따라 상기 복수 개의 원통형 전지(10)들의 위치가 변화되면, 상기 각 원통형 전지(10)들의 중심축 간의 거리는 L2가 될 수 있다.

도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 이송대기부(40)와 푸셔(60) 배치구조를 나타낸 것이다.

이하, 도 1 및 도 7을 함께 참조하여 설명한다.

피치 조절 스테이지(46)의 일 측면에는 푸셔(60)가 배치될 수 있다. 푸셔(60)에는 피치 고정홈(51)들의 간격과 동일한 간격(L2)으로 배치된 복수 개(예컨대 k개)의 푸싱 피스톤(61, 62)들이 제공되어 있을 수 있다. 복수 개의 푸싱 피스톤(61, 62)들의 중심축들의 위치는 피치 고정홈(51)들의 위치에 대하여 정렬되어 있을 수 있다.

피치 조절 스테이지(46) 상의 원통형 전지(10)들의 간격이 포크부(50)에 의하여 조절된 후에, 푸셔(60)의 복수 개의 푸싱 피스톤(61, 62)들이 그 축 방향을 따라 연장될 수 있다. 연장되는 푸싱 피스톤(61, 62)들의 단부는 피치 조절 스테이지(46) 상의 복수 개의 원통형 전지(10)들을 상기 원통형 전지의 길이 방향을 따라 밀어낼 수 있다.

도 8은 본 발명의 일 실시예에 따라 멀티소켓들이 배치된 멀티소켓벨트 및 멀티소켓들을 검사하기 위한 검사모듈의 배치구조를 나타낸 것이다.

이하, 도 1 및 도 8을 함께 참조하여 설명한다.

피치 조절 스테이지(46)의 타 측면에는 멀티소켓(70)들이 트레인형태로 배치된 컨베이어 방식의 멀티소켓벨트(71)가 제공될 수 있다. 서로 인접한 멀티소켓(70)들 간의 피치(p1)는 피치 고정홈(51)들 간의 간격과 동일하게 설계될 수 있다.

푸셔(60)에 의해 피치 조절 스테이지(46)로부터 이탈한 k개의 원통형 전지들은 k개의 멀티소켓(70)들에 슬라이딩하여 놓일 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 검사장치에서, 멀티소켓벨트(71)를 따라 k개의 검사모듈(80)들, 즉 제1검사모듈(80) 내지 제k검사모듈(80)이 배치되어 있을 수 있다. 상기 k개의 검사모듈들은 모두 동일한 구성을 갖는 것들일 수 있다.

멀티소켓벨트(71) 상에 서로 인접하여 배치된 k개의 멀티소켓(70)들에 대하여 다음과 같이 구성될 수 있다. 즉, 상기 k개의 검사모듈 중 p번째 검사모듈은 상기 k개의 멀티소켓(70)들 중 p번째 멀티소켓(70)에 놓인 원통형 전지를 검사할 수 있는 위치(p)에 배치되어 있을 수 있다. 그리고 상기 k개의 검사모듈 중 q번째 검사모듈은 상기 k개의 멀티소켓들 중 q번째 멀티소켓에 놓인 원통형 전지를 검사할 수 있는 위치(q)에 배치되어 있을 수 있다.

이때, 상기 k개의 검사모듈들은 동시에 해당 원통형 전지를 검사할 수 있다. 한 번의 검사사이클이 완료된 이후에는 상기 멀티소켓벨트를 구동하여 멀티소켓들을 이동시킬 수 있는데, 본 발명의 일 실시예에서는 상기 검사사이클들 간에 상기 멀티소켓벨트(71)를 구동할 때에, 멀티소켓(70)들이 멀티소켓간의 간격에 k를 곱한 거리만큼 이동하도록 할 수 있다. 이렇게 함으로써 본 발명의 일 실시예에 따른 검사장치는 상기 검사모듈(80)을 한 개 사용하는 것에 비해서 k배의 속도로 검사할 수 있다는 효과를 얻을 수 있다.

