KR20140060300A - 유체 내 미용해된 입자의 비파괴적 검출을 위한 방법 및 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
도 1a 내지 도 1c는 적어도 부분적으로 유체로 충전되는 컨테이너 (container) 내의 입자를 검출하고 식별하는데 각각 사용될 수 있는 시각적 검사 유닛, 시각적 검사 영상화 모듈 및 시각적 검사 플랫폼을 각각 도시한다.
도 2a는 도 1a 내지 도 1c에 도시된 시각적 검사 시스템의 샘플 준비, 로딩 및 동작을 도시한다.
도 2b는 용기(vessel) 내의 이동 유체 내 입자 및 이들의 궤적의, 예시적인 시각적 검사 시스템에 의해 캡처된, 프로세싱된 영상을 도시한다.
도 3a 내지 도 3c는 입자 검출 및 식별로부터 준비시에 유체 및 하나 이상의 입자를 함유하는 3개의 유형의 교반 용기, 즉 원통형 용기의 회전 (도 3a), 주사기의 반전 및 회전 (도 3b) 및 주사기의 진탕 (도 3c)을 도시한다.
도 4는 원통형 용기를 영상화하는데 사용된 텔레센트릭(telecentric) 렌즈의 광선 광학 다이어그램이다.
도 5a는 유체를 함유하는 원통형 용기 내의 유체 메니스커스(meniscus) 및 기록된 체적을 도시한다.
도 5b는 컨테이너의 형상에 의해 생성된 원통형 컨테이너 내의 왜곡 및 블라인드 스팟(blind spot)을 도시한다.
도 5c 및 도 5d는 원통형 용기를 영상화할 때 왜곡 및 블라인드 스팟을 보상하기 위한 기술을 도시한다.
도 5e는 컨테이너 내의 다양한 위치에서 입자에 대한 컨테이너의 형상에 의해 생성된 원통형 컨테이너 내의 왜곡 및 블라인드 스팟을 도시한다.
도 5f는 원통형 컨테이너에 의해 유발된 왜곡에 대한 이론적 모델을 도시하고, 각각의 모델은 동일한 컨테이너에 상응하지만 상이한 굴절률을 갖는 유체로 충전된다. 이 도면은 또한 이론적 모델을 확인하는 상응 실험 측정을 도시한다.
도 5g는 컨테이너의 형상에 의해 생성된 원통형 컨테이너 내의 왜곡을 보정하기 위한 보정용 광학 요소의 사용을 도시한다.
도 5h는 도 5g의 보정용 광학 요소의 상세도이다.
도 5i는 다수의 보정용 광학 요소 중 하나를 선택하기 위한 디바이스를 도시한다.
도 6a 내지 도 6d는 다수의 각도로부터 (도 6a 및 도 6b), 동일한 각도로부터 더 높은 프레임 속력에서 (도 6c) 그리고 동일한 각도로부터 상이한 공간 분해능에서 (도 6d) 이동 입자의 시계열 데이터를 캡처하기 위한 다중 영상화기를 갖는 입자 추적 시스템을 도시한다.
도 7a 및 도 7b는 이중 센서 영상화기로 입자를 영상화하기 위한 영상 획득 및 조명의 촉발을 도시한다.
도 8은 검사되는 용기의 앞, 뒤, 아래에 위치된 광원을 포함하는 가요성 다용도 조명 구성의 개략 다이어그램이다.
도 9a 내지 도 9c는 도 8에 도시된 광원을 사용하여 상이한 입자종들 사이를 구별하기 위한 상이한 각도로부터의 조명을 도시한다.
도 9d는 상이한 다양한 입자종들 사이를 구별하기 위해 도 9a 내지 도 9c의 구성을 사용하기 위한 조명 시퀀스 및 타이밍 다이어그램을 도시한다.
도 10a 내지 도 10c는 유체로 부분적으로 충전된 용기로부터의 섬광 (도 10a) 및 용기의 종축에 대해 영상화기를 회전시켜 규정되는 구역 외부의 광원의 위치 설정 (도 10b 및 도 10c)을 도시한다.
도 10d 내지 도 10e는 용기로부터 섬광을 감소하거나 배제하기 위한 대안적인 조명 방안을 도시한다.
도 11은 편광 (예를 들어, 키랄) 입자를 영상화하기 위해 적합한 영상화 구성의 개략 다이어그램이다.
도 12는 형광 입자를 여기하고 영상화하기 위해 적합한 영상화 구성의 개략 다이어그램이다.
도 13a 및 도 13b는 예시적인 시각적 검사 시스템으로 획득된 유리 박판(도 13a) 및 단백질 (도 13b)의 최대 강도 투영 영상을 도시한다.
도 14는 상이한 전체 입자 검출 및 식별 프로세스 뿐만 아니라 영상 사전프로세싱, 입자 추적 및 통계적 분석 서브프로세스를 도시하는 흐름도를 포함한다.
도 15a 및 도 15b는 배경 제거 전 (도 15a) 및 후 (도 15b)의 시계열 데이터의 프레임을 도시한다.
도 16a는 8-비트 그레이스케일 (좌측에 도시됨)로 도시된 입자의 시계열 데이터 프레임이다.
도 16b는 도 16b에 도시된 시계열 데이터 프레임의 확대도이다.
도 16c 및 도 16d는 각각 도 16a 및 도 16b에 도시된 시계열 데이터 프레임의 임계화된 버전이다.
도 17a 내지 도 17d는 시계열 데이터의 한 쌍의 연속적인 프레임 (17a)이 어떻게 예측 추적을 수행하는데 (도 17b 내지 도 17d) 사용될 수 있는지를 도시한다.
도 18a는 다수의 입자를 도시하는 그레이스케일 시계열 데이터 프레임을 도시한다.
도 18b는 입자의 기하학적 중심을 위치 확인하는데 사용되는 도 18a의 임계화된 버전이다.
도 19는 입자 충돌/가려짐을 도시하는 연속적인 시계열 데이터 프레임을 도시한다.
도 20a는 강조된 영역 내부에서 서로 옆에 있는 쌍 또는 입자를 갖는 시계열 데이터의 프레임을 도시한다.
도 20b 내지 도 20e는 도 20a의 강조된 영역 내의 입자가 서로를 지나 전파할 때 입자 가려짐을 명백하게 도시하는 시계열 데이터의 연속적인 프레임이다.
도 21a 내지 도 21c는 직선형 궤적 (도 21a), 곡선형 궤적 (도 21b) 및 포물선형 궤적 (도 21c)에 대한 용기의 벽 상의 스크래치 또는 먼지 조각과 같은 아티팩트(artifact)의 배경 제거에 의해 발생된 이동 입자의 겉보기(apparent) 가려짐을 도시한다.
도 22a 내지 도 22c는 역전된 시계열 데이터를 사용하는 불규칙적 형상의 입자의 질량 중심의 위치 (도 22b 및 도 22c) 및 입자 궤적을 결정하기 위한 질량 중심 위치의 사용 (도 22a)을 도시한다.
도 23a 내지 도 23d는 원통형 용기 내에 관찰되고 모델링된 유체 역학을 도시하고, 도 23a는 메니스커스의 형상의 변화를 도시하고, 도 23b 및 도 23c는 유체-충전된 용기 내부의 와류(vortex) 형성을 도시하고, 도 23d는 예시적인 와류 내의 입자 궤적을 도시한다.
도 24a 및 도 24b는 입자 충돌이 정확하게 분석되지 않은 역전된 시계열 데이터의 연속적인 프레임의 확대도 (도 24a) 및 에러 보정 후의 동일한 플롯 (도 24b)을 도시한다.
도 25a 내지 도 25e는 입자 이동에 기인하는 입자 크기 측정의 시간 의존적을 도시한다.
도 25f는 도 25c에 도시된 입자에 대한 시간 의존적 페레 직경(Feret diameter)의 그래프이다.
도 26a는 상이한 입자 궤적을 지시하는 자취를 갖는 상이한 간격에서 프로세싱된 시계열 데이터의 프레임을 도시한다.
도 26b는 도 26a의 입자 궤적으로부터 다수의 시간 의존적 입자 특성의 예시적인 측정을 도시한다.
도 27a 내지 도 27f는 후방각 조명을 사용하는 관심 영역의 검출을 도시하고, 도 27a는 에지 검출 (도 27b), 그레이스케일 임계화 (도 27c), 메니스커스 및 바이얼-기부의 식별 (도 27d), 관심 영역 (도 27e에 점선에 의해 경계 형성됨)의 결정 및 크로핑(cropping)(도 27f)이 실시되어 컨테이너 내에서 가시적인 유체의 영상을 생성하는 원본 영상(original image)(시계열 데이터의 프레임)을 도시한다.
도 28a 내지 도 28c는 백라이트 바이얼의 충전 체적 검출을 도시하고, 도 28a는 바이얼의 원시 영상(raw image)을 도시하고, 도 28b는 임계화 및 에지 검출을 사용하여 결정된 관심 영역 (점선에 의해 경계 형성됨)을 도시하고, 바이얼의 표면 상의 결함 (도 28c에 도시됨)이 충전 체적 검출을 방해할 수도 있는 것을 도시한다.
도 29a 내지 도 29d는 아래로부터 조명하는 바이얼의 충전 체적 검출을 도시하고, 도 29a 및 도 29b는 부분적으로 충만한 용기 (도 29a) 및 비어 있는 용기 (도 29b)의 위색(false-color) 영상이다. 도 29c 및 도 29d는 부분적으로 충만한, 비어 있는 및 부분적으로 충전된 용기의 자동 메니스커스 검출을 도시한다.
도 30은 시계열 데이터를 프로세싱하기 위해 적합한 프로세서를 도시한다.
도 31은 밝은 입자 및 희미한 입자를 포함하는 영상에 대한 그레이스케일 임계화의 예를 도시한다.
도 32는 표준 크기 (100 ㎛)를 갖는 입자의 집단(population)에 대한 겉보기 입자 크기의 막대그래프를 도시한다.
도 33은 각각의 집단이 지시된 표준 크기 (㎛)를 갖는, 입자의 2개의 집단에 대한 겉보기 입자 크기 계수 곡선을 도시한다.
도 34는 각각의 집단이 지시된 표준 크기 (㎛)를 갖는, 입자의 4개의 집단에 대한 겉보기 입자 크기 계수 칼리브레이션 곡선을 도시한다.
도 35는 샘플 겉보기 입자 크기 계수 곡선에 대한 칼리브레이션 곡선의 중첩을 피팅하는 것을 도시한다.
도 36은 입자를 계수하고 크기분류하는 2개의 기술, 원시 비닝(raw binning) 및 LENS의 결과를 비교한다.
도 37은 임계 크기 미만 및 초과의 입자에 대한 상이한 크기분류 기술을 특징화하는 입자를 계수하고 크기분류하기 위한 프로세스를 도시한다.
도 38a 내지 도 38c는 다중 각도로부터 이동 입자의 시계열 데이터를 캡처하기 위한 다수의 영상화기를 갖는 입자 추적 시스템을 도시한다.
도 39는 도 38a 내지 도 38c의 입자 추적 시스템의 2개의 영상화기의 각각 (좌측 패널) 및 3개의 영상화기의 각각 (우측 패널)에 의해 수신된 컨테이너를 통한 광선의 전파를 도시한다.
도 40은 시각적 검사에 의한 인간 결과와 비교된 자동화된 입자 검출 시스템 ("APT"라 나타냄)에 대한 입자 검출 결과를 도시한다.
도 41은 자동화된 입자 검출 시스템에 대한 입자 검출 및 분류 결과를 도시한다.
도 42는 샘플 희석 및 자동화된 입자 검출 시스템의 함수로서 입자 계수의 선형성을 요약하는 차트를 도시한다.
도 43은 단백질 응집체 입자를 검출하고 계수하는데 사용된 자동화된 입자 검출 시스템의 정밀도를 도시한다.
도 44는 시각적 검사에 의한 인간 결과와 비교된 자동화된 입자 검출 시스템 ("APT"라 나타냄)에 대한 단백질 응집체 입자 검출 결과를 도시한다.
도 45는 시각적 검사 유닛과 함께 사용하기 위한 분광계를 도시한다.
