KR20120116036A - 오프셋을 제거한 홀 센서 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 오프셋을 제거한 홀 센서에 관한 것으로, 본 발명은 사전에 설정된 검출 방향을 갖는 적어도 한 쌍의 홀 소자를 구비하고, 상기 한 쌍의 홀 소자의 검출 단자를 사전에 설정된 보정 모드와 동작 모드에 따라 서로 다른 경로로 연결하는 홀 소자부와 상기 홀 소자부의 보정 모드시의 검출 전압에 따라 상기 동작 모드시의 검출 전압의 오프셋을 보정하는 보정부를 포함하는 오프셋을 제거한 홀 센서를 제공한다.
Description
본 발명은 오프셋을 제거한 홀 센서에 관한 것이다.
일반적으로, 홀 센서(Hall Sensor)는 홀 효과를 이용하여 자계의 검출과 계측을 수행하는 반도체 소자로써, 산업 응용 분야 및 소비자 응용 분야를 포함하여 다양한 응용 분야에서 사용되고 있다.
이러한 홀 센서는 옵셋이나 기타 에러를 보정하기 위해 집적회로 형태로 구현된다. 홀 센서에는 로렌츠의 힘에 의해서 양단간에 전압이 발생하는 홀 소자가 채용된다. 이러한 홀 소자는 소자의 특성을 좋게 하기 위해 다양한 형태, 공정 또는 도핑 농도 등을 조정하여 특화된 홀 소자를 제조하기도 하지만, 일반적으로 CMOS(Complementary Metaloxide SemiConductor) 공정으로 제조된다. 이러한 CMOS 공정에서는 특화된 형태의 공정을 취하기 어려우므로 일반적인 CMOS 공정으로 홀 소자를 제조하고 이후 발생되는 오프셋을 제거하는 추세이다.
그러나, 홀 센서에는 홀 소자의 검출 전압을 증폭하는 증폭기를 채용하는데, 홀 소자에서 검출된 전압 레벨이 작아서 증폭기의 이득율이 크게 설정되며, 이에 따라 오프셋 레벨도 같이 증폭되어 홀 센서가 정상 동작하기 어려운 문제점이 있다.
본 발명의 목적은 랜덤하게 발생할 수 있는 오프셋을 다이나믹하게 제거하고 증폭기 전달 이전에 홀 소자의 오프셋을 제거할 수 있는 홀 센서를 제공하는 것이다.
상술한 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 하나의 기술적인 측면은 사전에 설정된 검출 방향을 갖는 적어도 한 쌍의 홀 소자를 구비하고, 상기 한 쌍의 홀 소자의 검출 단자를 사전에 설정된 보정 모드와 동작 모드에 따라 서로 다른 경로로 연결하는 홀 소자부와 상기 홀 소자부의 보정 모드시의 검출 전압에 따라 상기 동작 모드시의 검출 전압의 오프셋을 보정하는 보정부를 포함하는 오프셋을 제거한 홀 센서를 제공하는 것이다.
본 발명의 하나의 기술적인 측면에 따르면,
상기 홀 소자부는
여기(excitation)를 위한 제1 단자쌍과 제1 출력 단자쌍을 포함하는 제1 홀 소자와, 여기(excitation)를 위한 제2 단자쌍과 제2 출력 단자쌍을 포함하는 제2 홀 소자를 구비하고, 상기 제2 홀 소자의 검출 방향은 상기 제1 홀 소자의 검출 방향을 기준으로 사전에 설정된 각도로 형성되는, 홀 소자 그룹과;
상기 제1 홀 소자의 제1 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자에 연결되는 제1 스위치와, 상기 제1 홀 소자의 제1 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자에 연결되는 제2 스위치와, 상기 제2 홀 소자의 제2 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자에 연결되는 제3 스위치와, 상기 제2 홀 소자의 제2 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자에 연결되는 제4 스위치를 갖는 스위치 그룹을 포함할 수 있다.
본 발명의 하나의 기술적인 측면에 따르면,
상기 보정 모드 시에 상기 제1 및 제2 스위치는 상기 제1 출력 단자쌍의 제1 출력 단자와 제2 출력 단자를 파지티브(Positive) 출력단에 연결하고, 상기 제3 및 제4 스위치는 상기 제2 출력 단쌍의 제1 출력 단자와 제2 출력 단자를 네거티브(Negative) 출력단에 연결하며,
상기 동작 모드 시에 상기 제1 및 제4 스위치는 상기 제1 출력 단자쌍의 제1 출력 단자와 상기 제2 출력 단자쌍의 제1 출력 단자를 상기 파지티브 출력단에 연결하고, 상기 제2 및 제3 스위치는 상기 제1 출력 단자쌍의 제2 출력 단자와 상기 제2 출력 단자쌍의 제2 출력 단자를 상기 네거티브 출력단에 연결할 수 있다.
