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KR20170077965A - 유기발광표시장치 및 유기발광표시장치의 구동 방법 - Google Patents

유기발광표시장치 및 유기발광표시장치의 구동 방법 Download PDF

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KR20170077965A
KR20170077965A KR1020150187941A KR20150187941A KR20170077965A KR 20170077965 A KR20170077965 A KR 20170077965A KR 1020150187941 A KR1020150187941 A KR 1020150187941A KR 20150187941 A KR20150187941 A KR 20150187941A KR 20170077965 A KR20170077965 A KR 20170077965A
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Abstract

본 실시예들은 유기발광표시장치와 유기발광표시장치의 구동 방법에 관한 것으로서, 유기발광표시패널에 배치된 유기발광다이오드의 열화 상태를 센싱하고 유기발광다이오드의 열화 상태에 따른 보상 게인과 유기발광다이오드를 포함하는 서브픽셀의 위치에 따른 기울기 게인을 적용하여 유기발광다이오드의 열화에 대한 보상을 수행함으로써, 유기발광다이오드의 열화에 대한 보상 시 유기발광다이오드의 특성치 편차에 의한 과보상 또는 저보상이 발생하지 않도록 하며 유기발광다이오드의 특성치 편차를 반영한 보상을 통해 보상 후 유기발광표시패널의 위치별 휘도를 균일하게 유지할 수 있도록 한다.

Description

유기발광표시장치 및 유기발광표시장치의 구동 방법{ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR DRIVING THE ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE}
본 실시예들은 유기발광표시장치와 유기발광표시장치를 구동하는 방법에 관한 것이다.
최근 표시장치로서 각광받고 있는 유기발광표시장치는 스스로 발광하는 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)를 이용함으로써 응답속도가 빠르고, 명암비, 발광효율, 휘도 및 시야각이 크다는 장점이 있다.
이러한 유기발광표시장치는, 다수의 게이트 라인과 다수의 데이터 라인이 배치되고 게이트 라인과 데이터 라인이 교차되는 영역에 배치된 다수의 서브픽셀을 포함하는 유기발광표시패널과, 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 드라이버와, 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 드라이버와, 게이트 드라이버와 데이터 드라이버의 구동을 제어하는 타이밍 컨트롤러 등을 포함할 수 있으며, 각각의 서브픽셀은 유기발광다이오드(OLED)와 유기발광다이오드(OLED)를 구동하는 구동 트랜지스터를 포함할 수 있다.
이러한 유기발광표시장치의 서브픽셀에 포함된 유기발광다이오드(OLED)나 구동 트랜지스터와 같은 회로 소자는 각각 고유한 특성치(예: 문턱전압, 이동도 등)를 가지며, 유기발광표시장치의 구동 시간에 따라 열화(Degradation)가 진행되어 고유한 특성치가 변화될 수 있다.
이러한 회로 소자의 특성치 변화는 유기발광표시패널의 휘도 편차나 휘도 저하를 유발할 수 있어, 회로 소자의 특성치 변화를 센싱하고 특성치 변화에 따른 보상을 수행하는 기술이 적용되고 있다.
예를 들어, 유기발광다이오드(OLED)의 특성치를 센싱하여 유기발광다이오드(OLED)의 열화 정도를 판단하고 열화 정도에 따라 유기발광다이오드(OLED)에 인가되는 데이터 전압을 높여줌으로써 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 의한 휘도 저하를 보상한다.
이는 유기발광다이오드(OLED)의 열화 정도에 해당하는 보상 게인을 데이터 전압에 적용함으로써 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 의한 휘도 저하를 보상할 수 있으며, 보상 게인은 유기발광표시패널의 시간에 따른 휘도 변화 측정을 통해 산출되고 저장된 값일 수 있다.
이때, 유기발광표시패널에 배치된 유기발광다이오드(OLED)는 특성치 편차가 존재하여, 유기발광표시패널의 시간에 따른 휘도 변화는 유기발광표시패널의 위치에 따라 상이할 수 있다.
따라서, 유기발광표시패널의 시간에 따른 전체적인 휘도 변화 측정을 통해 산출된 보상 게인을 공통적으로 적용하여 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상할 경우, 유기발광표시패널의 위치에 따라 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 과보상 또는 저보상이 이루어질 수 있다.
이에 따라, 보상 게인을 낮게 설정할 경우에는 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상 성능이 저감되는 문제점이 있으며, 보상 게인을 높게 설정할 경우에는 화질 불량 등이 발생하는 문제점이 있어, 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상에 의한 유기발광표시패널의 위치별 편차가 발생하지 않도록 하는 보상 방식이 요구된다.
본 실시예들의 목적은, 유기발광표시패널에 배치된 유기발광다이오드의 열화에 대한 보상 성능을 개선하고 유기발광다이오드의 열화에 대한 과보상으로 인한 화질 불량을 방지하는 유기발광표시장치를 제공하는 데 있다.
본 실시예들의 목적은, 유기발광표시패널에 배치된 유기발광다이오드의 열화에 대한 보상 시 발생하는 유기발광표시패널의 위치별 편차를 개선한 유기발광표시장치를 제공하는 데 있다.
일 실시예는, 유기발광다이오드와 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터를 포함하는 다수의 서브픽셀이 배치된 유기발광표시패널을 포함하는 유기발광표시장치에 있어서, 유기발광다이오드의 특성치를 센싱하는 센싱부와 유기발광다이오드의 특성치에 따른 보상값을 생성하는 보상부를 포함할 수 있으며, 구체적으로, 센싱부는 유기발광다이오드의 특성치를 센싱하여 유기발광다이오드의 열화 상태에 대한 센싱 데이터를 생성하고, 보상부는 유기발광다이오드의 열화 상태와 유기발광다이오드를 포함하는 서브픽셀의 위치에 따른 게인이 설정된 룩업테이블에서 센싱부에 의해 생성된 센싱 데이터에 해당하는 게인을 이용하여 유기발광다이오드의 열화 보상을 위한 보상값을 생성할 수 있다.
예를 들어, 보상부는, 룩업테이블에서 유기발광다이오드의 열화 상태에 따라 설정된 보상 게인과 유기발광다이오드를 포함하는 서브픽셀의 위치에 따라 설정된 기울기 게인을 이용하여 유기발광다이오드의 열화 보상을 위한 보상값을 생성할 수 있으며, 기울기 게인은 서브픽셀에 포함된 유기발광다이오드의 특성치 편차에 따라 보상 게인을 조정하는 게인일 수 있다.
여기서, 룩업테이블은, 유기발광다이오드의 열화 상태에 따른 보상 게인이 설정된 제1룩업테이블과 유기발광다이오드를 포함하는 서브픽셀의 위치에 따른 기울기 게인이 설정된 제2룩업테이블로 구성될 수 있으며, 제2룩업테이블은, 유기발광표시패널에 배치된 다수의 서브픽셀 중 인접한 둘 이상의 서브픽셀을 포함하는 영역별로 기울기 게인이 설정되거나, 유기발광다이오드를 포함하는 서브픽셀의 위치와 서브픽셀이 표시하는 색상별로 기울기 게인이 설정되거나, 유기발광다이오드를 포함하는 각각의 서브픽셀마다 기울기 게인이 설정되어 구성될 수 있다.
다른 실시예는, 유기발광다이오드와 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터를 포함하는 다수의 서브픽셀이 배치된 유기발광표시패널을 포함하는 유기발광표시장치의 구동 방법에 있어서, 유기발광다이오드의 특성치를 센싱하는 단계와, 센싱된 유기발광다이오드의 특성치에 기초하여 유기발광다이오드의 열화 상태에 대한 센싱 데이터를 생성하는 단계와, 유기발광다이오드의 열화 상태와 유기발광다이오드를 포함하는 서브픽셀의 위치에 따른 게인이 설정된 룩업테이블에서 센싱 데이터에 해당하는 게인을 이용하여 유기발광다이오드의 열화 보상을 위한 보상값을 생성하는 단계를 포함하는 유기발광표시장치의 구동 방법을 제공할 수 있다.
본 실시예들에 의하면, 유기발광표시패널에 배치된 유기발광다이오드의 특성치 편차를 고려하여 유기발광다이오드의 열화에 대한 보상을 수행함으로써, 유기발광다이오드의 열화 보상에 따른 유기발광표시패널의 위치별 편차를 해소할 수 있도록 한다.
본 실시예들에 의하면, 유기발광다이오드의 열화 보상 시 유기발광표시패널의 위치에 따른 편차를 해소함으로써, 유기발광다이오드의 열화에 대한 보상 성능을 개선하고 과보상에 의한 화질 불량이 발생하지 않도록 한다.
도 1은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 개략적인 구성을 나타낸 도면이다.
도 2는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 서브픽셀 구조의 예시를 나타낸 도면이다.
도 3은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 서브픽셀 구조와 보상 회로의 예시를 나타낸 도면이다.
도 4는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 유기발광다이오드의 특성치 센싱을 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서 유기발광표시패널의 위치별 편차를 고려하여 유기발광다이오드의 열화를 보상하는 방식을 설명하기 위한 도면이다.
도 6 내지 도 8은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서 유기발광다이오드의 열화를 보상하는 다른 실시예를 설명하기 위한 도면이다.
도 9와 도 10은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 구동 방법의 과정을 나타낸 흐름도이다.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.
또한, 본 발명의 구성요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성요소 사이에 다른 구성요소가 "개재"되거나, 각 구성요소가 다른 구성요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
도 1은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 개략적인 구성을 나타낸 것이다.
도 1을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 다수의 게이트 라인(GL)과 다수의 데이터 라인(DL)이 배치되고 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)이 교차하는 영역에 배치되는 다수의 서브픽셀(SP)을 포함하는 유기발광표시패널(110)과, 다수의 게이트 라인(GL)을 구동하는 게이트 드라이버(120)와, 다수의 데이터 라인(DL)에 데이터 전압을 공급하는 데이터 드라이버(130)와, 게이트 드라이버(120) 및 데이터 드라이버(130)를 제어하는 타이밍 컨트롤러(140, T-CON)를 포함한다.
게이트 드라이버(120)는, 다수의 게이트 라인(GL)으로 스캔 신호를 순차적으로 공급함으로써 다수의 게이트 라인(GL)을 순차적으로 구동한다.
게이트 드라이버(120)는, 타이밍 컨트롤러(140)의 제어에 따라 온(ON) 전압 또는 오프(OFF) 전압의 스캔 신호를 다수의 게이트 라인(GL)으로 순차적으로 공급하여 다수의 게이트 라인(GL)을 순차적으로 구동한다.
게이트 드라이버(120)는, 구동 방식에 따라 유기발광표시패널(110)의 일 측에만 위치할 수도 있고 양측에 위치할 수도 있다.
또한, 게이트 드라이버(120)는, 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로(Gate Driver Integrated Circuit)를 포함할 수 있다.
각 게이트 드라이버 집적회로는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식 또는 칩 온 글래스(COG: Chip On Glass) 방식으로 유기발광표시패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나, GIP(Gate In Panel) 타입으로 구현되어 유기발광표시패널(110)에 직접 배치될 수 있다.
또한, 유기발광표시패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있으며, 유기발광표시패널(110)과 연결된 필름상에 실장되는 칩 온 필름(COF: Chip On Film) 방식으로 구현될 수도 있다.
데이터 드라이버(130)는, 다수의 데이터 라인(DL)으로 데이터 전압을 공급함으로써 다수의 데이터 라인(DL)을 구동한다.
데이터 드라이버(130)는, 특정 게이트 라인(GL)이 열리면 타이밍 컨트롤러(140)로부터 수신한 영상 데이터를 아날로그 형태의 데이터 전압으로 변환하여 다수의 데이터 라인(DL)에 공급함으로써 다수의 데이터 라인(DL)을 구동한다.
데이터 드라이버(130)는, 적어도 하나의 소스 드라이버 집적회로(Source Driver Integrated Circuit)를 포함하여 다수의 데이터 라인(DL)을 구동할 수 있다.
각 소스 드라이버 집적회로는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식 또는 칩 온 글래스(COG: Chip On Glass) 방식으로 유기발광표시패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나, 유기발광표시패널(110)에 직접 배치될 수도 있으며, 유기발광표시패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다.
또한, 각 소스 드라이버 집적회로는, 칩 온 필름(COF: Chip On Film) 방식으로 구현될 수 있다. 이 경우, 각 소스 드라이버 집적회로의 일 단은 적어도 하나의 소스 인쇄회로기판(Source Printed Circuit Board)에 본딩되고, 타 단은 유기발광표시패널(110)에 본딩된다.