Claims (146)
- 유체로 적어도 부분적으로 충전된 용기 내의 미용해된 입자의 비파괴적 검출을 위한 장치이며,
(a) 유체 내 입자의 궤적을 표시하는 시계열 데이터를 획득하도록 구성된 영상화기,
(b) 영상화기에 작동가능하게 결합되고 시계열 데이터를 저장하도록 구성된 메모리, 및
(c) 메모리에 작동가능하게 결합되고,
(i) 시계열 데이터의 시간 순서를 역전시켜 역전된 시계열 데이터를 형성하고,
(ii) 역전된 시계열 데이터로부터 입자의 궤적을 추정하고,
(iii) 상기 궤적에 기초하여 입자의 존재 또는 유형을 결정함으로써
입자를 검출하도록 구성된 프로세서
를 포함하는 장치. - 제1항에 있어서, 입자가 약 1 ㎛ 내지 약 400 ㎛의 최소폭을 갖는 것인 장치.
- 제1항에 있어서, 입자가 약 75 내지 약 100 ㎛의 최소폭을 갖는 것인 장치.
- 제1항에 있어서, 입자가 약 1 ㎛ 이상의 최소폭을 갖는 것인 장치.
- 제1항에 있어서, 입자가 단백질 응집체를 포함하는 것인 장치.
- 제1항에 있어서, 영상화기가 입자의 영상을 센서 상에 투영하기 위한 텔레센트릭(telecentric) 렌즈를 포함하는 것인 장치.
- 제1항에 있어서, 영상화기가 가변 초점 길이를 갖는 렌즈를 포함하는 것인 장치.
- 제1항에 있어서, 영상화기가
입자의 영상을 검출하도록 구성된 센서, 및
센서를 냉각시키기 위한 냉각 디바이스
를 포함하는 것인 장치. - 제1항에 있어서, 영상화기가
입자의 영상을 검출하도록 구성된 센서, 및
입자와 센서 사이에 배치되고 용기의 곡률에 의해 야기된 입자 영상의 왜곡을 보상하도록 구성된 보정용 광학 요소
를 포함하는 것인 장치. - 제8항에 있어서, 보정용 광학 요소가 제1 곡률 반경을 갖는 제1 원통형 표면 및 제2 곡률 반경을 갖는 제2 원통형 표면을 갖는 굴절 재료를 포함하는 렌즈를 포함하는 것인 장치.
- 제10항에 있어서, 제1 및 제2 곡률 반경이 상이한 것인 장치.
- 제8항에 있어서, 영상화기가 센서와 용기 사이에 배치된 텔레센트릭 렌즈를 더 포함하고, 보정용 광학 요소가 용기의 곡률에 의해 야기된 영상의 배율을 실질적으로 보정하는 것인 장치.
- 제1항에 있어서, 영상화기가
입자의 영상을 검출하도록 구성된 센서, 및
각각이 용기와 센서 사이에 선택적으로 배치될 수 있고 용기의 곡률에 의해 야기된 시계열 데이터의 왜곡을 보상하도록 구성될 수 있는 다수의 보정용 광학 요소
를 포함하는 것인 장치. - 제1항에 있어서, 영상화기가
제1 분해능 및 제1 영상화 속력에서 유체의 적어도 일부의 제1 영상을 검출하도록 구성된 제1 센서, 및
제1 분해능보다 미세한 제2 분해능 및 제1 영상화 속력보다 느린 제2 영상화 속력에서 유체의 적어도 일부의 제1 영상을 검출하도록 구성된 제2 센서
를 포함하는 것인 장치. - 제1항에 있어서, 영상화기가
제1 배율에서 유체의 적어도 일부의 제1 영상을 검출하도록 구성된 제1 센서, 및
제1 배율보다 큰 제2 배율에서 유체의 적어도 일부의 제2 영상을 검출하도록 구성된 제2 센서
를 포함하는 것인 장치. - 제1항에 있어서, 영상화기가 용기의 원주 주위에 배치된 다수의 센서를 포함하는 것인 장치.
- 제1항에 있어서, 영상화기가 입자에 의해 투과, 산란 또는 반사되는 광을 편광시키도록 구성된 편광기를 포함하는 것인 장치.
- 제1항에 있어서, 프로세서가 시계열 데이터 또는 역전된 시계열 데이터로부터 정적 특징을 제거하도록 더 구성된 것인 장치.
- 제1항에 있어서, 프로세서가 시계열 데이터 또는 역전된 시계열 데이터를 임계화(threshold)하도록 더 구성된 것인 장치.
- 제1항에 있어서, 프로세서가
(1) 역전된 시계열 데이터의 제1 프레임에서 입자의 질량 중심을 표시하는 제1 값을 위치 확인하고,
(2) 제1 값의 위치에 기초하여, 역전된 시계열 데이터의 제2 프레임의 미리 정해진 부분에서 입자의 질량 중심을 표시하는 제2 값을 검색하고,
(3) 제1 및 제2 값과 연계된 좌표들 사이의 차이에 기초하여 입자의 변위를 결정함으로써
입자의 궤적을 추정하도록
더 구성된 것인 장치. - 제19항에 있어서, 프로세서가 제1 값으로부터 유도된 입자 속도 또는 입자 가속도에 기초하여 제2 프레임의 미리 정해진 부분을 결정하도록 더 구성된 것인 장치.
- 제1항에 있어서, 프로세서가 입자의 속도 벡터, 속력 또는 좌표 또는 이들의 조합에 적어도 부분적으로 기초하여 입자를 식별하도록 더 구성된 것인 장치.
- 제1항에 있어서, 프로세서가 시간의 함수로서의 입자 반사율의 변화에 적어도 부분적으로 기초하여 입자를 식별하도록 더 구성된 것인 장치.
- 제1항에 있어서, 프로세서가 시계열 데이터에 기초하여, 입자의 크기, 신율, 원형도, 휘도, 컬러, 반사도, 흡광도, 형광성, 콘트라스트 또는 형상, 또는 이들의 임의의 조합을 결정하도록 더 구성된 것인 장치.
- 제24항에 있어서, 프로세서가 입자의 크기, 신율, 원형도, 휘도 또는 형상, 또는 이들의 조합에 적어도 부분적으로 기초하여 입자를 식별하도록 더 구성된 것인 장치.
- 제1항에 있어서, 프로세서가
시계열 데이터의 적어도 2개의 프레임에서 유체 내의 하나 이상의 입자를 표시하는 값을 계수하여, 상기 하나 이상의 입자의 각각의 제1 및 제2 계수를 생성하고,
제1 및 제2 계수 사이의 차이에 기초하여 상기 입자가 다른 입자에 의해 가려졌는지 또는 그와 충돌했는지의 여부를 판정하도록
더 구성된 것인 장치. - 제1항에 있어서, 프로세서가
시계열 데이터 또는 역전된 시계열 데이터에 기초하여 용기 내의 유체의 메니스커스(meniscus)를 검출하고,
메니스커스가 안정한 위치에 있는 시간을 결정하고,
메니스커스가 안정한 위치에 있는 시간에 기초하여, 궤적을 추정하기 위한 역전된 시계열 데이터의 시작점을 선택하도록
더 구성된 것인 장치. - 제27항에 있어서, 프로세서가
시계열 데이터 또는 역전된 시계열 데이터에 기초하여 입자의 속력이 미리 정해진 속력과 동일할 때를 결정하고,
미리 정해진 속력에 대한 입자의 속력에 기초하여, 궤적을 추정하기 위한 역전된 시계열 데이터의 정지점을 선택하도록
더 구성된 것인 장치. - 제27항에 있어서, 입자가 유체 내의 와류(vortex)에 현탁되고, 프로세서가
시계열 데이터 또는 역전된 시계열 데이터에 기초하여 와류의 붕괴를 검출하고,
와류의 붕괴에 기초하여, 궤적을 추정하기 위한 역전된 시계열 데이터의 정지점을 선택하도록
더 구성된 것인 장치. - 제1항에 있어서, 프로세서가
용기 및 용기의 교반에 기초하여, 궤적을 추정하기 위한 역전된 시계열 데이터의 시작점을 선택하고,
용기 및 용기의 교반에 기초하여, 궤적을 추정하기 위한 역전된 시계열 데이터의 정지점을 선택하도록
더 구성된 것인 장치. - 제1항에 있어서,
유체의 적어도 일부를 방사선조사(irradiation)하도록 구성된 방사선 공급원
을 더 포함하는 장치. - 제31항에 있어서, 방사선 공급원이, 영상화기를 용기의 종축 주위로 회전시켜 규정되는 평면에 대한 소정 각도로 입자를 방사선조사하도록 배치된 것인 장치.
- 제31항에 있어서, 방사선 공급원이 영상화기에 의한 시계열 데이터의 획득과 동기화하여 입자를 방사선조사하도록 더 구성된 것인 장치.
- 제31항에 있어서, 방사선 공급원이, 입자를 여기 파장에서 방사선조사하여 상기 입자가 형광 파장에서 형광을 내도록 더 구성되고,
영상화기가 형광 파장에서 방사선을 검출하도록 더 구성된 것인 장치. - 제1항에 있어서, 유체 내에 입자를 현탁하도록 구성된 교반기를 더 포함하는 장치.
- 제35항에 있어서, 교반기가 용기를 그의 종축 주위로 스핀시키도록 더 구성된 것인 장치.
- 제35항에 있어서, 교반기가 용기를 그의 종축에 수직인 축 주위로 회전시키도록 더 구성된 것인 장치.
- 제35항에 있어서, 교반기가 용기를 반전시키도록 더 구성된 것인 장치.
- 제35항에 있어서, 교반기가 용기를 진동 또는 진탕시키도록 더 구성된 것인 장치.
- 유체로 적어도 부분적으로 충전된 용기 내의 미용해된 입자의 비파괴적 검출을 위한 방법이며,
(a) 유체 내 입자의 궤적을 표시하는 시계열 데이터의 시간 순서를 역전시켜 역전된 시계열 데이터를 형성하는 단계,
(b) 역전된 시계열 데이터로부터 입자의 궤적을 추정하는 단계, 및
(c) 상기 궤적에 기초하여 입자를 검출 또는 식별하는 단계
를 포함하는 방법. - 제40항에 있어서, 입자가 약 1 ㎛ 내지 약 400 ㎛의 최소폭을 갖는 것인 방법.
- 제40항에 있어서, 입자가 약 75 내지 약 150 ㎛의 최소폭을 갖는 것인 방법.
- 제40항에 있어서, 입자가 약 1 ㎛ 이상의 최소폭을 갖는 것인 방법.
- 제40항에 있어서, 입자가 단백질 응집체를 포함하는 것인 방법.
- 제40항에 있어서, 입자의 궤적을 추정하는 단계가 시계열 데이터 또는 역전된 시계열 데이터로부터 배경 데이터를 제거하는 것을 포함하는 것인 방법.
- 제40항에 있어서, 입자의 궤적을 추정하는 단계가 시계열 데이터 또는 역전된 시계열 데이터를 임계화하는 것을 포함하는 것인 방법.
- 제40항에 있어서, 입자의 궤적을 추정하는 단계가
(1) 역전된 시계열 데이터의 제1 프레임에서 입자의 질량 중심을 표시하는 제1 값을 위치 확인하고,
(2) 제1 값의 위치에 기초하여, 역전된 시계열 데이터의 제2 프레임의 미리 정해진 부분에서 입자의 질량 중심을 표시하는 제2 값을 검색하고,
(3) 제1 및 제2 값과 연계된 좌표들 사이의 차이에 기초하여 입자의 변위를 결정하는 것
을 포함하는 것인 방법. - 제47항에 있어서, 적어도 부분적으로는 제1 값으로부터 유도된 입자 속도 또는 입자 가속도에 적어도 부분적으로 기초하여 제2 프레임의 미리 정해진 부분을 결정하는 단계를 더 포함하는 방법.
- 제40항에 있어서, 입자를 식별하는 단계가 입자의 속도 벡터, 속력, 상태 또는 좌표, 또는 이들의 조합에 적어도 부분적으로 기초하여 입자를 분류하는 것을 포함하는 것인 방법.
- 제40항에 있어서, 입자를 식별하는 단계가 시간의 함수로서의 입자 반사율의 변화에 적어도 부분적으로 기초하여 입자를 분류하는 것을 포함하는 것인 방법.
- 제40항에 있어서,
입자의 크기, 신율, 원형도, 휘도, 형상, 컬러, 형광성, 콘트라스트, 반사도 또는 흡광도, 또는 이들의 임의의 조합을 결정하는 단계
를 더 포함하는 방법. - 제51항에 있어서, 입자를 식별하는 단계가 입자의 크기, 신율, 휘도 또는 형상에 적어도 부분적으로 기초하여 입자를 분류하는 것을 포함하는 것인 방법.