본 발명의 하나의 기술적인 측면에 따르면, 상기 각도는 +90° 또는 -90°일 수 있다.
본 발명의 하나의 기술적인 측면에 따르면,
상기 보정부는
입력된 차동 신호 간의 레벨을 비교하는 비교기;
상기 비교기로부터의 비교 결과를 사전에 설정된 비트 단위로 카운트하는 비트 카운터; 및
카운트된 디지털 결과를 아날로그로 변환하는 디지털-아날로그 컨버터를 포함할 수 있다.
본 발명의 하나의 기술적인 측면에 따르면, 상기 홀 소자부로부터의 검출 전압을 증폭하는 증폭부를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 하나의 기술적인 측면에 따르면, 상기 보정부는 상기 증폭부에 입력되는 전류 레벨 또는 전압 레벨을 제어할 수 있다.
본 발명의 하나의 기술적인 측면에 따르면, 상기 증폭부로부터의 검출 전압을 사전에 설정된 기준전압과 비교하고 디지털 신호로 변환하는 비교부를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 하나의 기술적인 측면에 따르면, 상기 비교부는 슈미트 트리거(schmitt trigger)를 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 하나의 기술적인 측면에 따르면,
상기 홀 소자부는
여기(excitation)를 위한 제1 단자쌍과 출력 단자쌍을 포함하는 제1 홀 소자와, 여기(excitation)를 위한 제2 단자쌍과 출력 단자쌍을 포함하는 제2 홀 소자와, 여기(excitation)를 위한 제3 단자쌍과 출력 단자쌍을 포함하는 제3 홀 소자와, 여기(excitation)를 위한 제4 단자쌍과 출력 단자쌍을 포함하는 제4 홀 소자를 구비하고, 상기 제2 홀 소자의 검출 방향은 상기 제1 홀 소자의 검출 방향을 기준으로 사전에 설정된 각도로 회전되고 상기 제4 홀 소자의 검출 방향은 상기 제3 홀 소자의 검출 방향을 기준으로 사전에 설정된 각도로 형성되는, 홀 소자 그룹; 및
상기 제1 홀 소자의 제1 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자와 상기 제3 홀 소자의 제3 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자에 연결되는 제1 스위치와, 상기 제2 홀 소자의 제2 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자와 상기 제4 홀 소자의 제4 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자에 연결되는 제2 스위치를 갖는 스위치 그룹
을 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 하나의 기술적인 측면에 따르면,
상기 보정 모드 시에 상기 제1 스위치는 상기 제1 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자와 상기 제3 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자를 상기 제1 출력 단자쌍 중 제1 출력단자와 상기 제3 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자와 함께 파지티브(Positive) 출력단에 연결하고, 상기 제2 스위치는 상기 제2 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자와 상기 제4 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자를 상기 제2 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자와 상기 제4 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자와 함께 네거티브(Negative) 출력단에 연결하며,
상기 동작 모드 시에 상기 제1 스위치는 상기 제1 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자와 상기 제3 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자를 상기 제2 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자와 상기 제4 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자와 함께 상기 파지티브 출력단에 연결하고, 상기 제2 스위치는 상기 제2 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자와 상기 제4 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자를 상기 제1 출력 단자쌍 중 제1 출력단자와 상기 제3 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자와 함께 상기 네거티브 출력단에 연결할 수 있다.
본 발명에 따르면, 적어도 한 쌍의 홀 소자들 중 어느 하나의 홀 소자의 검출 방향을 다른 홀 소자의 검출 방향을 기준으로 사전에 설정된 각도를 가지도록 형성하고, 이들 2개의 홀 소자들을 상호 연결하여 보정 모드와 동작 모드 시에 각각 전달 경로를 달리해서 랜덤하게 발생할 수 있는 오프셋을 다이나믹하게 제거하여 증폭기 전달 이전에 홀 소자의 오프셋을 제거하는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 홀 센서의 개략적인 구성도.
도 2는 본 발명의 홀 센서에 채용된 홀 소자부의 일 실시예를 나타내는 개략적인 구성도.
도 3은 본 발명의 홀 센서에 채용된 홀 소자부의 다른 일 실시예를 나타내는 개략적인 구성도.
