KR20150132701A - 3차원 자동 측정장치 및 3차원 자동 측정방법 - Google Patents
3차원 자동 측정장치 및 3차원 자동 측정방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20150132701A KR20150132701A KR1020140058684A KR20140058684A KR20150132701A KR 20150132701 A KR20150132701 A KR 20150132701A KR 1020140058684 A KR1020140058684 A KR 1020140058684A KR 20140058684 A KR20140058684 A KR 20140058684A KR 20150132701 A KR20150132701 A KR 20150132701A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- product
- camera
- infrared
- dimensional
- high resolution
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims 3
- 238000002845 discoloration Methods 0.000 claims description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 18
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 8
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 4
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 2
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8803—Visual inspection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/0099—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor comprising robots or similar manipulators
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T17/00—Three dimensional [3D] modelling, e.g. data description of 3D objects
- G06T17/30—Polynomial surface description
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N2021/9513—Liquid crystal panels
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Mathematical Optimization (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Pure & Applied Mathematics (AREA)
- Mathematical Analysis (AREA)
- Computer Graphics (AREA)
- Geometry (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Algebra (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Robotics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
도 2는 디스플레이 장치 측정용 거치대를 나타낸다.
도 3은 거치대에 디스플레이 장치가 거치된 형태를 나타낸다.
도 4는 디스플레이 장치의 위치에 따른 이미지의 차이를 나타낸다.
도 5는 본 발명에 따른 3차원 자동 측정장치의 예를 나타낸다.
도 6은 카메라모듈의 사진이다.
도 7은 디스플레이 제품의 위치 정보를 나타낸다.
도 8은 본 발명에 따른 3차원 자동 측정방법을 나타낸다.
도 9는 본 발명에 따른 3차원 자동 측정방법 중 카메라 위치조정 과정을 나타낸다.
도 10은 카메라 위치조정 전후의 상태를 나타낸다.
210~250: 디스플레이 제품
510: 거치대
520: 다 관절 로봇
525: 카메라모듈
530: 제어장치
Claims (11)
- 검사의 대상이 되는 제품을 로딩하는 거치대;
헤드부에 적외선 3D 스테레오 카메라 및 2D 고해상도 카메라가 포함된 카메라모듈이 설치된 다 관절 로봇; 및
상기 적외선 3D 스테레오 카메라로 입력되는 영상으로부터 상기 거치대에 거치된 제품의 자세를 3차원으로 추정하고, 추정된 제품의 자세에 따라 상기 다 관절 로봇의 동작을 제어하여 상기 카메라모듈의 위치를 조정한 후, 상기 2D 고해상도 카메라로 입력되는 영상을 이용하여 상기 제품의 디스플레이 특성을 검사하는 제어장치;를
포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 자동 측정장치. - 제1항에 있어서, 상기 제품의 자세는,
상기 제품의 상기 거치대에서의 위치 및 상기 거치대면과 이루는 각도 인 것을 특징으로 하는 3차원 자동 측정장치. - 제2항에 있어서, 상기 제품의 자세를 추정한 후 수행하는 상기 카메라모듈의 위치의 조정은,
상기 적외선 3D 스테레오 카메라의 수신 렌즈 및 상기 2D 고해상도 카메라의 렌즈가 상기 제품의 면 중앙의 수직 상방향에 위치하도록 하는 것을 특징으로 하는 3차원 자동 측정장치. - 제3항에 있어서, 상기 적외선 3D 스테레오 카메라는,
상기 제품에 대한 적외선 영역의 영상을 서로 일정 거리 떨어진 2개의 카메라를 이용하여 수신하는 것을 특징으로 하는 3차원 자동 측정장치. - 제4항에 있어서, 상기 제어장치가 수행하는 상기 제품의 디스플레이 특성은,
상기 디스플레이 패널에 나타나는 선형 가로줄 얼룩, 선형 세로줄 얼룩, BLOCK 성 가로줄 얼룩, BLOCK 성 세로줄 얼룩, CF성 가로줄, CF성 세로줄, 변색 얼룩, 비 내림성 세로줄, 때 얼룩 및 출력성 세로줄 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 자동 측정장치. - 제5항에 있어서, 상기 제어장치는,
상기 2D 고해상도 카메라의 배율 변경을 제어하는 것을 특징으로 하는 3차원 자동 측정장치. - 제6항에 있어서, 상기 제품은,
LCD 모듈인 것을 특징으로 하는 3차원 자동 측정장치.