- 제40항에 있어서,
시계열 데이터의 적어도 2개의 프레임에서 유체 내의 하나 이상의 입자를 표시하는 값을 계수하여, 상기 하나 이상의 입자의 각각의 제1 및 제2 계수를 생성하는 단계, 및
제1 및 제2 계수 사이의 차이에 기초하여, 상기 입자가 유체 내의 다른 입자에 의해 가려졌거나 또는 그와 충돌되었는지의 여부를 판정하는 단계
를 더 포함하는 방법. - 제40항에 있어서,
시계열 데이터 또는 역전된 시계열 데이터에 기초하여 용기 내의 유체의 메니스커스를 검출하는 단계,
메니스커스가 안정한 위치에 있는 지를 결정하는 단계, 및
메니스커스의 안정성에 기초하여, 궤적을 추정하기 위한 역전된 시계열 데이터의 시작점을 선택하는 단계
를 더 포함하는 방법. - 제40항에 있어서,
시계열 데이터 또는 역전된 시계열 데이터에 기초하여 입자의 속력이 미리 정해진 속력과 동일할 때를 결정하는 단계, 및
미리 정해진 속력에 대한 입자의 속력에 기초하여, 궤적을 추정하기 위한 역전된 시계열 데이터의 정지점을 선택하는 단계
를 더 포함하는 방법. - 제40항에 있어서, 입자가 유체 내의 와류에 현탁되고,
시계열 데이터 또는 역전된 시계열 데이터에 기초하여 와류의 붕괴를 검출하는 단계, 및
와류의 붕괴에 기초하여, 궤적을 추정하기 위한 역전된 시계열 데이터의 시작점을 선택하는 단계
를 더 포함하는 방법. - 제40항에 있어서,
용기 및 용기의 교반에 기초하여, 궤적을 추정하기 위한 역전된 시계열 데이터의 시작점을 선택하는 단계, 및
용기 및 용기의 교반에 기초하여, 궤적을 추정하기 위한 역전된 시계열 데이터의 정지점을 선택하는 단계
를 더 포함하는 방법. - 제40항에 있어서, 입자를 유체 내에 현탁시키는 단계를 더 포함하는 방법.
- 제58항에 있어서, 입자를 현탁시키는 단계가 용기를 그의 종축 주위로 스핀시키는 것을 포함하는 것인 방법.
- 제58항에 있어서, 입자를 현탁시키는 단계가 용기를 그의 종축에 수직인 축 주위로 회전시키는 것을 포함하는 것인 방법.
- 제58항에 있어서, 입자를 현탁시키는 단계가 용기를 반전시키는 것을 포함하는 것인 방법.
- 제58항에 있어서, 입자를 현탁시키는 단계가 용기를 진탕 또는 진동시키는 것을 포함하는 것인 방법.
- 제40항에 있어서, 입자를 방사선조사하는 단계를 더 포함하는 방법.
- 제63항에 있어서, 입자를 방사선조사하는 단계가 시계열 데이터의 획득과 동기화하여 방사선조사를 촉발하는 것을 포함하는 것인 방법.
- 제63항에 있어서, 입자를 영상화하는 단계가 센서로 방사선을 감지하는 것을 포함하고,
입자를 방사선조사하는 단계가 센서를 용기의 종축 주위로 회전시켜 규정되는 평면에 대한 소정 각도로 입자를 방사선조사하는 것을 포함하는 것인 방법. - 제40항에 있어서, 상이한 시점에 입자를 영상화하여 시계열 데이터를 제공하는 단계를 더 포함하는 방법.
- 제66항에 있어서, 입자를 영상화하는 단계가 텔레센트릭 렌즈로 입자의 영상을 센서 상에 투영하는 것을 포함하는 것인 방법.
- 제67항에 있어서, 센서를 냉각시키는 단계를 더 포함하는 방법.
- 제67항에 있어서, 입자를 영상화하는 단계가 텔레센트릭 렌즈 및 보정용 광학 요소로 입자의 영상을 센서 상에 투영하는 것을 포함하고, 보정용 광학 요소가 용기의 곡률에 의해 야기된 영상의 왜곡을 실질적으로 보정하는 것인 방법.
- 제67항에 있어서, 입자를 영상화하는 단계가,
각각이 용기와 센서 사이에 선택적으로 배치될 수 있는 다수의 보정용 광학 요소를 제공하고,
다수의 보정용 광학 요소 중 하나를 선택하며,
보정용 광학 요소 중 선택된 하나 및 텔레센트릭 렌즈로 입자의 영상을 센서 상에 투영하는 것
을 포함하고, 광학 요소가 용기의 곡률에 의해 야기된 시계열 데이터의 배율 왜곡을 실질적으로 보정하는 것인 방법. - 제66항에 있어서, 입자를 영상화하는 단계가
제1 분해능 및 제1 영상화 속력을 갖는 제1 검출기로 입자를 감지하고,
제1 분해능보다 미세한 제2 분해능 및 제1 영상화 속력보다 느린 제2 영상화 속력을 갖는 제2 검출기로 입자를 감지하는 것
을 포함하는 것인 방법. - 제66항에 있어서, 입자가 형광 파장에서 형광을 내게 하는 단계를 더 포함하고, 입자를 영상화하는 단계가 형광 파장에서 광을 감지하는 것을 포함하는 것인 방법.
- 제66항에 있어서, 입자에 의해 투과, 산란 또는 반사되는 광을 편광시키는 단계를 더 포함하는 방법.
- 비휘발성 머신-판독가능 명령을 포함하는, 유체로 적어도 부분적으로 충전된 용기 내의 미용해된 입자의 비파괴적 검출을 위한 컴퓨터 프로그램 제품이며,
상기 비휘발성 머신-판독가능 명령은, 프로세서에 의해 실행될 때 프로세서가
(a) 유체 내 입자의 궤적을 표시하는 시계열 데이터의 시간 순서를 역전시켜 역전된 시계열 데이터를 형성하게 하고,
(b) 역전된 시계열 데이터로부터 입자의 궤적을 추정하게 하고,
(c) 상기 궤적에 기초하여 입자를 검출 또는 식별하게 하는 것인
컴퓨터 프로그램 제품. - 유체로 적어도 부분적으로 충전된 용기 내의 하나 이상의 투명 또는 반사 물체의 비파괴적 검출을 위한 장치이며,
(a) 용기 내의 다수의 공간 위치로부터 반사된 광을 시간의 함수로서 표시하는 데이터를 획득하도록 구성된 영상화기,
(b) 영상화기에 작동가능하게 결합되고 데이터를 저장하도록 구성된 메모리, 및
(c) 메모리에 작동가능하게 결합되고,
(i) 다수의 위치에서 각각의 위치에 대한 반사된 광의 각각의 최대량을 식별하고,
(ii) 반사된 광의 각각의 최대량이 미리 정해진 값을 초과하는 공간 위치의 수에 기초하여 용기 내의 물체의 존재 또는 부재를 판정함으로써
상기 데이터에 기초하여 물체를 검출하도록 구성된 프로세서
를 포함하는 장치. - 제75항에 있어서, 용기가 저부를 갖는 것이며, 용기의 저부를 조명하도록 구성된 광원을 더 포함하는 장치.
- 제75항에 있어서, 용기가 단백질 응집체를 함유하고, 프로세서가 데이터에 기초하여 단백질 응집체로부터의 물체를 구별하도록 더 구성된 것인 장치.
- 제75항에 있어서, 프로세서가 물체의 평균 크기, 물체의 크기 분포 및 물체의 수 중 적어도 하나를 추정하도록 더 구성된 것인 장치.
- 제75항에 있어서, 프로세서가 시간의 함수로서의 반사된 광의 양 변동에 기초하여 물체를 다른 유형의 입자로부터 구별하도록 더 구성된 것인 장치.
- 제79항에 있어서, 프로세서가 상기 데이터, 및 용기를 통해 투과된 광을 표시하는 부가의 데이터를 사용하여 용기 내의 적어도 하나의 다른 유형의 입자를 식별하도록 더 구성된 것인 장치.
- 제75항에 있어서, 물체가 유리 박판(glass lamella)을 포함하는 것인 장치.
- 유체로 적어도 부분적으로 충전된 용기 내의 투명 또는 반사 물체의 비파괴적 검출을 위한 방법이며,
(a) 다수의 공간 위치로부터 반사된 광을 시간의 함수로서 표시하는 데이터에 기초하여 용기 내의 다수의 위치에서 각각의 위치에 대한 반사된 광의 각각의 최대량을 식별하는 단계, 및
(b) 반사된 광의 각각의 최대량이 미리 정해진 값을 초과하는 공간 위치의 수에 기초하여 용기 내의 물체의 존재 또는 부재를 판정하는 단계
를 포함하는 방법. - 제82항에 있어서, 용기가 저부를 갖는 것이며,
용기의 저부를 조명하는 단계, 및
다수의 공간 위치로부터 반사된 광을 표시하는 데이터를 획득하는 단계
를 더 포함하는 방법. - 제82항에 있어서, 용기가 단백질 응집체를 함유하고,
상기 데이터에 기초하여 단백질 응집체로부터의 물체를 구별하는 단계
를 더 포함하는 방법. - 제82항에 있어서,
물체의 평균 크기, 물체의 크기 분포 및 물체의 수 중 적어도 하나를 추정하는 단계
를 더 포함하는 방법. - 제82항에 있어서,
시간의 함수로서의 반사된 광의 양 변동에 기초하여 물체를 다른 유형의 입자로부터 구별하는 단계
를 더 포함하는 방법. - 제82항에 있어서,
데이터, 및 용기를 통해 투과된 광을 표시하는 부가의 데이터를 사용하여 용기 내의 적어도 하나의 다른 유형의 입자를 식별하는 단계
를 더 포함하는 방법. - 제82항에 있어서, 물체가 유리 박판을 포함하는 것인 방법.
- 비휘발성 머신-판독가능 명령을 포함하는, 유체로 적어도 부분적으로 충전된 용기 내의 투명 또는 반사 물체의 비파괴적 검출을 위한 컴퓨터 프로그램 제품이며,
상기 비휘발성 머신-판독가능 명령은, 프로세서에 의해 실행될 때 프로세서가
(a) 다수의 공간 위치로부터 반사된 광을 시간의 함수로서 표시하는 데이터에 기초하여 용기 내의 다수의 위치에서 각각의 위치에 대한 반사된 광의 각각의 최대량을 식별하게 하고,
(b) 반사된 광의 각각의 최대량이 미리 정해진 값을 초과하는 공간 위치의 수에 기초하여 용기 내의 물체의 존재 또는 부재를 판정하게 하는 것인
컴퓨터 프로그램 제품. - 유체로 적어도 부분적으로 충전된 용기 내의 미용해된 입자의 비파괴적 계수 및 크기분류(sizing) 방법이며,
(a) 지정된 영상화 조건 하에 얻어진, 상기 용기 내 입자의 적어도 하나의 영상을 수신하는 단계,
(b) 상기 적어도 하나의 영상에 기초하여, 입자를 검출하고 영상 내의 상기 검출된 입자의 겉보기 크기를 지시하는 정보를 결정하는 단계,
(c) 상기 검출된 입자의 겉보기 입자 크기 분포를 지시하는 겉보기 입자 크기 집단 정보를 결정하는 단계, 및
(d) (i) 겉보기 입자 크기 집단 정보 및
(ii) 지정된 영상화 조건에 상응하는 조건 하에 영상화된 표준 크기분류된 입자의 하나 이상의 세트의 겉보기 크기 분포를 지시하는 칼리브레이션 집단 정보
에 기초하여, 상기 검출된 입자의 실제 입자 크기 분포를 지시하는 실제 입자 크기 집단 정보를 결정하는 단계
를 포함하는 방법. - 제90항에 있어서, 단계 (d)가
상기 검출된 입자의 겉보기 입자 크기 집단에 대한 상기 표준 크기분류된 입자의 다수의 세트에 대한 겉보기 크기 분포의 중첩을 피팅하는 단계
를 포함하는 것인 방법. - 제91항에 있어서, 표준 크기분류된 입자의 다수의 세트가, 상이한 각각의 표준 크기를 각각 갖는 적어도 4개의 세트를 포함하는 것인 방법.
- 제92항에 있어서, 표준 크기분류된 입자의 적어도 4개 세트 중 각 세트의 각각의 크기가, 표준 크기분류된 입자의 상기 적어도 4개 세트 중 다른 각 세트의 각각의 크기로부터 적어도 1 ㎛만큼 상이한 것인 방법.