각각의 검사모듈(80)은 그 내부에 한 개 이상의 서브검사모듈을 포함할 수 있다. 상술한 한 번의 검사사이클 동안 상기 한 개 이상의 서브검사모듈들에 의한 검사가 1차례 완료될 수 있다. 상기 한 번의 검사사이클 동안 상기 멀티소켓벨트(71)는 필요한 만큼 구동될 수 있다.

예컨대 상기 각각의 검사모듈은 그 내부에 원통형 전지의 상하면을 검사하는 상하면 검사모듈 및 원통형 전지의 측면을 검사할 수 있는 측면 검사모듈을 포함할 수 있다.

먼저, 특정 원통형 전지의 상하면을 검사한 다음 상기 특정 원통형 전지를 상기 멀티소켓벨트 상에서 소정의 거리만큼 이동시킨 후, 상기 특정 원통형 전지의 측면을 검사할 수 있다.

상기 원통형 전지의 측면은 원통형이기 때문에 이를 고정된 광학기기를 이용하여 검사하는 경우 촬상소자에 노출되지 않는 부분이 발생할 수 있다. 따라서 상기 원통형 전지를 그 중심축을 중심으로 회전시키면서 검사할 수 있다.

또한, 검사관점에 따라 제공해야 하는 조명은 서로 다를 수 있다. 따라서 복수 개의 조명(81, 82, 83)을 독립적으로 제공하면서 상기 측면을 검사하는 경우에는, 상기 원통형 정지를 복수 회 회전시켜야할 수 있다. 예컨대 상기 검사모듈에 설치된 제1조명(81)을 키고 제2조명(82)은 끈 상태에서, 상기 원통형 전지를 1회전 시키면서 제1촬상정보를 얻을 수 있다. 그 다음 제1조명(81)을 끄고 제2조명(82)은 킨 상태에서, 상기 원통형 전지를 추가적으로 1회전 시키면서 제2촬상정보를 얻을 수 있다. 상술한 제1촬상정보 및 제2촬상정보를 이용하여 상기 원통형 전지의 측면의 이상을 판단할 수 있다. 제1촬상정보 및 제2촬상정보는 검사모듈(80)의 촬영부(84)에 의해 촬영된 정보일 수 있다.

도 9a는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사모듈의 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다. 도 9b는 본 발명의 다른 실시예에 따른 검사모듈의 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다.

도 9a는 두 개의 모듈을 이용해서 검사하는 방식일 수 있다. 이때, 제1검사모듈(80, 801)은 제1검사모듈(80, 801)의 검사범위 안에 위치한 원통형 전지들 중 좌측부터 홀수번째에 위치한 원통형 전지(A1, A2)들 만을 검사하도록 되어 있을 수 있다. 그리고 제2검사모듈(80, 802)은 제2검사모듈(80, 802)의 검사범위 안에 위치한 원통형 전지들 중 좌측부터 홀수번째에 위치한 원통형 전지(B4, B5)들 만을 검사하도록 되어 있을 수 있다. 즉, 제1검사모듈(80, 801)은 A시리즈(2n-1)의 원통형 전지들 만을 검사하며, 제2검사모듈(80, 802)은 B시리즈(2n)의 원통형 전지들 만을 검사하도록 설정할 수 있다.

이때, 각 검사모듈의 검사범위 안에 위치한 원통형 전지들에 대한 검사항목은 각각 서로 동일할 수도 있고 다를 수도 있다. 즉, 제1검사모듈(80, 801)의 검사범위 안에 위치한 원통형 전지(A1, A2)들을 검사할 경우, 원통형 전지(A1)과 원통형 전지(A2)의 검사항목은 서로 동일할 수도 있고 다를 수도 있다.

이때, 제1검사모듈(80, 801)과 제2검사모듈(80, 802)의 내부구조는 서로 동일할 수 있다.