도 4는 본 발명의 홀 센서가 보정 모드시에 자계에 무관하게 오프셋을 제거하는 특성을 나타내는 그래프.
도 5는 본 발명의 홀 센서에 채용된 보정부의 일 실시예를 나타내는 개략적인 구성도.
도 6은 본 발명의 홀 센서의 전기적 특성을 나타내는 그래프.
도 2는 본 발명의 홀 센서에 채용된 홀 소자부의 일 실시예를 나타내는 개략적인 구성도.
도 3은 본 발명의 홀 센서에 채용된 홀 소자부의 다른 일 실시예를 나타내는 개략적인 구성도.
도 4는 본 발명의 홀 센서가 보정 모드시에 자계에 무관하게 오프셋을 제거하는 특성을 나타내는 그래프.
도 5는 본 발명의 홀 센서에 채용된 보정부의 일 실시예를 나타내는 개략적인 구성도.
도 6은 본 발명의 홀 센서의 전기적 특성을 나타내는 그래프.
이하, 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명하도록 한다.
도 1은 본 발명의 홀 센서의 개략적인 구성도이고, 도 2는 본 발명의 홀 센서에 채용된 홀 소자부의 일 실시예를 나타내는 개략적인 구성도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 홀 센서(100)는 홀 소자부(110), 보정부(120)를 포함할 수 있고, 더하여 증폭부(130) 및 비교부(140)를 더 포함할 수 있다. 또한, 레귤레이터(A) 및 부하(B)를 포함할 수도 있다.
레귤레이터(A)는 외부에서 공급되는 전압을 입력받아 리플없는 일정한 공급 전원(도 2의 VDD)으로 생성하고, 생성된 공급 전원(VDD)은 홀 센서(100) 내부의 블록들을 구동하는 데 사용된다.
홀 소자부(110)는 레귤레이터(A)로부터 여기(excitation)를 위한 공급 전원(VDD)을 공급받으며, 외부에서 인가된 자기장의 세기를 검출한 제1 및 제2 검출 전압(VHP, VHN)을 출력한다. 출력된 검출 전압은 증폭기(130)로 전달된다.
홀 소자부(110)는 동일 평면상에서 일정한 간격을 두고 서로 인접하게 배치된 적어도 한 쌍의 홀 소자(111a, 111b)를 갖는 홀 소자 그룹과, 한 쌍의 홀 소자(111a, 111b)의 출력에 연결된 제1 내지 제4 스위치(S1,S2,S3,S4)를 갖는 스위치 그룹(112)을 포함할 수 있다. 제1 및 제2 홀 소자(111a, 111b) 각각에 전류를 흘려 자계를 검출하는 검출 방향이 서로 사전에 설정된 각도로 회전될 수 있는데, 예를 들어, 제2 홀 소자(111b)의 검출 방향은 제1 홀 소자(111a)의 검출 방향을 기준으로 +90° 또는 -90°회전되어 형성될 수 있다.
도 2를 참조하면, 제1 홀 소자(111a)는 여기(excitation)를 위한 제1 단자쌍(L, R)과 출력을 위한 제1 출력 단자쌍(T,B)를 포함할 수 있고, 제2 홀 소자(111b)는 여기(excitation)를 위한 제2 단자쌍(T,B)과 출력을 위한 제2 출력 단자쌍(L,R)을 포함할 수 있다.
제1 홀 소자(111a)의 단자(L)는 제2 홀 소자(111b)의 단자(T)와 상호 연결되어, 홀 소자의 여기(excitation)를 위한 구동전원(VDD)를 인가받을 수 있다. 한편, 제1 홀 소자(111a)의 단자(R)는 제2 홀 소자(111b)의 단자(B)와 상호 연결되어 접지될 수 있다.
제1 및 제2 홀 소자(111a,111b)의 출력 전압은 자기장의 세기에 증가함에 따라 증가하는 전압(VH1,VH2)와 자기장의 세기에 증가함에 따라 감소하는 전압(VL1,VL2)을 포함할 수 있다.
제1 홀 소자(111a)의 제1 출력 단자(T)는 제1 스위치(S1)에 연결되고, 제1 홀 소자(111a)의 제2 출력 단자(B)는 제2 스위치(S2)에 연결되며, 제2 홀 소자(111b)의 제2 출력 단자(L)의 제3 스위치(S3)에 연결되고, 제2 홀 소자(111b)의 제1 출력 단자(R)은 제3 스위치에 연결될 수 있다.
제1 내지 제4 스위치(S1,S2,S3,S4)는 클럭 신호(CALCLK)에 따라 보정 모드시와 동작 모드시에 제1 및 제2 홀 소자의 출력 전압의 전달 경로를 절환할 수 있다. 여기서, 보정 모드는 홀 소자의 오프셋을 제거하여 순수 홀 전압만을 검출하기 위한 모드이고, 동작 모드는 자계를 검출하는 홀 센싱 동작을 수행하는 모드를 의미한다.
상기 보정 모드 시에 제1 및 제2 스위치(S1,S2)는 상기 제1 출력 단자쌍의 제1 출력 단자(T)와 제2 출력 단자(B)를 제1 검출 전압(VHP)을 출력하는 파지티브(Positive) 출력단에 연결하고, 제3 및 제4 스위치(S3,S4)는 상기 제2 출력 단쌍의 제1 출력 단자(R)와 제2 출력 단자(L)를 제2 검출 전압(VHN)을 출력하는 네거티브(Negative) 출력단에 연결할 수 있다.
또한, 상기 동작 모드 시에 상기 제1 및 제4 스위치(S1,S4)는 상기 제1 출력 단자쌍의 제1 출력 단자(T)와 상기 제2 출력 단자쌍의 제1 출력 단자(L)를 상기 파지티브 출력단에 연결하고, 제2 및 제3 스위치(S2,S3)는 상기 제1 출력 단자쌍의 제2 출력 단자(B)와 상기 제2 출력 단자쌍의 제2 출력 단자(L)를 상기 네거티브 출력단에 연결할 수 있다.
여기서, 제1 홀 소자(111a)의 제1 홀 전압(VH1)은 VCM+Vh+VOH1(여기서, VCM은 소자 구동을 위해 공급되는 구동 전원(VDD)의 1/2 전압 레벨, Vh는 검출된 홀 소자 전압, VOH1는 제1 홀 소자의 출력에 인가된 오프셋 전압)이고, 제2 홀 전압(VL1)은 VCM-Vh이며, 제2 홀 소자(111b)의 제1 홀 전압(VH2)는 VCM+Vh이고, 제2 홀 전압(VL2)은 VCM+Vh+VOH2(여기서, VOH2는 제2 홀 소자의 출력에 인가된 오프셋 전압)이다.
이때, 보정 모드 선택에 의해 제1 및 제2 스위치(S1,S2)가 상기 파지티브 출력단에 연결되고, 제3 및 제4 스위치(S3,S4)가 상기 네거티브 출력단에 연결되면, 제1 검출 전압(VHP)은 VH1+VL1이 되고, 제2 검출 전압(VHN)은 VH2+VL2가 된다. 즉, 제1 검출 전압(VHP)은 VCM+Vh+VOH1+VCM-Vh=VCM+VOH1/2이고, 제2 검출 전압(VHN)은 VCM-Vh+VCM+Vh+VOH2=VCM+VOH2/2이다. 이에 따라, 제1 검출 전압에서 제2 검출 전압을 빼면, 오프셋 성분(VOH1-VOH2)/2만이 남게 되고, 보정부(120)는 제1 및 제2 홀 소자(111a,111b)의 오프셋 성분을 알 수 있다. 즉, 보정부(120)는 정상 모드에서 홀 소자부(110)의 출력에서 보정 모드에서 알게된 오프셋 성분을 제거하면 증폭부(130)에 순수한 검출 전압만이 전달될 수 있다.
한편, 홀 소자부(110)는 다른 실시예를 가질 수 있다.
도 3은 본 발명의 홀 센서에 채용된 홀 소자부의 다른 일 실시예를 나타내는 개략적인 구성도이다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 홀 센서에 채용된 홀 소자부(210)는 제1 내지 제4 홀 소자(211a,211b,211c,211d)를 갖는 홀 소자 그룹(211)과, 제1 및 제2 스위치(S1,S2)를 갖는 스위치 그룹(212)을 포함할 수 있다. 제1 내지 제4 홀 소자(211a,211b,211c,211d)는 서로 사전에 설정된 각도를 갖는 검출 방향을 가질 수 있는데, 예를 들어, 제2 홀 소자(211b)의 검출 방향은 제1 홀 소자(211a)의 검출 방향을 기준으로 +90° 또는 -90°회전되어 형성될 수 있고 제4 홀 소자(211d)의 검출 방향은 제3 홀 소자(211c)의 검출 방향을 기준으로 +90° 또는 -90°회전되어 형성될 수 있다.