- 제91항에 있어서, 상기 검출된 입자의 겉보기 입자 크기 집단에 대한 상기 표준 크기분류된 입자 조건의 다수의 세트에 대한 겉보기 크기 분포의 중첩을 피팅하는 단계가
표준 크기분류된 입자의 다수의 세트에 대한 겉보기 크기 분포의 가중치를 조정함으로써, 상기 검출된 입자의 겉보기 입자 크기 집단과 중첩 사이의 차이를 최소화하는 것
을 포함하는 것인 방법. - 제90항에 있어서, 단계 (c) 및 (d) 전에, 적어도 하나의 영상을 사전프로세싱하여 입자의 겉보기 크기에 기초하여 계수할 제1 세트 입자를 선택하는 단계를 포함하고, 단계 (c) 및 (d)를 제1 세트 입자에만 적용하는 것인 방법.
- 제95항에 있어서, 제1 세트 입자의 입자가 겉보기 크기 임계치에 기초하여 선택되는 것인 방법.
- 제96항에 있어서, 적어도 하나의 영상이 시계열 영상을 포함하는 것이고,
상기 시계열 영상에 기초하여 제2 세트 입자의 궤적을 결정함으로써, 제1 세트와 상이한 제2 세트 입자의 입자를 검출하거나 계수하는 단계
를 포함하는 방법. - 유체로 적어도 부분적으로 충전된 용기 내의 미용해된 입자의 비파괴적 계수 및 크기분류를 위한 장치이며,
(a) 지정된 영상화 조건 하에 얻어진, 상기 용기 내 입자의 적어도 하나의 영상을 수신하고,
(b) 상기 적어도 하나의 영상에 기초하여, 입자를 검출하고 영상 내의 상기 검출된 입자의 겉보기 크기를 지시하는 정보를 결정하고,
(c) 상기 검출된 입자의 겉보기 입자 크기 분포를 지시하는 겉보기 입자 크기 집단 정보를 결정하고,
(d) (i) 겉보기 입자 크기 집단 정보 및
(ii) 지정된 영상화 조건에 상응하는 조건 하에 영상화된 표준 크기분류된 입자의 하나 이상의 세트의 겉보기 크기 분포를 지시하는 칼리브레이션 집단 정보
에 기초하여, 상기 검출된 입자의 실제 입자 크기 분포를 지시하는 실제 입자 크기 집단 정보를 결정하도록
구성된 적어도 1개의 프로세서를 포함하는 장치. - 제98항에 있어서, 프로세서가
상기 검출된 입자의 겉보기 입자 크기 집단에 대한 상기 영상화된 표준 크기 입자의 다수의 세트에 대한 겉보기 크기 분포의 중첩을 피팅하도록
구성된 것인 장치. - 제99항에 있어서, 표준 크기분류된 입자의 다수의 세트가, 상이한 각각의 표준 크기를 각각 갖는 적어도 4개의 세트를 포함하는 것인 장치.
- 제100항에 있어서, 표준 크기분류된 입자의 적어도 4개 세트 중 각 세트의 각각의 크기가, 표준 크기분류된 입자의 상기 적어도 4개 세트 중 다른 각 세트의 각각의 크기로부터 적어도 1 ㎛만큼 상이한 것인 장치.
- 제98항에 있어서, 프로세서가
표준 크기분류된 입자의 다수의 세트에 대한 겉보기 크기 분포의 가중치를 조정함으로써, 상기 검출된 입자의 겉보기 입자 크기 집단과 중첩 사이의 차이를 최소화함으로써,
상기 검출된 입자의 겉보기 입자 크기 집단에 대한 상기 표준 크기분류된 입자의 다수의 세트에 대한 겉보기 크기 분포의 중첩을 피팅하도록
구성된 것인 장치. - 제98항에 있어서, 프로세서가 적어도 하나의 영상을 사전프로세싱하여 입자의 겉보기 크기에 기초하여 계수할 제1 세트 입자를 선택하도록 구성되고, (c) 및 (d)가 제1 세트 입자에만 적용되는 것인 장치.
- 제103항에 있어서, 제1 세트 입자의 입자가 겉보기 크기 임계치에 기초하여 선택되는 것인 장치.
- 제104항에 있어서, 적어도 하나의 영상이 시계열 영상을 포함하고, 프로세서가 상기 시계열 영상에 기초하여 제2 세트 입자의 궤적을 결정함으로써, 제1 세트와 상이한 제2 세트 입자의 입자를 검출하거나 계수하도록 구성된 것인 장치.
- 비휘발성 머신-판독가능 명령을 포함하는, 유체로 적어도 부분적으로 충전된 용기 내의 미용해된 입자의 비파괴적 계수 및 크기분류를 위한 컴퓨터 프로그램 제품이며,
상기 비휘발성 머신-판독가능 명령은, 프로세서에 의해 실행될 때 프로세서가
(a) 지정된 영상화 조건 하에 얻어진, 상기 용기 내 입자의 적어도 하나의 영상을 수신하게 하고,
(b) 상기 적어도 하나의 영상에 기초하여, 입자를 검출하고 영상 내의 상기 검출된 입자의 겉보기 크기를 지시하는 정보를 결정하게 하고,
(c) 상기 검출된 입자의 겉보기 입자 크기 분포를 지시하는 겉보기 입자 크기 집단 정보를 결정하게 하고,
(d) (i) 겉보기 입자 크기 집단 정보 및
(ii) 지정된 영상화 조건에 상응하는 조건 하에 영상화된 표준 크기분류된 입자의 하나 이상의 세트의 겉보기 크기 분포를 지시하는 칼리브레이션 집단 정보
에 기초하여, 상기 검출된 입자의 실제 입자 크기 분포를 지시하는 실제 입자 크기 집단 정보를 결정하게 하는 것인
컴퓨터 프로그램 제품. - 유체로 적어도 부분적으로 충전된 용기 내의 미용해된 입자의 비파괴적 검출을 위한 장치이며,
(a) 상이한 관점(perspective)으로부터 입자를 영상화하도록 위치된 적어도 2개의 영상화기로서, 그 각각이 유체 내 입자의 하나 이상의 2차원 영상을 획득하도록 구성된 것인 적어도 2개의 영상화기,
(b) 영상화기에 작동가능하게 결합되고 시계열을 저장하도록 구성된 메모리, 및
(c) 메모리에 작동가능하게 결합되고,
(i) 적어도 3개의 영상화기로부터의 2차원 영상을 조합하여 용기 내 입자의 위치를 지시하는 3차원 데이터를 결정하고,
(ii) 상기 3차원 데이터에 적어도 부분적으로 기초하여 입자를 검출
함으로써 입자를 검출하도록 구성된 프로세서
를 포함하는 장치. - 제107항에 있어서, 프로세서가
상기 3차원 데이터에 기초하여 후보 입자를 식별하고,
상기 영상화기 중 적어도 1개로부터의 2차원 영상 데이터에 기초하여 입자에 대한 크기 또는 형상 정보를 결정하도록
더 구성된 것인 장치. - 제108항에 있어서, 프로세서가
상기 3차원 데이터, 및 용기에 의해 야기된 위치 의존적 광학적 왜곡을 지시하는 데이터에 기초하여, 입자에 대한 결정된 크기 또는 형상을 보정하도록
더 구성된 것인 장치. - 제107항에 있어서, 3차원 궤적 데이터가, 적어도 3개의 영상화기에 의해 영상화되지 않은 용기 영역에 상응하는 적어도 하나의 블라인드 스팟(blind spot) 영역을 포함하고,
프로세서가 블라인드 스팟 영역에 가장 근접하게 위치된 영상화기로부터의 입자의 시계열 2차원 영상에 적어도 부분적으로 기초하여, 블라인드 스팟 영역 내 입자의 경로를 지시하는 블라인드 스팟 궤적 정보를 결정하도록 구성된 것인
장치. - 제107항에 있어서, 적어도 2개의 영상화기가 적어도 3개의 영상화기를 포함하는 것인 장치.
- 제107항에 있어서, 적어도 2개의 영상화기 각각이
입자의 영상을 검출하도록 구성된 센서, 및
입자와 센서 사이에 배치되고 용기의 곡률에 의해 야기된 시계열 데이터의 왜곡을 보상하도록 구성된 보정용 광학 요소
를 포함하는 것인 장치. - 제112항에 있어서, 각각의 영상화기가 센서와 용기 사이에 배치된 텔레센트릭 렌즈를 더 포함하고, 보정용 광학 요소가 용기의 곡률에 의해 야기된 시계열 데이터의 배율 왜곡을 실질적으로 보정하는 것인 장치.
- 유체로 적어도 부분적으로 충전된 용기 내의 미용해된 입자의 비파괴적 검출을 위한 방법이며,
(a) 상이한 관점으로부터 입자를 영상화하는 적어도 2개의 영상화기를 사용하여, 그 각각으로부터 유체 내 입자의 각각의 하나 이상의 2차원 영상을 획득하는 단계,
(b) 상기 적어도 2개의 영상화기로부터의 2차원 영상을 조합하여 용기 내 입자의 위치를 지시하는 3차원 데이터를 결정하는 단계, 및
(c) 상기 3차원 데이터에 적어도 부분적으로 기초하여 입자를 결정하는 단계
를 포함하는 방법. - 제114항에 있어서,
상기 3차원 데이터에 기초하여 후보 입자를 식별하는 단계, 및
상기 영상화기 중 적어도 1개로부터의 2차원 영상에 기초하여 입자에 대한 크기 또는 형상 정보를 결정하는 단계
를 더 포함하는 방법. - 제115항에 있어서,
3차원 데이터, 및 용기에 의해 야기된 위치 의존적 광학적 왜곡을 지시하는 데이터에 기초하여, 입자에 대한 결정된 크기 또는 형상을 보정하는 단계
를 포함하는 방법. - 제114항에 있어서, 3차원 궤적 데이터가, 적어도 3개의 영상화기에 의해 영상화되지 않은 용기 영역에 상응하는 적어도 하나의 블라인드 스팟 영역을 포함하는 것이고,
블라인드 스팟 영역에 가장 근접하게 위치된 영상화기로부터의 입자의 시계열 2차원 영상에 적어도 부분적으로 기초하여, 블라인드 스팟 영역 내 입자의 경로를 지시하는 블라인드 스팟 궤적 정보를 결정하는 단계를 포함하는
방법. - 제114항에 있어서, 적어도 2개의 영상화기가 적어도 3개의 영상화기를 포함하는 것인 방법.
- 제114항에 있어서, 적어도 2개의 영상화기 각각이
입자의 영상을 검출하도록 구성된 센서, 및
입자와 센서 사이에 배치되고 용기의 곡률에 의해 야기된 시계열 데이터의 왜곡을 보상하도록 구성된 보정용 광학 요소
를 포함하는 것인 방법. - 제119항에 있어서, 영상화기가 센서와 용기 사이에 배치된 텔레센트릭 렌즈를 더 포함하고, 보정용 광학 요소가 용기의 곡률에 의해 야기된 시계열 데이터의 배율 왜곡을 실질적으로 보정하는 것인 방법.
- 유체로 적어도 부분적으로 충전된 용기 내의 미용해된 입자의 비파괴적 검출을 위한 방법이며,
(a) 적어도 1개의 영상화기를 사용하여 입자를 영상화하는 단계,
(b) 영상을 프로세싱하여, 용기 내 입자의 위치를 지시하는 위치 데이터를 결정하는 단계,
(c) 용기의 서브 영역 내 입자의 존재를 식별하는 것을 포함하는, 위치 데이터에 적어도 부분적으로 기초하여 입자를 검출하는 단계,
(d) 센서를 사용하여, 입자가 용기의 서브 영역 내에 위치될 때 입자의 특성을 결정하는 단계,
(e) 상기 결정된 특성을 지시하는 입자 특성 데이터를 생성하는 단계, 및
(f) 상기 입자 특성 데이터를 입자를 식별하는 데이터와 연계하는 단계
를 포함하는 방법. - 제121항에 있어서,
적어도 1개의 영상화기가, 상이한 관점으로부터 입자를 영상화하도록 위치된 적어도 2개의 영상화기를 포함하여, 그 각각이 유체 내 입자의 각각의 하나 이상의 2차원 영상을 획득하고,
영상을 프로세싱하여 위치 데이터를 결정하는 단계가, 적어도 2개의 영상화기로부터의 2차원 영상을 조합하여 용기 내 입자의 위치를 지시하는 3차원 데이터를 결정하는 것을 포함하고,
입자를 검출하는 단계가, 상기 3차원 데이터에 적어도 부분적으로 기초하여 입자를 검출하는 것을 포함하는 것인
방법. - 제122항에 있어서, 입자의 특성이 스펙트럼 특성을 포함하는 것인 방법.