- 제7항에 기재된 3차원 자동 측정장치를 이용하여, 상기 제품의 디스플레이 특성을 자동으로 측정하는 3차원 자동 측정방법은,
상기 적외선 3D 스테레오 카메라로 입력되는 영상을 이용하여 상기 거치대에 거치된 제품의 자세를 3차원으로 추정하는 제품자세 추정단계;
추정된 상기 제품의 자세에 따라 상기 다 관절 로봇의 헤드에 설치된 상기 카메라모듈의 위치를 조정하는 카메라 위치조정단계; 및
위치가 조정된 상기 2D 고해상도 카메라로 입력되는 영상을 이용하여 상기 제품의 디스플레이 특성을 검사하는 제품특성검사단계;를
포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 자동 측정방법. - 제8항에 있어서, 상기 제품자세 추정단계에서 상기 제품의 자세는,
상기 제품의 특징을 나타낼 수 있는 장소들의 3차원 좌표로 나타내는 것을 특징으로 하는 3차원 자동 측정방법. - 제9항에 있어서, 상기 3차원 좌표는,
상기 제품의 특징은 각 제품의 꼭지점들인 것을 특징으로 하는 3차원 자동 측정방법. - 제10항에 있어서, 상기 카메라 위치조정단계는,
상기 카메라모듈을 미리 정한 기준위치로 이동시키는 기준위치 이동단계; 및
상기 제품자세 추정단계에서 추정된 상기 제품의 3차원 좌표와 상기 기준위치의 3차원 좌표를 비교하여 연산한 이동정보 및 회전정보에 따라 상기 다 관절 로봇의 헤드를 이동하고 상기 다 관절 로봇 헤드를 회전하여 상기 적외선 3D 스테레오 카메라의 수신 렌즈 및 상기 2D 고해상도 카메라의 수신 렌즈가 상기 제품의 면 중앙의 수직 상방향에 위치하도록 하는 자세보정단계;를
수행하는 것을 특징으로 하는 3차원 자동 측정방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140058684A KR20150132701A (ko) | 2014-05-16 | 2014-05-16 | 3차원 자동 측정장치 및 3차원 자동 측정방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140058684A KR20150132701A (ko) | 2014-05-16 | 2014-05-16 | 3차원 자동 측정장치 및 3차원 자동 측정방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20150132701A true KR20150132701A (ko) | 2015-11-26 |
Family
ID=54847286
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140058684A Ceased KR20150132701A (ko) | 2014-05-16 | 2014-05-16 | 3차원 자동 측정장치 및 3차원 자동 측정방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20150132701A (ko) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106780445A (zh) * | 2016-11-30 | 2017-05-31 | 北京兆维智能装备有限公司 | 一种基于3d成像技术的lcm组件外形缺陷检测方法 |
KR20200111504A (ko) * | 2019-03-19 | 2020-09-29 | 주식회사 비오엠솔루션 | 디스플레이 패널 검사장치 |
KR102592603B1 (ko) * | 2023-02-22 | 2023-10-23 | 주식회사 시스템알앤디 | 비전 검사 장비의 모니터링 방법 |
-
2014
- 2014-05-16 KR KR1020140058684A patent/KR20150132701A/ko not_active Ceased
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106780445A (zh) * | 2016-11-30 | 2017-05-31 | 北京兆维智能装备有限公司 | 一种基于3d成像技术的lcm组件外形缺陷检测方法 |
CN106780445B (zh) * | 2016-11-30 | 2019-06-07 | 北京兆维智能装备有限公司 | 一种基于3d成像技术的lcm组件外形缺陷检测方法 |
KR20200111504A (ko) * | 2019-03-19 | 2020-09-29 | 주식회사 비오엠솔루션 | 디스플레이 패널 검사장치 |
KR102592603B1 (ko) * | 2023-02-22 | 2023-10-23 | 주식회사 시스템알앤디 | 비전 검사 장비의 모니터링 방법 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Balanji et al. | A novel vision-based calibration framework for industrial robotic manipulators | |
EP2993002B1 (en) | Robot apparatus and method for controlling robot apparatus | |
TWI457541B (zh) | 物件表面之傾斜角的偵測方法、補償方法及其系統 | |
KR102129103B1 (ko) | 적어도 3개의 이산 평면에 따른 머신 비젼 카메라의 보정을 위한 시스템 및 방법 | |
US11267142B2 (en) | Imaging device including vision sensor capturing image of workpiece | |
US20150202776A1 (en) | Data generation device for vision sensor and detection simulation system | |
JP6520451B2 (ja) | 外観撮影装置及び外観撮影方法 | |
US11446822B2 (en) | Simulation device that simulates operation of robot | |
CN111278608B (zh) | 用于3d视觉机器人系统的校准物品 | |
JP2008296330A (ja) | ロボットシミュレーション装置 | |
WO2022163580A1 (ja) | 視覚センサにて取得される3次元の位置情報から断面画像を生成する処理装置および処理方法 | |
JP5686279B2 (ja) | ワーク姿勢検出装置、ワーク処理実行装置及びワーク姿勢検出方法 | |
KR20150132701A (ko) | 3차원 자동 측정장치 및 3차원 자동 측정방법 | |
Yin et al. | Analysis and simplification of lens distortion model for the Scheimpflug imaging system calibration | |
KR20170068071A (ko) | 형상측정장치와 이를 이용한 형상측정방법 | |
JP2012242138A (ja) | 形状計測装置 | |
US20250042036A1 (en) | Robot device provided with three-dimensional sensor and method for controlling robot device | |
TW201900358A (zh) | 機器手臂校正座標的方法 | |
Jagieła–Zając et al. | Measurement of the pick holders position on the side surface of the cutting head of a mining machine with the use of stereoscopic vision | |
US20240185455A1 (en) | Imaging device for calculating three-dimensional position on the basis of image captured by visual sensor | |
JP2019214122A (ja) | 作業システム | |
EP3252458A1 (en) | System and method for digitalizing tridimensional objects | |
JP6457295B2 (ja) | 部品判定装置 | |
TWI577493B (zh) | 校正方法與應用此方法的自動化設備 | |
KR20160148766A (ko) | 로봇의 원점 재설정 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20140516 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
N231 | Notification of change of applicant | ||
PN2301 | Change of applicant |
Patent event date: 20150330 Comment text: Notification of Change of Applicant Patent event code: PN23011R01D |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20151011 Patent event code: PE09021S01D |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20151216 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20151011 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |