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KR20170029416A - Protective membrane forming film - Google Patents

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KR20170029416A
KR20170029416A KR1020167033563A KR20167033563A KR20170029416A KR 20170029416 A KR20170029416 A KR 20170029416A KR 1020167033563 A KR1020167033563 A KR 1020167033563A KR 20167033563 A KR20167033563 A KR 20167033563A KR 20170029416 A KR20170029416 A KR 20170029416A
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South Korea
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protective film
film
forming
sheet
epoxy
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요우이치 이나오
슈이치 노무라
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린텍 가부시키가이샤
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Abstract

보호막의 강도가 높고, 보호막 부착 칩의 생산성 향상에 기여하고, 고신뢰성의 보호막 부착 칩을 얻을 수 있는 보호막 형성용 필름을 제공한다. 본 발명에 관련된 보호막 형성용 필름은 반도체 칩을 보호하는 보호막을 형성하기 위한 보호막 형성용 필름으로서, 경화물의 유리 전이 온도가 220 ℃ 이상인 에폭시 화합물을 포함하는 에폭시계 열경화성 성분을 함유한다.Provided is a film for forming a protective film which has high strength of a protective film, contributes to improvement of productivity of a chip with a protective film, and which can obtain a chip with a protective film with high reliability. The film for forming a protective film according to the present invention is a film for forming a protective film for forming a protective film for protecting a semiconductor chip and contains an epoxy thermosetting component including an epoxy compound having a glass transition temperature of 220 캜 or higher.

Description

보호막 형성용 필름 {PROTECTIVE MEMBRANE FORMING FILM}[PROTECTIVE MEMBRANE FORMING FILM]

본 발명은 칩에 접착 강도가 높은 보호막을 효율적으로 형성할 수 있고, 또한 신뢰성이 높은 보호막 부착 칩을 제조할 수 있는 보호막 형성용 시트에 관한 것이다. 특히 이른바 페이스 다운(face down) 방식으로 실장되는 반도체 칩의 제조에 사용되는 보호막 형성용 필름에 관한 것이다. The present invention relates to a protective film-forming sheet capable of efficiently forming a protective film having a high adhesive strength on a chip and capable of manufacturing a chip with a protective film having high reliability. To a film for forming a protective film used for manufacturing a semiconductor chip mounted in a so-called face-down manner.

최근, 이른바 페이스 다운(face down) 방식이라고 불리는 실장법을 사용한 반도체 장치가 제조되고 있다. 페이스 다운 방식에 있어서는 회로면 상에 범프 등의 전극을 갖는 반도체 칩 (이하, 간단히 「칩」이라고도 한다.) 이 사용되고, 그 전극이 기판과 접합된다. 이 때문에, 칩의 회로면과는 반대측의 면 (칩 이면) 이 노출되는 경우가 있다.Recently, a semiconductor device using a mounting method called a face down method has been manufactured. In the face-down method, a semiconductor chip (hereinafter simply referred to as a " chip ") having electrodes such as bumps is used on a circuit surface, and the electrode is bonded to the substrate. For this reason, there is a case where the surface (the back surface of the chip) opposite to the circuit surface of the chip is exposed.

이 노출된 칩 이면은 유기막에 의해 보호되는 경우가 있다. 종래, 이 유기막으로 이루어지는 보호막을 갖는 칩은 액상의 수지를 스핀 코트법에 의해 웨이퍼 이면에 도포하고, 건조시키고, 경화시켜 웨이퍼와 함께 보호막을 절단하여 얻어진다. 그러나, 이와 같이 하여 형성되는 보호막의 두께 정밀도는 충분하지 않기 때문에, 제품의 수율이 저하되는 경우가 있었다.The back surface of the exposed chip may be protected by the organic film. Conventionally, a chip having a protective film made of this organic film is obtained by applying a liquid resin on the back surface of a wafer by a spin coat method, drying, and curing the resin to cut the protective film together with the wafer. However, since the thickness precision of the protective film thus formed is not sufficient, the yield of the product may be lowered.

상기 문제를 해결하기 위하여 특허문헌 1 에는 에폭시 수지 등의 열경화성 수지를 포함하는 착색 웨이퍼 이면 보호 필름이 기재되어 있다.In order to solve the above problem, Patent Document 1 discloses a colored wafer backing film containing a thermosetting resin such as an epoxy resin.

특허문헌 1 : 일본 공개특허공보 2010-199541호Patent Document 1: JP-A-2010-199541

본 발명자들은 특정 물성을 갖는 에폭시 화합물을 포함하는 에폭시계 열경화 성분을 사용함으로써, 보호막 형성용 필름을 경화시켜 얻어지는 보호막의 고강도화, 보호막 부착 칩의 생산성 향상이 가능해지고 또, 고신뢰성의 보호막 부착 칩을 제조할 수 있음을 알아내어, 본 발명을 완성시키기에 이르렀다. 즉, 본 발명의 과제는 보호막의 강도가 높고, 보호막 부착 칩의 생산성 향상에 기여하고, 고신뢰성의 보호막 부착 칩을 얻을 수 있는 보호막 형성용 필름을 제공하는 것이다.The present inventors have found that by using an epoxy thermosetting component containing an epoxy compound having specific physical properties, it becomes possible to increase the strength of the protective film obtained by curing the protective film-forming film and to improve the productivity of the chip with a protective film, And thus the present invention has been accomplished. That is, an object of the present invention is to provide a film for forming a protective film, which has high strength of a protective film, contributes to improvement of productivity of a chip with a protective film, and which can obtain a chip with a protective film with high reliability.

본 발명은 이하의 요지를 포함한다.The present invention includes the following points.

〔1〕반도체 칩을 보호하는 보호막을 형성하기 위한 보호막 형성용 필름으로서,[1] A film for forming a protective film for forming a protective film for protecting a semiconductor chip,

경화물의 유리 전이 온도가 220 ℃ 이상인 에폭시 화합물을 포함하는 에폭시계 열경화성 성분을 함유하는 보호막 형성용 필름.A film for forming a protective film containing an epoxy thermosetting component comprising an epoxy compound having a glass transition temperature of 220 ° C or higher.

〔2〕에폭시 화합물의 연화점이 60~110 ℃ 인〔1〕에 기재된 보호막 형성용 필름.[2] The protective film forming film according to [1], wherein the epoxy compound has a softening point of 60 to 110 ° C.

〔3〕아크릴 중합체를 함유하는〔1〕또는〔2〕에 기재된 보호막 형성용 필름.[3] A film for forming a protective film according to [1] or [2], which contains an acrylic polymer.

〔4〕두께가 1~100 ㎛ 인〔1〕~〔3〕중 어느 하나에 기재된 보호막 형성용 필름.[4] The protective film forming film according to any one of [1] to [3], wherein the protective film has a thickness of 1 to 100 μm.

〔5〕상기〔1〕~〔4〕중 어느 하나에 기재된 보호막 형성용 필름이, 지지 시트 상에 적층되어 이루어지는 보호막 형성용 시트.[5] A protective film forming sheet comprising the protective film-forming film according to any one of [1] to [4] laminated on a support sheet.

〔6〕이하의 공정 (1)~(4) 를 포함하는 반도체 장치의 제조 방법;[6] A method of manufacturing a semiconductor device including the following steps (1) to (4);

공정 (1):상기〔5〕에 기재된 보호막 형성용 시트의 보호막 형성용 필름을 피착체에 첩부하는 공정,Step (1): a step of attaching a film for forming a protective film of the protective film-forming sheet described in [5]

공정 (2):보호막 형성용 필름을 가열경화하여 보호막을 얻는 공정,Step (2): a step of heating and curing the protective film forming film to obtain a protective film,

공정 (3):보호막 형성용 필름 또는 보호막과 지지 시트를 분리하는 공정 및,Step (3): a step of separating the protective film-forming film or protective film from the supporting sheet,

공정 (4):피착체와 보호막 형성용 필름 또는 보호막을 다이싱하는 공정.Step (4): Step of dicing the adherend and the protective film-forming film or protective film.

본 발명의 보호막 형성용 필름에 의하면, 고신뢰성의 보호막 부착 칩을 제조할 수 있다. 또, 그 보호막은 강도가 높고, 단시간에 경화되기 때문에, 보호막 부착 칩의 생산성을 향상시킬 수 있다.According to the protective film forming film of the present invention, a chip with a protective film with high reliability can be produced. Further, since the protective film has high strength and hardens in a short time, the productivity of a chip with a protective film can be improved.

도 1 은 제 1 양태의 보호막 형성용 시트를 나타낸다.
도 2 는 제 2 양태의 보호막 형성용 시트를 나타낸다.
도 3 은 제 3 양태의 보호막 형성용 시트를 나타낸다.
도 4 는 제 4 양태의 보호막 형성용 시트를 나타낸다.
Fig. 1 shows a sheet for forming a protective film of the first embodiment. Fig.
Fig. 2 shows a sheet for forming a protective film of the second embodiment. Fig.
Fig. 3 shows a sheet for forming a protective film of the third embodiment. Fig.
Fig. 4 shows a sheet for forming a protective film of the fourth embodiment. Fig.

이하, 본 발명의 보호막 형성용 필름의 상세를 설명한다.Hereinafter, the protective film forming film of the present invention will be described in detail.

[보호막 형성용 필름][Film for forming a protective film]

본 발명에 관련된 보호막 형성용 필름은 반도체 칩을 보호하는 보호막을 형성하기 위한 필름으로서, 적어도 경화물의 유리 전이 온도가 200 ℃ 이상인 에폭시 화합물을 포함하는 에폭시계 열경화성 성분을 함유한다.The film for forming a protective film according to the present invention is a film for forming a protective film for protecting a semiconductor chip and contains an epoxy thermosetting component including an epoxy compound having a glass transition temperature of at least 200 캜.

에폭시계 열경화성 성분Epoxy-based thermosetting component

에폭시계 열경화성 성분은 적어도 특정 물성을 갖는 에폭시 화합물을 포함하고, 그 에폭시 화합물과 열경화제를 조합한 것을 사용하는 것이 바람직하다. 또, 그 에폭시계 열경화성 성분으로서 그 에폭시 화합물 이외의 에폭시기를 갖는 화합물 (이하, 간단히 「다른 에폭시 화합물」이라고 기재하는 경우가 있다.) 을 사용할 수도 있다.The epoxy-based thermosetting component preferably includes an epoxy compound having at least specific physical properties, and a combination of the epoxy compound and the thermosetting agent is preferably used. Further, a compound having an epoxy group other than the epoxy compound (hereinafter sometimes simply referred to as " another epoxy compound ") may be used as the epoxy-based thermosetting component.

본 발명에 있어서, 특정 물성을 갖는 에폭시 화합물이란, 그 경화물의 유리 전이 온도가 220 ℃ 이상, 바람직하게는 220~350 ℃, 보다 바람직하게는 240~345℃, 특히 바람직하게는 300~330 ℃ 인 에폭시 화합물을 말한다. 에폭시 화합물의 경화물의 유리 전이 온도를 상기 범위로 함으로써, 보호막 형성용 필름을 단시간에 경화시킬 수 있고 또, 보호막 형성용 필름을 경화시켜 얻어지는 보호막의 고강도화를 도모할 수 있다. 요컨대, 상기 물성을 갖는 에폭시 화합물을 사용함으로써, 보호막 형성용 필름의 경화성이 우수하다. 그 결과, 본 발명에 관련된 보호막 형성용 필름을 사용하여 제조되는 보호막 부착 칩의 신뢰성 및 생산성이 향상된다. 에폭시 화합물의 경화물의 유리 전이 온도는 후술하는 실시예에 기재된 방법으로 측정할 수 있다.In the present invention, the epoxy compound having specific physical properties means that the glass transition temperature of the cured product is 220 占 폚 or higher, preferably 220 to 350 占 폚, more preferably 240 to 345 占 폚, particularly preferably 300 to 330 占 폚 Refers to an epoxy compound. By setting the glass transition temperature of the cured product of the epoxy compound within the above range, the film for forming a protective film can be cured in a short time, and the strength of the protective film obtained by curing the protective film forming film can be increased. In short, by using an epoxy compound having the above physical properties, the film for forming a protective film has excellent curability. As a result, the reliability and productivity of the chip with a protective film produced using the protective film forming film according to the present invention are improved. The glass transition temperature of the cured product of the epoxy compound can be measured by the method described in the following Examples.

본 발명에 있어서의 특정 물성을 갖는 에폭시 화합물의 연화점은 바람직하게는 60~110 ℃, 보다 바람직하게는 70~100 ℃, 더욱 바람직하게는 80~97 ℃, 특히 바람직하게는 90~95 ℃ 이다. 에폭시 화합물의 연화점을 상기 범위로 함으로써, 보호막 형성용 필름의 경화성을 향상시킬 수 있다. 에폭시 화합물의 연화점은 후술하는 실시예에 기재된 방법으로 측정할 수 있다.The softening point of the epoxy compound having specific physical properties in the present invention is preferably 60 to 110 占 폚, more preferably 70 to 100 占 폚, still more preferably 80 to 97 占 폚, particularly preferably 90 to 95 占 폚. By setting the softening point of the epoxy compound within the above range, the curing property of the protective film forming film can be improved. The softening point of the epoxy compound can be measured by the method described in the following examples.

본 발명에 있어서의 특정 물성을 갖는 에폭시 화합물의 용융 점도는 바람직하게는 1.0~25.0 dPa·s, 보다 바람직하게는 2.0 dPa·s 초과 15.0 dPa·s 이하, 더욱 바람직하게는 2.5~7.0 dPa·s 이다. 에폭시 화합물의 용융 점도를 상기 범위로 함으로써, 보호막 형성용 필름의 경화성을 향상시킬 수 있다. 에폭시 화합물의 용융 점도는 캐필러리 레오미터 (예를 들어, 시마즈 제작소 제 CFT-100 D) 에 의해, 측정 온도 150℃, 측정 주파수 1 Hz 의 조건으로 측정되는 점도이다.The epoxy compound having specific physical properties in the present invention preferably has a melt viscosity of 1.0 to 25.0 dPa · s, more preferably 2.0 dPa · s to 15.0 dPa · s or less, still more preferably 2.5 to 7.0 dPa · s to be. By setting the melt viscosity of the epoxy compound within the above range, the curing property of the protective film forming film can be improved. The melt viscosity of the epoxy compound is measured by a capillary rheometer (for example, CFT-100D manufactured by Shimadzu Corporation) at a measurement temperature of 150 ° C and a measurement frequency of 1 Hz.

또, 본 발명에 있어서의 특정 물성을 갖는 에폭시 화합물의 수평균 분자량 (Mn) 은 바람직하게는 200~1000, 보다 바람직하게는 300~900, 더욱 바람직하게는 400~800, 특히 바람직하게는 450~750 이다. 에폭시 화합물의 수평균 분자량 (Mn) 을 상기 범위로 함으로써, 보호막 형성용 필름의 경화성을 향상시킬 수 있다. 에폭시 화합물의 수평균 분자량은 겔 퍼미에이션 크로마토그래피 (GPC) 법에 의해 측정한 폴리스티렌 환산의 값이다.The number average molecular weight (Mn) of the epoxy compound having specific physical properties in the present invention is preferably 200 to 1000, more preferably 300 to 900, still more preferably 400 to 800, 750. By setting the number average molecular weight (Mn) of the epoxy compound within the above range, the curing property of the protective film forming film can be improved. The number average molecular weight of the epoxy compound is a value in terms of polystyrene measured by a gel permeation chromatography (GPC) method.

본 발명에 있어서의 특정 물성을 갖는 에폭시 화합물의 구체예로서는 상기 물성을 만족하는 에폭시 화합물이면 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어 에폭시기를 갖는 축합 고리형 방향족 화합물을 들 수 있다.Specific examples of the epoxy compound having specific physical properties in the present invention are not particularly limited as long as it is an epoxy compound satisfying the above physical properties, and for example, a condensed ring aromatic compound having an epoxy group can be mentioned.

에폭시기를 갖는 Having an epoxy group 축합Condensation 고리형 방향족 화합물 Cyclic aromatic compound

본 발명에 있어서, 에폭시기를 갖는 축합 고리형 방향족 화합물이란, 축합 고리 또한 방향 고리로 구성되는 축합 고리형 방향족 탄화수소에, 에폭시기가 직접 또는 알콕시기를 개재하여 결합하고 있는 화합물을 말한다. 축합 고리형 방향족 탄화수소의 탄소수는 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 8~55, 보다 바람직하게는 12~45, 더욱 바람직하게는 16~35 이다.In the present invention, the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group means a compound in which an epoxy group is bonded directly or via an alkoxy group to a condensed cyclic aromatic hydrocarbon having a condensed ring also composed of aromatic rings. The number of carbon atoms of the condensed ring aromatic hydrocarbon is not particularly limited, but is preferably 8 to 55, more preferably 12 to 45, and still more preferably 16 to 35.

에폭시기를 갖는 축합 고리형 방향족 화합물을 포함함으로써 보호막 형성용 필름의 경화성이 우수하고, 본 발명에 관련된 보호막 형성용 필름을 사용하여 제조되는 보호막 부착 칩의 신뢰성 및 생산성을 향상시킬 수 있다.The curing property of the film for forming a protective film is excellent by including the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group and the reliability and productivity of a chip with a protective film produced using the protective film forming film according to the present invention can be improved.

에폭시기를 갖는 축합 고리형 방향족 화합물로서는 축합 고리 (Condensed Ring) 에 글리시딜에테르기가 결합 (메톡시기를 개재하여 에폭시기가 결합) 한 것으로서 예를 들어, 하기 일반식 (I) 또는 (II) 로 나타내는 화합물을 들 수 있다.Examples of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group include a condensed ring in which a glycidyl ether group is bonded (an epoxy group is bonded via a methoxy group) and is represented by, for example, the following general formula (I) or Compounds.

[화학식 1] [Chemical Formula 1]

화학식 1Formula 1

Figure pct00001
Figure pct00001

(단, 일반식 (I) 에 있어서, CR 은 축합 고리형 방향족 탄화수소를 나타내고, R1 은 수소 원자 또는 탄소수 1~10 의 알킬기를 나타내고, m 은 2~6 의 정수를 나타낸다. R1 이 알킬기인 경우, 그 탄소수는 1~6 이 바람직하다. 또, m 은 2~4 가 바람직하다.) (Wherein R 1 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms and m represents an integer of 2 to 6. When R 1 represents an alkyl group , The number of carbon atoms thereof is preferably from 1 to 6. m is preferably from 2 to 4.)