- 제123항에 있어서, 센서가 용기의 서브 영역으로부터의 입사광 스펙트럼 특성을 감지하도록 위치된 분광계 디바이스를 포함하는 것인 방법.
- 제124항에 있어서, 서브 영역이 용기 내의 유체의 실질적으로 평면형인 층을 포함하는 것인 방법.
- 제125항에 있어서, 센서가 분광계 상에 용기의 서브 영역을 영상화하도록 위치된 텔레센트릭 영상화기를 포함하는 것인 방법.
- 제124항에 있어서, 스펙트럼 특성이 컬러, 흡수 스펙트럼 또는 투과 스펙트럼, 또는 이들의 임의의 조합을 포함하는 것인 방법.
- 유체로 적어도 부분적으로 충전된 용기 내의 미용해된 입자의 비파괴적 검출을 위한 장치이며,
(a) 입자를 영상화하도록 위치된 적어도 1개의 영상화기,
(b) 입자가 용기의 서브 영역 내에 위치될 때 입자의 특성을 결정하도록 구성된 적어도 1개의 센서, 및
(c) 적어도 1개의 영상화기 및 센서 각각에 작동가능하게 결합되고,
영상을 프로세싱하여, 용기 내 입자의 위치를 지시하는 위치 데이터를 결정하고,
위치 데이터에 적어도 부분적으로 기초하여 입자를 검출하고 용기의 서브 영역 내 입자의 존재를 식별하고,
센서로부터의 신호를 사용하여, 입자가 용기의 서브 영역 내에 위치될 때 입자의 특성을 결정하고,
상기 결정된 특성을 지시하는 입자 특성 데이터를 생성하고,
상기 입자 특성 데이터를 입자를 식별하는 데이터와 연계하도록
구성된 적어도 1개의 프로세서
를 포함하는 장치. - 제128항에 있어서,
적어도 1개의 영상화기가, 상이한 관점으로부터 입자를 영상화하도록 위치된 적어도 2개의 영상화기를 포함하여, 그 각각이 유체 내 입자의 각각의 하나 이상의 2차원 영상을 획득하고,
프로세서가 적어도 2개의 영상화기로부터의 2차원 영상을 조합하여 용기 내 입자의 위치를 지시하는 3차원 데이터를 결정하도록 구성되고,
프로세서가 상기 3차원 데이터에 적어도 부분적으로 기초하여 입자를 검출하도록 구성된 것인 장치. - 제129항에 있어서, 입자의 특성이 스펙트럼 특성을 포함하는 것인 장치.
- 제130항에 있어서, 센서가 용기의 서브 영역으로부터의 입사광 스펙트럼 특성을 감지하도록 위치된 분광계 디바이스를 포함하는 것인 장치.
- 제131항에 있어서, 서브 영역이 용기 내의 유체의 실질적으로 평면형인 층을 포함하는 것인 장치.
- 제132항에 있어서, 센서가 분광계 상에 용기의 서브 영역을 영상화하도록 위치된 텔레센트릭 영상화기를 포함하는 것인 장치.
- 제131항에 있어서, 스펙트럼 특성이 컬러, 흡수 스펙트럼 또는 투과 스펙트럼, 또는 이들의 임의의 조합을 포함하는 것인 장치.
- 유체로 적어도 부분적으로 충전된, 종축 주위에 배치된 투명한 관형 용기벽을 포함하는 용기 내의 미용해된 입자의 비파괴적 검출을 위한 장치이며,
센서 상에 입자를 영상화하도록 위치된 적어도 1개의 영상화 광학 요소를 포함하는, 유체 내 입자의 하나 이상의 영상을 획득하도록 구성된 영상화기, 및
용기의 종축에 실질적으로 직교하며 용기를 통해 통과하는 평면 내에 적어도 부분적으로 위치되는 조명의 공급원으로서, 이 공급원으로부터 방출되는 광선 중에서 용기벽의 표면으로부터 반사 또는 굴절되고 적어도 1개의 광학 요소에 의해 센서 상에 영상화되는 광선의 존재는 실질적으로 없도록 배열된 조명 공급원
을 포함하는 장치. - 제135항에 있어서, 조명 공급원이, 센서로부터 상기 적어도 1개의 영상화 광학 요소 및 이후 용기를 통해 연장되는 임의의 후방 전파 광선이 실질적으로 부재한 용기 외부 영역에 위치되는 것인 장치.
- 제136항에 있어서, 적어도 1개의 광학 요소가 텔레센트릭 렌즈를 포함하는 것인 장치.
- 제137항에 있어서, 투명한 관형 용기벽이 원통형 벽을 포함하고, 종축이 원통형 벽의 대칭축에 상응하는 것인 장치.
- 제138항에 있어서, 영상화기의 광축(optic axis)이 용기의 종축에 실질적으로 직교하고 그와 교차하며 용기를 통해 연장되는 것인 장치.
- 제137항에 있어서, 영상화기가 유체 내 입자의 궤적을 표시하는 시계열 데이터를 획득하도록 구성되고,
(a) 영상화기에 작동가능하게 결합되고 시계열 데이터를 저장하도록 구성된 메모리, 및
(b) 메모리에 작동가능하게 결합되고,
(i) 시계열 데이터의 시간 순서를 역전시켜 역전된 시계열 데이터를 형성하고,
(ii) 역전된 시계열 데이터로부터 입자의 궤적을 추정하고,
(iii) 상기 궤적에 기초하여 입자의 존재 또는 유형을 결정함으로써
입자를 검출하도록 구성된 프로세서
를 더 포함하는 장치. - 유체로 적어도 부분적으로 충전된, 종축 주위에 배치된 투명한 관형 용기벽을 포함하는 용기 내의 미용해된 입자의 비파괴적 검출을 위한 방법이며,
센서 상에 입자를 영상화하도록 위치된 적어도 1개의 영상화 광학 요소를 포함하는 영상화기를 사용하여 유체 내 입자의 하나 이상의 영상을 획득하는 단계, 및
상기 용기를 용기의 종축에 실질적으로 직교하며 용기를 통해 통과하는 평면 내에 적어도 부분적으로 위치되는 조명의 공급원으로 조명하는 단계로서, 상기 조명 공급원은 이 공급원으로부터 방출되는 광선 중에서 용기벽의 표면으로부터 반사 또는 굴절되고 적어도 1개의 광학 요소에 의해 센서 상에 영상화되는 광선의 존재는 실질적으로 없도록 배열된 것인 단계
를 포함하는 방법. - 제141항에 있어서, 조명 공급원이, 센서로부터 상기 적어도 1개의 광학 요소 및 이후 용기를 통해 연장되는 임의의 후방 전파 광선이 실질적으로 부재한 용기 외부 영역에 위치되는 것인 방법.
- 제142항에 있어서, 적어도 1개의 광학 요소가 텔레센트릭 렌즈를 포함하는 것인 방법.
- 제143항에 있어서, 투명한 관형 용기벽이 원통형 벽을 포함하고, 종축이 원통형 벽의 대칭축에 상응하는 것인 방법.
- 제144항에 있어서, 영상화기의 광축이 용기의 종축에 실질적으로 직교하고 그와 교차하며 용기를 통해 연장되는 것인 방법.
- 제145항에 있어서,
영상화기를 사용하여, 유체 내 입자의 궤적을 표시하는 시계열 데이터를 획득하는 단계, 및
(i) 시계열 데이터의 시간 순서를 역전시켜 역전된 시계열 데이터를 형성하고,
(ii) 역전된 시계열 데이터로부터 입자의 궤적을 추정하고,
(iii) 상기 궤적에 기초하여 입자의 존재 또는 유형을 결정함으로써
입자를 검출하는 단계
를 포함하는 방법.
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR20190117519A (ko) * | 2017-02-10 | 2019-10-16 | 암겐 인코포레이티드 | 유체-충진된 용기 내 입자를 계수 및 사이징하기 위한 화상화 시스템 |
KR20210001698A (ko) * | 2019-06-28 | 2021-01-07 | 티옵틱스 주식회사 | 계측 및 검사 장비용 광학 시스템 및 방법 |
WO2024072152A1 (ko) * | 2022-09-28 | 2024-04-04 | 엘지이노텍 주식회사 | 대상체의 물질 검출 장치 및 대상체의 물질 검출 방법 |
Families Citing this family (141)
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US9316578B2 (en) | 2008-10-30 | 2016-04-19 | New York University | Automated real-time particle characterization and three-dimensional velocimetry with holographic video microscopy |
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US10132736B2 (en) | 2012-05-24 | 2018-11-20 | Abbvie Inc. | Methods for inspection of protein particles in a liquid beneficial agent |
US20140092376A1 (en) * | 2012-10-01 | 2014-04-03 | Momentive Performance Materials, Inc. | Container and method for in-line analysis of protein compositions |
US9406144B2 (en) * | 2013-03-15 | 2016-08-02 | Luminex Corporation | Real-time tracking and correlation of microspheres |
WO2014195917A2 (en) * | 2013-06-07 | 2014-12-11 | Malvern Instruments Limited | Array based sample characterization |
DE102014006835A1 (de) * | 2014-05-13 | 2015-11-19 | Kocher-Plastik Maschinenbau Gmbh | Prüfvorrichtung zum Überprüfen von Behältererzeugnissen |
WO2015187881A1 (en) * | 2014-06-03 | 2015-12-10 | The Regents Of The University Of California | Nanoparticle analyzer |
FI127992B (fi) * | 2014-08-29 | 2019-07-15 | Svanbaeck Sami | Menetelmä ja järjestelmä aineen liukenemisominaisuuksien määrittämiseksi |
EP3018483B1 (en) * | 2014-11-07 | 2018-08-01 | photrack AG | Method and system for determining the velocity and level of a moving fluid surface |
ES2913524T3 (es) | 2014-11-12 | 2022-06-02 | Univ New York | Huellas coloidales para materiales blandos usando caracterización holográfica total |
AU2014415227B2 (en) * | 2014-12-27 | 2018-05-31 | Hill's Pet Nutrition, Inc. | Food processing method and system |
CN106468648B (zh) | 2015-08-19 | 2019-09-10 | 财团法人工业技术研究院 | 微粒子侦测器及筛选元件的制造方法 |
EP3341160B1 (en) * | 2015-08-27 | 2023-10-04 | Hubbell Incorporated | Remotely activated portable hand tool |
CA2996525C (en) * | 2015-08-28 | 2024-02-20 | Bayer Healthcare Llc | System and method for syringe fluid fill verification and image recognition of power injector system features |
CN108351288B (zh) | 2015-09-18 | 2021-04-27 | 纽约大学 | 精密浆料中大杂质颗粒的全息检测和表征 |
GB2542774B (en) * | 2015-09-25 | 2021-08-18 | Smiths Heimann Sas | Denoising and/or zooming of inspection images |
US20170153431A1 (en) * | 2015-12-01 | 2017-06-01 | ZebraSci, Inc | High-definition particle detection during centrifugation |
US10467534B1 (en) * | 2015-12-09 | 2019-11-05 | Roger Brent | Augmented reality procedural system |
US9785150B2 (en) | 2015-12-11 | 2017-10-10 | Uber Technologies, Inc. | Formatting sensor data for use in autonomous vehicle communications platform |
US9537956B1 (en) | 2015-12-11 | 2017-01-03 | Uber Technologies, Inc. | System for acquiring time-synchronized sensor data |
US10101747B2 (en) | 2015-12-11 | 2018-10-16 | Uber Technologies, Inc. | Formatting sensor data for use in autonomous vehicle communications platform |
US9596666B1 (en) * | 2015-12-11 | 2017-03-14 | Uber Technologies, Inc. | System for processing asynchronous sensor data |
JP6726687B2 (ja) * | 2015-12-18 | 2020-07-22 | 株式会社堀場製作所 | 粒子分析装置及び粒子分析方法 |
EP3408641B1 (en) * | 2016-01-28 | 2021-05-26 | Siemens Healthcare Diagnostics Inc. | Methods and apparatus for multi-view characterization |
ES2901608T3 (es) * | 2016-02-08 | 2022-03-23 | Univ New York | Caracterización holográfica de agregados proteicos |
EP3426220A4 (en) * | 2016-03-07 | 2019-11-20 | Zebrasci, Inc. | MICROSTRUCTURING TECHNIQUE FOR GENERATING MORPHOLOGICALLY SPECIFIC FREESHAKEN STRUCTURES FOR USE AS STANDARDS IN THE PHARMACEUTICAL INDUSTRY |
US10049444B2 (en) | 2016-03-25 | 2018-08-14 | Lockheed Martin Corporation | Optical device for fuel filter debris |
US10114103B2 (en) | 2016-03-31 | 2018-10-30 | Uber Technologies, Inc. | System and method for sensor triggering for synchronized operation |
US10670677B2 (en) | 2016-04-22 | 2020-06-02 | New York University | Multi-slice acceleration for magnetic resonance fingerprinting |
ES1158187Y (es) * | 2016-05-13 | 2016-08-29 | Plastic Repair System 2011 S L | Producto de plastico reparado |
US20190154560A1 (en) * | 2016-05-16 | 2019-05-23 | Abbvie Inc. | Systems and Methods for Identifying Protein Aggregates in Biotherapeutics |
US10395357B2 (en) * | 2016-05-27 | 2019-08-27 | Biomerieux, Inc. | Method and apparatus for detection of foam in specimen containers |
WO2018002049A1 (en) * | 2016-06-28 | 2018-01-04 | F. Hoffmann-La Roche Ag | Inspection device |
US9704239B1 (en) | 2016-09-02 | 2017-07-11 | Amgen Inc. | Video trigger synchronization for improved particle detection in a vessel |
MX2019002380A (es) * | 2016-09-02 | 2019-07-04 | Amgen Inc | Sincronizacion de disparador de video para la deteccion mejorada de particulas en un recipiente. |
JP6499139B2 (ja) * | 2016-10-14 | 2019-04-10 | 矢崎総業株式会社 | 検査装置 |
EP3944144A1 (en) | 2016-10-28 | 2022-01-26 | Beckman Coulter, Inc. | Substance preparation evaluation system |
US10482559B2 (en) | 2016-11-11 | 2019-11-19 | Uatc, Llc | Personalizing ride experience based on contextual ride usage data |
US10337977B1 (en) * | 2016-11-22 | 2019-07-02 | Corning Incorporated | Systems and methods for glass particle detection |