제1 홀 소자(211a) 내지 제4 홀 소자(211d)는 각각 여기(excitation)를 위한 제1 단자쌍(L, R)과 출력을 위한 제1 출력 단자쌍(T,B) 또는, 제2 단자쌍(T,B)와 제2 출력 단자쌍(R,L) 또는, 제3 단자쌍(B,T)와 제3 출력 단자쌍(L,R) 또는, 제4 단자쌍(R,L)과 제4 출력 단자쌍(B,T)를 포함할 수 있다.
제1 홀 소자(211a)의 단자(L)는 제2 홀 소자(211b)의 단자(T)와 상호 연결되어, 홀 소자의 여기(excitation)를 위한 구동전원(VDD)를 인가받을 수 있고, 제3 홀 소자(211c)의 단자(L)는 제4 홀 소자(211d)의 단자(R)와 상호 연결되어, 홀 소자의 여기(excitation)를 위한 구동전원(VDD)를 인가받을 수 있다. 한편, 제1 홀 소자(211a)의 단자(R), 제2 홀 소자(211b)의 단자(B), 제3 홀 소자(211c)의 단자(T) 및 제4 홀 소자(211d)의 단자(L)는 상호 연결되어 접지될 수 있다.
제1 홀 소자(211a)의 제2 출력 단자(B)와 제3 홀 소자(211c)의 제2 출력 단자(R)는 제1 스위치(S1)에 연결되고, 제2 홀 소자(211b)의 제1 출력 단자(R)와 제4 홀 소자(211d)의 제1 출력 단자(B)는 제2 스위치(S2)에 연결될 수 있다.
제1 홀 소자(211a)의 제1 출력 단자(T)와 제3 홀 소자의 제1 출력 단자(L)는 제1 검출 전압(VHP)를 출력하는 파지티브 단자에 연결될 수 있고, 제2 홀 소자(211b)의 제2 출력 단자(L)와 제4 홀 소자(211d)의 제2 출력 단자(T)는 제2 검출 전압(VHN)을 출력하는 네거티브 단자에 연결될 수 있다.
제1 및 제2 스위치(S1,S2)는 클럭 신호(CALCLK)에 따라 보정 모드시와 동작 모드시에 제1 내지 제4 홀 소자의 출력 전압의 전달 경로를 절환할 수 있다.
예를 들어, 상기 보정 모드 시에 제1 스위치(S1)는 상기 제1 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자(B)와 상기 제3 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자(R)를 상기 제1 출력 단자쌍 중 제1 출력단자(T)와 상기 제3 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자(L)와 함께 상기 파지티브 출력단에 연결하고, 제2 스위치(S2)는 상기 제2 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자(R)와 상기 제4 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자(B)를 상기 제2 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자(L)와 상기 제4 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자(T)와 함께 네거티브(Negative) 출력단에 연결하며,
상기 동작 모드 시에 상기 제1 스위치(S1)는 상기 제1 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자(B)와 상기 제3 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자(R)를 상기 제2 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자(L)와 상기 제4 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자(T)와 함께 상기 파지티브 출력단에 연결하고, 제2 스위치(S2)는 상기 제2 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자(R)와 상기 제4 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자(B)를 상기 제1 출력 단자쌍 중 제1 출력단자(T)와 상기 제3 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자(L)와 함께 상기 네거티브 출력단에 연결할 수 있다.
여기서, 제1 홀 소자(211a)의 제1 홀 전압(VH1)은 VCM+Vh+VOH1(여기서, VCM은 소자 구동을 위해 공급되는 구동 전원(VDD)의 1/2 전압 레벨, Vh는 검출된 홀 소자 전압, VOH1는 제1 홀 소자의 출력에 인가된 오프셋 전압)이고, 제2 홀 전압(VL1)은 VCM-Vh이며, 제2 홀 소자(211b)의 제1 홀 전압(VH2)는 VCM+Vh이고, 제2 홀 전압(VH2)은 VCM+Vh+VOH2(여기서, VOH2는 제2 홀 소자의 출력에 인가된 오프셋 전압)이다. 또한, 제3 홀 소자(211c)의 제1 홀 전압(VH3)은 VCM+Vh+VOH3(여기서, VOH3는 제3 홀 소자의 출력에 인가된 오프셋 전압)이고, 제2 홀 전압(VL3)은 VCM-Vh이며, 제4 홀 소자(211d)의 제1 홀 전압(VH4)는 VCM+Vh이고, 제2 홀 전압(VL4)은 VCM+Vh+VOH4(여기서, VOH4는 제4 홀 소자의 출력에 인가된 오프셋 전압)이다.