[화학식 2] (2)

화학식 2(2)

Figure pct00002
Figure pct00002

(단, 일반식 (II) 에 있어서, CR1 및 CR2 는 축합 고리형 방향족 탄화수소를 나타내고, 이들의 축합 고리형 방향족 탄화수소는 동일해도 되고 상이해도 되고, R2 는 2 가의 탄화수소기를 나타내고, 그 탄화수소기는 치환기 a 를 가지고 있어도 되고, R3 은 수소 원자, 탄소수 1~10 의 알킬기, 또는 글리시딜에테르기를 나타내고, n 은 1~3 의 정수를 나타내고, p 는 0~10 의 정수이며, p 가 0 인 경우에는 R2 는 단결합을 나타내고, q 는 1~3 의 정수를 나타낸다. R2 의 탄소수는 1~6 이 바람직하다. 또, R3 이 알킬기인 경우, 그 탄소수는 1~6 이 바람직하다. n 은 1~2 가 바람직하고, p 는 0~4 가 바람직하고, q 는 1~2 가 바람직하다.)(Wherein, in the general formula (II), CR 1 and CR 2 represent condensed-ring-type aromatic hydrocarbons, these condensed-ring-type aromatic hydrocarbons may be the same or different, R 2 is a divalent hydrocarbon group, R 3 represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms or a glycidyl ether group, n is an integer of 1 to 3, p is an integer of 0 to 10, and p Is 0, R 2 represents a single bond and q represents an integer of 1 to 3. The carbon number of R 2 is preferably 1 to 6. When R 3 is an alkyl group, the carbon number thereof is 1 to 6 N is preferably from 1 to 2, p is preferably from 0 to 4, and q is preferably from 1 to 2. [

일반식 (II) 에 있어서의 R2 의 치환기 a 로서는 페닐기 또는 치환기 b 를 갖는 페닐기 등을 들 수 있다. 치환기 b 로서는 탄소수 1~6 의 알킬기, 또는 글리시딜에테르기 등을 들 수 있고, 바람직하게는 탄소수 1~4 의 알킬기이다.The substituent a of R 2 in the general formula (II) includes a phenyl group or a phenyl group having a substituent b. The substituent b may be an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms or a glycidyl ether group, and is preferably an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.

상기 축합 고리형 방향족 화합물의 축합 고리로서는 나프탈렌 고리, 안트라센 고리, 페난트렌 고리 또는 3, 4-벤조피렌 고리 등을 들 수 있고, 이들 중에서도 보호막 형성용 필름의 경화성의 관점에서 나프탈렌 고리가 바람직하다.Examples of the condensed ring of the condensed cyclic aromatic compound include a naphthalene ring, an anthracene ring, a phenanthrene ring and a 3,4-benzopyrylene ring. Among them, a naphthalene ring is preferable from the viewpoint of the curability of the film for forming a protective film.

일반식 (I) 또는 (II) 로 나타내고, 축합 고리로서 나프탈렌 고리를 갖는 구체적인 화합물의 예로서는 하기 일반식 (III) 으로 나타내는 1,1-비스(2,7-디글리시딜옥시-1-나프틸)알칸, 하기 일반식 (IV) 로 나타내는 1-(2,7-디글리시딜옥시-1-나프틸)-1-(2-글리시딜옥시-1-나프틸)알칸, 또는 하기 일반식 (V) 로 나타내는 1,1-비스(2-글리시딜옥시-1-나프틸)알칸을 들 수 있다. Specific examples of the compound represented by the general formula (I) or (II) and having a naphthalene ring as the condensed ring include 1,1-bis (2,7-diglycidyloxy-1-naphthyl) (2-glycidyloxy-1-naphthyl) -1- (2-glycidyloxy-1-naphthyl) alkane represented by the following general formula (IV) 1,1-bis (2-glycidyloxy-1-naphthyl) alkane represented by the general formula (V).

[화학식 3](3)

화학식 3(3)

Figure pct00003
Figure pct00003

[화학식 4][Chemical Formula 4]

화학식 4Formula 4

Figure pct00004
Figure pct00004

[화학식 5] [Chemical Formula 5]

화학식 5Formula 5

Figure pct00005
Figure pct00005

(단, R4 는 단결합 또는 2 가의 탄화수소기를 나타내고, 그 탄화수소기는 치환기를 가지고 있어도 된다. 또한, 상기 일반식 (III)~(V) 의 화합물을 병용하는 경우, R4 는 동일해도 되고 상이해도 된다.)(Wherein R 4 represents a monovalent or divalent hydrocarbon group, and the hydrocarbon group may have a substituent. When the compounds represented by the above general formulas (III) to (V) are used in combination, R 4 may be the same or different Maybe.)

일반식 (III)~(V) 의 R4 는 하기 식으로 나타내는 치환기를 가지고 있어도 되는 2 가의 탄화수소기인 것이 더욱 바람직하다.R 4 in formulas (III) to (V) is more preferably a divalent hydrocarbon group which may have a substituent represented by the following formula.

[화학식 6] [Chemical Formula 6]

화학식 66

Figure pct00006
Figure pct00006

(상기 식 중, 탄소에 결합하는 상하 방향의 결합손은 각각 나프탈렌 고리에 결합하고, R5 및 R6 은 각각 독립적으로 수소 원자, 탄소수 1~10 의 알킬기, 페닐기 또는 치환기 c 를 갖는 페닐기를 나타낸다. R5 및 R6 이 치환기 c 를 갖는 페닐기인 경우, 그 치환기 c 로서는 탄소수 1~10 의 알킬기, 또는 글리시딜에테르기 등을 들 수 있고, 바람직하게는 수소 원자 또는 탄소수 1~6 의 알킬기이다. R5 및 R6 으로서는 보호막 형성용 필름의 경화성의 관점에서 수소 원자가 특히 바람직하다. 상기 식 중, n 은 0~4, 바람직하게는 0~3 의 정수이며, 더욱 바람직하게는 1 이다. 또한, n 이 0 인 경우, 상기 식의 구조는 단결합을 나타낸다.)Each of R 5 and R 6 independently represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a phenyl group or a phenyl group having a substituent c When R 5 and R 6 are phenyl groups having a substituent c, examples of the substituent c include an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms or a glycidyl ether group, preferably a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms a. R 5 and R 6 as is particularly preferably a hydrogen atom in the curing point of view of the film for forming a protective film. in the formula, n is an integer from 0-4, preferably 0-3, more preferably 1. When n is 0, the structure of the above formula represents a single bond.)

일반식 (III)~(V) 로 나타내는 화합물 중에서도, 보호막 형성용 필름의 경화성의 관점에서, 일반식 (III) 로 나타내는 화합물이 바람직하고, 특히 일반식 (III) 중의 R4 가 메틸렌(-CH2-) 인 화합물이 바람직하다.The general formula (III) ~ R 4 in the curing of the point of view of the film formation, the protective film among the compounds represented by (V), formula (III) represents a compound preferable, and in particular the general formula (III) a methylene (-CH 2 -).

또, 에폭시기를 갖는 축합 고리형 방향족 화합물의 에폭시 당량은 바람직하게는 150~180 g/eq 이고, 보다 바람직하게는 160~170 g/eq 이다. 에폭시 당량을 상기 범위로 함으로써, 보호막 형성용 필름의 경화성이 우수하다.The epoxy equivalent of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group is preferably 150 to 180 g / eq, more preferably 160 to 170 g / eq. By setting the epoxy equivalent in the above range, the film for forming a protective film is excellent in curability.

에폭시기를 갖는 축합 고리형 방향족 화합물의 함유량은 보호막 형성용 필름을 구성하는 전체 고형분 100 질량부에 대해, 바람직하게는 1~20 질량부, 보다 바람직하게는 2~18 질량부, 더욱 바람직하게는 2.5~15 질량부이다. 에폭시기를 갖는 축합 고리형 방향족 화합물의 함유량을 상기 범위로 함으로써, 보호막 형성용 필름의 경화성을 향상시킬 수 있다.The content of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group is preferably from 1 to 20 parts by mass, more preferably from 2 to 18 parts by mass, further preferably from 2.5 to 20 parts by mass based on 100 parts by mass of the total solid content constituting the protective film- To 15 parts by mass. By setting the content of the condensed cyclic aromatic compound having an epoxy group within the above range, the curing property of the protective film forming film can be improved.

본 발명의 보호막 형성용 필름에 있어서는 특정 물성을 갖는 에폭시 화합물과 함께 다른 에폭시 화합물을 병용할 수도 있다.In the protective film-forming film of the present invention, other epoxy compounds may be used together with an epoxy compound having specific physical properties.

다른 에폭시 화합물Other epoxy compounds

다른 에폭시 화합물로서는 상기 서술한 특정 물성을 가지지 않는 종래 공지된 각종 에폭시 화합물을 사용할 수 있다. 구체적으로는 비스페놀 A 디글리시딜에테르나 그 수소 첨가물, o-크레졸노볼락형에폭시 수지, 디시클로펜타디엔형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 비스페놀 A 형 에폭시 수지, 비스페놀 F 형 에폭시 수지, 페닐렌 골격형 에폭시 수지 등, 분자중에 2 관능 이상 갖는 에폭시 화합물을 들 수 있다. 이들은 1 종 단독으로, 또는 2 종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.As the other epoxy compounds, conventionally known various epoxy compounds which do not have the above-mentioned specific properties can be used. Specific examples thereof include bisphenol A diglycidyl ether or hydrogenated product thereof, o-cresol novolak type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, And epoxy compounds having two or more functional groups in the molecule, such as phenylene skeleton-type epoxy resins. These may be used alone or in combination of two or more.

다른 에폭시 화합물을 사용하는 경우에는 그 함유량은 보호막 형성용 필름을 구성하는 전체 고형분 100 질량부에 대해, 바람직하게는 5~40 질량부, 보다 바람직하게는 10~35 질량부, 더욱 바람직하게는 15~30 질량부이다. 다른 에폭시 화합물의 함유량을 상기 범위로 함으로써, 보호막 형성용 필름을 경화시켜 얻어지는 보호막의 반도체 칩에 대한 접착성이 향상된다. 또, 보호막 형성용 필름을 지지 시트 상에 적층하는 경우에는 보호막 형성용 필름과 지지 시트의 박리력을 제어할 수 있고, 그 결과 보호막 형성용 필름의 전사 불량이 방지된다.When other epoxy compounds are used, the content thereof is preferably 5 to 40 parts by mass, more preferably 10 to 35 parts by mass, further preferably 15 to 40 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the total solid content constituting the protective film- To 30 parts by mass. When the content of the other epoxy compound is within the above range, adhesion of the protective film obtained by curing the protective film forming film to the semiconductor chip is improved. When the protective film forming film is laminated on the supporting sheet, the peeling force between the protective film forming film and the supporting sheet can be controlled, and as a result, defective transfer of the protective film forming film can be prevented.

열경화제Heat curing agent

열경화제는 특정 물성을 갖는 에폭시 화합물이나 다른 에폭시 화합물에 대한 경화제로서 기능한다. 바람직한 열경화제로서는 1 분자중에 에폭시기와 반응할 수 있는 관능기를 2 개 이상 갖는 화합물을 들 수 있다. 그 관능기로서는 페놀성 수산기, 알코올성 수산기, 아미노기, 카르복실기 또는 산무수물 등을 들 수 있다. 이들 중 바람직하게는 페놀성 수산기, 아미노기 또는 산무수물 등을 들 수 있고, 더욱 바람직하게는 페놀성 수산기 또는 아미노기를 들 수 있다.The thermosetting agent functions as a curing agent for epoxy compounds or other epoxy compounds having specific physical properties. Preferable examples of the heat curing agent include compounds having two or more functional groups capable of reacting with an epoxy group in one molecule. Examples of the functional group include a phenolic hydroxyl group, an alcoholic hydroxyl group, an amino group, a carboxyl group or an acid anhydride. Among these, a phenolic hydroxyl group, an amino group or an acid anhydride is preferable, and phenolic hydroxyl group or amino group is more preferable.

페놀계 경화제의 구체적인 예로서는 다관능계 페놀 수지, 비페놀, 노볼락형 페놀 수지, 디시클로펜타디엔계 페놀 수지, 자이록크형 페놀 수지, 또는 아르알킬 페놀 수지를 들 수 있다.Specific examples of the phenol-based curing agent include polyfunctional phenol resin, biphenol, novolac phenol resin, dicyclopentadiene phenol resin, zeolite-type phenol resin, and aralkyl phenol resin.

아민계 경화제의 구체적인 예로서는 DICY (디시안디아미드) 를 들 수 있다.A specific example of the amine-based curing agent includes DICY (dicyandiamide).

이들은 1 종 단독으로, 또는 2 종 이상 혼합하여 사용할 수 있다.These may be used singly or in combination of two or more.

열경화제의 함유량은 특정 물성을 갖는 에폭시 화합물과 다른 에폭시 화합물의 합계 100 질량부에 대해, 바람직하게는 0.1~500 질량부, 보다 바람직하게는 1~200 질량부, 더욱 바람직하게는 2~10 질량부이다. 열경화제의 함유량을 상기 범위로 함으로써, 보호막 형성용 필름을 경화시켜 얻어지는 보호막의 반도체 칩에 대한 접착성이나, 보호막 형성용 필름의 반도체 웨이퍼에 대한 첩부 적성이 우수하다.The content of the thermosetting agent is preferably 0.1 to 500 parts by mass, more preferably 1 to 200 parts by mass, still more preferably 2 to 10 parts by mass, relative to 100 parts by mass of the total amount of the epoxy compound and the other epoxy compound having specific physical properties Wealth. By setting the content of the thermosetting agent within the above range, the protective film obtained by curing the protective film-forming film is excellent in adhesion to a semiconductor chip and the protective film-forming film in a semiconductor wafer.

경화 촉진제Hardening accelerator

보호막 형성용 필름의 열경화의 속도를 조정하기 위해서, 경화 촉진제를 사용해도 된다. 바람직한 경화 촉진제로서는 트리에틸렌디아민, 벤질디메틸아민, 트리에탄올아민, 디메틸아미노에탄올, 트리스(디메틸아미노메틸)페놀 등의 3급 아민류;2-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 2-페닐-4,5-디히드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5-하이드록시메틸이미다졸 등의 이미다졸류;트리부틸포스핀, 디페닐포스핀, 트리페닐포스핀 등의 유기 포스핀류;테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, 트리페닐포스핀테트라페닐보레이트 등의 테트라페닐 붕소염 등을 들 수 있다. 이들은 1 종 단독으로, 또는 2 종 이상 혼합하여 사용할 수 있다.In order to adjust the rate of thermal curing of the protective film forming film, a curing accelerator may be used. Preferred curing accelerators include tertiary amines such as triethylenediamine, benzyldimethylamine, triethanolamine, dimethylaminoethanol and tris (dimethylaminomethyl) phenol; 2-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2- Imidazoles such as 4-methylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole and 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole; Organic phosphines such as diphenylphosphine and triphenylphosphine; tetraphenylboron salts such as tetraphenylphosphonium tetraphenylborate and triphenylphosphine tetraphenylborate; and the like. These may be used singly or in combination of two or more.

경화 촉진제는 특정 물성을 갖는 에폭시 화합물, 다른 에폭시 화합물 및 열경화제의 합계 100 질량부에 대해, 바람직하게는 0.01~10 질량부, 더욱 바람직하게는 0.1~3 질량부의 양으로 함유된다. 경화 촉진제의 함유량을 상기 범위로 함으로써, 고온도 고습도하에 노출되어도, 보호막 형성용 필름을 경화시켜 얻어지는 보호막의 반도체 칩에 대한 접착성이 우수하고, 또 엄격한 리플로우 조건에 노출된 경우에도 높은 신뢰성을 달성할 수 있다.The curing accelerator is contained in an amount of preferably 0.01 to 10 parts by mass, more preferably 0.1 to 3 parts by mass based on 100 parts by mass of the total amount of the epoxy compound, the other epoxy compound and the thermosetting agent having specific physical properties. When the content of the curing accelerator is within the above range, the protective film obtained by curing the protective film-forming film even when exposed to high temperature and high humidity is excellent in adhesion to a semiconductor chip and high reliability even when exposed to strict reflow conditions Can be achieved.

에너지선Energy line 경화성 성분 Curable component

본 발명의 보호막 형성용 필름은 상기 서술한 에폭시계 열경화성 성분 외에, 에너지선 경화성 성분을 함유해도 된다. 보호막 형성용 필름이 에너지선 경화성 성분을 함유하는 경우에는 에너지선 조사에 의해 보호막 형성용 필름을 예비적으로 경화시킬 수 있기 때문에, 후술하는 보호막 부착 칩의 제조 공정에 있어서, 보호막 형성용 필름의 응집력을 높여 보호막 형성용 필름과 지지 시트 사이의 접착력을 저하시킬 수 있다. 그 결과, 보호막 형성용 필름 부착 칩을 지지 시트로부터 분리하기 쉬워져, 보호막 형성용 필름 부착 칩의 픽업성이 우수하다. 에너지선 경화성 성분은 반응성 이중 결합기를 갖는 화합물로서 에너지선 반응성 화합물을 단독으로 사용해도 되지만, 에너지선 반응성 화합물과 광중합 개시제를 조합한 것을 사용하는 것이 바람직하다.The protective film forming film of the present invention may contain an energy ray curable component in addition to the above-described epoxy thermosetting component. In the case where the film for forming a protective film contains an energy ray-curable component, since the protective film forming film can be preliminarily cured by energy ray irradiation, the cohesive force of the protective film forming film So that the adhesion between the protective film-forming film and the support sheet can be lowered. As a result, the chip with a film for forming a protective film can be easily separated from the supporting sheet, and the chip with a film for forming a protective film can be easily picked up. As the energy ray curable component, a compound having a reactive double bond group may be used alone or in combination of an energy ray reactive compound and a photopolymerization initiator.