WO2018119240A1 (en) * | 2016-12-21 | 2018-06-28 | Massachusetts Institute Of Technology | Determining soil state and controlling equipment based on captured images |
MX2019008166A (es) | 2017-01-06 | 2019-09-11 | Hubbell Inc | Dispositivos de cableado electrico con terminales de conexion sin tornillos. |
US10088660B2 (en) | 2017-02-10 | 2018-10-02 | Amgen Inc. | Imaging system for counting and sizing particles in fluid-filled vessels |
CN110312922B (zh) * | 2017-02-16 | 2023-11-03 | 皇家飞利浦有限公司 | 粒子表征装置和方法 |
IL251140A0 (en) * | 2017-03-14 | 2017-06-29 | Harel Alex | System for precise injection of nano-formulation |
EP3392855B1 (de) * | 2017-04-19 | 2021-10-13 | Siemens Schweiz AG | Verfahren und vorrichtung zum abgleich eines rauchmelders |
US11650166B2 (en) * | 2017-05-31 | 2023-05-16 | Nipro Corporation | Method for evaluation of glass container |
WO2018227193A1 (en) * | 2017-06-09 | 2018-12-13 | miDiagnostics NV | Systems and methods for counting particles |
EP3428586B1 (en) * | 2017-07-14 | 2020-09-09 | CSEM Centre Suisse D'electronique Et De Microtechnique SA | Liquid level detection in receptacles using a plenoptic camera |
CN109387460A (zh) * | 2017-08-14 | 2019-02-26 | 阅美测量系统(上海)有限公司 | 一种污染颗粒观察及测试装置及分析方法 |
CN111247418B (zh) | 2017-10-26 | 2024-07-23 | 粒子监测系统有限公司 | 粒子测量系统和方法 |
CN107589052A (zh) * | 2017-11-03 | 2018-01-16 | 大唐彬长发电有限责任公司 | 火电厂凝结水腐蚀产物颗粒粒度分布测试方法及其系统 |
KR102375624B1 (ko) * | 2017-11-10 | 2022-03-17 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 및 약액 검사 방법 |
US10991264B2 (en) * | 2017-11-23 | 2021-04-27 | Omnicell, Inc. | Multi-camera imaging for IV compounding |
US10596319B2 (en) | 2017-11-23 | 2020-03-24 | Aesynt Incorporated | Compounding device system |
US11335444B2 (en) | 2017-11-30 | 2022-05-17 | Omnicell, Inc. | IV compounding systems and methods |
JP7027139B2 (ja) * | 2017-11-30 | 2022-03-01 | Toyo Tire株式会社 | ゴム材料の引き裂き挙動解析方法 |
US10963750B2 (en) | 2018-01-04 | 2021-03-30 | IAS Machine, LLC | Procedural language and content generation environment for use in augmented reality/mixed reality systems to support laboratory and related operations |
EP3765993A1 (en) * | 2018-03-16 | 2021-01-20 | inveox GmbH | Automated identification, orientation and sample detection of a sample container |
DE102018107689A1 (de) * | 2018-03-29 | 2019-10-02 | Krones Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Inspizieren von Behältnissen |
CN111465842A (zh) * | 2018-04-10 | 2020-07-28 | 日本电气硝子株式会社 | 玻璃板、玻璃板的制造方法以及端面检查方法 |
WO2019202648A1 (ja) * | 2018-04-16 | 2019-10-24 | 株式会社島津製作所 | 光散乱検出装置 |
CN108710852B (zh) * | 2018-05-21 | 2021-08-03 | 山东大学 | 一种限定拍摄深度的粒度分布图像识别方法及系统 |
KR102659641B1 (ko) * | 2018-06-07 | 2024-04-22 | 윌코아게 | 액체가 부분적으로 채워진 용기에 모션을 유도하기 위한 자동 검사 시스템의 구동 메커니즘의 모니터링 장치 및 모니터링 방법 |
WO2020027923A1 (en) | 2018-07-31 | 2020-02-06 | Amgen Inc. | Robotic system for performing pattern recognition-based inspection of pharmaceutical containers |
KR102309284B1 (ko) | 2018-08-03 | 2021-10-06 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 고분자 솔루션의 미용해물 측정법 |
US11406981B2 (en) | 2018-08-22 | 2022-08-09 | Biomerieux, Inc. | Detection instruments with automated cell location selection for newly intaken specimen containers and related methods |
ES2965078T3 (es) | 2018-09-26 | 2024-04-11 | Amgen Inc | Muestreo de imágenes para inspección visual |
US10458909B1 (en) * | 2018-10-24 | 2019-10-29 | International Business Machines Corporation | MEMS optical sensor |
CN109323965B (zh) * | 2018-10-30 | 2020-11-27 | 广东电网有限责任公司广州供电局 | 用于电力用油中颗粒度检测试验的机器人 |
TWI668425B (zh) * | 2018-11-05 | 2019-08-11 | 林瑞陽 | 微粒辨識計數方法及分析裝置 |
US11353403B2 (en) * | 2018-11-30 | 2022-06-07 | Genentech, Inc. | Vial contents inspection and material identification method and apparatus |
MX2021010679A (es) | 2019-03-05 | 2021-12-10 | Sacmi | Aparato y metodo para inspeccionar un objeto. |
EP3943922A4 (en) * | 2019-03-19 | 2022-04-06 | Nec Corporation | INSPECTION DEVICE, INSPECTION PROCEDURE AND NON-VOLATILE COMPUTER READABLE MEDIA |
WO2020198207A1 (en) * | 2019-03-25 | 2020-10-01 | University of Alaska Anchorage | Material testing device and system |
ES2938687T3 (es) * | 2019-04-03 | 2023-04-13 | Mecwins S A | Procedimiento de detección óptica de biomarcadores |
DE102019109185B4 (de) * | 2019-04-08 | 2024-09-26 | IMAGO Technologies GmbH | Inspektionsverfahren und Inspektionssystem |
US11495895B2 (en) | 2019-05-01 | 2022-11-08 | Hubbell Incorporated | Terminations for electrical wiring devices |
WO2020227126A1 (en) * | 2019-05-03 | 2020-11-12 | Lonza Ltd | Determination of contaminants in cell-based products with flow imaging microscopy |
WO2020227559A1 (en) * | 2019-05-08 | 2020-11-12 | Amgen Inc. | Automated visual inspection |
WO2020247357A1 (en) * | 2019-06-03 | 2020-12-10 | Amgen Inc. | 3d particle imaging in pharmaceutical containers |
US11593919B2 (en) | 2019-08-07 | 2023-02-28 | Nanotronics Imaging, Inc. | System, method and apparatus for macroscopic inspection of reflective specimens |
US10915992B1 (en) | 2019-08-07 | 2021-02-09 | Nanotronics Imaging, Inc. | System, method and apparatus for macroscopic inspection of reflective specimens |
US11270402B2 (en) * | 2019-08-22 | 2022-03-08 | Novanta Corporation | Vial content detection using illuminated background pattern |
JP7127786B2 (ja) * | 2019-08-29 | 2022-08-30 | ユアサシステム機器株式会社 | 変形試験器 |
US11543338B2 (en) | 2019-10-25 | 2023-01-03 | New York University | Holographic characterization of irregular particles |
WO2021079701A1 (ja) | 2019-10-25 | 2021-04-29 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 計数方法、計数装置、及びプログラム |
US12221229B2 (en) * | 2019-11-01 | 2025-02-11 | The Boenig Company | System and method for measuring localized characteristics of a transparency |
CN114631125A (zh) * | 2019-11-07 | 2022-06-14 | 美国安进公司 | 深度学习在自动视觉检查设备中的定向应用 |
WO2021096901A1 (en) * | 2019-11-11 | 2021-05-20 | Nirrin Technologies, Inc. | Fabry perot interferometry for measuring cell viability |
US11132590B2 (en) | 2019-12-12 | 2021-09-28 | Lablightar Inc. | Augmented camera for improved spatial localization and spatial orientation determination |
KR20220110187A (ko) * | 2019-12-17 | 2022-08-05 | 암젠 인크 | 용기 육안 검사 조립체 및 방법 |
US11348236B2 (en) | 2019-12-20 | 2022-05-31 | Landing AI | Automated visual inspection of syringes |
JP7341881B2 (ja) * | 2019-12-25 | 2023-09-11 | 株式会社クボタ | 情報処理装置、情報処理方法、制御装置、水処理システム、および制御プログラム |
EP3855174B1 (en) * | 2020-01-23 | 2024-05-15 | SCHOTT Pharma Schweiz AG | Detection and characterization of defects in pharmaceutical cylindrical containers |
RU200329U1 (ru) * | 2020-02-03 | 2020-10-16 | Акционерное общество "ПРОТОН-ЭЛЕКТРОТЕКС", АО "ПРОТОН-ЭЛЕКТРОТЕКС" | Устройство контроля качества очистки поверхности кремниевых пластин |
JP7432815B2 (ja) * | 2020-02-07 | 2024-02-19 | 東ソー株式会社 | 乾燥試薬の溶解方法 |
US20210262849A1 (en) * | 2020-02-24 | 2021-08-26 | Des-Case Corporation | Apparatuses, systems, and methods for providing a smart liquid information indicator |
US11948302B2 (en) | 2020-03-09 | 2024-04-02 | New York University | Automated holographic video microscopy assay |
WO2021205545A1 (ja) * | 2020-04-07 | 2021-10-14 | 株式会社ピリカ | 推定装置、推定方法、および推定プログラム |
JP2021171874A (ja) * | 2020-04-24 | 2021-11-01 | セイコーエプソン株式会社 | ワーク処理方法 |
CN115667890B (zh) * | 2020-05-20 | 2024-02-02 | Ysi公司 | 基于空间梯度的荧光计 |
WO2021242089A1 (en) * | 2020-05-28 | 2021-12-02 | A/L Murugiah Suresh | System and method for quantification of solid particles in a moving fluid |
CN111610202B (zh) * | 2020-06-03 | 2021-09-03 | 西安电子科技大学 | 基于时间反演的介质材料损伤探测系统及方法 |
US12197184B2 (en) | 2020-06-21 | 2025-01-14 | Hubbell Incorporated | Power tool with crimp image |
CN111781127B (zh) * | 2020-06-22 | 2021-06-11 | 燕山大学 | 检测润滑油中的磨损微粒形体的视觉检测系统及检测方法 |
JP7553935B2 (ja) | 2020-07-10 | 2024-09-19 | 株式会社カワタ | 混合割合判定方法および混合割合判定装置 |
US12106505B2 (en) * | 2020-09-02 | 2024-10-01 | International Business Machines Corporation | Reflection-based distance perception |
US20220162585A1 (en) * | 2020-11-23 | 2022-05-26 | Frank Leo Spangler | System and method of nucleic acid extraction |
US11953431B2 (en) * | 2020-12-15 | 2024-04-09 | Axalta Coating Systems Ip Co., Llc | Measuring a color of a target coating |
WO2022168434A1 (ja) * | 2021-02-05 | 2022-08-11 | 株式会社堀場製作所 | 粒子分析装置、粒子分析方法、及び、粒子分析装置用プログラム |
KR102667903B1 (ko) * | 2021-04-02 | 2024-05-20 | 성균관대학교산학협력단 | 입자 추적 장치 및 방법 |
CN113237842A (zh) * | 2021-04-25 | 2021-08-10 | 哈尔滨工业大学 | 一种傅里叶红外光谱仪样品架及使用方法 |
