KR20150145633A - 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법 - Google Patents
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 90
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 54
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 34
- 230000006870 function Effects 0.000 description 115
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 35
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 11
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 8
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 6
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 4
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 4
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 4
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 4
- 229910004611 CdZnTe Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000012885 constant function Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 3
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 2
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000009607 mammography Methods 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000009877 rendering Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 241001465754 Metazoa Species 0.000 description 1
- 229910020658 PbSn Inorganic materials 0.000 description 1
- 101150071746 Pbsn gene Proteins 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000002583 angiography Methods 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 description 1
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013155 cardiography Methods 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 1
- 230000002068 genetic effect Effects 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- RQQRAHKHDFPBMC-UHFFFAOYSA-L lead(ii) iodide Chemical compound I[Pb]I RQQRAHKHDFPBMC-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 230000003902 lesion Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- YFDLHELOZYVNJE-UHFFFAOYSA-L mercury diiodide Chemical compound I[Hg]I YFDLHELOZYVNJE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 1
- 229910052704 radon Inorganic materials 0.000 description 1
- SYUHGPGVQRZVTB-UHFFFAOYSA-N radon atom Chemical compound [Rn] SYUHGPGVQRZVTB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T11/00—2D [Two Dimensional] image generation
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- G06T11/005—Specific pre-processing for tomographic reconstruction, e.g. calibration, source positioning, rebinning, scatter correction, retrospective gating
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
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- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
- G06T5/73—Deblurring; Sharpening
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/401—Imaging image processing
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10116—X-ray image
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Pulmonology (AREA)
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- Medical Informatics (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
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Abstract
이와 같은 엑스선 영상 장치 및 엑스선 영상 장치의 제어 방법에 의하면, 데이터 일관성을 이용하여 산란 보정을 수행하므로, 산란 보정의 정확도를 높일 수 있고, 이에 기초하여 엑스선 영상을 생성하기 때문에, 엑스선 영상의 품질을 향상시킬 수 있다.
Description
도 2는 갠트리의 회전 및 테이블의 이동을 예시한 도면이다.
도 3는 엑스선 영상 장치의 다른 실시예에 따른 외관을 도시한 도면이다.
도 4a는 D7방향으로 회전하는 C-arm을 도시한 도면이다.
도 4b는 D8방향으로 회전하는 C-arm을 도시한 도면이다.
도 5은 엑스선 영상 장치의 일 실시예에 따른 제어 블록도이다.
도 6는 엑스선 튜브의 내부 구조를 예시한 단면도이다.
도 7은 엑스선 디텍터의 구조를 개략적으로 나타낸 모식도이다.
도 8은 제1 엑스선 영상 데이터에 포함된 산란 성분을 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 커널 함수를 통해 표시되는 산란 성분을 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 영상 처리부의 일 실시예에 따른 구성도이다.
도 11은 데이터 일관성을 설명하기 위한 도면이다.
도 12는 빔 형태에 따른 영상 데이터의 변환을 설명하기 위한 도면이다.
도 13은 엑스선 영상 장치에 의해 생성된 엑스선 영상을 예시한 도면이다.
도 14는 엑스선 영상 장치의 제어 방법의 일 실시예에 따른 흐름도이다.
210 : 입력부 220 : 디스플레이부
300 : 제어부 400 : 저장부
500 : 영상 처리부 510 : 커널 함수 설정부
520 : 영상 데이터 보정부 530 : 데이터 일관성 판단부
540 : 엑스선 영상 생성부
Claims (20)
- 엑스선 디텍터로부터 검출되는 제1 엑스선 영상 데이터에 포함된 산란 성분에 대응하여 스캐터 커널 함수(scatter kernel function)를 설정하는 커널 함수 설정부; 및
상기 스캐터 커널 함수 및 데이터 일관성(data consistency)을 이용하여, 상기 제1 엑스선 영상 데이터에 대해 산란 보정된 제2 엑스선 영상 데이터를 생성하는 영상 데이터 보정부;
를 포함하는 엑스선 영상 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 영상 데이터 보정부는,
상기 스캐터 커널 함수를 이용하여, 상기 제1 엑스선 영상 데이터에 대해 산란 보정된 보정 영상 데이터를 생성하는 엑스선 영상 장치. - 제 2 항에 있어서,
상기 영상 데이터 보정부는,
상기 제1 엑스선 영상 데이터와 스캐터 커널 함수를 디컨볼루션(deconvilution)하여, 상기 보정 영상 데이터를 생성하는 엑스선 영상 장치. - 제 2 항에 있어서,
상기 보정 영상 데이터에 대해 데이터 일관성의 만족 여부를 판단하는 데이터 일관성 판단부;
를 더 포함하는 엑스선 영상 장치. - 제 5 항에 있어서,
상기 데이터 일관성 판단부는,
팬-패러럴 리비닝(fan-parallel rebinning)을 통해 상기 보정 영상 데이터를 평행 빔(parallel) 형태의 보정 영상 데이터로 변환하는 엑스선 영상 장치. - 제 5 항에 있어서,
상기 제2 엑스선 영상 데이터는,
상기 데이터 일관성을 만족하는 보정 영상 데이터인 엑스선 영상 장치. - 제 5 항에 있어서,
상기 커널 함수 설정부는,
상기 보정 영상 데이터가 데이터 일관성을 만족하지 않는 경우, 상기 스캐터 커널 함수를 업데이트하는 엑스선 영상 장치. - 제 1 항에 있어서,
상기 제2 엑스선 영상 데이터에 대응하는 엑스선 영상을 디스플레이하는 디스플레이부;
를 더 포함하는 엑스선 영상 장치. - 엑스선 디텍터로부터 검출되는 제1 엑스선 영상 데이터에 포함된 산란 성분에 대응하여 스캐터 커널 함수(scatter kernel function)를 설정하고; 및
상기 스캐터 커널 함수 및 데이터 일관성(data consistency)을 이용하여, 상기 제1 엑스선 영상 데이터에 대해 산란 보정된 제2 엑스선 영상 데이터를 생성하는;
것을 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법. - 제 11 항에 있어서,
상기 제2 엑스선 영상 데이터를 생성하는 것은,
상기 스캐터 커널 함수를 이용하여, 상기 제1 엑스선 영상 데이터에 대해 산란 보정된 보정 영상 데이터를 생성하는 것을 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법. - 제 12 항에 있어서,
상기 제2 엑스선 영상 데이터를 생성하는 것은,
상기 제1 엑스선 영상 데이터와 스캐터 커널 함수를 디컨볼루션(deconvilution)하여, 상기 보정 영상 데이터를 생성하는 것을 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법. - 제 13 항에 있어서,
상기 제2 엑스선 영상 데이터를 생성하는 것은,
하기의 수학식 4를 이용하여, 상기 제1 엑스선 영상 데이터와 스캐터 커널 함수를 디컨볼루션(deconvilution)하는 것을 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법.
[수학식 4]
여기서, Iqi은 보정 영상 데이터, Im은 제1 엑스선 영상 데이터, δ는 델타 함수(delta function), Ki는 스캐터 커널 함수를 의미하며, F는 퓨리에 변환(fourier transform)을, F-1은 역퓨리에 변환(inverse fourier transform)을 의미한다. - 제 12 항에 있어서,
상기 보정 영상 데이터에 대해 데이터 일관성의 만족 여부를 판단하는;
것을 더 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법. - 제 15 항에 있어서,
상기 데이터 일관성의 만족 여부를 판단하는 것은,
팬-패러럴 리비닝(fan-parallel rebinning)을 통해 상기 보정 영상 데이터를 평행 빔(parallel) 형태의 보정 영상 데이터로 변환하는 것을 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법. - 제 15 항에 있어서,
상기 제2 엑스선 영상 데이터는,
상기 데이터 일관성을 만족하는 보정 영상 데이터인 엑스선 영상 장치의 제어 방법. - 제 15 항에 있어서,
상기 스캐터 커널 함수를 설정하는 것은,
상기 보정 영상 데이터가 데이터 일관성을 만족하지 않는 경우, 상기 스캐터 커널 함수를 업데이트하는 것을 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법. - 제 18 항에 있어서,
상기 스캐터 커널 함수를 설정 또는 업데이트 하는 것은,
하기의 수학식 3를 이용하여, 상기 스캐터 커널 함수를 설정 또는 업데이트하는 것을 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법.
[수학식 3]
여기서, N은 자연수, (Ai ,Bi ,αi ,βi ,σi ,τi)는 파라미터, Ip는 제1 엑스선 영상 데이터에 포함된 프라이머리 성분(primary component), Io는 대상체가 존재하지 않을 때 감쇄 현상 없이 검출되는 엑스선, r은 Ip 및 Io 가 도달하는 엑스선 디텍터상의 위치, Ki(Ip ,Io ,r)는 i번째 스캐터 커널 함수를 각각 의미한다. - 제 11 항에 있어서,
상기 제2 엑스선 영상 데이터에 대응하는 엑스선 영상을 디스플레이하는;
것을 더 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140075990A KR20150145633A (ko) | 2014-06-20 | 2014-06-20 | 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법 |
US14/728,070 US9619906B2 (en) | 2014-06-20 | 2015-06-02 | X-ray imaging apparatus and control method for the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140075990A KR20150145633A (ko) | 2014-06-20 | 2014-06-20 | 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20150145633A true KR20150145633A (ko) | 2015-12-30 |
Family
ID=54870119
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140075990A Abandoned KR20150145633A (ko) | 2014-06-20 | 2014-06-20 | 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9619906B2 (ko) |
KR (1) | KR20150145633A (ko) |
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- 2014-06-20 KR KR1020140075990A patent/KR20150145633A/ko not_active Abandoned
-
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- 2015-06-02 US US14/728,070 patent/US9619906B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20200059712A (ko) * | 2018-11-21 | 2020-05-29 | 이희신 | 엑스선 영상 산란 보정 시스템 및 방법 |
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US11911202B2 (en) | 2021-02-26 | 2024-02-27 | Vieworks Co., Ltd. | Method and apparatus for compensating scattering of X-ray image |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9619906B2 (en) | 2017-04-11 |
US20150371414A1 (en) | 2015-12-24 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20140620 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20190618 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20140620 Comment text: Patent Application |
|
PA0302 | Request for accelerated examination |
Patent event date: 20190618 Patent event code: PA03022R01D Comment text: Request for Accelerated Examination Patent event date: 20140620 Patent event code: PA03021R01I Comment text: Patent Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20190628 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20190904 |
|
PC1904 | Unpaid initial registration fee |