타이밍 컨트롤러(140)는, 게이트 드라이버(120) 및 데이터 드라이버(130)로 각종 제어 신호를 공급하여 게이트 드라이버(120) 및 데이터 드라이버(130)의 구동을 제어한다.
이러한 타이밍 컨트롤러(140)는, 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 스캔을 시작하고, 외부에서 입력되는 입력 영상 데이터를 데이터 드라이버(130)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터를 출력하며, 스캔에 맞춰 적당한 시간에 데이터 구동을 제어한다.
타이밍 컨트롤러(140)는, 입력 영상 데이터와 함께 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 데이터 인에이블(DE: Data Enable) 신호, 클럭 신호(CLK) 등을 포함하는 각종 타이밍 신호들을 외부(예: 호스트 시스템)로부터 수신한다.
타이밍 컨트롤러(140)는, 외부로부터 입력된 입력 영상 데이터를 데이터 드라이버(130)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터를 출력하는 것 이외에, 게이트 드라이버(120) 및 데이터 드라이버(130)를 제어하기 위하여, 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 데이터 인에이블 신호(DE), 클럭 신호(CLK) 등의 타이밍 신호를 입력받아, 각종 제어 신호들을 생성하여 게이트 드라이버(120) 및 데이터 드라이버(130)로 출력한다.
예를 들어, 타이밍 컨트롤러(140)는, 게이트 드라이버(120)를 제어하기 위하여, 게이트 스타트 펄스(GSP: Gate Start Pulse), 게이트 쉬프트 클럭(GSC: Gate Shift Clock), 게이트 출력 인에이블 신호(GOE: Gate Output Enable) 등을 포함하는 각종 게이트 제어 신호(GCS: Gate Control Signal)를 출력한다.
여기서, 게이트 스타트 펄스(GSP)는 게이트 드라이버(120)를 구성하는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로의 동작 스타트 타이밍을 제어한다. 게이트 쉬프트 클럭(GSC)은 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로에 공통으로 입력되는 클럭 신호로서, 스캔 신호(게이트 펄스)의 쉬프트 타이밍을 제어한다. 게이트 출력 인에이블 신호(GOE)는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로의 타이밍 정보를 지정하고 있다.
또한, 타이밍 컨트롤러(140)는, 데이터 드라이버(130)를 제어하기 위하여, 소스 스타트 펄스(SSP: Source Start Pulse), 소스 샘플링 클럭(SSC: Source Sampling Clock), 소스 출력 인에이블 신호(SOE: Source Output Enable) 등을 포함하는 각종 데이터 제어 신호(DCS: Data Control Signal)를 출력한다.
여기서, 소스 스타트 펄스(SSP)는 데이터 드라이버(130)를 구성하는 하나 이상의 소스 드라이버 집적회로의 데이터 샘플링 시작 타이밍을 제어한다. 소스 샘플링 클럭(SSC)은 소스 드라이버 집적회로 각각에서 데이터의 샘플링 타이밍을 제어하는 클럭 신호이다. 소스 출력 인에이블 신호(SOE)는 데이터 드라이버(130)의 출력 타이밍을 제어한다.
타이밍 컨트롤러(140)는, 소스 드라이버 집적회로가 본딩된 소스 인쇄회로기판과 연성 플랫 케이블(FFC: Flexible Flat Cable) 또는 연성 인쇄회로(FPC: Flexible Printed Circuit) 등의 연결 매체를 통해 연결된 컨트롤 인쇄회로기판(Control Printed Circuit Board)에 배치될 수 있다.
이러한 컨트롤 인쇄회로기판에는, 유기발광표시패널(110), 게이트 드라이버(120) 및 데이터 드라이버(130) 등으로 각종 전압 또는 전류를 공급해주거나 공급할 각종 전압 또는 전류를 제어하는 전원 컨트롤러(미도시)가 더 배치될 수 있다. 이러한 전원 컨트롤러는 전원 관리 집적회로(Power Management Integrated Circuit)라고도 한다.
유기발광표시패널(110)에 배치되는 각 서브픽셀(SP)은 트랜지스터 등의 회로 소자를 포함하여 구성될 수 있다.
예를 들어, 유기발광표시패널(110)에서 각 서브픽셀(SP)은 유기발광다이오드(OLED)와 유기발광다이오드(OLED)를 구동하기 위한 구동 트랜지스터(DRT: Driving Transistor) 등의 회로 소자로 구성될 수 있다.
각 서브픽셀(SP)을 구성하는 회로 소자의 종류 및 개수는 제공 기능 및 설계 방식 등에 따라 다양하게 정해질 수 있다.
도 2는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 서브픽셀(SP) 구조의 예시를 나타낸 것이다.
도 2를 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 각 서브픽셀(SP)은, 유기발광다이오드(OLED)와, 유기발광다이오드(OLED)를 구동하는 구동 트랜지스터(DRT)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 기준 전압(Vref: Reference Voltage)을 공급하는 기준 전압 라인(RVL: Reference Voltage Line) 사이에 전기적으로 연결되는 센싱 트랜지스터(SENT: Sensing Transistor)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 데이터 전압(Vdata)을 공급하는 데이터 라인(DL) 사이에 전기적으로 연결되는 스위칭 트랜지스터(SWT: Switching Transistor)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 전기적으로 연결되는 스토리지 캐패시터(Cstg: Storage Capacitor) 등을 포함하여 구성된다.
유기발광다이오드(OLED)는, 제1전극(예: 애노드 전극 또는 캐소드 전극), 유기층 및 제2전극(예: 캐소드 전극 또는 애노드 전극) 등으로 이루어질 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)는, 유기발광다이오드(OLED)로 구동 전류를 공급하여 유기발광다이오드(OLED)를 구동한다.
이러한 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)는 유기발광다이오드(OLED)의 제1전극과 전기적으로 연결될 수 있으며, 소스 노드 또는 드레인 노드일 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)는 스위칭 트랜지스터(SWT)의 소스 노드 또는 드레인 노드와 전기적으로 연결될 수 있으며, 게이트 노드일 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제3노드(N3)는 구동 전압(EVDD)을 공급하는 구동 전압 라인(DVL: Driving Voltage Line)과 전기적으로 연결될 수 있으며, 드레인 노드 또는 소스 노드일 수 있다.
센싱 트랜지스터(SENT)는, 게이트 신호에 의해 턴-온 되어, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)에 기준 전압(Vref)을 인가해줄 수 있다.
또한, 센싱 트랜지스터(SENT)는, 턴-온 시, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)에 대한 전압 센싱 경로로 활용될 수도 있다.