홀 소자의 오프셋 전압의 제거는 상술한 도 2에서의 설명과 유사하므로, 생략하도록 한다.
도 4는 본 발명의 홀 센서가 보정 모드시에 자계에 무관하게 오프셋을 제거하는 특성을 나타내는 그래프이다.
도 4를 참조하면, 왼쪽의 그래프에는 홀 소자의 오프셋이 없고 홀 소자에 5mT의 자계가 인가된 경우 보정 클럭(CALCLK)이 하이 레벨이 되는 보정 모드시(Cal.mode)에는 5mT에 해당하는 신호가 출력되지 않는 것을 볼 수 있다. 즉, 보정 모드시에는 출력 신호가 자계의 영향을 받지 않는 것을 볼 수 있다. 또한, 오른쪽 그래프에서는 홀 소자의 오프셋이 2mV 존재할 때 홀 소자에 5mT의 자계가 인가되는 경우에도 보정모드(Cal.mode)에서는 오프셋 레벨을 갖는 신호만이 출력되어, 이 값을 제거하면 홀 소자의 오프셋을 제거할 수 있음을 알 수 있다.
다시, 도 1을 참조하여, 증폭부(130)는 홀 소자부(110)로부터 차동 출력되는 제1 및 제2 검출 전압(VHP, VHN)을 소정의 증폭율로 증폭한다.
비교부(140)는 증폭된 결과를 미리 설정된 일정한 기준 전압을 통해 비교하여 디지털 신호를 출력할 수 있다. 예를 들어, 비교부(140)는 슈미트 트리거(schmitt trigger)를 포함할 수 있다. 디지털 신호는 부하(B)를 거쳐 외부로 출력될 수 있다.
상술한 바와 같이, 홀 소자의 오프셋은 증폭부(130)에 전달되기 전에 제거될 수 있다. 한편, 증폭부(130) 자체에서도 오프셋이 존재할 수 있다. 보정부(120)에서는 증폭부(130)에서 발생된 오프셋도 제거할 수 있다. 예를 들어, 보정부(130)는 쵸핑(chopping), 오토-제로잉(auto-zeroing), 핑-퐁(ping-pong) 및 오프셋-안정화(offset stabilization) 등 다양한 방법으로 증폭부의 오프셋을 제거할 수 있다.
도 5는 본 발명의 홀 센서에 채용된 보정부의 일 실시예를 나타내는 개략적인 구성도이다.
도 5를 참조하면, 본 발명의 홀 센서에 채용된 보정부(120)는 비교기(121), 비트 카운터(122) 및 디지털-아날로그 컨버터(123)를 포함할 수 있다.
비교기(121)는 증폭부(130)의 출력을 입력받아, 증폭부(13)에 의해 증폭된 차동 출력값을 비교하여 그 차이에 따라 하이(High) 신호를 출력할 수 있다.
비트 카운터(122)는 사전에 설정된 단위의 비트로 상기 하이 신호가 로우(low) 신호가 될 때까지 카운트할 수 있다.
디지털-아날로그 컨버터(123)는 카운트 결과에 따라 증폭부(130)에 입력되는 전류 값 또는 전압 값을 제어할 수 있다.
도 6은 본 발명의 홀 센서의 전기적 특성을 나타내는 그래프이다.
도 6을 참조하면, 보정부(120)는 비교기(121)의 출력이 하이 신호이면 일정 시간 후 보정 클럭(CALCLK)을 발생하여 오프셋 제거 동작을 지속하고, 로우 신호이면 그 수행을 멈추고 그 값을 유지하여 증폭부(130)의 출력이 지속적으로 오프셋이 제거된 상태를 유지할 수있다.
이에 따라, 보정부(120)는 증폭부(130)의 출력을 입력받아 증폭부(130)에 입력되는 전압 값 또는 전류 값을 제어하여 증폭부(130)의 오프셋을 제거함으로써 증폭부(130)의 입력 전에 홀 소자의 옵셋과 증폭부의 옵셋을 동시에 제거할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 적어도 한 쌍 또는 두 쌍의 홀 소자들 중 어느 하나의 홀 소자의 검출 방향을 다른 홀 소자의 검출 방향을 기준으로 사전에 설정된 각도 예를 들어, 90도의 각도를 가지도록 형성하고, 이들 2개 또는 4개의 홀 소자들을 상호 연결하여 보정 모드와 동작 모드 시에 각각 전달 경로를 달리해서 랜덤하게 발생할 수 있는 오프셋을 다이나믹하게 제거하고 증폭기 전달 이전에 홀 소자의 오프셋을 제거하고, 증폭부의 오프셋을 다양한 방법으로 제거하여 홀 센서를 안정적으로 구동할 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고 후술하는 특허청구범위에 의해 한정되며, 본 발명의 구성은 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 그 구성을 다양하게 변경 및 개조할 수 있다는 것을 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 쉽게 알 수 있다.