CN117242336A (zh) * | 2021-04-28 | 2023-12-15 | 斯特瓦纳托集团有限公司 | 用于检查对预定电磁辐射至少部分透明的容器的装置和方法 |
WO2022239158A1 (ja) * | 2021-05-12 | 2022-11-17 | 日本電気株式会社 | 検査装置 |
TWI784553B (zh) * | 2021-06-03 | 2022-11-21 | 瑞愛生醫股份有限公司 | 微粒子檢測裝置 |
CN113375750B (zh) * | 2021-06-10 | 2024-04-16 | 陕西延长石油(集团)有限责任公司 | 一种非接触式油箱油量检测装置及方法 |
CN117501306A (zh) * | 2021-07-14 | 2024-02-02 | 纳米电子成像有限公司 | 用于反射样品的宏观检查的系统、方法和设备 |
US11585754B2 (en) | 2021-07-16 | 2023-02-21 | Taiwan Redeye Biomedical Inc. | Particle detection device |
US12137200B2 (en) * | 2021-09-14 | 2024-11-05 | The Texas A&M University System | Three dimensional strobo-stereoscopic imaging systems and associated methods |
US12007334B2 (en) * | 2021-10-25 | 2024-06-11 | Applied Materials, Inc. | Compact apparatus for batch vial inspection |
US11530974B1 (en) * | 2021-11-01 | 2022-12-20 | Travera, Inc. | Cellular measurement, calibration, and classification |
KR102712830B1 (ko) * | 2021-11-30 | 2024-10-02 | 주식회사 바이오티엔에스 | 표적 유전자의 정량 분석 방법 및 이를 이용한 디바이스 |
KR102612850B1 (ko) * | 2021-12-02 | 2023-12-14 | 오씨아이 주식회사 | 카본블랙 펠렛 크기 분포 분석 방법 및 장치 |
KR102638903B1 (ko) * | 2021-12-21 | 2024-02-22 | 공주대학교 산학협력단 | 연마 공구의 표면 미세 연마 입자 비전 분석 장치 및 방법 |
JPWO2023139741A1 (ko) * | 2022-01-21 | 2023-07-27 | ||
GB202204100D0 (en) * | 2022-03-23 | 2022-05-04 | Univ Newcastle | Three-dimensional object shape acquisition characterisation and classification |
KR102723902B1 (ko) * | 2022-07-19 | 2024-10-31 | 한국과학기술연구원 | 광학기술을 기반으로 하는 미세플라스틱 검출장치 |
US12241825B2 (en) | 2022-07-19 | 2025-03-04 | Korea Institute Of Science And Technology | Apparatus for detecting microplastics based on differential interference contrast microscope system |
NL2032976B1 (en) * | 2022-09-07 | 2024-03-21 | Luo Automation B V | Container inspection device |
EP4336174A1 (en) * | 2022-09-09 | 2024-03-13 | ATS Automation Tooling Systems Inc. | Particle inspection for liquid containers |
WO2024052440A1 (en) * | 2022-09-09 | 2024-03-14 | F. Hoffmann-La Roche Ag | Inspection system and method for a closed medical container |
WO2024095265A1 (en) * | 2022-10-31 | 2024-05-10 | Equashield Medical Ltd | Improved pharmaceutical preparation methods and systems using imaging technologies |
IT202200026136A1 (it) * | 2022-12-20 | 2024-06-20 | Gd Spa | Sistema di ispezione di un articolo |
US20240280499A1 (en) * | 2023-02-16 | 2024-08-22 | Essex Furukawa Magnet Wire Usa Llc | Visual inspection systems and methods |
WO2024191922A1 (en) * | 2023-03-10 | 2024-09-19 | The Johns Hopkins University | Three-dimensional tracking of dense polydispersed complex-shaped particles or objects |
CN116563245B (zh) * | 2023-05-11 | 2024-09-27 | 中国食品药品检定研究院 | 一种基于粒径大小的亚可见颗粒计算方法、系统及设备 |
CN116540212A (zh) * | 2023-07-06 | 2023-08-04 | 中国空气动力研究与发展中心超高速空气动力研究所 | 一种三维成像装置及方法 |
GB202312503D0 (en) * | 2023-08-16 | 2023-09-27 | Univ Oxford Innovation Ltd | Method and system for detecting characteristics of particles or particle environments, and method of training a machine learning model |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR850000308B1 (ko) * | 1980-10-24 | 1985-03-18 | 하나마쓰 시쓰템스 인코퍼레이트이드 | 물질표면의 입자를 검출하는 방법 |
US6082205A (en) * | 1998-02-06 | 2000-07-04 | Ohio State University | System and device for determining particle characteristics |
US20050248765A1 (en) * | 2004-03-09 | 2005-11-10 | Budd Gerald W | Small container fluid dynamics to produce optimized inspection conditions |
KR20060123539A (ko) * | 2004-01-14 | 2006-12-01 | 루미넥스 코포레이션 | 측정시스템의 하나 이상의 매개변수를 변경하는 방법 |
KR20070107743A (ko) * | 2005-01-31 | 2007-11-07 | 더 보오드 오브 트러스티스 오브 더 유니버시티 오브 일리노이즈 | 투과성 있는 혼탁한 매질 내의 입자들을 특성화하는 방법및 그 장치 |
Family Cites Families (109)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4726198Y1 (ko) | 1968-06-07 | 1972-08-12 | ||
US3627423A (en) * | 1970-02-17 | 1971-12-14 | Schering Corp | Method and apparatus for detecting particular matter in sealed liquids |
JPS501674Y2 (ko) | 1971-04-09 | 1975-01-17 | ||
US3830969A (en) * | 1971-10-14 | 1974-08-20 | Princeton Electronic Prod | System for detecting particulate matter |
JPS5378195A (en) | 1976-12-22 | 1978-07-11 | Fujitsu Ltd | Manufacture of electrode panel for display |
US4136930A (en) * | 1977-01-10 | 1979-01-30 | The Coca-Cola Company | Method and apparatus for detecting foreign particles in full beverage containers |
JPS5510916A (en) | 1978-07-07 | 1980-01-25 | Daiichi Seiyaku Co | Sticked foreign matter detecting method in vessel |
SU922596A1 (ru) | 1980-06-13 | 1982-04-23 | Институт Экспериментальной Метеорологии | Устройство дл измерени размеров движущихс взвешенных частиц |
JPS6174724A (ja) | 1984-09-20 | 1986-04-17 | Toshiba Corp | 直列配置多段式伸線装置 |
JPH0621854B2 (ja) * | 1985-01-17 | 1994-03-23 | 住友化学工業株式会社 | 沈降速度測定装置 |
JPS62220844A (ja) * | 1986-03-24 | 1987-09-29 | Hitachi Ltd | 異物検査装置 |
JPS6388431A (ja) * | 1986-10-02 | 1988-04-19 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | 異物検出方法並びにその装置 |
JPS63140949A (ja) | 1986-12-03 | 1988-06-13 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 異物混入容器の除去装置および異物検出方法 |
JPH0643949B2 (ja) * | 1988-10-03 | 1994-06-08 | 大塚電子株式会社 | 粒径測定装置 |
JPH02159539A (ja) * | 1988-12-14 | 1990-06-19 | Toshiba Corp | 浄水場のフロック画像撮影装置 |
KR910012795A (ko) * | 1989-12-01 | 1991-08-08 | 김종택 | 반사식 두상 투영기(반사식 ohp) |
SE465140B (sv) * | 1989-12-13 | 1991-07-29 | Tesi Ab | Foerfarande och anordning foer att bestaemma blods saenkningsreaktion |
JP3067224B2 (ja) * | 1991-02-08 | 2000-07-17 | 株式会社ブリヂストン | 空気入りラジアルタイヤ |
JP2832269B2 (ja) | 1992-09-14 | 1998-12-09 | 三井金属鉱業株式会社 | 三次元粒子検出方法及び装置 |
JP3283078B2 (ja) | 1992-12-04 | 2002-05-20 | 興和株式会社 | 免疫学的測定装置 |
JP3447344B2 (ja) * | 1993-12-07 | 2003-09-16 | オリンパス光学工業株式会社 | 光学像再構成装置 |
JP2939145B2 (ja) | 1994-11-09 | 1999-08-25 | 澁谷工業株式会社 | 異物検査装置 |
JPH08305852A (ja) * | 1995-04-27 | 1996-11-22 | Mitsubishi Space Software Kk | 画像処理による気泡の3次元計測方法 |
GB9521285D0 (en) | 1995-10-18 | 1995-12-20 | Pa Consulting Services | Improvements in or relating to detection of foreign objects in fluid |
KR970045036U (ko) * | 1995-12-18 | 1997-07-31 | 온도센서 검사장치 | |
JP3640461B2 (ja) * | 1996-04-03 | 2005-04-20 | シスメックス株式会社 | 粒子分析装置 |
US6586193B2 (en) | 1996-04-25 | 2003-07-01 | Genicon Sciences Corporation | Analyte assay using particulate labels |
JPH09325122A (ja) * | 1996-06-04 | 1997-12-16 | Suinku:Kk | 透明容器内の異物検査方法 |
US5905586A (en) * | 1996-10-31 | 1999-05-18 | Lucent Technologies Inc. | Two-way optical fiber communication system having a single light source |
SE9700384D0 (sv) | 1997-02-04 | 1997-02-04 | Biacore Ab | Analytical method and apparatus |
DE29706425U1 (de) | 1997-04-10 | 1998-08-06 | Heuft Systemtechnik Gmbh, 56659 Burgbrohl | Vorrichtung zum Erkennen von diffus streuenden Verunreinigungen in transparenten Behältern |
US6097428A (en) | 1997-05-23 | 2000-08-01 | Inspex, Inc. | Method and apparatus for inspecting a semiconductor wafer using a dynamic threshold |
US5905568A (en) * | 1997-12-15 | 1999-05-18 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Stereo imaging velocimetry |
JP3731700B2 (ja) | 1997-12-25 | 2006-01-05 | 興和株式会社 | 蛍光粒子撮像装置 |
JPH11326008A (ja) | 1998-05-19 | 1999-11-26 | Nippon Steel Corp | 流体中の粉体の3次元空間分布の立体像および当該分布の3次元移動速度分布の簡易再構築装置 |
US6153873A (en) * | 1998-05-20 | 2000-11-28 | E. I. Dupont De Numours And Company | Optical probe having an imaging apparatus |
DE19825518C2 (de) | 1998-06-08 | 2001-10-04 | Fresenius Ag | Vorrichtung zur Messung von Parameteränderungen an lichtdurchlässigen Objekten |
US6154285A (en) | 1998-12-21 | 2000-11-28 | Secugen Corporation | Surface treatment for optical image capturing system |
JP2000304689A (ja) | 1999-04-21 | 2000-11-02 | Hiroyuki Ogawa | 投影観察方法、微生物検査方法および投影検出装置 |
US6986993B1 (en) | 1999-08-05 | 2006-01-17 | Cellomics, Inc. | System for cell-based screening |
JP3497107B2 (ja) * | 1999-10-21 | 2004-02-16 | 株式会社エム・アイ・エル | 容器内浮遊物判別方法及びその装置 |
TW571089B (en) | 2000-04-21 | 2004-01-11 | Nikon Corp | Defect testing apparatus and defect testing method |
JP3518596B2 (ja) | 2000-10-02 | 2004-04-12 | 株式会社スキャンテクノロジー | ソフトバッグ総合検査システム |
US6833542B2 (en) | 2000-11-13 | 2004-12-21 | Genoptix, Inc. | Method for sorting particles |
JP2002357560A (ja) * | 2001-02-28 | 2002-12-13 | Gunze Ltd | 液面浮遊異物検査方法及び液面浮遊異物検査装置 |
JP2002267612A (ja) * | 2001-03-13 | 2002-09-18 | Hitachi Eng Co Ltd | 透明容器等の充填液体中の異物検査装置及びシステム |
US7907765B2 (en) | 2001-03-28 | 2011-03-15 | University Of Washington | Focal plane tracking for optical microtomography |
EP1565747B1 (en) * | 2001-03-29 | 2013-11-27 | Cellect Technologies Corp. | Method and system for separating and sorting particles |