스위칭 트랜지스터(SWT)는, 게이트 신호에 의해 턴-온 시, 데이터 라인(DL)을 통해 공급된 데이터 전압(Vdata)을 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)에 전달해준다.
이때, 센싱 트랜지스터(SENT)와 스위칭 트랜지스터(SWT)는 서로 다른 게이트 라인(GL)에 연결되어 별도로 온-오프가 제어될 수도 있고, 동일한 게이트 라인(GL)에 연결되어 제어될 수도 있다.
스토리지 캐패시터(Cstg)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 전기적으로 연결되어, 영상 신호 전압에 해당하는 데이터 전압(Vdata) 또는 이에 대응하는 전압을 한 프레임 시간 동안 유지해줄 수 있다.
한편, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 경우, 각 서브픽셀(SP)의 구동 시간이 길어짐에 따라, 유기발광다이오드(OLED), 구동 트랜지스터(DRT) 등의 회로 소자에 대한 열화(Degradation)가 진행될 수 있다.
이에 따라, 유기발광다이오드(OLED), 구동 트랜지스터(DRT) 등의 회로 소자가 갖는 고유한 특성치(예: 문턱전압, 이동도 등)가 변할 수 있다.
이러한 회로 소자의 특성치 변화는 해당 서브픽셀(SP)의 휘도 변화를 야기하며, 회로 소자 간의 열화 정도의 차이로 인한 회로 소자 간의 특성치 변화 차이는 서브픽셀(SP) 간의 휘도 편차를 발생시키고 유기발광표시패널(110)의 휘도 균일도 저하를 초래할 수 있다.
여기서, 회로 소자의 특성치는, 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압이나 이동도를 포함하며, 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압을 포함할 수도 있다.
본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 서브픽셀(SP) 간의 특성치 변화 또는 각 서브픽셀(SP) 간의 특성치 편차를 센싱하는 센싱 기능과, 센싱 결과를 이용하여 서브픽셀(SP)의 특성치를 보상하는 보상 기능을 제공할 수 있다.
도 3은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 서브픽셀(SP) 구조와 보상 회로의 예시를 나타낸 것이다.
도 3을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는 서브픽셀(SP)의 특성치를 센싱하고 보상하기 위해 센싱부(310), 보상부(320), 메모리(330), 기준 전압 스위치(SPRE) 및 샘플링 스위치(SAMP)를 포함할 수 있다.
센싱부(310)는, 서브픽셀(SP)의 특성치 또는 그 변화를 센싱하기 위한 전압을 센싱하고 센싱된 전압을 디지털 값으로 변환하며 변환된 센싱값을 포함하는 센싱 데이터를 출력한다.
여기서, 서브픽셀(SP)의 특성치는, 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압, 이동도나 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압을 의미하며, 센싱 데이터는 LVDS(Low Voltage Differential Signaling) 데이터 포맷으로 되어있을 수 있다.
센싱부(310)는, 적어도 하나의 아날로그 디지털 컨버터(ADC: Analog to Digital Converter)를 포함하여 구현될 수 있다. 각각의 아날로그 디지털 컨버터(ADC)는 소스 드라이버 집적회로의 내부에 포함될 수 있으며, 경우에 따라서는 소스 드라이버 집적회로의 외부에 배치될 수도 있다.
보상부(320)는, 센싱부(310)가 출력하는 센싱 데이터를 이용하여 서브픽셀(SP)의 특성치 또는 그 변화를 파악하여 서브픽셀(SP) 간의 특성치 편차를 보상해주는 보상 프로세스를 수행한다.
보상부(320)는, 타이밍 컨트롤러(140)의 내부에 포함될 수 있으며, 경우에 따라서는, 타이밍 컨트롤러(140)의 외부에 배치될 수도 있다.
메모리(330)는, 센싱부(310)가 출력하는 센싱 데이터를 저장하며, 보상부(320)가 센싱 데이터를 토대로 산출한 보상값을 저장할 수도 있다. 또한, 센싱 데이터를 토대로 보상값을 산출하기 위한 게인(Gain)이 설정된 룩업테이블(LUT)을 저장할 수도 있다.
기준 전압 스위치(SPRE)는 기준 전압 라인(RVL)으로의 기준 전압(Vref)의 공급 여부를 제어하며, 샘플링 스위치(SAMP)는 서브픽셀(SP)의 특성치를 센싱하기 위한 전압을 센싱하기 위하여 기준 전압 라인(RVL)과 센싱부(310)의 연결을 제어한다.
기준 전압 스위치(SPRE)가 턴-온 되면, 기준 전압(Vref)이 기준 전압 라인(RVL)으로 공급된다. 기준 전압 라인(RVL)으로 공급된 기준 전압(Vref)은, 턴-온 되어있는 센싱 트랜지스터(SENT)를 통해 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)로 인가될 수 있다.
한편, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 서브픽셀(SP)의 특성치를 반영하는 전압 상태가 되면, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 등전위일 수 있는 기준 전압 라인(RVL)의 전압도 서브픽셀(SP)의 특성치를 반영하는 전압 상태가 될 수 있다. 이때, 기준 전압 라인(RVL) 상에 형성된 라인 캐패시터에 서브픽셀(SP)의 특성치를 반영하는 전압이 충전될 수 있다.
즉, 센싱 트랜지스터(SENT)가 턴-온 된 경우, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압은, 기준 전압 라인(RVL)의 전압과, 기준 전압 라인(RVL) 상에 형성된 라인 캐패시터에 충전된 전압은 동일할 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 서브픽셀(SP)의 특성치를 반영하는 전압 상태가 되면, 샘플링 스위치(SAMP)가 턴-온 되어, 센싱부(310)와 기준 전압 라인(RVL)이 연결될 수 있다.
이에 따라, 센싱부(310)는 서브픽셀(SP)의 특성치를 반영하는 전압 상태인 기준 전압 라인(RVL)의 전압을 센싱한다. 여기서, 기준 전압 라인(RVL)을 "센싱 라인(SL)"이라고 할 수도 있다.
즉, 센싱부(310)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 센싱한다.
센싱부(310)에서 센싱된 전압은, 구동 트랜지스터(DRT)에 대한 문턱전압 센싱의 경우, 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압(Vth) 또는 문턱전압 변화(ΔVth)를 포함하는 전압값일 수 있다.