에너지선Energy line 반응성 화합물 Reactive compound

에너지선 반응성 화합물로서는 구체적으로는 트리메틸올프로판트리아크릴레이트, 펜타에리트리톨트리아크릴레이트, 펜타에리트리톨테트라아크릴레이트, 디펜타에리트리톨모노히드록시펜타아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트 혹은 1, 4-부틸렌글리콜디아크릴레이트, 1,6-헥산디올디아크릴레이트, 디시클로펜타디엔 골격 함유 다관능 아크릴레이트 등의 아크릴레이트계 화합물을 들 수 있고, 또, 올리고에스테르아크릴레이트, 우레탄아크릴레이트계 올리고머, 에폭시아크릴레이트, 폴리에테르아크릴레이트 및 이타콘산올리고머 등의 아크릴레이트계 화합물 등의 중합 구조를 갖는 아크릴레이트 화합물로서, 비교적 저분자량의 것을 들 수 있다. 이와 같은 화합물은 분자내에 적어도 1 개의 중합성 탄소-탄소 이중 결합을 갖는다.Specific examples of the energy ray-reactive compound include trimethylolpropane triacrylate, pentaerythritol triacrylate, pentaerythritol tetraacrylate, dipentaerythritol monohydroxypentaacrylate, dipentaerythritol hexaacrylate, 4-butylene glycol diacrylate, 1,6-hexanediol diacrylate, and dicyclopentadiene skeleton-containing polyfunctional acrylate. In addition, oligomer esters such as oligoester acrylate, urethane acrylate Acrylate compounds such as acrylic oligomers, epoxy oligomers, epoxy acrylates, polyether acrylates and itaconic acid oligomers, and the like can be given as the acrylate compounds having a relatively low molecular weight. Such compounds have at least one polymerizable carbon-carbon double bond in the molecule.

에너지선 반응성 화합물의 함유량은 보호막 형성용 필름을 구성하는 전체 고형분 100 질량부에 대해, 바람직하게는 1~5 질량부, 보다 바람직하게는 2~4 질량부이다.The content of the energy ray reactive compound is preferably 1 to 5 parts by mass, and more preferably 2 to 4 parts by mass, based on 100 parts by mass of the total solid content constituting the protective film forming film.

광중합Light curing 개시제Initiator

에너지선 반응성 화합물에 광중합 개시제를 조합함으로써, 중합 경화 시간을 단축시키고, 그리고 광선 조사량을 줄일 수 있다.By combining a photopolymerization initiator with an energy ray-reactive compound, the polymerization curing time can be shortened and the amount of light irradiation can be reduced.

이와 같은 광중합 개시제로서 구체적으로는 벤조페논, 아세토페논, 벤조인, 벤조인메틸에테르, 벤조인에틸에테르, 벤조인이소프로필에테르, 벤조인이소부틸에테르, 벤조인벤조산, 벤조인벤조산메틸, 벤조인디메틸케탈, 2,4-디에틸티옥산손, 1-하이드록시시클로헥실페닐케톤, 벤질디페닐설파이드, 테트라메틸티우람모노설파이드, 아조비스이소부티로니트릴, 벤질, 디벤질, 디아세틸, 1,2-디페닐메탄, 2-하이드록시-2-메틸-1-[4-(1-메틸비닐)페닐]프로파논, 2,4,6-트리메틸벤조일디페닐포스핀옥사이드 및 β-클로르안트라퀴논 등을 들 수 있다. 광중합 개시제는 1 종류 단독으로, 또는 2 종류 이상을 조합하여 사용할 수 있다.Specific examples of such photopolymerization initiators include benzophenone, acetophenone, benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin isobutyl ether, benzoin benzoic acid, methyl benzoin benzoate, benzoin 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, benzyl diphenyl sulfide, tetramethyl thiuram monosulfide, azobisisobutyronitrile, benzyl, dibenzyl, diacetyl, 1 2-methyl-1- [4- (1-methylvinyl) phenyl] propanone, 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide and? -Chloranthene Quinone, and the like. The photopolymerization initiator may be used singly or in combination of two or more.

광중합 개시제의 함유량은 에너지선 반응성 화합물 100 질량부에 대해, 바람직하게는 0.1~10 질량부, 보다 바람직하게는 1~7 질량부이다.The content of the photopolymerization initiator is preferably 0.1 to 10 parts by mass, more preferably 1 to 7 parts by mass, based on 100 parts by mass of the energy ray-reactive compound.

광중합 개시제의 함유량이 0.1 질량부 미만이면 광중합 부족으로 만족스러운 경화성을 얻을 수 없는 경우가 있고, 10 질량부를 초과하면 광중합에 기여하지 않는 잔류물이 생성되어, 문제의 원인이 되는 경우가 있다.When the content of the photopolymerization initiator is less than 0.1 part by mass, unsatisfactory curability may not be obtained due to insufficient photopolymerization, while when it exceeds 10 parts by mass, residues which do not contribute to photopolymerization are produced, which may cause a problem.

중합체 성분The polymer component

보호막 형성용 필름은 중합체 성분을 함유해도 된다. 중합체 성분은 보호막 형성용 필름에 시트 형상 유지성을 부여하는 것을 주목적으로 하여 보호막 형성용 필름에 첨가된다.The protective film forming film may contain a polymer component. The polymer component is added to the film for forming a protective film, with the main purpose of imparting sheet-like retention to the film for forming the protective film.

상기 목적을 달성하기 위해, 중합체 성분의 중량 평균 분자량 (Mw) 은 통상 20,000 이상이며, 20,000~3,000,000 인 것이 바람직하다. 중량 평균 분자량 (Mw) 의 값은 겔 퍼미에이션 크로마토그래피 (GPC) 법 (폴리스티렌 표준) 에 의해 측정되는 경우의 값이다. 이와 같은 방법에 의한 측정은 예를 들어, 토소사 제의 고속 GPC 장치 「HLC-8120 GPC」에, 고속 칼럼 「TSK gurd column HXL-H」, 「TSK Gel GMHXL」, 「TSK Gel G2000 HXL」(이상, 모두 토소사 제) 을 이 순서로 연결한 것을 사용하고, 칼럼 온도:40 ℃, 송액 속도:1.0 mL/분의 조건으로, 검출기를 시차 굴절률계로 하여 행해진다.In order to achieve the above object, the weight average molecular weight (Mw) of the polymer component is usually 20,000 or more, preferably 20,000 to 3,000,000. The value of the weight average molecular weight (Mw) is a value measured by gel permeation chromatography (GPC) (polystyrene standard). For example, the high-speed GPC apparatus "HLC-8120 GPC" manufactured by Tosoh Corporation, the high-speed columns "TSK gurd column H XL -H", "TSK Gel GMH XL ", "TSK Gel G2000 H Quot ; XL " (all above, all of which are manufactured by Sokosan Co., Ltd.) are used in this order, and the detector is set to a differential refractometer at a column temperature of 40 캜 and a feed rate of 1.0 mL / min.

또한, 후술하는 경화성 중합체와 구별하는 편의상, 중합체 성분은 후술하는 경화 기능 관능기를 가지지 않는다.For the sake of distinguishing the curable polymer from the later-described curable polymer, the polymer component does not have the curable functional group described later.

중합체 성분으로서는 아크릴 중합체, 폴리에스테르, 페녹시 수지 (후술하는 경화성 중합체와 구별하는 편의상, 에폭시기를 가지지 않는 것에 한정한다.), 폴리카보네이트, 폴리에테르, 폴리우레탄, 폴리실록산, 고무계 중합체 등을 사용할 수 있다. 또, 이들의 2 종 이상이 결합한 것, 예를 들어, 수산기를 갖는 아크릴 중합체인 아크릴폴리올에, 분자 말단에 이소시아네이트기를 갖는 우레탄프리폴리머를 반응시킴으로써 얻어지는 아크릴우레탄 수지 등이어도 된다. 나아가, 2 종 이상이 결합한 중합체를 포함하고, 이들의 2 종 이상을 조합하여 사용해도 된다.As the polymer component, an acrylic polymer, a polyester, a phenoxy resin (limited to those having no epoxy group for the sake of distinguishing from a curable polymer to be described later), polycarbonate, polyether, polyurethane, polysiloxane and rubber polymer can be used . In addition, an acrylic urethane resin obtained by reacting two or more kinds of these, for example, an urethane prepolymer having an isocyanate group at the molecular end with an acrylic polyol which is an acrylic polymer having a hydroxyl group may be used. Further, two or more kinds of polymers combined with each other may be used, or a combination of two or more of them may be used.

중합체 성분의 함유량은 보호막 형성용 필름을 구성하는 전체 고형분 100 질량부에 대해, 바람직하게는 10~60 질량부, 보다 바람직하게는 15~40 질량부, 더욱 바람직하게는 15~30 질량부이다. 보호막 형성용 필름에 있어서의 중합체 성분의 함유량을 상기 범위로 함으로써, 중합체 성분을 다양하게 조합한 경우에는 보호막 형성용 필름의 피착체에 대한 첩부 적성을 안정적으로 얻기 쉬워진다.The content of the polymer component is preferably 10 to 60 parts by mass, more preferably 15 to 40 parts by mass, and still more preferably 15 to 30 parts by mass, based on 100 parts by mass of the total solid content of the protective film forming film. When the content of the polymer component in the film for forming a protective film is within the above-mentioned range, when the polymer components are variously combined, the adhesive property of the protective film forming film to the adherend can be stably obtained stably.

아크릴 중합체Acrylic polymer

중합체 성분으로는 아크릴 중합체가 바람직하게 사용된다. 아크릴 중합체의 유리 전이 온도 (Tg) 는 바람직하게는 -60~50℃, 보다 바람직하게는 -50~40℃, 더욱 바람직하게는 -40~30℃ 의 범위에 있다. 아크릴 중합체의 유리 전이 온도가 높으면 보호막 형성용 필름의 피착체 (반도체 웨이퍼 등) 에 대한 접착성이 저하되고, 피착체에 전사할 수 없게 되는 경우나, 전사 후에 피착체로부터 보호막 형성용 필름 또는 그 보호막 형성용 필름을 경화시켜 얻어지는 보호막이 박리되는 등의 문제를 일으키는 경우가 있다. 또, 아크릴 중합체의 유리 전이 온도가 낮으면 보호막 형성용 필름과 지지 시트의 박리력이 커져 보호막 형성용 필름의 전사 불량을 일으키는 경우가 있다.As the polymer component, an acrylic polymer is preferably used. The glass transition temperature (Tg) of the acrylic polymer is preferably in the range of -60 to 50 占 폚, more preferably -50 to 40 占 폚, and still more preferably -40 to 30 占 폚. When the glass transition temperature of the acrylic polymer is high, the adhesion to the adherend (semiconductor wafer or the like) of the protective film-forming film is lowered and the film can not be transferred to the adherend. The protective film obtained by curing the protective film-forming film may peel off. If the glass transition temperature of the acrylic polymer is too low, the peeling force between the protective film forming film and the supporting sheet becomes large, which may cause transfer failure of the protective film forming film.

그리고, 아크릴 중합체의 Tg 는 FOX 의 식으로부터 구한 값이다.The Tg of the acrylic polymer is a value obtained from the formula of FOX.

아크릴 중합체의 중량 평균 분자량 (Mw) 은 100,000~1,500,000 인 것이 바람직하다. 아크릴 중합체의 중량 평균 분자량이 높으면 보호막 형성용 필름의 초기 접착성이 저하되어 피착체에 전사할 수 없게 되는 경우가 있다. 또, 아크릴 중합체의 중량 평균 분자량이 낮으면 보호막 형성용 필름과 지지 시트의 접착성이 높아져, 보호막 형성용 필름의 전사 불량이 일어나는 경우가 있다.The weight average molecular weight (Mw) of the acrylic polymer is preferably 100,000 to 1,500,000. When the weight average molecular weight of the acrylic polymer is high, the initial adhesion of the film for forming a protective film is lowered, so that the film can not be transferred to the adherend. If the weight average molecular weight of the acrylic polymer is too low, the adhesion between the protective film-forming film and the supporting sheet becomes high, and the transfer film of the protective film may be defective.

아크릴 중합체는 적어도 구성하는 단량체에, (메타)아크릴산에스테르모노머 혹은 그 유도체를 포함한다. 또한, 본 명세서에서 (메타)아크릴은 아크릴 및 메타크릴의 양자를 포함하는 의미로 사용되는 경우가 있다.The acrylic polymer includes (meth) acrylic acid ester monomer or a derivative thereof at least in the constituent monomers. Further, in the present specification, (meth) acrylic is sometimes used to mean both acrylic and methacrylic.

(메타)아크릴산에스테르모노머 혹은 그 유도체로는 알킬기의 탄소수가 1~18 인 (메타)아크릴산알킬에스테르, 고리형 골격을 갖는 (메타)아크릴산에스테르, 수산기를 갖는 (메타)아크릴산에스테르, 아미노기를 갖는 (메타)아크릴산에스테르, 카르복실기를 갖는 (메타)아크릴산에스테르를 들 수 있다.(Meth) acrylic acid ester monomers or derivatives thereof include (meth) acrylic acid alkyl esters having 1 to 18 carbon atoms in the alkyl group, (meth) acrylic esters having a cyclic skeleton, (meth) acrylic acid esters having a hydroxyl group (Meth) acrylate, and (meth) acrylic acid esters having a carboxyl group.

알킬기의 탄소수가 1~18 인 (메타)아크릴산알킬에스테르로는 예를 들어 (메타)아크릴산메틸, (메타)아크릴산에틸, (메타)아크릴산프로필, (메타)아크릴산부틸, (메타)아크릴산펜틸, (메타)아크릴산헥실, (메타)아크릴산헵틸, (메타)아크릴산옥틸, (메타)아크릴산2-에틸헥실, (메타)아크릴산노닐, (메타)아크릴산데실, (메타)아크릴산라우릴, (메타)아크릴산테트라데실, (메타)아크릴산옥타데실 등을 들 수 있다.Examples of the (meth) acrylic acid alkyl ester having 1 to 18 carbon atoms in the alkyl group include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, pentyl (Meth) acrylate, heptyl (meth) acrylate, octyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, nonyl acrylate, decyl Decyl, octadecyl (meth) acrylate, and the like.

고리형 골격을 갖는 (메타)아크릴산에스테르로서는 예를 들어 (메타)아크릴산시클로알킬에스테르, (메타)아크릴산벤질에스테르, 이소보르닐(메타)아크릴레이트, 디시클로펜타닐(메타)아크릴레이트, 디시클로펜테닐(메타)아크릴레이트, 디시클로펜테닐옥시에틸(메타)아크릴레이트, 이미드(메타)아크릴레이트 등을 들 수 있다.Examples of the (meth) acrylic acid ester having a cyclic skeleton include (meth) acrylic acid cycloalkyl ester, (meth) acrylic acid benzyl ester, isobornyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (Meth) acrylate, dicyclopentenyloxyethyl (meth) acrylate, imide (meth) acrylate, and the like.

수산기를 갖는 (메타)아크릴산에스테르로서는 예를 들어 2-하이드록시에틸(메타)아크릴레이트, 2-하이드록시프로필(메타)아크릴레이트, 2-하이드록시부틸(메타)아크릴레이트 등을 들 수 있다.Examples of the (meth) acrylic acid ester having a hydroxyl group include 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate and 2-hydroxybutyl (meth) acrylate.

아미노기를 갖는 (메타)아크릴산에스테르로서는 예를 들어 모노에틸아미노(메타)아크릴레이트, 디에틸아미노(메타)아크릴레이트 등을 들 수 있다.Examples of the (meth) acrylic acid ester having an amino group include monoethylamino (meth) acrylate, diethylamino (meth) acrylate and the like.

카르복실기를 갖는 (메타)아크릴산에스테르로서는 예를 들어 2-(메타)아크릴로일옥시에틸프탈레이트, 2-(메타)아크릴로일옥시프로필프탈레이트 등을 들 수 있다.Examples of the (meth) acrylic acid ester having a carboxyl group include 2- (meth) acryloyloxyethyl phthalate, 2- (meth) acryloyloxypropyl phthalate and the like.

이들은 1 종 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 병용해도 된다.These may be used alone or in combination of two or more.

아크릴 중합체를 구성하는 단량체로서 수산기를 갖는 단량체를 사용하는 것이 바람직하다. 이와 같은 단량체를 사용함으로써, 아크릴 중합체에 수산기가 도입되고, 보호막 형성용 필름이 에너지선 경화성 성분을 함유하는 경우에, 이것과 아크릴 중합체의 상용성이 향상된다. 수산기를 갖는 단량체로서는 상기 수산기를 갖는 (메타)아크릴산에스테르 외에, 비닐알코올, N-메틸올(메타)아크릴아미드 등을 들 수 있다.It is preferable to use a monomer having a hydroxyl group as a monomer constituting the acrylic polymer. When such a monomer is used, the compatibility of the acrylic polymer with the acrylic polymer is improved when a hydroxyl group is introduced into the acrylic polymer and the film for forming the protective film contains an energy ray curable component. Examples of the monomer having a hydroxyl group include vinyl alcohol, N-methylol (meth) acrylamide, and the like, in addition to the (meth) acrylic acid ester having a hydroxyl group.

아크릴 중합체를 구성하는 단량체로서 카르복실기를 갖는 단량체를 사용해도 된다. 이와 같은 단량체를 사용함으로써, 아크릴 중합체에 카르복실기가 도입되고, 보호막 형성용 필름이 에너지선 경화성 성분을 함유하는 경우에, 이것과 아크릴 중합체의 상용성이 향상된다. 카르복실기를 갖는 단량체로는 상기 카르복실기를 갖는 (메타)아크릴산에스테르 외에, (메타)아크릴산, 말레산, 푸마르산, 이타콘산 등을 들 수 있다. 단, 당해 카르복실기와 에폭시계 열경화성 성분중의 에폭시기가 반응하기 때문에, 카르복실기를 갖는 단량체의 사용량은 적은 것이 바람직하다.As the monomer constituting the acrylic polymer, a monomer having a carboxyl group may be used. When such a monomer is used, the carboxyl group is introduced into the acrylic polymer, and when the protective film forming film contains an energy ray curable component, the compatibility with the acrylic polymer is improved. Examples of the monomer having a carboxyl group include (meth) acrylic acid, maleic acid, fumaric acid, itaconic acid and the like in addition to the (meth) acrylic acid ester having a carboxyl group. However, since the carboxyl group and the epoxy group in the epoxy thermosetting component react with each other, the amount of the carboxyl group-containing monomer is preferably small.

아크릴 중합체를 구성하는 단량체로서 이밖에 (메타)아크릴로니트릴, (메타)아크릴아미드, 아세트산비닐, 스티렌, 에틸렌, α-올레핀 등을 사용해도 된다.(Meth) acrylonitrile, (meth) acrylamide, vinyl acetate, styrene, ethylene, alpha -olefin, or the like may be used as the monomer constituting the acrylic polymer.

또, 아크릴 중합체는 가교되어 있어도 된다. 가교는 가교되기 전의 아크릴 중합체가 수산기 등의 가교성 관능기를 가지고 있어, 보호막 형성용 필름을 형성하기 위한 조성물중에 가교제를 첨가함으로써 가교성 관능기와 가교제가 갖는 관능기가 반응함으로써 행해진다. 아크릴 중합체를 가교함으로써, 보호막 형성용 필름의 응집력을 조절하는 것이 가능해진다. 또, 아크릴 중합체의 가교 밀도를 조정함으로써, 보호막 형성용 필름의 열경화 후의 유리 전이 온도를 제어할 수 있다. 가교 밀도는 후술하는 가교제의 첨가량으로 제어할 수 있다.The acrylic polymer may be crosslinked. The crosslinking is carried out by reacting the acrylic polymer before crosslinking with a crosslinkable functional group such as a hydroxyl group and by adding a crosslinking agent to the composition for forming a protective film forming film so that the crosslinkable functional group and the functional group possessed by the crosslinking agent react with each other. By crosslinking the acrylic polymer, it becomes possible to control the cohesive force of the protective film forming film. Further, by adjusting the crosslinking density of the acrylic polymer, it is possible to control the glass transition temperature after thermal curing of the protective film forming film. The crosslinking density can be controlled by the addition amount of the crosslinking agent described later.

가교제로서는 유기 다가 이소시아네이트 화합물, 유기 다가 이민 화합물 등을 들 수 있다.Examples of the crosslinking agent include organic polyvalent isocyanate compounds and organic polyvalent organic compounds.

유기 다가 이소시아네이트 화합물로서는 방향족 다가 이소시아네이트 화합물, 지방족 다가 이소시아네이트 화합물, 지환족 다가 이소시아네이트 화합물 및 이들의 유기 다가 이소시아네이트 화합물의 3량체, 그리고 이들 유기 다가 이소시아네이트 화합물과 폴리올 화합물을 반응시켜 얻어지는 말단 이소시아네이트우레탄프리폴리머 등을 들 수 있다.Examples of the organic polyisocyanate compound include an aromatic polyisocyanate compound, an aliphatic polyisocyanate compound, an alicyclic polyisocyanate compound, a trimer of these organic polyisocyanate compounds, and a terminal isocyanate urethane prepolymer obtained by reacting these organic polyisocyanate compounds with a polyol compound. .

유기 다가 이소시아네이트 화합물로서 구체적으로는 2,4-톨릴렌디이소시아네이트, 2,6-톨릴렌디이소시아네이트, 1,3-자일릴렌디이소시아네이트, 1,4-자일렌디이소시아네이트, 디페닐메탄-4,4'-디이소시아네이트, 디페닐메탄-2,4'-디이소시아네이트, 3-메틸디페닐메탄디이소시아네이트, 헥사메틸렌디이소시아네이트, 이소포론디이소시아네이트, 디시클로헥실메탄-4,4'-디이소시아네이트, 디시클로헥실메탄-2,4'-디이소시아네이트, 리진이소시아네이트, 및 이들의 다가 알코올 어덕트체를 들 수 있다.Specific examples of the organic polyisocyanate compound include 2,4-tolylene diisocyanate, 2,6-tolylene diisocyanate, 1,3-xylylene diisocyanate, 1,4-xylene diisocyanate, diphenylmethane- Diisocyanate, diphenylmethane-2,4'-diisocyanate, 3-methyldiphenylmethane diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, isophorone diisocyanate, dicyclohexylmethane-4,4'-diisocyanate, dicyclohexyl Methane-2,4'-diisocyanate, lysine isocyanate, and polyhydric alcohol adducts thereof.

유기 다가 이민 화합물로서 구체적으로는 N,N'-디페닐메탄-4,4'-비스(1-아지리딘카르복시아미드), 트리메틸올프로판-트리-β-아지리디닐프로피오네이트, 테트라메틸올메탄-트리-β-아지리디닐프로피오네이트 및 N,N'-톨루엔-2,4-비스(1-아지리딘카르복시아미드)트리에틸렌멜라민 등을 들 수 있다.Specific examples of the organic polyhydric compound include N, N'-diphenylmethane-4,4'-bis (1-aziridinecarboxamide), trimethylolpropane-tri- Methane-tri-? - aziridinyl propionate and N, N'-toluene-2,4-bis (1-aziridine carboxamide) triethylene melamine.

가교제는 가교 하기 전의 아크릴 중합체 100 질량부에 대해 통상 0.01~20 질량부, 바람직하게는 0.1~10 질량부, 보다 바람직하게는 0.5~5 질량부의 비율로 사용된다.The crosslinking agent is used in a proportion of usually 0.01 to 20 parts by mass, preferably 0.1 to 10 parts by mass, more preferably 0.5 to 5 parts by mass based on 100 parts by mass of the acrylic polymer before crosslinking.

본 발명에 있어서, 보호막 형성용 필름을 구성하는 성분의 함유량의 양태에 대해, 중합체 성분의 함유량을 기준으로 하여 정하는 경우, 중합체 성분이 가교된 아크릴 중합체일 때에는 그 기준으로 하는 함유량은 가교되기 전의 아크릴 중합체의 함유량이다.In the present invention, when the content of the component constituting the protective film forming film is determined on the basis of the content of the polymer component, when the polymer component is the crosslinked acrylic polymer, the content of the acrylic polymer before the crosslinking The content of the polymer.

비아크릴계Non-acrylic 수지 Suzy

또, 중합체 성분으로서 폴리에스테르, 페녹시 수지 (후술하는 경화성 중합체와 구별하는 편의상, 에폭시기를 가지지 않는 것에 한정한다.), 폴리카보네이트, 폴리에테르, 폴리우레탄, 폴리실록산, 고무계 중합체 또는 이들의 2 종 이상이 결합한 것으로부터 선택되는 비아크릴계 수지를 사용해도 된다. 비아크릴계 수지는 1 종 단독 또는 2 종 이상을 조합하여 사용할 수도 있다. 이와 같은 수지로서는 중량 평균 분자량이 20,000~100,000 의 것이 바람직하고, 20,000~80,000 의 것이 더욱 바람직하다.As the polymer component, it is possible to use a polyester, a phenoxy resin (limited to those having no epoxy group for the sake of distinguishing from a curable polymer to be described later), polycarbonate, polyether, polyurethane, polysiloxane, rubber- Acrylic resin may be used. The non-acrylic resin may be used singly or in combination of two or more. As such a resin, the weight average molecular weight is preferably 20,000 to 100,000, more preferably 20,000 to 80,000.

비아크릴계 수지의 유리 전이 온도는 바람직하게는 -30~150 ℃, 더욱 바람직하게는 -20~120 ℃ 의 범위에 있다.The glass transition temperature of the non-acrylic resin is preferably in the range of -30 to 150 占 폚, more preferably -20 to 120 占 폚.

비아크릴계 수지를, 상기 서술한 아크릴 중합체와 병용한 경우에는 보호막 형성용 시트를 사용하여 피착체에 보호막 형성용 필름을 전사할 때에, 지지 시트와 보호막 형성용 필름의 층간 박리를 더욱 용이하게 실시할 수 있고, 또한 전사면에 보호막 형성용 필름이 추종하여 보이드 등의 발생을 억제할 수 있다.When a non-acrylic resin is used in combination with the above-described acrylic polymer, the protective film forming film is transferred to the adherend with a sheet for forming a protective film, so that the separation between the supporting sheet and the protective film forming film is more easily performed And the film for forming a protective film follows the transfer surface, and the occurrence of voids and the like can be suppressed.

비아크릴계 수지를, 상기 서술한 아크릴 중합체와 병용하는 경우에는 비아크릴계 수지의 함유량은 비아크릴계 수지와 아크릴 중합체의 질량비 (비아크릴계 수지:아크릴 중합체) 에 있어서, 바람직하게는 1:99~70:30, 보다 바람직하게는 1:99~60:40 의 범위에 있다. 비아크릴계 수지의 함유량이 이 범위에 있음으로써, 상기 효과를 얻을 수 있다.When the non-acrylic resin is used in combination with the above-mentioned acrylic polymer, the content of the non-acrylic resin is preferably 1: 99 to 70: 30 in the mass ratio of the non-acrylic resin to the acrylic polymer (non-acrylic resin: acrylic polymer) , More preferably in the range of 1:99 to 60:40. When the content of the non-acrylic resin is within this range, the above effects can be obtained.

경화성 중합체 성분The curable polymer component

보호막 형성용 필름에는 경화성 중합체 성분을 첨가할 수도 있다. 경화성 중합체 성분은 에폭시계 열경화성 성분 또는 에너지선 경화성 성분의 성질과 중합체 성분의 성질을 겸비하고 있다.A curable polymer component may be added to the protective film forming film. The curable polymer component combines the properties of an epoxy-based thermosetting component or an energy ray-curable component and the properties of a polymer component.

경화성 중합체 성분은 경화 기능 관능기를 갖는 중합체이다. 경화 기능 관능기는 서로 반응하여 삼차원 망목 구조를 구성할 수 있는 관능기이고, 가열에 의해 반응하는 관능기나, 에너지선에 의해 반응하는 관능기를 들 수 있다. 경화 기능 관능기는 경화성 중합체 성분의 골격이 되는 연속 구조의 단위중에 부가되어 있어도 되고, 말단에 부가되어 있어도 된다. 경화 기능 관능기가 경화성 중합체 성분의 골격이 되는 연속 구조의 단위중에 부가되어 있는 경우, 경화 기능 관능기는 측사슬에 부가되어 있어도 되고, 주사슬에 직접 부가되어 있어도 된다. 경화성 중합체 성분의 중량 평균 분자량 (Mw) 은 보호막 형성용 필름에 시트 형상 유지성을 부여하는 목적을 달성하는 관점에서 통상 20,000 이상이다.The curable polymer component is a polymer having a curing functional group. The curing functional group is a functional group capable of reacting with each other to form a three-dimensional network structure, and includes a functional group reacting by heating or a functional group reacting by an energy line. The curing functional group may be added to the unit of the continuous structure which becomes the skeleton of the curable polymer component or may be added to the terminal. When a curing functional group is added to a unit of a continuous structure which becomes a skeleton of the curable polymer component, the curing functional group may be added to the side chain or directly to the main chain. The weight average molecular weight (Mw) of the curable polymer component is usually 20,000 or more from the viewpoint of achieving the purpose of imparting sheet-like retention to the protective film forming film.

가열에 의해 반응하는 관능기로서는 에폭시기를 들 수 있다. 에폭시기를 갖는 경화성 중합체 성분으로서는 고분자량의 에폭시기 함유 화합물이나, 에폭시기를 갖는 페녹시 수지를 들 수 있다. 고분자량의 에폭시기 함유 화합물은 예를 들어, 일본 공개특허공보 2001-261789 에 개시되어 있다.Examples of the functional group which reacts by heating include an epoxy group. Examples of the curable polymer component having an epoxy group include a high molecular weight epoxy group-containing compound and a phenoxy resin having an epoxy group. High molecular weight epoxy group-containing compounds are disclosed, for example, in JP-A-2001-261789.

또, 상기 서술한 아크릴 중합체와 동일한 중합체로서, 단량체로서 에폭시기를 갖는 단량체를 사용하여 중합한 것 (에폭시기 함유 아크릴 중합체) 이어도 된다. 에폭시기를 갖는 단량체로서는 예를 들어 글리시딜(메타)아크릴레이트 등의 에폭시기를 갖는 (메타)아크릴산에스테르 등을 들 수 있다.The same polymer as the above-mentioned acrylic polymer may be a polymer obtained by polymerization using a monomer having an epoxy group as a monomer (an epoxy group-containing acrylic polymer). Examples of the monomer having an epoxy group include (meth) acrylic acid esters having an epoxy group such as glycidyl (meth) acrylate.

에폭시기 함유 아크릴 중합체를 사용하는 경우, 그 바람직한 양태는 에폭시기 이외에 대하여 아크릴 중합체와 동일하다.When an epoxy group-containing acrylic polymer is used, the preferred embodiment thereof is the same as the acrylic polymer except for the epoxy group.

에폭시기를 갖는 경화성 중합체 성분을 사용하는 경우에는 상기 서술한 열경화제나, 경화 촉진제를 병용해도 된다.When the curable polymer component having an epoxy group is used, the above-mentioned heat curing agent or a curing accelerator may be used in combination.

에너지선에 의해 반응하는 관능기로서는 (메타)아크릴로일기를 들 수 있다. 에너지선에 의해 반응하는 관능기를 갖는 경화성 중합체 성분으로서는 폴리에테르아크릴레이트 등의 중합 구조를 갖는 아크릴레이트계 화합물 등으로서, 고분자량의 것을 사용할 수 있다.The functional group which reacts with the energy ray is (meth) acryloyl group. As the curable polymer component having a functional group which reacts with an energy ray, an acrylate compound having a polymerization structure such as polyether acrylate and the like can be used.

또, 예를 들어 측사슬에 수산기 등의 관능기 X 를 갖는 원료 중합체에, 관능기 X 와 반응할 수 있는 관능기 Y (예를 들어, 관능기 X 가 수산기인 경우에는 이소시아네이트기 등 ) 및 에너지선 조사에 의해 반응하는 관능기를 갖는 저분자 화합물을 반응시켜 조제한 중합체를 사용해도 된다.For example, the functional group Y capable of reacting with the functional group X (for example, an isocyanate group when the functional group X is a hydroxyl group, etc.) and a functional group capable of reacting with the functional group X by energy ray irradiation are added to the starting polymer having the functional group X such as a hydroxyl group in the side chain A polymer prepared by reacting a low-molecular compound having a reactive functional group may be used.

이 경우에 있어서, 원료 중합체가 상기 서술한 아크릴 중합체에 해당될 때에는 그 원료 중합체의 바람직한 양태는 아크릴 중합체와 동일하다.In this case, when the raw polymer corresponds to the above-mentioned acrylic polymer, the preferred embodiment of the raw polymer is the same as the acrylic polymer.

에너지선에 의해 반응하는 관능기를 갖는 경화성 중합체 성분을 사용하는 경우에는 에너지선 경화성 성분을 사용하는 경우와 마찬가지로, 광중합 개시제를 병용해도 된다.When a curable polymer component having a functional group reactive with an energy ray is used, a photopolymerization initiator may be used in combination as in the case of using an energy ray curable component.

무기 weapon 필러filler

보호막 형성용 필름은 무기 필러를 함유하는 것이 바람직하다. 무기 필러를 보호막 형성용 필름에 배합함으로써, 경화 후의 보호막에 있어서의 열팽창 계수를 조정하는 것이 용이해지고, 피착체에 대해 경화 후의 보호막의 열팽창 계수를 최적화함으로써 보호막 부착 칩의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 또, 경화 후의 보호막의 흡습률을 저감시킬 수도 있게 된다.The protective film-forming film preferably contains an inorganic filler. The incorporation of the inorganic filler into the protective film-forming film makes it easy to adjust the thermal expansion coefficient of the protective film after curing and optimizes the thermal expansion coefficient of the protective film after curing to the adherend, thereby improving the reliability of the chip with protective film. In addition, the moisture absorption rate of the protective film after curing can be reduced.

또한, 보호막에 레이저 마킹을 실시함으로써, 레이저 광에 의해 제거된 부분에 무기 필러가 노출되고, 반사광이 확산되기 때문에 백색에 가까운 색을 띤다. 이로써, 보호막 형성용 필름이 후술하는 착색제를 함유하는 경우, 레이저 마킹 부분과 다른 부분에 콘트라스트차가 얻어지고, 인자가 명료해진다는 효과가 있다.In addition, by performing laser marking on the protective film, the inorganic filler is exposed to the portion removed by the laser beam, and the reflected light is diffused, so that it has a color close to white. Thus, when the protective film-forming film contains a coloring agent to be described later, there is an effect that a contrast difference is obtained at the portion different from the laser marking portion, and the factor becomes clear.

바람직한 무기 필러로서는 실리카, 알루미나, 탤크, 탄산칼슘, 산화티탄, 산화철, 탄화규소, 질화붕소 등의 분말, 이들을 구형화한 비즈, 단결정 섬유 및 유리 섬유 등을 들 수 있다. 이들 중에서도, 실리카 필러 및 알루미나 필러가 바람직하다. 상기 무기 필러는 단독으로 또는 2 종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.Preferred inorganic fillers include powders such as silica, alumina, talc, calcium carbonate, titanium oxide, iron oxide, silicon carbide, boron nitride and the like, spherical beads thereof, single crystal fibers and glass fibers. Among these, silica filler and alumina filler are preferable. The inorganic fillers may be used alone or in combination of two or more.

상기 서술한 효과를 보다 확실하게 얻기 위한, 무기 필러의 함유량은 보호막 형성용 필름을 구성하는 전체 고형분 100 질량부에 대해, 바람직하게는 10~70 질량부, 보다 바람직하게는 40~70 질량부, 특히 바람직하게는 50~65 질량부이다.The content of the inorganic filler for obtaining the aforementioned effect more reliably is preferably from 10 to 70 parts by mass, more preferably from 40 to 70 parts by mass, more preferably from 40 to 70 parts by mass based on 100 parts by mass of the total solid content constituting the protective film- And particularly preferably 50 to 65 parts by mass.

또, 무기 필러의 평균 입자경은 바람직하게는 0.02~20 ㎛, 보다 바람직하게는 0.05~10 ㎛ 이다. 무기 필러의 평균 입자경은 전자현미경으로 무작위로 선택한 무기 필러 20 개의 장축 직경을 측정하고, 그 산술 평균치로서 산출되는 개수 평균 입자경으로 한다.The average particle diameter of the inorganic filler is preferably 0.02 to 20 占 퐉, more preferably 0.05 to 10 占 퐉. The average particle diameter of the inorganic filler is determined by measuring the major axis diameter of 20 randomly selected inorganic fillers by an electron microscope and calculating the number average particle diameter calculated as the arithmetic mean value.