JP4580122B2 (ja) | 2001-05-21 | 2010-11-10 | 第一三共株式会社 | 液中異物の検出方法 |
WO2003009579A2 (en) | 2001-07-17 | 2003-01-30 | Amnis Corporation | Computational methods for the segmentation of images of objects from background in a flow imaging instrument |
US20040146917A1 (en) * | 2001-08-03 | 2004-07-29 | Nanosphere, Inc. | Nanoparticle imaging system and method |
JP3650811B2 (ja) | 2002-02-13 | 2005-05-25 | 株式会社トプコン | 空中可視像形成装置 |
JP4152650B2 (ja) | 2002-03-18 | 2008-09-17 | セファテクノロジー株式会社 | 液体試料の沈降速度測定装置および沈降速度測定方法 |
CN1252451C (zh) * | 2002-06-05 | 2006-04-19 | 中国科学技术大学 | 基于激光片光成像的粒子场全场测量方法及其装置 |
JP3718686B2 (ja) * | 2002-06-17 | 2005-11-24 | 財団法人理工学振興会 | 平面及び空間の時系列流体速度計測システム |
JP4048848B2 (ja) * | 2002-06-28 | 2008-02-20 | 株式会社日立プラントテクノロジー | 容器内異物検出装置および容器内異物検出方法 |
JP2004077535A (ja) | 2002-08-09 | 2004-03-11 | Dainippon Printing Co Ltd | フレネルレンズシート |
JP2005121592A (ja) | 2003-10-20 | 2005-05-12 | Ishizuka Glass Co Ltd | ボトル液内異物検査システム |
US8634072B2 (en) | 2004-03-06 | 2014-01-21 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining characteristics of particles |
JP4304120B2 (ja) | 2004-04-30 | 2009-07-29 | ベイバイオサイエンス株式会社 | 生物学的粒子をソーティングする装置及び方法 |
US20050248465A1 (en) | 2004-05-04 | 2005-11-10 | Flaherty Fred F | Water leak alarm and method |
US7982868B2 (en) * | 2004-07-30 | 2011-07-19 | Eagle Vision Systems B.V. | Apparatus and method for checking of containers |
EP1630550A1 (en) * | 2004-08-27 | 2006-03-01 | Moller & Devicon A/S | Methods and apparatuses of detecting foreign particles or faults in a plurality of filled containers |
US7391515B2 (en) * | 2004-10-05 | 2008-06-24 | Gerald Walter Budd | Automated visual inspection system for the detection of microbial growth in solutions |
JP4537192B2 (ja) | 2004-12-21 | 2010-09-01 | キヤノン株式会社 | 眼科装置 |
US20080226126A1 (en) * | 2005-01-31 | 2008-09-18 | Yoshinori Ohno | Object-Tracking Apparatus, Microscope System, and Object-Tracking Program |
JP2006209698A (ja) | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Olympus Corp | 対象追跡装置、顕微鏡システムおよび対象追跡プログラム |
EP1875200A1 (en) | 2005-04-29 | 2008-01-09 | Honeywell International Inc. | Cytometer cell counting and size measurement method |
US7587078B2 (en) * | 2005-05-02 | 2009-09-08 | Cytyc Corporation | Automated image analysis |
CN101278294B (zh) * | 2005-08-02 | 2013-04-10 | 卢米尼克斯股份有限公司 | 用于分类微粒的方法、数据结构和系统 |
WO2007067999A2 (en) | 2005-12-09 | 2007-06-14 | Amnis Corporation | Extended depth of field imaging for high speed object analysis |
DE102005061834B4 (de) | 2005-12-23 | 2007-11-08 | Ioss Intelligente Optische Sensoren & Systeme Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum optischen Prüfen einer Oberfläche |
JP2007315976A (ja) | 2006-05-26 | 2007-12-06 | Japan Aerospace Exploration Agency | 微小液滴・気泡・粒子の位置・粒径・速度測定の方法と装置 |
NO327576B1 (no) * | 2006-06-01 | 2009-08-17 | Ana Tec As | Framgangsmate og apparat for analyse av objekter |
US7626158B2 (en) | 2006-10-23 | 2009-12-01 | Emhart Glass S.A. | Machine for inspecting glass containers |
JP5108893B2 (ja) * | 2006-10-27 | 2012-12-26 | トムソン ライセンシング | 2次元画像から3次元パーティクル・システムを復元するためのシステムおよび方法 |
GB0701201D0 (en) | 2007-01-22 | 2007-02-28 | Cancer Rec Tech Ltd | Cell mapping and tracking |
US8877507B2 (en) | 2007-04-06 | 2014-11-04 | Qiagen Gaithersburg, Inc. | Ensuring sample adequacy using turbidity light scattering techniques |
WO2008132995A1 (ja) * | 2007-04-12 | 2008-11-06 | The University Of Electro-Communications | 粒子計測装置、及び粒径計測装置 |
CN101435764B (zh) * | 2007-11-12 | 2013-11-27 | 北京深迈瑞医疗电子技术研究院有限公司 | 一种粒子分析仪及粒子分析方法 |
EP2085797B1 (en) | 2008-01-30 | 2016-06-01 | Palo Alto Research Center Incorporated | Producing Filters with Combined Transmission and/or Reflection Functions |
US8090183B2 (en) | 2009-03-12 | 2012-01-03 | Visiongate, Inc. | Pattern noise correction for pseudo projections |
KR101624758B1 (ko) * | 2008-06-30 | 2016-05-26 | 코닝 인코포레이티드 | 마이크로리소그래픽 투사 시스템용 텔레센트릭성 교정기 |
CN101354241B (zh) * | 2008-07-11 | 2011-06-08 | 长安大学 | 集料数字图像评价方法 |
CN102323191B (zh) * | 2008-09-26 | 2013-11-06 | 株式会社堀场制作所 | 颗粒物性测量装置 |
WO2010080340A1 (en) * | 2009-01-06 | 2010-07-15 | Siemens Healthcare Diagnostics Inc. | Methods and apparatus for determining a liquid level in a container using imaging |
US20110140706A1 (en) * | 2009-05-07 | 2011-06-16 | Groves John T | Particle-Based Electrostatic Sensing and Detection |
CN101887030A (zh) * | 2009-05-15 | 2010-11-17 | 圣戈本玻璃法国公司 | 用于检测透明基板表面和/或其内部的缺陷的方法及系统 |
CN101561403A (zh) * | 2009-06-01 | 2009-10-21 | 燕山大学 | 三维正交显微镜摄像观测装置及其图像定量方法 |
JP5510916B2 (ja) | 2009-09-11 | 2014-06-04 | 上野精機株式会社 | 半導体製造装置 |
JP5537347B2 (ja) * | 2009-11-30 | 2014-07-02 | シスメックス株式会社 | 粒子分析装置 |
EP3425439A1 (en) | 2010-01-06 | 2019-01-09 | Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (EPFL) EPFL-TTO | Dark field optical coherence microscopy |
GB201011590D0 (en) * | 2010-07-09 | 2010-08-25 | Univ Gent | Method and system for dispersion measurements |
EP2458367B1 (de) | 2010-11-25 | 2015-08-05 | Mettler-Toledo AG | Vorrichtung und Verfahren zur Erkennung fester Substanzen in einer flüssigen Phase |
CN102213669A (zh) * | 2011-03-17 | 2011-10-12 | 上海理工大学 | 一种图像动态光散射纳米颗粒粒度测量装置及方法 |
US10241028B2 (en) | 2011-08-25 | 2019-03-26 | The General Hospital Corporation | Methods, systems, arrangements and computer-accessible medium for providing micro-optical coherence tomography procedures |
TWI772897B (zh) | 2011-08-29 | 2022-08-01 | 美商安美基公司 | 用於非破壞性檢測-流體中未溶解粒子之方法及裝置 |
WO2013072806A1 (en) | 2011-11-14 | 2013-05-23 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Apparatus for cluster detection |
US10132736B2 (en) * | 2012-05-24 | 2018-11-20 | Abbvie Inc. | Methods for inspection of protein particles in a liquid beneficial agent |
WO2015034505A1 (en) | 2013-09-05 | 2015-03-12 | Empire Technology Development Llc | Cell culturing and tracking with oled arrays |
EP3077796B1 (en) | 2013-12-06 | 2024-09-18 | IP Specialists Ltd. | Optical measurements of liquids having free surface |
JP6388431B2 (ja) | 2014-04-25 | 2018-09-12 | 日本放送協会 | 信号変換装置、信号復元装置、およびそれらのプログラム |
DE102014007355B3 (de) | 2014-05-19 | 2015-08-20 | Particle Metrix Gmbh | Verfahren der Partikel Tracking Aalyse mit Hilfe von Streulicht (PTA) und eine Vorrichtung zur Erfassung und Charakterisierung von Partikeln in Flüssigkeiten aller Art in der Größenordnung von Nanometern |
US9443631B1 (en) | 2015-03-04 | 2016-09-13 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Optical trap using a focused hollow-beam for trapping and holding both absorbing and non-absorbing airborne particles |
US10234370B2 (en) | 2015-03-30 | 2019-03-19 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Particle size measuring method and device |
JP6726687B2 (ja) * | 2015-12-18 | 2020-07-22 | 株式会社堀場製作所 | 粒子分析装置及び粒子分析方法 |
US9857283B1 (en) | 2016-07-01 | 2018-01-02 | MANTA Instruments, Inc. | Method for calibrating investigated volume for light sheet based nanoparticle tracking and counting apparatus |
US9704239B1 (en) | 2016-09-02 | 2017-07-11 | Amgen Inc. | Video trigger synchronization for improved particle detection in a vessel |
US10088660B2 (en) | 2017-02-10 | 2018-10-02 | Amgen Inc. | Imaging system for counting and sizing particles in fluid-filled vessels |
-
2012
- 2012-08-28 TW TW109132397A patent/TWI772897B/zh active
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-
2014
- 2014-01-30 ZA ZA2014/00737A patent/ZA201400737B/en unknown
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2022
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-
2023
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR850000308B1 (ko) * | 1980-10-24 | 1985-03-18 | 하나마쓰 시쓰템스 인코퍼레이트이드 | 물질표면의 입자를 검출하는 방법 |
US6082205A (en) * | 1998-02-06 | 2000-07-04 | Ohio State University | System and device for determining particle characteristics |
KR20060123539A (ko) * | 2004-01-14 | 2006-12-01 | 루미넥스 코포레이션 | 측정시스템의 하나 이상의 매개변수를 변경하는 방법 |
US20050248765A1 (en) * | 2004-03-09 | 2005-11-10 | Budd Gerald W | Small container fluid dynamics to produce optimized inspection conditions |
KR20070107743A (ko) * | 2005-01-31 | 2007-11-07 | 더 보오드 오브 트러스티스 오브 더 유니버시티 오브 일리노이즈 | 투과성 있는 혼탁한 매질 내의 입자들을 특성화하는 방법및 그 장치 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20190117519A (ko) * | 2017-02-10 | 2019-10-16 | 암겐 인코포레이티드 | 유체-충진된 용기 내 입자를 계수 및 사이징하기 위한 화상화 시스템 |
KR20210001698A (ko) * | 2019-06-28 | 2021-01-07 | 티옵틱스 주식회사 | 계측 및 검사 장비용 광학 시스템 및 방법 |
WO2024072152A1 (ko) * | 2022-09-28 | 2024-04-04 | 엘지이노텍 주식회사 | 대상체의 물질 검출 장치 및 대상체의 물질 검출 방법 |
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