또한, 센싱부(310)에서 센싱된 전압은, 구동 트랜지스터(DRT)에 대한 이동도 센싱의 경우, 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 센싱하기 위한 전압값일 수도 있다.
또한, 센싱부(310)에서 센싱된 전압은, 유기발광다이오드(OLED)의 특성치인 문턱전압을 반영하는 전압일 수도 있다.
도 4는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 센싱을 설명하기 위한 도면이다.
전술한 바와 같이, 유기발광표시장치(100)의 구동 시간이 증가함에 따라 구동 트랜지스터(DRT)의 열화에 의한 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치 편차가 발생할 뿐만 아니라, 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 의한 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 편차도 발생할 수 있다.
유기발광표시장치(100)의 장시간 구동 시, 구동 스트레스(Stress)로 인하여 각 서브픽셀(SP)의 유기발광다이오드(OLED)가 열화 되어, 잔상 등의 화면 이상 현상을 발생시킬 수 있다.
이러한 유기발광다이오드(OLED)의 열화 정도를 파악하기 위하여, 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압(Vth_OLED)을 센싱하고 열화에 대한 보상을 해줄 수 있다.
예를 들어, 유기발광다이오드(OLED)에 전류가 흐를 때 유기발광다이오드(OLED)에 문턱전압(Vth_OLED)만큼 전압이 인가되게 된다. 유기발광다이오드(OLED)에 인가된 전압에 따라 구동 트랜지스터(DRT)에 흐르는 전류에 차이가 생겨, 유기발광다이오드(OLED)에 인가된 전압을 센싱할 수 있다.
센싱된 전압을 토대로 유기발광다이오드(OLED)의 열화 정도를 파악하고 파악된 열화 정도에 따라 각 서브픽셀(SP)에 인가되는 데이터 전압을 조절하는 방식으로 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상을 수행할 수 있다.
즉, 유기발광다이오드(OLED)에 전류가 흐를 때 유기발광다이오드(OLED)에 인가된 전압을 센싱함으로써, 유기발광다이오드(OLED)의 열화 정도를 센싱하고 열화에 대한 보상을 수행한다.
열화에 대한 보상은 유기발광표시패널(110)의 시간에 따른 휘도 변화 측정을 통해 산출된 보상 게인을 적용함으로써 수행할 수 있으며, 보상 게인은 유기발광다이오드(OLED)의 열화 상태에 따른 보상 게인이 룩업테이블(LUT)의 형태로 설정되어 저장될 수 있다.
이때, 서브픽셀(SP)에 포함된 유기발광다이오드(OLED)는 특성치 편차가 존재하여, 유기발광표시패널(110)의 시간에 따른 휘도 변화 측정을 통해 산출된 보상 게인을 공통적으로 적용할 경우, 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 편차에 따라 과보상 또는 저보상이 이루어질 수 있다.
이러한 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 과보상 또는 저보상은, 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상 후 유기발광표시패널(110)의 위치별 휘도 편차가 발생하게 할 수 있다.
본 실시예들은 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상을 수행함에 있어서, 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 편차를 고려하여 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상을 수행할 수 있도록 한다.
도 5는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서 유기발광표시패널(110)에 배치된 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 편차를 고려하여 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상을 수행하는 예시를 나타낸 것이다.
도 5와 앞서 설명한 도 3을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 센싱부(310)는, 유기발광다이오드(OLED)의 특성치를 센싱하고 센싱된 값을 토대로 유기발광다이오드(OLED)의 열화 상태를 나타내는 센싱 데이터를 생성한다.
센싱부(310)는, 생성된 센싱 데이터를 보상부(320)로 출력하거나 메모리(330)에 저장할 수 있다.
보상부(320)는, 센싱부(310)에 의해 출력된 센싱 데이터와 유기발광다이오드(OLED)의 열화 상태에 따른 보상 게인이 설정된 룩업테이블(LUT)을 이용하여 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상을 위한 보상값을 생성한다.
룩업테이블(LUT)은, 유기발광표시패널(110)의 시간에 따른 휘도 변화 측정을 통해 산출된 보상 게인이 유기발광다이오드(OLED)의 열화 상태에 따라 설정되어 있을 수 있으며, 메모리(330)나 타이밍 컨트롤러(140)의 내부에 저장되어 있을 수 있다.
보상부(320)는, 유기발광다이오드(OLED)의 열화 상태를 나타내는 센싱 데이터에 해당하는 보상 게인을 룩업테이블(LUT)에서 선택하고 선택된 보상 게인을 적용하여 열화된 유기발광다이오드(OLED)에 인가되는 데이터 전압을 조절해줌으로써 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상이 이루어질 수 있도록 한다.
이때, 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 편차로 인하여 룩업테이블(LUT)에 설정된 보상 게인으로 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상을 수행할 경우 유기발광다이오드(OLED)마다 보상 수준의 차이가 발생할 수 있으며, 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상 수준의 차이는 유기발광표시패널(110)의 위치별 휘도 편차로 나타날 수 있다.
본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서는, 룩업테이블(LUT)을 유기발광다이오드(OLED)의 열화 상태에 따라 보상 게인이 설정된 제1룩업테이블(LUT1)과 유기발광다이오드(OLED)가 포함된 서브픽셀(SP)의 위치에 따른 기울기 게인이 설정된 제2룩업테이블(LUT2)로 구성하고, 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상 시 제1룩업테이블(LUT1)에 설정된 보상 게인과 제2룩업테이블(LUT2)에 설정된 기울기 게인을 적용함으로써 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 편차를 고려한 보상을 수행할 수 있도록 한다.
제1룩업테이블(LUT1)은, 유기발광표시패널(OLED)의 시간에 따른 휘도 변화 측정을 통해 산출된 보상 게인이 유기발광다이오드(OLED)의 열화 상태에 따라 설정되어 있다.
제2룩업테이블(LUT2)은, 유기발광다이오드(OLED)가 포함된 서브픽셀(SP)의 위치, 즉, 유기발광다이오드(OLED)가 유기발광표시패널(110)에 배치된 위치에 따라 제1룩업테이블(LUT1)에 설정된 보상 게인을 조정하는 기울기 게인이 설정되어 있다.
보상부(320)는, 제1룩업테이블(LUT1)에서 유기발광다이오드(OLED)의 열화 상태에 해당하는 보상 게인을 선택하고, 제2룩업테이블(LUT2)에서 유기발광다이오드(OLED)를 포함하는 서브픽셀(SP)의 위치에 해당하는 기울기 게인을 선택하며, 선택된 보상 게인과 기울기 게인을 이용하여 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상값을 산출한다.
따라서, 유기발광다이오드(OLED)의 열화 상태와 유기발광다이오드(OLED)의 위치별 편차를 고려한 게인을 적용하여 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상값을 산출함으로써, 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상 시 보상 수준의 차이로 인한 유기발광표시패널(110)의 위치별 편차가 발생하지 않도록 할 수 있다.
도 5를 참조하면, 501은 유기발광표시패널(110)의 시간에 따른 전체적인 휘도 변화 측정을 통해 산출된 보상 게인으로서, 전체적인 휘도 변화의 평균값을 따르는 유기발광다이오드(OLED)의 특성치(문턱전압) 변화를 나타낸 것이다.
즉, 제1룩업테이블(LUT1)에 설정된 보상 게인은 유기발광표시패널(110)의 시간에 따른 전체적인 휘도 변화의 평균값을 기준으로 설정될 수 있으며, 501은 전체적인 휘도 변화의 평균값을 따르는 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 변화를 나타낸 것이다.
반면, 502, 503, 504, 505는 유기발광표시패널(110)에 배치된 여러 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 변화의 예를 나타낸 것으로서, 유기발광표시패널(110)의 전체적인 휘도 변화의 평균값을 따르는 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 변화와 상이하게 특성치가 변화될 수 있다.
따라서, 501을 기준으로 산출된 보상 게인을 502, 503, 504, 505와 같은 특성치 변화를 나타내는 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상에 그대로 적용할 경우, 과보상이 되어 유기발광표시패널(110)의 위치별 휘도 편차를 발생하게 할 수 있다.
본 실시예들은, 제1룩업테이블(LUT1)에 설정된 보상 게인에 각각의 유기발광다이오드(OLED)가 배치된 위치에 따른 기울기 게인을 추가로 적용함으로써, 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상 시 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 편차가 반영될 수 있도록 한다.
예를 들어, 502와 같은 특성치 변화를 나타내는 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상을 수행할 경우, 보상부(320)는, 제1룩업테이블(LUT1)에서 유기발광다이오드(OLED)의 열화 상태에 해당하는 보상 게인을 선택한다.
이때, 선택된 보상 게인은 501과 같은 특성치 변화를 나타내는 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상을 위해 설정된 보상 게인으로 볼 수 있으므로, 선택된 보상 게인으로 502와 같은 특성치 변화를 나타내는 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상을 할 경우 과보상이 되고 이는 유기발광표시패널(110)의 위치별 휘도 편차를 유발하여 화면 불량으로 나타날 수 있다.
보상부(320)는, 502와 같은 특성치 변화를 나타내는 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상을 수행함에 있어서, 제1룩업테이블(LUT1)에서 선택된 보상 게인에 제2룩업테이블(LUT2)에 설정되어 있는 유기발광다이오드(OLED)를 포함하는 서브픽셀(SP)의 위치에 해당하는 기울기 게인(예: 0.19)을 적용한다.
즉, 501과 같은 특성치 변화를 나타내는 유기발광다이오드(OLED)를 기준으로 산출되어 설정된 보상 게인을 502와 같은 특성치 변화를 나타내는 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상 시 그대로 적용할 경우 과보상이 이루어지므로, 기울기 게인을 적용하여 502와 같은 특성치 변화를 나타내는 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상 수준을 낮춰줌으로써 각각의 유기발광다이오드(OLED)의 특성치를 반영한 보상이 이루어질 수 있도록 한다.
또한, 유기발광다이오드(OLED)의 특성치를 반영한 보상값을 적용해줌으로써 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상에 의한 유기발광표시패널(110)의 위치별 휘도 편차가 발생하지 않도록 할 수 있다.
한편, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 제2룩업테이블(LUT2)은 유기발광표시패널(110)의 위치를 구분하는 방식 또는 유기발광표시패널(110)의 시간에 따른 휘도 변화를 측정하는 방식에 따라 다양하게 설정될 수 있다.
도 6 내지 도 8은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상하기 위한 보상 게인의 위치별 편차를 조정하는 기울기 게인을 설정하는 방식의 예시들을 나타낸 것으로서, 제2룩업테이블(LUT2)에 설정된 기울기 게인을 적용하는 위치를 특정하는 방식을 나타낸 것이다.
도 6은 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상을 위한 보상 게인의 위치별 편차를 조정하는 기울기 게인을 유기발광표시패널(110)에 배치된 다수의 서브픽셀(SP) 중 인접한 둘 이상의 서브픽셀(SP)을 포함하는 영역별로 설정하여 제2룩업테이블(LUT2)을 구성하는 실시예를 나타낸 것이다.
도 6을 참조하면, 제2룩업테이블(LUT2)에서 기울기 게인은 인접한 둘 이상의 서브픽셀(SP)을 포함하는 영역(601, 602, 603, 604)마다 설정될 수 있다.
각각의 영역은 일정한 수(예: 100×100개)의 서브픽셀(SP)을 포함할 수 있으며, 각각의 영역별로 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상을 위한 보상 게인에서 위치별 편차를 조정하기 위한 기울기 게인이 설정된다.
즉, 도 6의 601, 602, 603, 604에 해당하는 영역의 시간에 따른 휘도 변화 측정을 통해 산출된 기울기 게인이 각각의 영역마다 설정될 수 있으며, 각각의 영역에 대한 기울기 게인은, 유기발광표시패널(110)의 시간에 따른 휘도 변화를 영역별로 측정하고 측정된 값을 토대로 산출하여 제2룩업테이블(LUT2)에 설정할 수 있다.
제2룩업테이블(LUT2)에 인접한 둘 이상의 서브픽셀(SP)을 포함하는 영역별로 기울기 게인이 설정된 경우, 보상부(320)는, 유기발광다이오드(OLED)의 열화 상태에 따른 보상 게인을 제1룩업테이블(LUT1)에서 선택하고 유기발광다이오드(OLED)를 포함하는 서브픽셀(SP)이 포함된 영역에 해당하는 기울기 게인을 제2룩업테이블(LUT2)에서 선택한다.
그리고, 선택된 보상 게인과 기울기 게인을 이용하여 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상값을 생성함으로써, 제1룩업테이블(LUT1)에 설정된 보상 게인에서 위치별 편차를 조정할 수 있다.
예를 들어, 601의 영역에 배치된 서브픽셀(SP)에 포함된 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상하기 위해서는, 해당 유기발광다이오드(OLED)의 열화 상태에 해당하는 보상 게인을 제1룩업테이블(LUT1)에서 선택하고 601의 영역에 해당하는 기울기 게인을 제2룩업테이블(LUT2)에서 선택하여, 선택된 보상 게인과 기울기 게인으로 해당 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상값을 산출한다.
유기발광표시패널(110)에서 일정한 영역마다 제1룩업테이블(LUT1)에 설정된 보상 게인의 위치별 편차를 조정하기 위한 기울기 게인이 설정되어 보상 게인과 함께 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상을 위해 적용되므로, 해당 영역에 포함된 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 편차가 반영된 열화 보상을 통해 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 과보상 또는 저보상을 방지한다.
유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 과보상이나 저보상을 방지할 수 있도록 함으로써, 일정하게 설정된 보상 게인을 기준으로 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상함에 따른 유기발광표시패널(110)의 위치별 휘도 편차가 발생하지 않도록 할 수 있다.
도 7은 유기발광다이오드(OLED)의 열화를 보상하기 위한 보상 게인의 위치별 편차를 조정하기 위한 기울기 게인을 유기발광다이오드(OLED)를 포함하는 서브픽셀(SP)의 위치와 그 서브픽셀(SP)이 표시하는 색상에 따라 설정하여 제2룩업테이블(LUT2)을 구성하는 실시예를 나타낸 것이다.
도 7을 참조하면, 제2룩업테이블(LUT2)은 유기발광표시패널(110)에 배치된 다수의 서브픽셀(SP) 중 인접한 둘 이상의 서브픽셀(SP)을 포함하는 영역마다 기울기 게인을 설정하되, 동일한 색상을 표시하는 서브픽셀(SP)별로 기울기 게인이 설정되도록 할 수 있다.
도 7에서는 서브픽셀(SP)이 표시하는 색상이 레드(R), 그린(G), 블루(B) 및 화이트(W)로 구성되는 경우를 예로 한 것이나, 본 실시예들은 이에 한정되지는 아니한다.
동일한 색상을 표시하는 서브픽셀(SP)별로 기울기 게인을 설정하는 것은, 도 6에 도시된 실시예에서, 인접한 둘 이상의 서브픽셀(SP)을 포함하는 영역별로 시간에 따른 휘도 변화를 측정하는 과정에서, 동일한 색상을 표시하는 서브픽셀(SP)별로 휘도 변화를 측정함으로써 동일한 색상을 표시하는 인접한 둘 이상의 서브픽셀(SP)을 포함하는 영역마다 보상 게인의 위치별 편차를 조정하기 위한 기울기 게인을 산출하여 설정할 수 있다.
따라서, 도 7에 도시된 실시예를 도 6과 비교할 때, 도 6의 601의 영역에 배치된 서브픽셀(SP)에 포함된 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상을 수행하는 경우, 도 6의 실시예에서는 601의 영역에 포함된 다른 색상을 표시하는 서브픽셀(SP)에 포함된 유기발광다이오드(OLED)에 동일한 기울기 게인이 적용된다.
반면, 도 7의 실시예에서는, 601의 영역에 배치된 서브픽셀(SP) 중 레드(R)를 표시하는 서브픽셀(SP)에 포함된 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상 시에는 701의 영역에 설정된 기울기 게인을 적용하며, 그린(G)을 표시하는 서브픽셀(SP)에 포함된 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상 시에는 702의 영역에 설정된 기울기 게인을 적용한다.
즉, 도 6에서 601의 영역에 설정된 기울기 게인이 도 7에서 701, 702, 703, 704의 영역마다 설정되어 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상 시 적용되는 것이다.
따라서, 도 6을 통해 설명한 유기발광표시패널(110)을 인접한 둘 이상의 서브픽셀(SP)을 포함하는 영역으로 구분하고 각 영역별 기울기 게인을 적용하는 방식에 비하여, 도 7의 실시예는 유기발광다이오드(OLED)를 포함하는 서브픽셀(SP)의 위치를 색상별로 한정하여 더 좁은 영역에 대한 기울기 게인을 적용함으로써, 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상 시 유기발광표시패널(110)의 위치별 편차를 더욱 감소시킬 수 있도록 한다.
도 8은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상 시 위치별 편차에 따라 보상 게인을 조정하는 기울기 게인이 각각의 서브픽셀(SP)마다 설정되어 제2룩업테이블(LUT2)이 구성된 실시예를 나타낸 것이다.
도 8을 참조하면, 유기발광표시패널(110)에 배치된 각각의 서브픽셀(SP, 801~815)마다 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상을 위한 보상 게인의 위치별 편차를 조정하기 위한 기울기 게인이 설정되어 제2룩업테이블(LUT2)이 구성될 수 있다.
즉, 각각의 서브픽셀(SP)에 포함된 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 편차가 반영된 기울기 게인이 각각의 서브픽셀(SP)마다 설정되어 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상 시 적용됨으로써, 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상 시 각각의 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 편차에 따라 발생하는 유기발광표시패널(110)의 위치별 휘도 편차를 방지할 수 있도록 한다.
도 9와 도 10은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 구동 방법의 과정을 나타낸 것으로서, 도 9는 보상 게인과 기울기 게인이 별도의 룩업테이블(LUT)에 설정된 실시예의 과정을 나타낸 것이고, 도 10은 위치별 보상 게인이 하나의 룩업테이블(LUT)에 설정된 실시예의 과정을 나타낸 것이다.
도 9를 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 센싱부(310)는, 유기발광표시패널(110)의 서브픽셀(SP)에 포함된 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상을 위하여 유기발광다이오드(OLED)의 특성치를 센싱하고 유기발광다이오드(OLED)의 열화 상태를 나타내는 센싱 데이터를 생성한다(S900).
보상부(320)는, 제1룩업테이블(LUT1)에서 유기발광다이오드(OLED)의 열화 상태를 나타내는 센싱 데이터에 해당하는 보상 게인을 선택하고(S910), 제2룩업테이블(LUT2)에서 유기발광다이오드(OLED)를 포함하는 서브픽셀(SP)의 위치에 해당하는 기울기 게인을 선택한다(S920).
보상부(320)는, 선택된 보상 게인과 기울기 게인을 이용하여 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상값을 산출하고(S930), 산출된 보상값에 따라 열화된 유기발광다이오드(OLED)에 인가되는 데이터 전압을 조절해줌으로써 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상이 이루어질 수 있도록 한다(S940).
따라서, 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상을 수행함에 있어서, 유기발광표시패널(110)의 전체적인 휘도 변화의 평균치를 기준으로 산출된 보상 게인의 위치별 편차를 조정하기 위한 기울기 게인을 적용함으로써, 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 편차에 따라 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상이 잘못 수행되는 것을 방지하며 잘못된 열화 보상으로 인한 유기발광표시패널(110)의 위치별 휘도 편차가 발생하지 않도록 한다.
도 10을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 센싱부(310)는, 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상을 수행하기 위하여 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 센싱을 통해 유기발광다이오드(OLED)의 열화 상태를 센싱한다(S1000).
보상부(320)는, 룩업테이블(LUT)에서 센싱부(310)에 의해 센싱된 유기발광다이오드(OLED)의 열화 상태와 유기발광다이오드(OLED)를 포함하는 서브픽셀(SP)의 위치에 해당하는 보상 게인을 선택하고(S1010), 선택된 보상 게인을 적용하여 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상값을 생성한다(S1020).
보상부(320)는, 생성된 보상값에 따라 열화된 유기발광다이오드(OLED)에 인가되는 데이터 전압을 조절해줌으로써 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상이 이루어질 수 있도록 한다(S1030).
본 실시예들에 의하면, 유기발광표시패널(110)에 배치된 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상 시 유기발광표시패널(110)의 시간에 따른 전체적인 휘도 변화 측정을 통해 산출된 보상 게인이 설정된 제1룩업테이블(LUT1)과 보상 게인의 위치별 편차를 조정하기 위한 기울기 게인이 설정된 제2룩업테이블(LUT2)을 이용하여 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상값을 산출함으로써, 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 편차가 반영된 열화 보상이 이루어질 수 있도록 한다.
또한, 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 편차를 반영한 열화 보상으로 인하여 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 과보상이나 저보상을 방지함으로써, 유기발광다이오드(OLED)의 열화 보상에 따른 유기발광표시패널(110)의 위치별 휘도 편차가 발생하지 않도록 하여 유기발광다이오드(OLED)의 열화에 대한 보상 성능을 개선할 수 있도록 한다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이며, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이므로 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다.
100: 유기발광표시장치 110: 유기발광표시패널
120: 게이트 드라이버 130: 데이터 드라이버
140: 타이밍 컨트롤러 310: 센싱부
320: 보상부 330: 메모리

Claims (10)

  1. 다수의 게이트 라인과 다수의 데이터 라인이 교차되어 배치되고, 유기발광다이오드와 상기 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터를 포함하는 다수의 서브픽셀이 배치된 유기발광표시패널;
    상기 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 드라이버;
    상기 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 드라이버;
    상기 유기발광다이오드의 특성치를 센싱하여 상기 유기발광다이오드의 열화 상태에 대한 센싱 데이터를 생성하는 센싱부; 및
    상기 유기발광다이오드의 열화 상태와 상기 유기발광다이오드를 포함하는 서브픽셀의 위치에 따른 게인이 설정된 룩업테이블에서 상기 센싱 데이터에 해당하는 게인을 이용하여 상기 유기발광다이오드의 열화 보상을 위한 보상값을 생성하는 보상부
    를 포함하는 유기발광표시장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 보상부는,
    상기 룩업테이블에서 상기 유기발광다이오드의 열화 상태에 따라 설정된 보상 게인과 상기 유기발광다이오드를 포함하는 서브픽셀의 위치에 따라 설정된 기울기 게인을 이용하여 상기 유기발광다이오드의 열화 보상을 위한 보상값을 생성하는 유기발광표시장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 기울기 게인은 상기 서브픽셀에 포함된 유기발광다이오드의 특성치 편차에 따라 상기 보상 게인을 조정하는 게인인 유기발광표시장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 룩업테이블은,
    상기 유기발광다이오드의 열화 상태에 따른 보상 게인이 설정된 제1룩업테이블과 상기 유기발광다이오드를 포함하는 서브픽셀의 위치에 따른 기울기 게인이 설정된 제2룩업테이블로 구성된 유기발광표시장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제2룩업테이블은,
    상기 유기발광표시패널에 배치된 다수의 서브픽셀 중 인접한 둘 이상의 서브픽셀을 포함하는 영역별로 상기 기울기 게인이 설정된 유기발광표시장치.
  6. 제4항에 있어서,
    상기 제2룩업테이블은,
    상기 유기발광다이오드를 포함하는 서브픽셀의 위치와 상기 서브픽셀이 표시하는 색상별로 상기 기울기 게인이 설정된 유기발광표시장치.
  7. 제4항에 있어서,
    상기 제2룩업테이블은,
    상기 유기발광다이오드를 포함하는 각각의 서브픽셀마다 상기 기울기 게인이 설정된 유기발광표시장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 룩업테이블은,
    상기 유기발광표시패널의 시간에 따른 위치별 휘도 변화 측정을 통해 산출된 게인이 설정된 유기발광표시장치.
  9. 유기발광다이오드와 상기 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터를 포함하는 다수의 서브픽셀이 배치된 유기발광표시패널을 포함하는 유기발광표시장치의 구동 방법에 있어서,
    상기 유기발광다이오드의 특성치를 센싱하는 단계;
    상기 센싱된 유기발광다이오드의 특성치에 기초하여 상기 유기발광다이오드의 열화 상태에 대한 센싱 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 유기발광다이오드의 열화 상태와 상기 유기발광다이오드를 포함하는 서브픽셀의 위치에 따른 게인이 설정된 룩업테이블에서 상기 센싱 데이터에 해당하는 게인을 이용하여 상기 유기발광다이오드의 열화 보상을 위한 보상값을 생성하는 단계
    를 포함하는 유기발광표시장치의 구동 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 유기발광다이오드의 열화 보상을 위한 보상값을 생성하는 단계는,
    상기 룩업테이블에서 상기 유기발광다이오드의 열화 상태에 해당하는 보상 게인을 선택하는 단계;
    상기 룩업테이블에서 상기 유기발광다이오드를 포함하는 서브픽셀의 위치에 해당하는 기울기 게인을 선택하는 단계; 및
    상기 보상 게인과 상기 기울기 게인을 이용하여 상기 유기발광다이오드의 열화 보상을 위한 보상값을 생성하는 단계를 포함하는 유기발광표시장치의 구동 방법.
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