착색제coloring agent

보호막 형성용 필름에는 착색제를 배합할 수 있다. 착색제를 배합함으로써, 적외선 등을 차단할 수 있기 때문에, 주위의 장치로부터 발생하는 적외선 등에 의한 반도체 장치의 오작동을 방지할 수 있다. 또, 레이저 마킹 등의 수단에 의해 보호막에 각인을 행한 경우에, 문자, 기호 등의 마크가 인식하기 쉬워진다는 효과가 있다. 즉, 보호막이 형성된 반도체 칩에서는 보호막의 표면에 품번 등이 통상 레이저 마킹법 (레이저 광에 의해 보호막 표면을 제거하여 인자를 실시하는 방법) 에 의해 인자되는데, 보호막이 착색제를 함유함으로써, 보호막의 레이저 광에 의해 제거된 부분과 그렇지 않은 부분의 콘트라스트차가 충분히 얻어져 시인성이 향상된다The protective film-forming film may contain a coloring agent. By combining the coloring agent, it is possible to block infrared rays and the like, so that it is possible to prevent the malfunction of the semiconductor device caused by the infrared rays or the like generated from the peripheral devices. In addition, when engraving is performed on the protective film by means such as laser marking, there is an effect that marks such as characters and symbols can be easily recognized. That is, in a semiconductor chip having a protective film, the surface of the protective film is printed by a laser marking method (a method of performing printing by removing the protective film surface by laser light) on the surface of the protective film. The difference in contrast between the portion removed by the light and the portion not removed is sufficiently obtained, and the visibility is improved

착색제로서는 유기 또는 무기의 안료 및 염료가 사용된다. 이들 중에서도 전자파나 적외선 차폐성의 관점에서 흑색 안료가 바람직하다. 흑색 안료로서는 카본 블랙, 산화철, 이산화망간, 아닐린블랙, 활성탄 등이 사용되지만, 이들로 한정되는 경우는 없다. 보호막 부착 칩이 장착된 반도체 장치의 신뢰성을 향상시키는 관점에서, 카본 블랙이 특히 바람직하다. 착색제는 1 종 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상을 조합하여 사용해도 된다.As the colorant, organic or inorganic pigments and dyes are used. Of these, black pigments are preferable from the viewpoint of electromagnetic wave shielding and infrared rays. Examples of the black pigment include carbon black, iron oxide, manganese dioxide, aniline black, activated carbon, and the like, but are not limited thereto. From the viewpoint of improving the reliability of a semiconductor device equipped with a protective film-attached chip, carbon black is particularly preferable. The colorants may be used singly or in combination of two or more kinds.

착색제의 함유량은 보호막 형성용 필름을 구성하는 전체 고형분 100 질량부에 대해, 바람직하게는 0.1~35 질량부, 더욱 바람직하게는 0.5~25 질량부, 특히 바람직하게는 1~15 질량부이다.The content of the colorant is preferably 0.1 to 35 parts by mass, more preferably 0.5 to 25 parts by mass, and particularly preferably 1 to 15 parts by mass, based on 100 parts by mass of the total solid content of the protective film forming film.

커플링제Coupling agent

무기물과 반응하는 관능기 및 유기 관능기와 반응하는 관능기를 갖는 커플링제를, 보호막 형성용 필름의 피착체에 대한 접착성, 밀착성 및/또는 보호막의 응집성을 향상시키기 위해서 사용해도 된다. 또, 커플링제를 사용함으로써, 보호막 형성용 필름을 경화시켜 얻어지는 보호막의 내열성을 손상시키지 않고 그 내수성을 향상시킬 수 있다. 이와 같은 커플링제로서는 티타네이트계 커플링제, 알루미네이트계 커플링제, 실란 커플링제 등을 들 수 있다. 이들 중에서도, 실란 커플링제가 바람직하다.The coupling agent having a functional group reacting with an inorganic substance and a functional group reacting with an organic functional group may be used for improving the adhesiveness, adhesiveness and / or cohesiveness of a protective film to an adherend of a protective film forming film. By using a coupling agent, the water resistance of the protective film obtained by curing the protective film-forming film can be improved without deteriorating the heat resistance. Examples of such a coupling agent include a titanate-based coupling agent, an aluminate-based coupling agent, and a silane coupling agent. Among them, a silane coupling agent is preferable.

실란 커플링제로서는 그 유기 관능기와 반응하는 관능기가, 에폭시계 열경화성 성분, 중합체 성분 또는 경화성 중합체 성분 등이 갖는 관능기와 반응하는 기인 실란 커플링제가 바람직하게 사용된다.As the silane coupling agent, a silane coupling agent is preferably used in which the functional group reactive with the organic functional group is a group which reacts with a functional group such as an epoxy-based thermosetting component, a polymer component, or a curable polymer component.

이와 같은 실란 커플링제로서는 γ-글리시독시프로필트리메톡시실란, γ-글리시독시프로필메틸디에톡시실란, β-(3,4-에폭시시클로헥실)에틸트리메톡시실란, γ-(메타크릴옥시프로필)트리메톡시실란, γ-아미노프로필트리메톡시실란, N-6-(아미노에틸)-γ-아미노프로필트리메톡시실란, N-6-(아미노에틸)-γ-아미노프로필메틸디에톡시실란, N-페닐-γ-아미노프로필트리메톡시실란, γ-우레이도프로필트리에톡시실란, γ-메르캅토프로필트리메톡시실란, γ-메르캅토프로필메틸디메톡시실란, 비스(3-트리에톡시실릴프로필)테트라술판, 메틸트리메톡시실란, 메틸트리에톡시실란, 비닐트리메톡시실란, 비닐트리아세톡시실란, 이미다졸실란 등을 들 수 있다. 이들은 1 종 단독으로, 또는 2 종 이상 혼합하여 사용할 수 있다.Examples of such silane coupling agents include? -Glycidoxypropyltrimethoxysilane,? -Glycidoxypropylmethyldiethoxysilane,? - (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane,? - Aminopropyltrimethoxysilane, N-6- (aminoethyl) -? - aminopropyltrimethoxysilane, N-6- (aminoethyl) (Meth) acrylate, N-phenyl-gamma -aminopropyltrimethoxysilane,? -Ureidopropyltriethoxysilane,? -Mercaptopropyltrimethoxysilane,? -Mercaptopropylmethyldimethoxysilane, bis Triethoxysilylpropyl) tetrasulfane, methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, vinyltriacetoxysilane, imidazolylsilane and the like. These may be used singly or in combination of two or more.

실란 커플링제의 함유량은 보호막 형성용 필름을 구성하는 전체 고형분 100 질량부에 대해, 통상 0.1~20 질량부, 바람직하게는 0.2~10 질량부, 보다 바람직하게는 0.3~5 질량부이다. 실란 커플링제의 함유량이 0.1 질량부 미만이면 상기 효과가 얻어지지 않을 가능성이 있고, 20 질량부를 초과하면 아웃 가스의 원인이 될 가능성이 있다.The content of the silane coupling agent is usually 0.1 to 20 parts by mass, preferably 0.2 to 10 parts by mass, and more preferably 0.3 to 5 parts by mass, based on 100 parts by mass of the total solid content constituting the protective film forming film. If the content of the silane coupling agent is less than 0.1 part by mass, the above effect may not be obtained. If the content is more than 20 parts by mass, there is a possibility of causing outgas.

범용 첨가제General purpose additive

보호막 형성용 필름에는 상기 외에, 필요에 따라 각종 첨가제가 배합되어도 된다. 각종 첨가제로서는 레벨링제, 가소제, 대전 방지제, 산화 방지제, 게터링제, 연쇄 이동제, 박리제 등을 들 수 있다.In addition to the above, various additives may be added to the protective film-forming film if necessary. Examples of the various additives include a leveling agent, a plasticizer, an antistatic agent, an antioxidant, a gettering agent, a chain transfer agent, and a releasing agent.

보호막 형성용 필름은 특정 물성을 갖는 에폭시 화합물을 포함하는 에폭시계 열경화성 성분과, 필요에 따라 배합되는 상기 각 성분을 적절한 비율로 혼합하여 얻어지는 조성물 (보호막 형성용 조성물) 을 사용하여 얻어진다. 보호막 형성용 조성물은 미리 용매로 희석시켜 두어도 되고, 또 혼합시에 용매에 첨가해도 된다. 또, 보호막 형성용 조성물의 사용시에 용매로 희석해도 된다.The film for forming a protective film is obtained by using a composition (composition for forming a protective film) obtained by mixing an epoxy-based thermosetting component containing an epoxy compound having a specific physical property with each of the above-mentioned components to be blended as required. The protective film forming composition may be previously diluted with a solvent or may be added to a solvent at the time of mixing. The composition for forming a protective film may be diluted with a solvent at the time of use.

이러한 용매로서는 아세트산에틸, 아세트산메틸, 디에틸에테르, 디메틸에테르, 아세톤, 메틸에틸케톤, 아세토니트릴, 헥산, 시클로헥산, 톨루엔, 헵탄 등을 들 수 있다.Examples of such solvents include ethyl acetate, methyl acetate, diethyl ether, dimethyl ether, acetone, methyl ethyl ketone, acetonitrile, hexane, cyclohexane, toluene and heptane.

보호막 형성용 필름은 초기 접착성과 경화성을 가지고, 미경화 상태에서는 상온 또는 가열하에서 피착체에 가압함으로써 용이하게 접착된다. 또 가압할 때에 보호막 형성용 필름을 가열해도 된다. 그리고 경화를 거쳐 최종적으로는 내충격성이 높은 보호막을 부여할 수 있고, 접착 강도도 우수하고, 가혹한 고온도 고습도 조건하에서도 충분한 신뢰성을 유지할 수 있다. 또한, 보호막 형성용 필름은 단층 구조여도 되고, 또 다층 구조여도 된다.The film for forming a protective film has an initial adhesion and curability, and is easily adhered to the adherend under normal temperature or heating under an uncured state. Further, the protective film forming film may be heated at the time of pressing. And finally cured to provide a protective film having a high impact resistance, excellent adhesive strength, and sufficient reliability even under severe high temperature and high humidity conditions. The protective film forming film may have a single-layer structure or a multi-layer structure.

보호막 형성용 필름의 두께는 바람직하게는 1~100 ㎛, 보다 바람직하게는 2~90 ㎛, 특히 바람직하게는 3~80 ㎛ 이다.The thickness of the protective film-forming film is preferably 1 to 100 占 퐉, more preferably 2 to 90 占 퐉, and particularly preferably 3 to 80 占 퐉.

[보호막 형성용 시트][Sheet for forming a protective film]

본 발명에 관련된 보호막 형성용 시트는 상기 서술한 보호막 형성용 필름이 지지 시트 상에 적층되어 이루어진다. 보호막 형성용 시트는 각종 피착체에 첩부되고, 경우에 따라서는 보호막 형성용 시트 상에서 피착체에 다이싱 등과 같은 필요한 가공이 실시된다. 그 후, 보호막 형성용 필름을 피착체에 고착 잔존시켜 지지 시트를 박리한다. 즉, 보호막 형성용 필름을, 지지 시트로부터 피착체에 전사하는 공정을 포함하는 프로세스에 사용된다.The sheet for forming a protective film according to the present invention is formed by laminating the above-mentioned protective film forming film on a supporting sheet. The sheet for forming a protective film is attached to various adherends, and if necessary, the adherend is subjected to necessary processing such as dicing on the sheet for forming a protective film. Thereafter, the film for forming a protective film is fixed and remained on the adherend, and the supporting sheet is peeled off. That is, it is used in a process including a step of transferring a film for forming a protective film from a support sheet to an adherend.

보호막 형성용 시트의 형상은 매엽 형상에 한정되지 않고, 길이가 긴 띠 형상의 것으로 해도 되고, 이것을 감아서 수납해도 된다. 보호막 형성용 필름은 지지 시트와 동일한 형상으로 할 수 있다. 또, 보호막 형성용 시트는 보호막 형성용 필름이, 웨이퍼와 대략 동일한 형상 또는 웨이퍼의 형상을 그대로 포함할 수 있는 형상으로 조제된 것이고, 보호막 형성용 필름보다 큰 사이즈의 지지 시트 상에 적층되어 있는 사전 성형 구성을 택하고 있어도 된다.The shape of the protective film-forming sheet is not limited to a sheet-like shape, but may be a strip having a long length, which may be rolled up and stored. The protective film forming film may have the same shape as the supporting sheet. The protective film-forming sheet is prepared in such a way that the protective film-forming film can have the shape substantially identical to that of the wafer or the shape of the wafer, and the protective film- A molding configuration may be adopted.

지지 시트로서는 박리 시트를 들 수 있고, 또 후술하는 점착 시트를 사용할 수도 있다.As the support sheet, a release sheet can be exemplified, and a pressure-sensitive adhesive sheet described later can also be used.

박리 시트로서는 예를 들어, 폴리에틸렌 필름, 폴리프로필렌 필름, 폴리부텐 필름, 폴리부타디엔 필름, 폴리메틸펜텐 필름, 폴리염화비닐 필름, 염화비닐 공중합체 필름, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, 폴리에틸렌나프탈레이트 필름, 폴리부틸렌테레프탈레이트 필름, 폴리우레탄 필름, 에틸렌아세트산 비닐 공중합체 필름, 아이오노머 수지 필름, 에틸렌·(메타)아크릴산 공중합체 필름, 에틸렌·(메타)아크릴산 에스테르 공중합체 필름, 폴리스티렌 필름, 폴리카보네이트 필름, 폴리이미드 필름, 불소 수지 필름 등이 사용된다. 또 이들의 가교 필름도 사용된다. 나아가 이들의 적층 필름이어도 된다.Examples of the peeling sheet include a polyethylene film, a polypropylene film, a polybutene film, a polybutadiene film, a polymethylpentene film, a polyvinyl chloride film, a vinyl chloride copolymer film, a polyethylene terephthalate film, a polyethylene naphthalate film, (Meth) acrylate copolymer film, an ethylene / (meth) acrylic acid ester copolymer film, a polystyrene film, a polycarbonate film, a poly (ethylene terephthalate) film, a polyethylene terephthalate film, a polyurethane film, an ethylene vinyl acetate copolymer film, an ionomer resin film, A mid-film, a fluororesin film, or the like is used. These crosslinked films are also used. Or may be laminated films thereof.

박리 시트의 보호막 형성용 필름에 접하는 면의 표면장력은 바람직하게는 40 mN/m 이하, 더욱 바람직하게는 37 mN/m 이하, 특히 바람직하게는 35 mN/m 이하이다. 하한치는 통상 25 mN/m 정도이다. 이와 같은 표면장력이 비교적 낮은 박리 시트는 재질을 적절히 선택하여 얻을 수 있고, 또 박리 시트의 표면에 박리제를 도포하여 박리 처리를 실시함으로써 얻을 수도 있다.The surface tension of the surface of the release sheet in contact with the protective film forming film is preferably 40 mN / m or less, more preferably 37 mN / m or less, particularly preferably 35 mN / m or less. The lower limit is usually about 25 mN / m. Such a release sheet having a relatively low surface tension can be obtained by appropriately selecting a material and can also be obtained by applying a release agent to the surface of the release sheet and carrying out a release treatment.

박리 처리에 사용되는 박리제로서는 알키드계, 실리콘계, 불소계, 불포화 폴리에스테르계, 폴리올레핀계, 왁스계 등이 사용되는데, 특히 알키드계, 실리콘계, 불소계의 박리제가 내열성을 가지므로 바람직하다.As the releasing agent used for the peeling treatment, an alkyd type, a silicone type, a fluorine type, an unsaturated polyester type, a polyolefin type, a wax type and the like are used, and in particular, an alkyd type, silicone type or fluorine type releasing agent is preferable because it has heat resistance.

상기 박리제를 사용하여 박리 시트의 기체가 되는 필름 등의 표면을 박리 처리하기 위해서는 박리제를 그대로 무용제로, 또는 용제 희석이나 에멀션화하여, 그라비아 코터, 메이어 바 코터, 에어 나이프 코터, 롤 코터 등에 의해 도포하고, 박리제가 도포된 박리 시트를 상온하 또는 가열하에 제공하거나, 또는 전자선에 의해 경화시켜 박리제층을 형성시키면 된다.In order to peel off the surface of a film or the like to be the base of the release sheet by using the release agent, the release agent may be directly applied as a solvent or diluted with a solvent or emulsified and applied by a gravure coater, a Meyer bar coater, an air knife coater, And the release sheet coated with the release agent may be provided at room temperature or under heating or may be cured by electron beam to form the release agent layer.

또, 웨트 라미네이션이나 드라이 라미네이션, 열 용융 라미네이션, 용융 압출 라미네이션, 공압출 가공 등에 의해 필름을 적층함으로써 박리 시트의 표면장력을 조정해도 된다. 즉, 적어도 일방의 면의 표면장력이, 상기 서술한 박리 시트의 보호막 형성용 필름과 접하는 면의 것으로서 바람직한 범위내에 있는 필름을, 당해 면이 보호막 형성용 필름과 접하는 면이 되도록, 다른 필름과 적층한 적층체를 제조하고, 박리 시트로 해도 된다.The surface tension of the release sheet may be adjusted by laminating the films by wet lamination, dry lamination, hot melt lamination, melt extrusion lamination, coextrusion processing, or the like. That is, a film whose surface tension on at least one surface is within a preferable range of the surface of the above-mentioned peeling sheet in contact with the protective film-forming film is set so that the surface thereof is in contact with the protective film- A laminate may be prepared and a release sheet may be used.

보호막 형성용 시트 상에서 피착체에 다이싱 등과 같은 필요한 가공이 실시되는 경우에는 기재 위에 점착제층을 형성한 점착 시트를 지지 시트로서 사용하는 것이 바람직하다. 이 양태에 있어서는 보호막 형성용 필름은 지지 시트에 형성된 점착제층 상에 적층된다. 점착 시트의 기재로서는 박리 시트로서 예시한 상기 필름을 들 수 있다. 점착제층은 보호막 형성용 필름을 박리할 수 있을 정도의 점착력을 갖는 약점착성의 것을 사용해도 되고, 에너지선 조사에 의해 점착력이 저하되는 에너지선 경화성의 것을 사용해도 된다. 점착제층은 종래부터 공지된 각종 점착제 (예를 들어, 고무계, 아크릴계, 실리콘계, 우레탄계, 비닐에테르계 등의 범용 점착제, 표면 요철이 있는 점착제, 에너지선 경화형 점착제, 열팽창 성분 함유 점착제 등) 에 의해 형성할 수 있다.In the case where the adherend is subjected to necessary processing such as dicing on the protective film-forming sheet, it is preferable to use a pressure-sensitive adhesive sheet having a pressure-sensitive adhesive layer formed thereon as a support sheet. In this embodiment, the protective film-forming film is laminated on the pressure-sensitive adhesive layer formed on the support sheet. As the base material of the adhesive sheet, the above-mentioned films exemplified as the release sheet can be mentioned. The pressure-sensitive adhesive layer may be of a weakly sticky one having an adhesive force enough to peel off the protective film forming film, or an energy ray curable one having an adhesive force lowered by energy ray irradiation. The pressure-sensitive adhesive layer is formed by a conventionally known various pressure-sensitive adhesives (for example, general-purpose pressure-sensitive adhesives such as rubber, acrylic, silicone, urethane or vinyl ether, pressure sensitive adhesives with surface irregularities, energy ray curable pressure sensitive adhesives, thermal expansion component- can do.

보호막 형성용 시트의 구성이 이러한 구성이면, 보호막 형성용 시트가, 다이싱 공정에 있어서 피착체를 지지하기 위한 다이싱 시트로서 기능하는 경우에 지지 시트와 보호막 형성용 필름 사이의 밀착성이 유지되고, 다이싱 공정에 있어서 보호막 형성용 필름 부착 칩이 지지 시트로부터 박리되는 것을 억제한다는 효과가 얻어진다. 보호막 형성용 시트가 다이싱 공정에 있어서 피착체를 지지하기 위한 다이싱 시트로서 기능하는 경우, 다이싱 공정에 있어서 보호막 형성용 필름 부착 웨이퍼에 별도 다이싱 시트를 첩합하여 다이싱을 할 필요가 없어져, 반도체 장치의 제조 공정을 간략화할 수 있다.When the protective film forming sheet has such a constitution, the adhesion between the supporting sheet and the protective film forming film is maintained when the protective film forming sheet functions as a dicing sheet for supporting the adherend in the dicing step, The effect of suppressing peeling of the chip with a film for forming a protective film from the supporting sheet in the dicing step can be obtained. In the case where the protective film-forming sheet functions as a dicing sheet for supporting the adherend in the dicing step, it is not necessary to dice another dicing sheet on the wafer with film for forming a protective film in the dicing step , The manufacturing process of the semiconductor device can be simplified.

보호막 형성용 시트가 사전 성형 구성을 취하는 경우에 있어서는 보호막 형성용 시트를 다음의 제 1, 제 2 또는 제 3 구성으로 해도 된다. 이하, 보호막 형성용 시트 (10) 의 각 구성에 대해 도 1~3 을 사용하여 설명한다. 또한, 도 1~3 에서는 지지 시트로서 점착 시트를 사용하는 구성을 나타낸다.In the case where the protective film forming sheet has a preforming configuration, the protective film forming sheet may have the following first, second, or third configuration. Hereinafter, each constitution of the protective film forming sheet 10 will be described with reference to Figs. 1 to 3. Fig. 1 to 3 show a configuration in which a pressure-sensitive adhesive sheet is used as a support sheet.

제 1 구성은 도 1 에 나타내는 바와 같이, 보호막 형성용 필름 (4) 의 편면에, 기재 (1) 상에 점착제층 (2) 가 형성된 점착 시트 (3) 이 박리 가능하게 형성된 구성이다. 제 1 구성을 채용하는 경우에는 보호막 형성용 시트 (10) 은 그 외주부에 있어서 점착 시트 (3) 의 점착제층 (2) 에 의해 지그 (7) 에 첩부된다.As shown in Fig. 1, the first configuration is a configuration in which an adhesive sheet 3 on which a pressure-sensitive adhesive layer 2 is formed on a substrate 1 is detachably formed on one side of a protective film forming film 4. In the case of employing the first configuration, the protective film forming sheet 10 is affixed to the jig 7 by the pressure-sensitive adhesive layer 2 of the pressure-sensitive adhesive sheet 3 at its outer peripheral portion.

제 1 구성을 채용하는 경우에는 그 점착제층을 에너지선 경화형 점착제로 구성하고, 보호막 형성용 필름이 적층되는 영역에 미리 에너지선 조사를 실시하여 점착성을 저감시켜 두는 한편, 다른 영역은 에너지선 조사를 실시하지 않고 점착력을 높은 상태로 유지시켜 두어도 된다. 다른 영역에만 에너지선 조사를 실시하지 않도록 하려면, 예를 들어 점착 시트의 다른 영역에 대응하는 영역에 인쇄 등에 의해 에너지선 차폐층을 마련하고, 점착 시트의 기재측으로부터 에너지선 조사를 실시하면 된다. 또, 이 구성을 채용하는 경우, 점착제층을 미경화 상태로 사용하고, 후술하는 분리 공정 (공정(3)) 전에, 점착제층에 에너지선 조사를 실시하여 점착성을 저감시켜도 된다. 점착성을 저감시킴으로써 분리 공정을 원활하게 실시할 수 있게 된다.In the case of employing the first configuration, the pressure-sensitive adhesive layer is formed of an energy ray curable pressure-sensitive adhesive, and the area where the protective film forming film is laminated is previously subjected to energy ray irradiation to reduce the tackiness, The adhesive force may be kept high. In order not to irradiate the energy ray only to another region, for example, an energy ray shielding layer may be provided by printing or the like in a region corresponding to another region of the adhesive sheet, and energy ray irradiation may be performed from the substrate side of the adhesive sheet. In the case of employing this configuration, the pressure-sensitive adhesive layer may be used in an uncured state, and the pressure-sensitive adhesive layer may be irradiated with energy rays before the separation step (step (3)) described later to reduce the adhesiveness. The separation process can be smoothly performed by reducing the tackiness.

제 2 구성은 도 2 에 나타내는 바와 같이, 보호막 형성용 시트 (10) 의 점착제층 (2) 상에, 보호막 형성용 필름 (10) 과 겹치지 않는 영역에 별도 지그 접착층 (5) 를 형성한 구성이다. 지그 접착층으로서는 점착제층 단체로 이루어지는 점착 부재, 기재와 점착제층으로 구성되는 점착 부재나, 심재의 양면에 점착제층을 갖는 양면 점착 부재를 채용할 수 있다.As shown in FIG. 2, the second structure is such that a separate jig adhesive layer 5 is formed on the pressure sensitive adhesive layer 2 of the protective film forming sheet 10 in a region not overlapping with the protective film forming film 10 . As the jig adhesive layer, an adhesive member composed of a pressure-sensitive adhesive layer, a substrate and a pressure-sensitive adhesive layer, and a double-sided pressure-sensitive adhesive member having pressure-sensitive adhesive layers on both sides of the core can be employed.

지그 접착층은 고리형 (링 형상) 이고, 공동부 (내부 개구) 를 갖고, 링 프레임 등의 지그 (7) 에 고정할 수 있는 크기를 갖는다.The jig adhesive layer is annular (ring-shaped), has a hollow portion (inner opening), and has a size that can be fixed to a jig 7 such as a ring frame.

지그 접착층의 점착제층을 형성하는 점착제로서는 특별히 제한되지 않지만, 예를 들어 아크릴 점착제, 고무계 점착제, 또는 실리콘 점착제로 이루어지는 것이 바람직하다.The pressure-sensitive adhesive for forming the pressure-sensitive adhesive layer of the pressure-sensitive adhesive layer is not particularly limited, and for example, it is preferably made of an acrylic pressure-sensitive adhesive, a rubber pressure-sensitive adhesive, or a silicone pressure-sensitive adhesive.

심재의 양면에 점착제층을 갖는 양면 점착 부재를 지그 접착층으로서 사용하는 경우에는 지그 접착층의 일방의 점착제층 (점착 시트와 적층되는 점착제층, 이하 「적층용 점착제층」이라고 기재하는 경우가 있다.) 과, 타방의 점착제층 (지그에 첩부되는 점착제층, 이하 「고정용 점착제층」이라고 기재하는 경우가 있다.) 은 동종의 점착제를 사용해도 되고, 상이한 점착제를 사용해도 된다.When a double-sided adhesive member having a pressure-sensitive adhesive layer on both sides of a core material is used as a jig adhesive layer, one pressure-sensitive adhesive layer (a pressure-sensitive adhesive layer laminated on the pressure-sensitive adhesive sheet, hereinafter sometimes referred to as a "pressure-sensitive adhesive layer for lamination" And the other pressure-sensitive adhesive layer (the pressure-sensitive adhesive layer to be attached to the jig, hereinafter sometimes referred to as "fixing pressure-sensitive adhesive layer") may use the same type of pressure-sensitive adhesives or different pressure-sensitive adhesives.

이들 중에서, 링 프레임 등의 지그로부터의 재박리성이라는 관점에서는 아크릴 점착제가 바람직하다. 또한, 상기 점착제는 단독으로 사용해도 되고, 2 종 이상 혼합하여 사용해도 된다.Of these, an acrylic pressure-sensitive adhesive is preferable from the viewpoint of re-releasability from a jig such as a ring frame. The above-mentioned pressure-sensitive adhesives may be used alone or in combination of two or more.

지그 접착층의 기재나 심재로서는 상기 서술한 기재와 동일한 것을 사용할 수 있다.As the base material or core material of the jig adhesive layer, the same materials as described above can be used.

지그 접착층의 점착제층의 두께는 바람직하게는 2~20 ㎛, 보다 바람직하게는 3~15 ㎛, 더욱 바람직하게는 4~10 ㎛ 이고, 기재나 심재의 두께는 바람직하게는 15~200 ㎛, 보다 바람직하게는 30~150 ㎛, 더욱 바람직하게는 40~100 ㎛ 이다.The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer of the jig adhesive layer is preferably 2 to 20 占 퐉, more preferably 3 to 15 占 퐉, still more preferably 4 to 10 占 퐉, and the thickness of the base material and core material is preferably 15 to 200 占 퐉 Preferably 30 to 150 mu m, and more preferably 40 to 100 mu m.

제 3 구성은 도 3 에 나타내는 바와 같이, 보호막 형성용 필름 (4) 과 점착제층 (2) 사이에, 추가로 보호막 형성용 필름의 형상을 그대로 포함할 수 있는 형상의 계면 접착 조정층 (6) 을 형성한 구성이다. 계면 접착 조정층은 소정의 필름이어도 되고, 계면 접착 조정 점착제층이어도 된다. 계면 접착 조정 점착제층은 에너지선 경화성의 점착제에 미리 에너지선을 조사하여 경화시킨 것인 것이 바람직하다.3, an interfacial adhesion adjustment layer 6 is formed between the protective film forming film 4 and the pressure-sensitive adhesive layer 2 so as to have the shape of the protective film forming film as it is, . The interfacial adhesion adjustment layer may be a predetermined film or an interfacial adhesion adjustment pressure-sensitive adhesive layer. It is preferable that the interfacial adhesion adjustment pressure-sensitive adhesive layer is formed by irradiating an energy ray curable pressure-sensitive adhesive with an energy ray in advance.

보호막 형성용 시트를, 이들 제 1 에서 제 3 구성으로 함으로써, 보호막 형성용 필름을 둘러싸는 영역에 있어서는 점착제층 또는 지그 접착층의 충분한 접착성에 의해, 보호막 형성용 시트를 지그에 접착할 수 있다. 이와 함께, 보호막 형성용 필름과 점착제층 또는 계면 접착 조정층과의 계면에 있어서의 접착성을 제어하고, 보호막 형성용 필름 또는 보호막이 고착된 칩의 픽업을 용이하게 할 수 있다.By forming the protective film forming sheet in the first to third structures, the sheet for forming the protective film can be adhered to the jig by the sufficient adhesiveness of the adhesive layer or the jig adhesive layer in the region surrounding the protective film forming film. At the same time, it is possible to control the adhesiveness at the interface between the protective film forming film and the pressure-sensitive adhesive layer or the interfacial adhesion adjusting layer, and to easily pick up a chip to which a protective film-forming film or protective film is adhered.

보호막 형성용 시트가 사전 성형 구성을 취하지 않는 경우, 즉 도 4 에 나타내는 바와 같이, 보호막 형성용 필름 (4) 과 지지 시트 (도 4 에 있어서는 기재 (1) 상에 점착제층 (2) 가 형성된 점착 시트 (3)) 를 동 형상으로 한 경우에 있어서, 보호막 형성용 필름 (4) 의 표면의 외주부에는 지그 접착층 (5) 가 형성되어 있어도 된다. 지그 접착층으로서는 제 2 구성에서 설명한 것과 같은 것을 사용할 수 있다. 또한, 심재의 양면에 점착제층을 갖는 양면 점착 부재를 지그 접착층으로 하는 경우에는 적층용 점착제층은 보호막 형성용 필름과 적층된다.As shown in Fig. 4, the protective film forming film 4 and the supporting sheet (in Fig. 4, the pressure-sensitive adhesive layer 2 formed on the substrate 1) The jig adhesive layer 5 may be formed on the outer peripheral portion of the surface of the protective film forming film 4. In this case, As the jig adhesive layer, the same materials as described in the second constitution can be used. When the double-sided adhesive member having a pressure-sensitive adhesive layer on both sides of the core is used as the jig adhesive layer, the pressure-sensitive adhesive layer for lamination is laminated with the protective film-forming film.

지지 시트의 두께는 통상은 10~500 ㎛, 바람직하게는 15~300 ㎛, 특히 바람직하게는 20~250 ㎛ 이다. 지지 시트가 기재 위에 점착제층을 형성한 점착 시트인 경우에는 지지 시트중 3~50 ㎛ 가 점착제층의 두께이다.The thickness of the support sheet is usually 10 to 500 μm, preferably 15 to 300 μm, particularly preferably 20 to 250 μm. When the support sheet is a pressure-sensitive adhesive sheet having a pressure-sensitive adhesive layer formed on a substrate, the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is 3 to 50 占 퐉 in the support sheet.

보호막 형성용 필름의 지지 시트에 첩부되는 면과는 반대면에는 커버 필름을 임시 부착해 두어도 된다. 커버 필름은 지지 시트가 점착 시트인 경우의 점착제층이나, 지그 접착층을 덮고 있어도 된다. 커버 필름은 상기 서술한 박리 시트와 동일한 것을 사용할 수 있다.The cover film may be temporarily adhered to the surface opposite to the surface to which the protective film-forming film is attached to the support sheet. The cover film may cover the pressure-sensitive adhesive layer or the jig adhesive layer when the support sheet is an adhesive sheet. The cover film may be the same as the above-mentioned release sheet.

커버 필름의 막두께는 통상은 5~300 ㎛, 바람직하게는 10~200 ㎛, 특히 바람직하게는 20~150 ㎛ 정도이다.The thickness of the cover film is usually from 5 to 300 mu m, preferably from 10 to 200 mu m, particularly preferably from 20 to 150 mu m.

이와 같은 보호막 형성용 시트의 보호막 형성용 필름은 피착체의 보호막으로 할 수 있다. 보호막 형성용 필름은 페이스 다운 방식의 칩용 반도체 웨이퍼 또는 반도체 칩의 이면에 첩부되고, 적당한 수단에 의해 경화되어 밀봉 수지의 대체로서 반도체 웨이퍼 또는 반도체 칩을 보호하는 기능을 갖는다. 반도체 웨이퍼에 첩부한 경우에는 보호막이 웨이퍼를 보강하는 기능을 갖는 때문에 웨이퍼의 파손 등을 방지할 수 있다.The protective film-forming film of such a protective film-forming sheet may be a protective film for an adherend. The film for forming a protective film is attached to the back face of a semiconductor wafer for a face-down chip or a semiconductor chip, and has a function of protecting the semiconductor wafer or the semiconductor chip as a substitute for the sealing resin by being cured by appropriate means. In the case where the semiconductor wafer is attached to the semiconductor wafer, the protective film has a function of reinforcing the wafer, so that breakage of the wafer can be prevented.

[보호막 형성용 시트의 제조 방법][Method for producing sheet for forming protective film]

보호막 형성용 시트의 제조 방법에 대해, 도 1 에 나타내는 보호막 형성용 시트를 예로 구체적으로 설명하겠지만, 본 발명의 보호막 형성용 시트는 이와 같은 제조 방법에 의해 얻어지는 것에 한정되지 않는다.A method of producing a protective film forming sheet will be specifically described with reference to a protective film forming sheet shown in FIG. 1, but the protective film forming sheet of the present invention is not limited to those obtained by such a manufacturing method.

먼저, 기재의 표면에 점착제층을 형성하여 점착 시트를 얻는다. 기재의 표면에 점착제층을 형성하는 방법은 특별히 한정되지 않는다.First, a pressure-sensitive adhesive layer is formed on the surface of a substrate to obtain a pressure-sensitive adhesive sheet. The method of forming the pressure-sensitive adhesive layer on the surface of the substrate is not particularly limited.

예를 들어, 박리 시트 (제 1 박리 시트) 상에 소정의 막두께가 되도록, 점착제를 도포하고 건조시켜 점착제층을 형성한다. 이어서, 점착제층을 기재의 표면에 전사함으로써, 점착 시트를 얻을 수 있다. 또, 기재의 표면에 점착제를 직접 도포, 건조시켜 점착제층을 형성하여 점착 시트를 얻을 수도 있다.For example, a pressure-sensitive adhesive is applied and dried on the release sheet (first release sheet) so as to have a predetermined film thickness to form a pressure-sensitive adhesive layer. Subsequently, the pressure-sensitive adhesive sheet is obtained by transferring the pressure-sensitive adhesive layer onto the surface of the substrate. Alternatively, a pressure-sensitive adhesive may be applied directly to the surface of the substrate and then dried to form a pressure-sensitive adhesive layer to obtain a pressure-sensitive adhesive sheet.

박리 시트로서는 상기 서술한 기재로서 예시한 필름을 사용할 수 있다.As the release sheet, the film exemplified as the above-described base material can be used.

또, 다른 박리 시트 (제 2 박리 시트) 상에 보호막 형성용 조성물을 도포하여 보호막 형성용 필름을 형성한다. 이어서, 다른 박리 시트 (제 3 박리 시트) 를 보호막 형성용 필름 위에 적층하고, 제 2 박리 시트/보호막 형성용 필름/제 3 박리 시트의 적층체를 얻는다.Further, a composition for forming a protective film is applied on another peeling sheet (second peeling sheet) to form a protective film forming film. Then, another release sheet (third release sheet) is laminated on the protective film-forming film to obtain a laminate of the second release sheet / protective film forming film / third release sheet.

이어서, 보호막 형성용 필름에 첩부되는 피착체와 대략 동일 형상 혹은 피착체의 형상을 그대로 포함할 수 있는 형상으로, 보호막 형성용 필름을 자르고, 잔여 부분을 제거한다. 제 2 박리 시트/보호막 형성용 필름/제 3 박리 시트의 적층체가 길이가 긴 띠 형상체인 경우에는 제 3 박리 시트를 자르지 않고 둠으로써, 길이가 긴 제 3 박리 시트에 연속적으로 유지된 복수의 제 2 박리 시트/보호막 형성용 필름/제 3 박리 시트의 적층체를 얻을 수 있다.Subsequently, the film for forming a protective film is cut in a shape substantially identical to the adherend to be adhered to the protective film-forming film or including the shape of the adherend, and the remaining portion is removed. When the laminate of the second peeling sheet / protective film forming film / third peeling sheet is in the shape of a strip having a long length, the third peeling sheet is not cut so that a plurality of 2 laminated sheet / protective film forming film / third laminated sheet can be obtained.

그리고, 상기에서 얻어진 점착 시트의 점착제층 상에, 제 2 박리 시트/보호막 형성용 필름/제 3 박리 시트의 적층체로부터 제 2 박리 시트를 박리하면서, 보호막 형성용 필름을 적층하고, 기재/점착제층/보호막 형성용 필름/제 3 박리 시트로 이루어지는 적층체를 얻는다. 그 후, 제 3 박리 시트를 제거함으로써, 본 발명의 도 1 의 양태에 관련된 보호막 형성용 시트를 얻는다. 또한, 제 3 박리 시트는 상기 서술한 커버 필름으로서 기능한다.Then, the protective film-forming film was laminated on the pressure-sensitive adhesive layer of the pressure-sensitive adhesive sheet obtained above, while peeling off the second release sheet from the laminate of the second release sheet / protective film forming film / third release sheet, Layer / protective film-forming film / third release sheet is obtained. Thereafter, the third release sheet is removed to obtain a protective film-forming sheet relating to the embodiment of Fig. 1 of the present invention. Further, the third release sheet functions as the above-described cover film.

[반도체 장치의 제조 방법][Method of Manufacturing Semiconductor Device]

다음으로 본 발명에 관련된 보호막 형성용 시트의 이용 방법에 대해, 도 1 에 나타내는 제 1 구성의 보호막 형성용 시트를 반도체 장치의 제조 방법에 적용한 경우를 예로 들어 설명한다.Next, a method of using the protective film forming sheet according to the present invention will be described by taking as an example the case where the protective film forming sheet of the first constitution shown in Fig. 1 is applied to the semiconductor device manufacturing method.

보호막 형성용 필름에 첩부되는 피착체는 실리콘 웨이퍼이어도 되고, 또 갈륨·비소 등의 화합물 반도체 웨이퍼나, 유리 기판, 세라믹 기판, FPC 등의 유기 재료 기판, 또는 정밀 부품 등의 금속 재료 등 여러 가지의 물품을 들 수 있다. 이하의 설명에 있어서는 보호막 형성용 필름에 첩부되는 피착체로서 실리콘 웨이퍼를 사용한 예로 설명한다.The adherend to be attached to the protective film forming film may be a silicon wafer or a compound semiconductor wafer such as gallium and arsenic, an organic material substrate such as a glass substrate, a ceramic substrate, or an FPC, or a metal material such as a precision component Goods. In the following description, a silicon wafer is used as an adherend to be adhered to a protective film forming film.

본 발명에 관련된 반도체 장치의 제조 방법은 상기 보호막 형성용 시트의 보호막 형성용 필름을 반도체 웨이퍼에 첩부하고, 보호막을 갖는 반도체 칩 (보호막 부착 칩) 을 얻는 공정을 포함한다. 구체적으로는 이하의 공정 (1)~(4) 를 포함한다.The method for manufacturing a semiconductor device according to the present invention includes a step of attaching a film for forming a protective film of a protective film forming sheet to a semiconductor wafer and obtaining a semiconductor chip (protective film attached chip) having a protective film. Specifically, it includes the following steps (1) to (4).

공정 (1):표면에 회로가 형성된 실리콘 웨이퍼의 이면에, 보호막 형성용 시트의 보호막 형성용 필름을 첩부하는 공정,Step (1): a step of attaching a protective film forming film of a protective film forming sheet to the back surface of a silicon wafer on which a circuit is formed,

공정 (2):보호막 형성용 필름을 가열경화하여 보호막을 얻는 공정,Step (2): a step of heating and curing the protective film forming film to obtain a protective film,

공정 (3):보호막 형성용 필름 또는 보호막과 지지 시트를 분리하는 공정 및,Step (3): a step of separating the protective film-forming film or protective film from the supporting sheet,

공정 (4):실리콘 웨이퍼와 보호막 형성용 필름 또는 보호막을 다이싱하는 공정.Step (4): A step of dicing a silicon wafer and a protective film-forming film or protective film.

또한, 상기 서술한 바와 같이, 보호막 형성용 시트를, 다이싱 공정에 있어서 실리콘 웨이퍼를 지지하기 위한 다이싱 시트로서 기능시키는 경우에는 반도체 장치의 제조 공정을 간략화하는 관점에서, 공정 (4) 를 공정 (3) 전에 실시하는 것이 바람직하다.As described above, when the protective film forming sheet functions as a dicing sheet for supporting the silicon wafer in the dicing step, the step (4) is performed in the order of step (4) from the viewpoint of simplifying the manufacturing process of the semiconductor device. (3) beforehand.

또, 본 발명에 관련된 반도체 장치의 제조 방법은 상기 공정 (1)~(4) 외에, 하기 공정 (5) 을 추가로 포함하고 있어도 된다.The method for manufacturing a semiconductor device according to the present invention may further include the following step (5) in addition to the steps (1) to (4).

공정 (5):보호막 형성용 필름 또는 보호막에 레이저 인자하는 공정.Step (5): A step of laser-printing a film or a protective film for forming a protective film.

실리콘 웨이퍼 표면에 대한 회로의 형성은 에칭법, 리프트 오프법 등의 종래부터 범용되고 있는 방법을 포함하는 여러 가지 방법에 의해 실시할 수 있다. 이어서, 웨이퍼의 회로면의 반대면 (이면) 을 연삭한다. 연삭법은 특별히 한정되지는 않고, 그라인더 등을 사용한 공지된 수단으로 연삭해도 된다. 이면 연삭시에는 표면의 회로를 보호하기 위해서 회로면에, 표면 보호 시트라고 불리는 점착 시트를 첩부한다. 이면 연삭은 웨이퍼의 회로면측 (즉 표면 보호 시트측) 을 척 테이블 등에 의해 고정하고, 회로가 형성되어 있지 않은 이면측을 그라인더에 의해 연삭한다. 웨이퍼의 연삭 후의 두께는 특별히 한정되지는 않지만, 통상은 50~500 ㎛ 정도이다.The formation of a circuit on the surface of a silicon wafer can be carried out by various methods including a conventionally used method such as an etching method and a lift-off method. Then, the opposite surface (back surface) of the circuit surface of the wafer is ground. The grinding method is not particularly limited, and may be ground by a known means using a grinder or the like. When grinding the back surface, an adhesive sheet called a surface protective sheet is attached to the circuit surface to protect the circuit on the surface. The back side grinding is performed by grinding the circuit side (i.e., the surface protective sheet side) of the wafer with a chuck table or the like, and grinding the back side where no circuit is formed. The thickness of the wafer after grinding is not particularly limited, but is usually about 50 to 500 占 퐉.

그 후, 필요에 따라, 이면 연삭시에 생긴 파쇄층을 제거한다. 파쇄층의 제거는 케미컬 에칭이나, 플라즈마 에칭 등에 의해 행해진다.Thereafter, if necessary, the crushed layer formed during the back-grinding is removed. The removal of the fractured layer is performed by chemical etching, plasma etching, or the like.

이어서, 웨이퍼의 이면에, 상기 보호막 형성용 시트의 보호막 형성용 필름을 첩부한다 (공정 (1)). 그 후, 공정 (2)~(4) 를 실시한다. 공정 (2)~(4) 의 순서는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 공정 (2), (3), (4) 의 순, 공정 (3), (2), (4) 의 순 또는 공정 (2), (4), (3) 의 순의 어느 하나의 순서로 실시하는 것이 바람직하다. 이 프로세스의 상세한 것에 대하여는 일본 공개특허공보 2002-280329호에 상세히 서술되어 있다. 일례로서 공정 (3), (2), (4) 의 순으로 실시하는 경우에 대해 설명한다. 또한, 공정 (5) 는 임의의 순으로 실시할 수 있지만, 이하의 설명에 있어서는 공정 (4) 다음에 실시한다.Then, a film for forming a protective film of the protective film forming sheet is attached to the back surface of the wafer (step (1)). Thereafter, the steps (2) to (4) are carried out. The order of the steps (2) to (4) is not particularly limited. For example, the order of the steps (2), (3) and (4), the order of the steps (3), It is preferable to carry out the process in any one of the order of steps (2), (4) and (3). Details of this process are described in detail in JP-A-2002-280329. As an example, the case of carrying out in the order of steps (3), (2) and (4) will be described. The step (5) can be carried out in any order, but in the following description, it is carried out after the step (4).

먼저, 표면에 회로가 형성된 웨이퍼의 이면에, 상기 보호막 형성용 시트의 보호막 형성용 필름을 첩부한다. 이어서 보호막 형성용 필름으로부터 지지 시트를 박리하고, 웨이퍼와 보호막 형성용 필름의 적층체를 얻는다. 이어서, 보호막 형성용 필름을 경화시켜 웨이퍼의 전면에 보호막을 형성한다. 구체적으로는 열경화에 의해 보호막 형성용 필름을 경화시킨다. 이 결과, 웨이퍼 이면에 경화 수지로 이루어지는 보호막이 형성되고, 웨이퍼 단독인 경우에 비해 강도가 향상되므로, 얇아진 웨이퍼 취급시의 파손을 저감할 수 있다. 또, 웨이퍼나 칩의 이면에 직접 보호막용 도포액을 도포·피막화하는 코팅법에 비해 보호막의 두께 균일성이 우수하다.First, a film for forming a protective film of the protective film forming sheet is pasted on the back surface of a wafer having a circuit on its surface. Then, the support sheet is peeled from the protective film forming film to obtain a laminate of the wafer and the protective film forming film. Then, the protective film forming film is cured to form a protective film on the entire surface of the wafer. More specifically, the protective film forming film is cured by thermal curing. As a result, a protective film made of a hardened resin is formed on the back surface of the wafer, and the strength is improved as compared with the case where only the wafer is used, so that breakage at the time of handling thinned wafer can be reduced. In addition, the thickness uniformity of the protective film is superior to the coating method in which the coating liquid for the protective film is directly applied to the back surface of the wafer or chip.

이어서, 웨이퍼와 보호막의 적층체를, 웨이퍼 표면에 형성된 회로마다 다이싱한다. 다이싱은 웨이퍼와 보호막을 함께 절단하도록 행해진다. 웨이퍼의 다이싱은 다이싱 시트를 사용한 통상적인 방법에 의해 행해진다. 이 결과, 다이싱 시트 상에 개편화된, 이면에 보호막을 갖는 칩군이 얻어진다.Subsequently, the laminate of the wafer and the protective film is diced for each circuit formed on the wafer surface. Dicing is performed to cut the wafer and the protective film together. The dicing of the wafer is performed by a conventional method using a dicing sheet. As a result, a chip group having a protective film on the back surface, which is formed on the dicing sheet, is obtained.

이어서, 보호막에 레이저 인자한다. 레이저 인자는 레이저 마킹법에 의해 행해지고, 레이저 광의 조사에 의해 보호막의 표면을 제거함으로써 보호막에 품번 등을 마킹한다.Then, the protective film is laser-printed. The laser marking is performed by a laser marking method, and the surface of the protective film is removed by irradiation with laser light to mark the protective film on the protective film.

마지막으로, 이면에 보호막을 갖는 칩 (보호막 부착 칩) 을 콜릿 등의 범용 수단에 의해 픽업함으로써, 보호막 부착 칩이 얻어진다. 그리고, 보호막 부착 칩을 페이스 다운 방식으로 소정의 기대 상에 실장함으로써 반도체 장치를 제조할 수 있다. 또, 이면에 보호막을 갖는 반도체 칩을, 다이 패드부 또는 별도의 반도체 칩 등의 다른 부재 상 (칩 탑재부 상) 에 접착함으로써, 반도체 장치를 제조할 수도 있다. 이와 같은 본 발명에 의하면, 두께의 균일성이 높은 보호막을, 칩 이면에 간편하게 형성할 수 있어 다이싱 공정이나 패키징 후의 크랙이 발생하기 어려워진다.Finally, a chip having a protective film on the back surface (chip with a protective film) is picked up by a general means such as a collet to obtain a chip with a protective film. Then, a semiconductor device can be manufactured by mounting a chip with a protective film on a predetermined base in a face-down manner. The semiconductor device may also be manufactured by bonding a semiconductor chip having a protective film on its back surface to another member (chip mounting portion) such as a die pad portion or another semiconductor chip. According to the present invention as described above, it is possible to easily form a protective film having high uniformity of thickness on the back surface of a chip, and it becomes difficult to generate a dicing process or a crack after packaging.

또한, 웨이퍼의 이면에, 상기 보호막 형성용 시트의 보호막 형성용 필름을 첩부한 후, 공정 (4) 을 공정 (3) 전에 실시하는 경우 (예를 들어, 공정 (2), (4), (3) 의 순으로 실시하는 경우), 보호막 형성용 시트가 다이싱 시트로서의 역할을 다할 수 있다. 요컨대, 다이싱 공정 도중에 웨이퍼를 지지하기 위한 시트로서 사용할 수 있다. 이 경우, 보호막 형성용 시트의 내주부에 보호막 형성용 필름을 개재하여 웨이퍼가 첩착되고, 보호막 형성용 시트의 외주부가 링 프레임 등의 다른 지그와 접합함으로써, 웨이퍼에 첩부된 보호막 형성용 시트가 장치에 고정되고, 다이싱이 행해진다.When the step (4) is carried out before the step (3) (for example, the steps (2), (4), 3)), the protective film forming sheet can serve as a dicing sheet. In short, it can be used as a sheet for supporting the wafer during the dicing process. In this case, the wafer is adhered to the inner peripheral portion of the protective film forming sheet via the protective film forming film, and the outer peripheral portion of the protective film forming sheet is bonded to another jig such as a ring frame. And dicing is performed.

실시예Example

이하, 본 발명을 실시예에 의해 설명하겠지만, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다. 또한, 이하의 실시예 또는 비교예에 있어서, <에폭시 화합물의 경화물의 유리 전이 온도 측정>, <에폭시 화합물의 연화점 측정> 및 <보호막 부착 칩의 신뢰성 평가> 는 이하와 같이 행하였다.Hereinafter, the present invention will be described by way of examples, but the present invention is not limited to these examples. <Measurement of Glass Transition Temperature of Cured Product of Epoxy Compound>, <Measurement of Softening Point of Epoxide Compound> and <Reliability Evaluation of Chip with Protective Film> in the following Examples and Comparative Examples were carried out as follows.

<에폭시 화합물의 경화물의 유리 전이 온도 측정><Measurement of glass transition temperature of cured product of epoxy compound>

에폭시 화합물 100 g 에 대해, 경화제로서 2-페닐-4, 5-디히드록시메틸이미다졸 (시코쿠화성공업 제 큐아조르 2 PHZ) 2 g 을 첨가하고, 경화 온도 160℃, 경화 시간 120 분으로 에폭시 화합물을 경화시켰다.2 g of 2-phenyl-4, 5-dihydroxymethylimidazole (manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd. 2 PHZ) as a curing agent was added to 100 g of the epoxy compound, and a curing temperature of 160 캜 and a curing time of 120 minutes To cure the epoxy compound.

에폭시 화합물의 경화물을 폭 4.5 mm, 길이 20.0 mm, 두께 0.18 mm 의 가늘고 긴 띠 형상으로 절단하여 시험편을 제작했다. 이어서, 점탄성 측정 장치 (TA instruments 사 제 DMA Q800) 를 사용하여, 인장 모드에서, 시험편의 tanδ (손실 탄성률과 저장 탄성률의 비) 를, 주파수 11 Hz, 승온 속도 3 ℃/분, 대기 분위기하에서 0~350 ℃ 에서 측정했다. 이 온도 범위에 있어서 tanδ 가 최대치를 나타내는 온도를 판독하여 에폭시 화합물의 경화물의 유리 전이 온도 (Tg) 로 했다.The cured product of the epoxy compound was cut into an elongated strip having a width of 4.5 mm, a length of 20.0 mm and a thickness of 0.18 mm to prepare a test piece. Next, tan? (Ratio of loss elastic modulus and storage elastic modulus) of the test piece was measured at a frequency of 11 Hz, a temperature raising rate of 3 占 폚 / min in a tensile mode using a viscoelasticity measuring apparatus (DMA Q800 manufactured by TA instruments) &Lt; / RTI &gt; In this temperature range, the temperature at which the tan 隆 shows the maximum value was read to obtain the glass transition temperature (Tg) of the cured product of the epoxy compound.

<에폭시 화합물의 연화점 측정><Measurement of softening point of epoxy compound>

에폭시 화합물의 연화점은 JIS K 2207:2006 에 준거하여 측정했다 (환구법). 물 또는 글리세린의 욕중의 지지 고리 중앙에 일정 중량의 볼을 놓고, 욕온을 규정 속도로 상승시킨 후, 볼의 중량감에 의해 시료가 처지는 온도를 측정했다.The softening point of the epoxy compound was measured according to JIS K 2207: 2006 (circulation method). A constant weight ball was placed in the center of the support ring of the water or glycerin bath, and the temperature at which the sample was squeezed by the weight of the ball was measured after raising the bath temperature at a specified rate.

<보호막 부착 칩의 신뢰성 평가>&Lt; Evaluation of reliability of chip with protective film &

(1) 보호막 부착 칩의 제조(1) Fabrication of chip with protective film

#2000 연마한 실리콘 웨이퍼 (200 mm 직경, 두께 280 ㎛) 의 연마면에, 실시예 및 비교예의 보호막 형성용 시트의 보호막 형성용 필름을 테이프 마운터 (린텍사 제 Adwill RAD-3600 F/12) 에 의해 70 ℃ 로 가열하면서 첩부했다. 이어서, 가열 (130 ℃, 2 시간) 에 의해 보호막 형성용 필름의 경화를 실시하고, 보호막 형성용 필름과 지지 시트를 분리하여 실리콘 웨이퍼와 보호막의 적층체를 얻었다.A film for forming a protective film of the protective film forming sheets of Examples and Comparative Examples was applied on a tape mounter (Adwill RAD-3600 F / 12 manufactured by Lin Tex) on the polished surface of a # 2000 polished silicon wafer (200 mm diameter, 280 탆 thick) And heated to 70 [deg.] C. Subsequently, the protective film forming film was cured by heating (130 DEG C, 2 hours), and the protective film forming film and the supporting sheet were separated to obtain a laminated body of a silicon wafer and a protective film.

실리콘 웨이퍼의 보호막측을 다이싱 테이프 (린텍사 제 Adwill D-676H) 에 첩부하고, 다이싱 장치 (디스코사 제 DFD651) 를 사용하여 실리콘 웨이퍼와 보호막의 적층체를 3 mm×3 mm 사이즈로 다이싱함으로써, 신뢰성 평가용의 보호막 부착 칩을 얻었다.The protective film side of the silicon wafer was attached to a dicing tape (Adwill D-676H made by Lin Tec Corporation), and a laminate of a silicon wafer and a protective film was diced into a size of 3 mm x 3 mm using a dicing machine (DFD651, Thereby obtaining a chip with a protective film for reliability evaluation.

(2) 평가(2) Evaluation

그리고, 보호막 부착 칩이 실제로 실장되는 프로세스를 모방한 프리컨디션으로 투입했다. 프리컨디션의 조건으로서 보호막 부착 칩을 베이킹 (125 ℃, 20 시간) 하고, 85 ℃, 85 %RH 의 조건하에서 168 시간 흡습시키고, 꺼낸 직후에 프리 히트 160 ℃, 피크 온도 260 ℃ 의 IR 리플로우 노에 3 회 통과시켰다.Then, the chip with the protective film was put in a condition that mimics the process of actually mounting the chip. As a condition of the pre-condition, the chip with the protective film was baked (at 125 ° C for 20 hours), and the moisture was absorbed for 168 hours under the conditions of 85 ° C and 85% RH. &Lt; / RTI &gt;

이 보호막 부착 칩 25 개를 냉열 충격 장치 (ESPEC 제 TSE-11-A) 내에 투입하고, -65 ℃ (유지 시간:10 분) 와 150 ℃ (유지 시간:10분) 의 사이클을 1000 회 반복했다.Twenty-five chips with the protective film were charged into a cold / heat shock apparatus (TSE-11-A manufactured by ESPEC), and a cycle of -65 캜 (holding time: 10 minutes) and 150 캜 (holding time: 10 minutes) .

그 후, 냉열 충격 장치로부터 꺼낸 보호막 부착 칩에 대해, 칩과 보호막의 접합부에서의 들뜸·박리, 크랙의 유무를, 주사형 초음파 탐상 장치 (히타치켄키 파인텍 제 Hye-Focus) 및 단면 관찰에 의해 평가했다. 칩과 보호막의 접합부에, 0.5 mm 이상의 폭의 박리가 관찰된 경우를 박리되었다고 (접합부의 들뜸·박리, 크랙 있음) 판단하고, 박리되어 있는 칩의 개수 (불량품 수) 를 세었다. 결과를 표 2 에 나타낸다 (불량품 수/시험 수). 불량품 수가 2 이하이면 고신뢰성의 보호막 부착 칩이 얻어지는 것으로 평가했다.Thereafter, with respect to the chips with the protective film taken out from the heat and shock apparatus, the presence or absence of lifting, peeling and cracking at the bonding portions of the chip and the protective film was evaluated by a scanning type ultrasonic flaw detector (Hye-Focus manufactured by Hitachi Kenki Fine Tec) I appreciated. The number of peeled chips (number of defective products) was counted when it was judged that peeling was observed in peeled portions of 0.5 mm or more in peeled portions (peeling off and peeling of the joined portions and cracks). The results are shown in Table 2 (number of defective products / number of tests). When the number of defective products is 2 or less, a highly reliable protective film attached chip is obtained.

<보호막 형성용 조성물><Composition for forming protective film>

보호막 형성용 필름을 구성하는 각 성분을 하기에 나타낸다.The components constituting the protective film-forming film are shown below.

·에폭시 화합물 A:1,1-비스(2,7-디글리시딜옥시-1-나프틸)메탄 (경화물의 유리 전이 온도:326 ℃, 연화점:92 ℃, 용융 점도:4.5 dPa·s, 수평균 분자량:550)Epoxy compound A: 1,1-bis (2,7-diglycidyloxy-1-naphthyl) methane (glass transition temperature of cured product: 326 캜, softening point: 92 캜, melt viscosity: 4.5 dPa 揃 s, Number average molecular weight: 550)

·에폭시 화합물 B:비스페놀 A 형 에폭시 수지 (미츠비시 화학 제 jER828, 경화물의 유리 전이 온도:180 ℃, 수평균 분자량:370)Epoxy Compound B: bisphenol A type epoxy resin (jER828, product of Mitsubishi Chemical Corporation, glass transition temperature of cured product: 180 占 폚, number average molecular weight: 370)

·에폭시 화합물 C:디시클로펜타디엔형 에폭시 수지 (DIC 제 에피크론 HP-7200 HH, 경화물의 유리 전이 온도:210 ℃, 연화점:88 ℃, 용융 점도:8 dPa·s, 수평균 분자량:760)Epoxy compound C: dicyclopentadiene type epoxy resin (Epicron HP-7200 HH made by DIC, glass transition temperature of cured product: 210 占 폚, softening point: 88 占 폚, melt viscosity: 8 dPa 占 s, number average molecular weight: 760)

·열경화제:디시안디아미드 (아사히덴카 제 아데커버도너 3636 AS)· Thermal curing agent: dicyandiamide (Asahi Denka Ade Cover Donor 3636 AS)

·경화 촉진제:2-페닐-4,5-디히드록시메틸이미다졸 (시코쿠화성공업 제 큐아조르 2 PHZ)· Curing accelerator: 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole (Qyazor 2 PHZ manufactured by Shikoku Chemical Industry Co., Ltd.)

·아크릴 중합체 A:아크릴산부틸 10 질량부, 메타크릴산메틸 70 질량부, 아크릴산2-하이드록시에틸 15 질량부, 및 메타크릴산글리시딜 5 질량부로 이루어지는 아크릴 중합체 (중량 평균 분자량:27 만, 유리 전이 온도:-1 ℃)Acrylic Polymer A: An acrylic polymer (weight average molecular weight: 270,000, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) comprising 10 parts by mass of butyl acrylate, 70 parts by mass of methyl methacrylate, 15 parts by mass of 2-hydroxyethyl acrylate and 5 parts by mass of glycidyl methacrylate, Glass transition temperature: -1 캜)

·아크릴 중합체 B:아크릴산부틸 15 질량부, 메타크릴산메틸 65 질량부, 아크릴산2-하이드록시에틸 15 질량부, 및 메타크릴산글리시딜 5 질량부로 이루어지는 아크릴 중합체 (중량 평균 분자량:44 만, 유리 전이 온도:-4 ℃)Acrylic Polymer B: An acrylic polymer (weight average molecular weight: 4,400,000, weight average molecular weight: 4,000,000) consisting of 15 parts by weight of butyl acrylate, 65 parts by weight of methyl methacrylate, 15 parts by weight of 2-hydroxyethyl acrylate, and 5 parts by weight of glycidyl methacrylate, Glass transition temperature: -4 캜)

·무기 필러:실리카 필러 (용융 석영 필러, 평균 입경 8 ㎛)· Inorganic filler: silica filler (fused quartz filler, average particle diameter 8 μm)

·착색제:카본 블랙 (미츠비시 화학 제 MA600B)Colorant: Carbon black (MA600B made by Mitsubishi Chemical Corporation)

·커플링제 A:실란 커플링제 (신에츠 화학공업 제 X-41-1056)Coupling agent A: Silane coupling agent (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., X-41-1056)

·커플링제 B:실란 커플링제 (신에츠 화학공업 제 KBE-403)Coupling agent B: Silane coupling agent (KBE-403, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)

·커플링제 C:실란 커플링제 (신에츠 화학공업 제 KBM-403)Coupling agent C: Silane coupling agent (KBM-403 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)

(실시예 및 비교예)(Examples and Comparative Examples)

상기 각 성분을 표 1 에 기재된 양으로 배합하고, 보호막 형성용 조성물을 얻었다. 또, 박리 시트로서 편면에 박리 처리를 실시한 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름 (린텍사 제 SP-PET381031, 두께 38 ㎛, 표면장력 30 mN/m 미만, 융점 200 ℃ 이상) 을 준비했다.Each of the above components was compounded in the amounts shown in Table 1 to obtain a composition for forming a protective film. As a release sheet, a polyethylene terephthalate film (SP-PET381031 manufactured by Lin Tec Co., Ltd., thickness: 38 mu m, surface tension less than 30 mN / m, melting point: 200 DEG C or more)

상기 보호막 형성층용 조성물의 메틸에틸케톤 용액 (고형 농도 61 중량%) 을, 상기 박리 시트의 박리 처리면 상에 건조 후 25 ㎛ 의 두께가 되도록 도포, 건조 (건조 조건:오븐에서 120 ℃, 3 분간) 시켜, 박리 시트 상에 보호막 형성용 필름을 형성했다. 이어서, 다른 박리 시트를 보호막 형성용 필름 위에 적층하고, 박리 시트에 보호막 형성용 필름이 협지된 적층체를 얻었다. 그 후, 일방의 박리 시트는 완전하게 다이컷하지 않고, 타방의 박리 시트와 보호막 형성용 필름은 완전하게 다이컷하도록, 적층체를 실리콘 웨이퍼와 동 사이즈 (직경 200 mm) 로 다이컷하고, 일방의 박리 시트 상에 원형으로 다이컷된 보호막 형성용 필름을 남기고, 잔여 보호막 형성용 필름과 타방의 박리 시트는 제거했다.A methyl ethyl ketone solution (solid concentration: 61% by weight) of the composition for the protective film forming layer was coated on the release surface of the release sheet so as to have a thickness of 25 탆 and dried (drying condition: oven at 120 캜 for 3 minutes ) To form a protective film-forming film on the release sheet. Subsequently, another release sheet was laminated on the protective film-forming film, and a laminate having a protective film-forming film held on the release sheet was obtained. Thereafter, one of the release sheets was not die-cut completely, and the other release die and the protective film-forming film were die-cut so as to completely die-cut the laminate to the same size (diameter 200 mm) as the silicon wafer, The film for forming a protective film was circularly cut on the peeling sheet of the protective film forming film and the remaining protective film forming film and the other peeling sheet were removed.

또, 지지 시트로서 점착 시트 (린텍사 제 Adwill D-676 H) 를 준비했다.Further, a pressure-sensitive adhesive sheet (Adwill D-676H, manufactured by Lin Tec Co., Ltd.) was prepared as a support sheet.

상기 점착 시트의 점착제층 상에 상기 보호막 형성용 필름을 첩부하고, 링 프레임에 대한 풀칠 여유분의 외경 (직경 260 mm) 에 맞추어 동심원상으로 다이컷했다. 그 후, 보호막 형성용 필름 위의 박리 시트를 박리하고, 도 1 의 양태의 보호막 형성용 시트를 얻었다.The protective film-forming film was stuck on the pressure-sensitive adhesive layer of the pressure-sensitive adhesive sheet, and die-cut into a concentric circle in accordance with the outer diameter (diameter: 260 mm) of the grooming allowance for the ring frame. Thereafter, the release sheet on the protective film-forming film was peeled off to obtain a protective film-forming sheet in the mode of FIG.

실시예 1Example 1 실시예 2Example 2 실시예 3Example 3 실시예 4Example 4 비교예 1Comparative Example 1 비교예 2Comparative Example 2 에폭시 화합물 AEpoxy Compound A 55 55 55 55 에폭시 화합물 BEpoxy Compound B 3030 2525 3030 2525 3030 3030 에폭시 화합물 CThe epoxy compound C 55 1010 55 1010 1010 1010 열경화제Heat curing agent 1One 1One 1One 1One 1One 1One 경화촉진제Hardening accelerator 1One 1One 1One 1One 1One 1One 아크릴 중합체 AAcrylic Polymer A 5050 5050 5050 아크릴 중합체 BAcrylic Polymer B 5050 5050 5050 무기 필러Inorganic filler 100100 100100 100100 100100 100100 100100 착색제coloring agent 33 33 33 33 33 33 커플링제 ACoupling agent A 0.30.3 0.30.3 0.30.3 0.30.3 0.30.3 0.30.3 커플링제 BCoupling agent B 0.20.2 0.20.2 0.20.2 0.20.2 0.20.2 0.20.2 커플링제 CCoupling agent C 0.20.2 0.20.2 0.20.2 0.20.2 0.20.2 0.20.2

단위: unit: 질량부Mass part

얻어진 보호막 형성용 시트를 사용하여 <보호막 부착 칩의 신뢰성 평가> 를 실시했다. 결과를 표 2 에 나타낸다.<Reliability Evaluation of a Chip with a Protective Film> was carried out using the resulting protective film-forming sheet. The results are shown in Table 2.

보호막 부착 칩의 신뢰성 평가 (불량품 수 / 시험 수)Reliability evaluation of chip with protective film (defective product / test water) 실시예 1Example 1 0/250/25 실시예 2Example 2 0/250/25 실시예 3Example 3 0/250/25 실시예 4Example 4 0/250/25 비교예 1Comparative Example 1 10/2510/25 비교예 2Comparative Example 2 6/256/25

실시예의 보호막 형성용 시트의 보호막 형성용 필름을 경화시킨 보호막은 우수한 신뢰성을 나타냈다. 이 결과로부터, 본 발명에 관련된 보호막 형성용 필름 또는 보호막 형성용 시트를 사용함으로써, 고신뢰성의 보호막 부착 칩이 얻어지는 것이 확인되었다. 따라서, 그 보호막 부착 칩을 사용함으로써, 신뢰성이 우수한 반도체 장치를 제조할 수 있다.The protective film obtained by curing the protective film-forming film of the protective film-forming sheet of the Example exhibited excellent reliability. From these results, it was confirmed that by using the protective film-forming film or the protective film-forming sheet according to the present invention, a chip with a protective film with high reliability was obtained. Therefore, by using the chip with the protective film, a semiconductor device having excellent reliability can be manufactured.

10 : 보호막 형성용 시트
1 : 기재
2 : 점착제층
3 : 지지 시트
4 : 보호막 형성용 필름
5 : 지그 접착층
6 : 계면 접착 조정층
7 : 지그
10: Sheet for forming a protective film
1: substrate
2: Pressure-sensitive adhesive layer
3: Support sheet
4: Film for forming a protective film
5: Jig adhesive layer
6: Interfacial adhesion adjustment layer
7: Jig

Claims (6)

반도체 칩을 보호하는 보호막을 형성하기 위한 보호막 형성용 필름으로서,
경화물의 유리 전이 온도가 220 ℃ 이상인 에폭시 화합물을 포함하는 에폭시계 열경화성 성분을 함유하는 보호막 형성용 필름.
A film for forming a protective film for forming a protective film for protecting a semiconductor chip,
A film for forming a protective film containing an epoxy thermosetting component comprising an epoxy compound having a glass transition temperature of 220 ° C or higher.
제 1 항에 있어서,
에폭시 화합물의 연화점이 60~110 ℃ 인 보호막 형성용 필름.
The method according to claim 1,
Wherein the epoxy compound has a softening point of 60 to 110 占 폚.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
아크릴 중합체를 함유하는 보호막 형성용 필름.
3. The method according to claim 1 or 2,
A film for forming a protective film containing an acrylic polymer.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
두께가 1~100 ㎛ 인 보호막 형성용 필름.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
And a thickness of 1 to 100 占 퐉.
제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 기재된 보호막 형성용 필름이 지지 시트 상에 적층되어 이루어지는 보호막 형성용 시트.A sheet for forming a protective film, wherein the protective film-forming film according to any one of claims 1 to 4 is laminated on a support sheet. 이하의 공정 (1)~(4) 를 포함하는 반도체 장치의 제조 방법;
공정 (1):제 5 항에 기재된 보호막 형성용 시트의 보호막 형성용 필름을 피착체에 첩부하는 공정,
공정 (2):보호막 형성용 필름을 가열경화하여 보호막을 얻는 공정,
공정 (3):보호막 형성용 필름 또는 보호막과 지지 시트를 분리하는 공정 및,
공정 (4):피착체와 보호막 형성용 필름 또는 보호막을 다이싱하는 공정.
A manufacturing method of a semiconductor device including the following steps (1) to (4):
Step (1): A step of attaching a film for forming a protective film of a protective film-forming sheet according to claim 5 to an adherend,
Step (2): a step of heating and curing the protective film forming film to obtain a protective film,
Step (3): a step of separating the protective film-forming film or protective film from the supporting sheet,
Step (4): Step of dicing the adherend and the protective film-forming film or protective film.
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