100...홀 센서
110,210...홀 소자부
111,211...홀 소자 그룹
112,212...스위치 그룹
120...보정부
121...비교기
122...비트 카운터
123...디지털-아날로그 컨버터
130...증폭부
140...비교부
110,210...홀 소자부
111,211...홀 소자 그룹
112,212...스위치 그룹
120...보정부
121...비교기
122...비트 카운터
123...디지털-아날로그 컨버터
130...증폭부
140...비교부
Claims (12)
- 사전에 설정된 검출 방향을 갖는 적어도 한 쌍의 홀 소자를 구비하고, 상기 한 쌍의 홀 소자의 검출 단자를 사전에 설정된 보정 모드와 동작 모드에 따라 서로 다른 경로로 연결하는 홀 소자부; 및
상기 홀 소자부의 보정 모드시의 검출 전압에 따라 상기 동작 모드시의 검출 전압의 오프셋을 보정하는 보정부
를 포함하는 오프셋을 제거한 홀 센서. - 제1항에 있어서, 상기 홀 소자부는
여기(excitation)를 위한 제1 단자쌍과 제1 출력 단자쌍을 포함하는 제1 홀 소자와, 여기(excitation)를 위한 제2 단자쌍과 제2 출력 단자쌍을 포함하는 제2 홀 소자를 구비하고, 상기 제2 홀 소자의 검출 방향은 상기 제1 홀 소자의 검출 방향을 기준으로 사전에 설정된 각도로 형성되는, 홀 소자 그룹; 및
상기 제1 홀 소자의 제1 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자에 연결되는 제1 스위치와, 상기 제1 홀 소자의 제1 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자에 연결되는 제2 스위치와, 상기 제2 홀 소자의 제2 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자에 연결되는 제3 스위치와, 상기 제2 홀 소자의 제2 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자에 연결되는 제4 스위치를 갖는 스위치 그룹
을 포함하는 오프셋을 제거한 홀 센서. - 제2항에 있어서,
상기 보정 모드 시에 상기 제1 및 제2 스위치는 상기 제1 출력 단자쌍의 제1 출력 단자와 제2 출력 단자를 파지티브(Positive) 출력단에 연결하고, 상기 제3 및 제4 스위치는 상기 제2 출력 단쌍의 제1 출력 단자와 제2 출력 단자를 네거티브(Negative) 출력단에 연결하며,
상기 동작 모드 시에 상기 제1 및 제4 스위치는 상기 제1 출력 단자쌍의 제1 출력 단자와 상기 제2 출력 단자쌍의 제1 출력 단자를 상기 파지티브 출력단에 연결하고, 상기 제2 및 제3 스위치는 상기 제1 출력 단자쌍의 제2 출력 단자와 상기 제2 출력 단자쌍의 제2 출력 단자를 상기 네거티브 출력단에 연결하는 오프셋을 제거한 홀 센서. - 제2항에 있어서,
상기 각도는 +90° 또는 -90°인 오프셋을 제거한 홀 센서. - 제1항에 있어서, 상기 보정부는
입력된 차동 신호 간의 레벨을 비교하는 비교기;
상기 비교기로부터의 비교 결과를 사전에 설정된 비트 단위로 카운트하는 비트 카운터; 및
카운트된 디지털 결과를 아날로그로 변환하는 디지털-아날로그 컨버터
를 포함하는 오프셋을 제거한 홀 센서. - 제1항에 있어서,
상기 홀 소자부로부터의 검출 전압을 증폭하는 증폭부를 더 포함하는 오프셋을 제거한 홀 센서. - 제6항에 있어서,
상기 보정부는 상기 증폭부에 입력되는 전류 레벨 또는 전압 레벨을 제어하는 오프셋을 제거한 홀 센서. - 제6항에 있어서,
상기 증폭부로부터의 검출 전압을 사전에 설정된 기준전압과 비교하고 디지털 신호로 변환하는 비교부를 더 포함하는 오프셋을 제거한 홀 센서. - 제8항에 있어서,
상기 비교부는 슈미트 트리거(schmitt trigger)를 포함하는 오프셋을 제거한 홀 센서. - 제1항에 있어서, 상기 홀 소자부는
여기(excitation)를 위한 제1 단자쌍과 출력 단자쌍을 포함하는 제1 홀 소자와, 여기(excitation)를 위한 제2 단자쌍과 출력 단자쌍을 포함하는 제2 홀 소자와, 여기(excitation)를 위한 제3 단자쌍과 출력 단자쌍을 포함하는 제3 홀 소자와, 여기(excitation)를 위한 제4 단자쌍과 출력 단자쌍을 포함하는 제4 홀 소자를 구비하고, 상기 제2 홀 소자의 검출 방향은 상기 제1 홀 소자의 검출 방향을 기준으로 사전에 설정된 각도로 회전되고 상기 제4 홀 소자의 검출 방향은 상기 제3 홀 소자의 검출 방향을 기준으로 사전에 설정된 각도로 형성되는, 홀 소자 그룹; 및
상기 제1 홀 소자의 제1 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자와 상기 제3 홀 소자의 제3 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자에 연결되는 제1 스위치와, 상기 제2 홀 소자의 제2 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자와 상기 제4 홀 소자의 제4 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자에 연결되는 제2 스위치를 갖는 스위치 그룹
을 포함하는 오프셋을 제거한 홀 센서. - 제10항에 있어서,
상기 보정 모드 시에 상기 제1 스위치는 상기 제1 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자와 상기 제3 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자를 상기 제1 출력 단자쌍 중 제1 출력단자와 상기 제3 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자와 함께 파지티브(Positive) 출력단에 연결하고, 상기 제2 스위치는 상기 제2 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자와 상기 제4 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자를 상기 제2 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자와 상기 제4 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자와 함께 네거티브(Negative) 출력단에 연결하며,