도 9b는 세 개의 모듈을 이용해서 검사하는 방식일 수 있다. 이때, 제3검사모듈(80, 803)은 제3검사모듈의 검사범위 안에 위치한 원통형 전지들 중 좌측부터 첫 번째와 네 번째에 위치한 원통형 전지(A1, A2)들 만을 검사하도록 되어 있을 수 있다. 그리고 제4검사모듈(80, 804)은 제4검사모듈의 검사범위 안에 위치한 원통형 전지들 중 좌측부터 첫 번째와 네 번째에 위치한 원통형 전지(B3, B4)들 만을 검사하도록 되어 있을 수 있다. 그리고 제5검사모듈(80, 805)은 제5검사모듈의 검사범위 안에 위치한 원통형 전지들 중 좌측부터 첫 번째와 네 번째에 위치한 원통형 전지(C5, C6)들 만을 검사하도록 되어 있을 수 있다. 즉, 제3검사모듈(80, 803)은 A시리즈(3n-2)의 원통형 전지들 만을 검사하고, 제4검사모듈(80, 804)은 B시리즈(3n-1)의 원통형 전지들 만을 검사하며, 제5검사모듈(80, 805)은 C시리즈(3n)의 원통형 전지들만을 검사하도록 설정할 수 있다.

이때, 각 검사모듈의 검사범위 안에 위치한 원통형 전지들에 대한 검사항목은 각각 서로 동일할 수도 있고 다를 수도 있다.

도 10은 본 발명의 일 실시예에 따라 원통형 전지(10)의 측면을 검사하기 위하여 제공되는 회전부(90)의 구성을 나타낸 것이다. 도 10의 (a)는 회전부를 정면에서 바라본 모습이고, 도 10의 (b)는 회전부를 우측면에서 바라본 모습이다.

도 11은 본 발명의 일 실시예에 따라 회전부가 구동되는 시점에서의 회전부의 형태를 나타낸 것이다. 도 11의 (a)는 회전부를 정면에서 바라본 모습이고, 도 11의 (b)는 회전부를 우측면에서 바라본 모습이다.

이하, 도 10 및 도 11을 함께 참조하여 설명한다.

본 발명의 일 실시예에서 상기 회전부는 상기 검사모듈에 포함되는 장치일 수 있다.

회전부(90)는, 수직방향으로 연장된 제1 리프팅 아암부(91), 수직방향으로 연장된 제2 리프팅 아암부(92), 상기 리프팅 아암부(91, 92)를 상하방향으로 구동하는 액츄에이터(93), 상기 제1 리프팅 아암부(91)의 상단에 설치된 한 쌍의 제1롤러(94), 상기 제2 리프팅 아암부(92)의 상단에 설치된 한 쌍의 제2롤러(95), 제1마찰회전축(96), 제2마찰회전축(97), 및 상기 제1마찰회전축과 상기 제2마찰회전축을 회전시키는 회전구동부(98)를 포함할 수 있다. 이때, 제1 리프팅 아암부(91)와 제2 리프팅 아암부(92) 간의 내측면 간의 간격 L은 상기 멀티소켓의 폭 L3보다 크고, 상기 원통형 전지의 연장방향 길이 L4보다 작을 수 있다.

원통형 전지(10)가 놓인 멀티소켓(70)이 상기 측면 검사 모듈의 검사위치에 도달한 경우, 상기 원통형 전지(10)는 상기 회전부(90) 상에 위치하게 된다. 이때, 상기 한 쌍의 제1롤러(94) 및 한 쌍의 제2롤러(95)는 상기 원통형 전지로부터 일정 거리 이격된 상태를 유지한다. 그 다음, 액츄에이터(93)를 구동하여 제1 리프팅 아암부(91) 및 제2 리프팅 아암부(92)를 위쪽으로 이동시킬 수 있다. 그러면 상기 한 쌍의 제1롤러(94) 및 한 쌍의 제2롤러(95)는 상기 원통형 전지(10)의 양 단부에 접촉하여, 상기 원통형 전지(10)를 들어 올릴 수 있다.

상기 리프팅 아암부(91, 92)에 의해 상승한 원통형 전지(10)의 측면부는 상기 제1마찰회전축(96) 및 제2마찰회전축(97)에 접촉한 상태로 될 수 있다. 이때 상기 회전구동부(98)를 이용하여 제1마찰회전축(96) 및 제2마찰회전축(97)을 회전시키면 원통형 전지는 회전할 수 있다.

이렇게 원통형 전지(10)를 여러 번 회전시키면서, 상기 복수 개의 조명(81, 82, 83)을 순차적으로 키면서 원통형 전지(10)의 측면을 검사할 수 있다.

원통형 전지(10)의 측면의 검사가 완료되면 상기 액츄에이터(93)를 구동하여 제1 리프팅 아암부(91) 및 제2 리프팅 아암부(92)를 다시 아래쪽으로 이동시킬 수 있으며, 따라서 상기 한 쌍의 제1롤러(94) 및 한 쌍의 제2롤러(95)가 상기 원통형 전지로부터 일정 거리 이격된 상태를 유지할 수 있도록 할 수 있다.

도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 멀티소켓의 형태를 나타낸 것이다.

본 발명의 일 실시예에 따른 멀티소켓(70)은, 검사 대상이 되는 원통형 전지(10)의 지름에 상관없이 상기 검사장치가 동작하도록 하기 위한 단면 프로파일을 제공할 수 있다.

본 발명이 일 실시예에 따른 멀티소켓(70)의 안쪽면은, 상기 원통형 전지의 원주방향 4분체 중 아래쪽 제1분체 중 상기 원통형 전지의 연장방향을 따르는 제1선을 따라 접촉하는 제1면, 및 상기 4분체 중 아래쪽 제2분체 중 상기 원통형 전지의 연장방향을 따르는 제2선을 따라 접촉하는 제2면을 갖도록 되어 있을 수 있다.

또한 상기 멀티소켓의 폭은 상기 원통형 전지의 폭보다 짧을 수 있다.

상기 정의된 한 개의 박스, 한 개의 정렬 스테이지, 한 개의 피커&드롭부, 한 개의 이송대기부, 한 개의 푸셔, 한 개의 멀티소켓벨트, 상기 한 개의 멀티소켓벨트에 설치된 복수 개의 검사모듈들에 의해 한 개의 검사라인이 정의될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 검사장치는 상기 검사라인이 병렬적으로 복수 개 제공될 수 있다. 복수 개의 상기 검사라인이 제공된 경우, 상기 복수 개의 검사라인에서 검사된 복수 개의 원통형 전지들은 한 개의 언로딩 컨베이어 벨트에 이송될 수 있다.

상술한 본 발명의 실시예들을 이용하여, 본 발명의 기술 분야에 속하는 자들은 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위 내에 다양한 변경 및 수정을 용이하게 실시할 수 있을 것이다. 특허청구범위의 각 청구항의 내용은 본 명세서를 통해 이해할 수 있는 범위 내에서 인용관계가 없는 다른 청구항에 결합될 수 있다.

Claims

복수 개의 물건들을 이송하는 소켓벨트; 및
상기 소켓벨트를 따라 배치된 복수 개의 검사모듈들;
을 포함하며,
상기 복수 개의 검사모듈들은 서로 동일한 구조를 갖고 있으며,
상기 소켓벨트 상에 배치된 임의의 상기 제1물건과 상기 제1물건에 인접하여 배치된 제2물건은 각각, 상기 복수 개의 검사모듈들 중 서로 다른 검사모듈들에 의해 검사되는,
검사장치.
제1항에 있어서,
상기 소켓벨트에는 상기 소켓벨트의 이동방향을 따라 배치된 복수 개의 멀티소켓들이 포함되어 있고, 서로 인접한 임의의 두 개의 상기 소켓들은 미리 결정된 피치만큼 이격되어 있으며,
상기 검사장치는 상기 검사모듈들을 N개 포함하며(단, N은 2 이상의 자연수),
임의의 상기 검사모듈이 검사 프로세스를 수행하는 제1시점과 제2시점 사이에는, 상기 소켓벨트가 [상기 피치*N]의 정수 배에 대응하는 거리만큼 이동하도록 되어 있는,
검사장치.
제1항에 있어서,
상기 소켓벨트는 폐로형으로 회전하도록 되어 있으며,
상기 소켓벨트에는 상기 소켓벨트의 회전방향을 따라 배치된 복수 개의 소켓들이 포함되어 있고, 서로 인접한 임의의 두 개의 상기 소켓들은 미리 결정된 피치만큼 이격되어 있으며,
상기 검사장치는 상기 검사모듈들을 N개 포함하며(단, N은 2 이상의 자연수),
임의의 상기 검사모듈이 검사 프로세스를 수행하는 제1시점과 제2시점 사이에는, 상기 소켓벨트가 [상기 피치*N]의 정수 배에 대응하는 거리만큼 회전하도록 되어 있는,
검사장치.
제1항에 있어서,
제1스테이지 및 푸셔를 더 포함하며,
상기 제1스테이지에는 k개의 상기 물건들이 대기하도록 되어 있으며,
상기 푸셔는 상기 제1스테이지 상에서 대기하는 상기 k개의 물건들을 상기 소켓벨트에 밀어서 이동시키도록 되어 있는,
검사장치.
제1항에 있어서,
피치조절부를 더 포함하며,
상기 피치조절부의 하측에는 위쪽 방향으로 함몰될 형태를 갖는 k개의 피치 고정홈들이 형성되어 있는 가압부가 제공되어 있으며,
상기 가압부가 하강함에 따라, 상기 k개의 피치 고정홈들에 의하여 상기 k개의 물건들 간의 간격이 조절되도록 되어 있으며,
상기 k개의 피치 고정홈들은 일정한 간격으로 이격되어 있는,
검사장치.
제1항에 있어서, 상기 소켓벨트에는 상기 소켓벨트의 이동방향을 따라 배치된 복수 개의 멀티소켓들이 포함되어 있으며, 상기 복수 개의 소켓들에는 각각 상기 물건이 안착되도록 되어 있는, 검사장치.
제1항에 있어서,
상기 복수 개의 검사모듈들 각각은 회전부(90)를 더 포함하며,
상기 회전부는 상기 복수 개의 물건들 중 미리 결정된 검사위치에 도달한 물건을 상기 도달한 물건이 안착되어 있는 소켓으로부터 들어올린 후, 검사를 진행하는 동안 상기 들어올린 물건을 회전시키도록 되어 있는,
검사장치.
제7항에 있어서,
상기 각각의 검사모듈은 미리 결정된 순서에 따라 동작하는 제1조명장치 및 제2조명장치를 포함하며,
상기 회전부는, 상기 제1조명장치가 동작할 때에 상기 물건을 회전시키고, 상기 제2조명장치가 동작할 때에 상기 물건을 다시 회전시키도록 되어 있는,
검사장치.
제7항에 있어서,
상기 회전부는,
수직방향으로 연장된 제1리프팅 아암부 및 제2리프팅 아암부;
상기 제1리프팅 아암부 및 상기 제2리프팅 아암부를 상하방향으로 구동하는 액츄에이터; 및
상기 도달한 물건보다 위에 배치된 마찰회전축
을 포함하며,
상기 액츄에이터에 의해 상기 제1리프팅 아암부 및 상기 제2리프팅 아암부가 수직방향으로 상승하면, 상기 제1리프팅 아암부 및 상기 제2리프팅 아암부는 상기 도달한 물건의 양 단부에 접촉하여 상기 도달한 물건을 들어 올리도록 되어 있고,
상기 마찰회전축은 상기 들러 올려진 상기 물건의 표면에 접촉한 상태에서 회전함으로써, 상기 들어 올려진 물건을 회전시키도록 되어 있는,
검사장치.
제9항에 있어서,
상기 액츄에이터에 의해 상기 제1리프팅 아암부 및 상기 제2리프팅 아암부가 수직방향으로 하강하면, 상기 도달한 물건이 상기 제1소켓에 다시 안착된 후, 상기 제1리프팅 아암부 및 상기 제2리프팅 아암부는 상기 도달한 물건의 양 단부로부터 분리되도록 되어 있는,
검사장치.
제9항에 있어서, 상기 제1리프팅 아암부와 상기 제2리프팅 아암부 간의 내측면 간의 간격(L)은 상기 도달한 물건의 연장방향에 대한 상기 소켓의 폭(L3)보다 크고, 상기 물건의 연장방향의 길이(L4)보다는 작도록 되어 있는, 검사장치.
제1항에 있어서,
상기 소켓벨트에는 상기 소켓벨트의 이동방향을 따라 배치된 복수 개의 (멀티)소켓(70)들이 포함되어 있고,
상기 소켓에 서로 다른 지름을 갖는 복수 개 타입의 상기 물건들이 안착될 수 있도록, 상기 소켓의 지지면은 아래쪽으로 오목한 형상을 가지며, 상기 소켓에 안착되는 상기 물건은 상기 지지면 중 서로 평행한 2개의 접촉선에만 접촉되도록 되어 있는,
검사장치.
제12항에 있어서,
상기 소켓의 지지면은 상기 2개의 접촉선 중 제1접촉선이 포함된 제1면, 및 상기 2개의 접촉선 중 제2접촉선이 포함된 제2면을 포함하며,
상기 제1면과 상기 제2면은 상기 2개의 접촉선에 대해 평행한 수직면을 중심으로 서로 대칭인 형상을 갖는,
검사장치.
제13항에 있어서,
상기 제1면과 상기 제2면은 모두 평면이거나, 또는 모두 아래로 볼록한 곡면이거나, 또는 모두 위로 볼록한 곡면이며,
상기 제1면과 상기 제2면의 접교부는 직선형이거나, 또는 상기 제1면과 상기 제2면 사이는 곡률을 갖는 곡률면에 의해 접교되는,
검사장치.
제1항에 있어서,
상기 소켓벨트 상에 배치시킬 상기 물건들을 대기시키는 이송대기부(40)를 더 포함하며,
상기 이송대기부는,
스토퍼; 제1스테이지; 경사면; 피봇면, 및 구동부를 포함하며,
상기 스토퍼는 상기 제1스테이지의 제2가장가자리에 배치되어 있고,
상기 제1스테이지의 제1가장자리는 상기 경사면의 제2가장자리에 연결되어 있으며,
상기 경사면의 제1가장자리는 상기 피봇면의 제2가장자리에 피봇축에 의해 연결되어 있으며,
상기 구동부는 상기 피봇면의 제1가장자리의 높이를 조절하도록 되어 있는,
검사장치.
제1항에 있어서,
상기 소켓벨트 상에 배치시킬 상기 물건들을 대기시키는 이송대기부; 및
상기 이송대기부에 상기 물건들을 제공하는 피커&드롭부
를 더 포함하며,
상기 피커&드롭부는 박스 내에 정렬된 상기 물건들을 자력(magnetic force)으로 피킹하여 상기 이송대기부에 내려놓도록 되어 있는,
검사장치.
제16항에 있어서,
상기 피커&드롭부는,
본체;
상기 본체에 회전가능하게 설치된 회전 샤프트;
상기 회전 샤프트에 고정되어 있으며 상기 회전 샤프트의 반지름 방향으로 운동하는 제1피스톤부;
상기 제1피스톤부의 일단부에 설치된 자성체; 및
상기 회전 샤프트에 고정되어 설치되어 있으며 상기 박스 내에 정렬된 물건들이 직접 접촉되는 금속접촉부;
를 포함하는,
검사장치.
제17항에 있어서,
상기 피커&드롭부는,
상기 회전 샤프트에 고정되어 설치되어 있으며 상기 회전 샤프트의 반지름 방향으로 운동하는 제2피스톤부; 및
상기 제2피스톤부의 일단부에 설치된 원통형 전지 제거부
를 더 포함하는,
검사장치.
제1항에 있어서,
상기 소켓벨트 상에 배치시킬 상기 물건들을 수납하는 박스의 자세를 제어하는 정렬 스테이지를 더 포함하며,
상기 정렬 스테이지는,
서로 다른 높이에 배치된 두 개의 롤러; 및
수직구동부
를 포함하며,
상기 수직 구동부는 상기 박스가 상기 정렬 스테이지에 도달하였을 경우, 상기 두 개의 롤러를 수직방향으로 이동시켜 상기 박스의 밑면을 지지하도록 되어 있는,
검사장치.