상기 동작 모드 시에 상기 제1 스위치는 상기 제1 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자와 상기 제3 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자를 상기 제2 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자와 상기 제4 출력 단자쌍 중 제2 출력 단자와 함께 상기 파지티브 출력단에 연결하고, 상기 제2 스위치는 상기 제2 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자와 상기 제4 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자를 상기 제1 출력 단자쌍 중 제1 출력단자와 상기 제3 출력 단자쌍 중 제1 출력 단자와 함께 상기 네거티브 출력단에 연결하는 오프셋을 제거한 홀 센서. - 제10항에 있어서,
상기 각도는 +90° 또는 -90°인 오프셋을 제거한 홀 센서.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110033538A KR20120116036A (ko) | 2011-04-12 | 2011-04-12 | 오프셋을 제거한 홀 센서 |
US13/440,709 US20120262163A1 (en) | 2011-04-12 | 2012-04-05 | Hall sensor for canceling offset |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110033538A KR20120116036A (ko) | 2011-04-12 | 2011-04-12 | 오프셋을 제거한 홀 센서 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20120116036A true KR20120116036A (ko) | 2012-10-22 |
Family
ID=47005954
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020110033538A Withdrawn KR20120116036A (ko) | 2011-04-12 | 2011-04-12 | 오프셋을 제거한 홀 센서 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20120262163A1 (ko) |
KR (1) | KR20120116036A (ko) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20160076641A (ko) * | 2014-12-23 | 2016-07-01 | 삼성전기주식회사 | 홀 센서 모듈 및 광학 이미지 안정화 모듈 |
US10345394B2 (en) | 2013-11-06 | 2019-07-09 | Melexis Technologies Nv | Hall sensor readout system with offset determination using the Hall element itself |
CN117706157A (zh) * | 2022-09-06 | 2024-03-15 | 苏州纳芯微电子股份有限公司 | 电流感测装置 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20120102413A (ko) * | 2011-03-08 | 2012-09-18 | 삼성전기주식회사 | 적층형 자계 검출 센서 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE59108800D1 (de) * | 1991-12-21 | 1997-08-28 | Itt Ind Gmbh Deutsche | Offsetkompensierter Hallsensor |
CN1032610C (zh) * | 1992-08-08 | 1996-08-21 | 易明镜 | 线性霍尔电路 |
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US6456913B1 (en) * | 2000-12-22 | 2002-09-24 | S.N.R. Roulements | Steering column with hall linear array |
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-
2011
- 2011-04-12 KR KR1020110033538A patent/KR20120116036A/ko not_active Withdrawn
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2012
- 2012-04-05 US US13/440,709 patent/US20120262163A1/en not_active Abandoned
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20120262163A1 (en) | 2012-10-18 |
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Legal Events
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PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20110412 |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
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WITN | Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid |